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  • 1 篇 期刊文献

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  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 亚阈值
  • 1 篇 系统波动
  • 1 篇 环形振荡器
  • 1 篇 标准互补金属氧化...

机构

  • 1 篇 复旦大学

作者

  • 1 篇 lin yinyin
  • 1 篇 袁瑞
  • 1 篇 董庆
  • 1 篇 jian wenxiang
  • 1 篇 dong qing
  • 1 篇 简文翔
  • 1 篇 林殷茵
  • 1 篇 yuan rui

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=标准互补金属氧化物半导体工艺"
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排序:
65nm标准CMOS工艺阈值电压系统波动检测方案设计
收藏 引用
固体电子学研究与进展 2013年 第4期33卷 377-381页
作者: 袁瑞 董庆 简文翔 林殷茵 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室 上海201203
设计了一种标准CMOS工艺下的阈值电压系统波动检测电路,其检测电路核心部分是工作在亚阈值区的环形振荡器(SRO)。该方案包括8种级数、2种尺寸共16种SRO,并以8种级数、2种尺寸共16种传统环形振荡器(RO)作对比,在SMIC 65nm标准CMOS工艺上... 详细信息
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