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  • 19 篇 专利

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  • 1 篇 美光科技公司

作者

  • 2 篇 朱渊源
  • 2 篇 a·a·萨米
  • 2 篇 郑茳
  • 2 篇 曾翔
  • 2 篇 解义超
  • 2 篇 郭星宇
  • 2 篇 汪建强
  • 2 篇 肖佐楠
  • 2 篇 朱贤兵
  • 2 篇 匡启和
  • 2 篇 王小庆
  • 2 篇 顾盛
  • 1 篇 张章
  • 1 篇 卢睿
  • 1 篇 胡慧
  • 1 篇 周晶晶
  • 1 篇 杨志华
  • 1 篇 高荣浩
  • 1 篇 s·a·艾克迈尔
  • 1 篇 邓志鹏

语言

  • 19 篇 中文
检索条件"主题词=替换存储器"
19 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
一种存储器故障单元的替换方法及装置、数据存储系统
一种存储器故障单元的替换方法及装置、数据存储系统
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作者: 李延松 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
本发明适用于数据处理领域,提供一种存储器故障单元的替换方法及装置、数据存储系统,其中所述方法包括:根据读取地址读取主存储器中对应数据,并检测所述数据是否正确;若所述数据错误,则在映射表中查找所述读取地址对应的替换地址... 详细信息
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存储器中的成本感知的页交换和替换
存储器中的成本感知的页交换和替换
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作者: A·A·萨米 美国加利福尼亚
认识到不是所有的回收都具有相同的系统性能成本的存储器回收。管理设备保持与存储器的每个部分相关联的权重和/或计数。每个存储器部分与生成对存储器部分的请求的源代理相关联。管理设备通过指示延迟影响的成本因子来调整权重,如果... 详细信息
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无需供电情况下存储器向测试设备中的插入的自主检测
无需供电情况下存储器向测试设备中的插入的自主检测
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作者: 迈克·侯赛因·阿米迪 中国香港葵涌青山道552-566号美达中心11楼1-6A室
一种用于减少存储器产品测试故障的装置、系统和方法,包括存储器测试仪,该存储器测试仪跟踪存储器产品被插入到该存储器测试仪的存储器产品接收部件中的频率,并且当计数达到或超过阈值时,使用该信息来触发替换存储器产品接收部件。... 详细信息
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一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置
一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置
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作者: 郑茳 肖佐楠 匡启和 顾盛 曾翔 郭星宇 汪建强 214000 江苏省无锡市锡山经济技术开发区荟智企业中心二泉东路19号18楼
本申请公开一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置,涉及存储器领域,向存储器中写入不含CRC校验码和校验使能数据的原始数据,并通过控制进行数据匹配;当错误类型为不可写入类型时,在控制内设置寄存组并写入目标存储位... 详细信息
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一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置
一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置
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作者: 郑茳 肖佐楠 匡启和 顾盛 曾翔 郭星宇 汪建强 214000 江苏省无锡市锡山经济技术开发区荟智企业中心二泉东路19号18楼
本申请公开一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置,涉及存储器领域,向存储器中写入不含CRC校验码和校验使能数据的原始数据,并通过控制进行数据匹配;当错误类型为不可写入类型时,在控制内设置寄存组并写入目标存储位... 详细信息
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用于编程反熔丝以修复存储器装置的设备和技术
用于编程反熔丝以修复存储器装置的设备和技术
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作者: S·A·艾克迈尔 P·穆拉基 美国爱达荷州
本申请案针对于用于编程反熔丝以修复存储器装置的设备和技术。一种设备可包含修复阵列,所述修复阵列包含用于替换存储器阵列中的有故障元件的元件,且所述设备可另外包含用于指示所述存储器阵列的哪些元件(如果存在的话)正被所述修复... 详细信息
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用于管理从存储器设备回收的方法、装置、设备和介质
用于管理从存储器设备回收的方法、装置、设备和介质
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作者: A·A·萨米 美国加利福尼亚
认识到不是所有的回收都具有相同的系统性能成本的存储器回收。管理设备保持与存储器的每个部分相关联的权重和/或计数。每个存储器部分与生成对存储器部分的请求的源代理相关联。管理设备通过指示延迟影响的成本因子来调整权重,如果... 详细信息
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带冗余单元的存储器芯片的晶圆测试方法
带冗余单元的存储器芯片的晶圆测试方法
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作者: 朱渊源 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
本发明公开了一种带冗余单元的存储器芯片的晶圆测试方法,包括步骤:步骤一、根据晶圆上存储器芯片的主区域的阵列结构和冗余单元的结构设置存储器测试机中的存储失效地址的存储器的行地址和列地址的长度;步骤二、对芯片单元进行测试... 详细信息
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带冗余单元的存储器芯片的晶圆测试方法
带冗余单元的存储器芯片的晶圆测试方法
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作者: 朱渊源 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
本发明公开了一种带冗余单元的存储器芯片的晶圆测试方法,包括步骤:步骤一、根据晶圆上存储器芯片的主区域的阵列结构和冗余单元的结构设置存储器测试机中的存储失效地址的存储器的行地址和列地址的长度;步骤二、对芯片单元进行测试... 详细信息
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用于自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置及方法
用于自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置及方法
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作者: 董宇 季雨 张章 乔瑛 100083 北京市海淀区五道口王庄路1号同方科技广场D座西楼18层
本发明公开了一种自动记录存储器冗余页错误地址的测试装置,包括地址加密单元、硬件校验单元、冗余页替换控制单元和存储器,其中,地址加密单元用于对测试操作地址进行加密处理;硬件校验单元对存储器的物理空间进行功能校验,生成校... 详细信息
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