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AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

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范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
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11 篇 专利

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11 篇 电子文献
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机构

2 篇 中国电子科技集团...
2 篇 广东通宇通讯股份...
1 篇 华中科技大学
1 篇 雀巢产品技术援助...
1 篇 上海航天测控通信...
1 篇 清华大学
1 篇 中国科学院上海微...
1 篇 上海一航凯迈光机...
1 篇 中电科思仪科技股...

作者

3 篇 王亚海
2 篇 刘彬彬
2 篇 李骁男
2 篇 粟炳龙
2 篇 周杨
2 篇 常庆功
2 篇 许超磊
2 篇 刘伟
2 篇 林泽银
2 篇 胡大海
2 篇 熊国辉
2 篇 颜振
2 篇 陈鹏羽
2 篇 郭浩楠
1 篇 王阳
1 篇 王芸
1 篇 瞿浩
1 篇 言智
1 篇 王兆灿
1 篇 程建功

语言

11 篇 中文

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一种微波组件焊点缺陷的红外无损检测方法及系统

一种微波组件焊点缺陷的红外无损检测方法及系统

引用

作者：廖广兰黄一凡孙博张许宁熊美明秦琦 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

本发明公开了一种微波组件焊点缺陷的红外无损检测方法，属于微电子器件封装的焊点缺陷无损检测领域，该方法包括：分别向待测微波组件的接地端及至少一个信号端一一对应施加低电压及偏置电压，以使待测微波组件内部产生电信号引起温度... 详细信息

标准号: CN118294496A

本发明公开了一种微波组件焊点缺陷的红外无损检测方法，属于微电子器件封装的焊点缺陷无损检测领域，该方法包括：分别向待测微波组件的接地端及至少一个信号端一一对应施加低电压及偏置电压，以使待测微波组件内部产生电信号引起温度升高；将待测微波组件的目标温度信息与标准微波组件的目标温度信息一一对应相减得到温差数据以进行缺陷诊断。本发明提供的方法，针对主动红外温升缓慢，局部加热难以控制，无法有效暴露内部缺陷等问题，将电测试与温度检测相结合，获取焊点及引线位置的温度信息来检测判别焊点是否有虚焊、裂纹、缺球等缺陷，以及引线中是否存在杂质。与现有方法相比，检测成本低、检测结果可靠，检测效率高。

关键词：微波组件温度信息焊点焊点缺陷无损检测检测微电子器件封装标准微波检测结果局部加热内部缺陷偏置电压缺陷诊断温差数据温度检测引线位置低电压电测试接地端信号端温升相减虚焊施加暴露

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静止轨道微波辐射计天线发射率地面标定系统及方法

静止轨道微波辐射计天线发射率地面标定系统及方法

引用

作者：谢振超李向芹李雪邙晓斌吴涛杨永键李贝贝于雨瞿浩王芸 201109 上海市闵行区中春路1777号

本发明公开了一种静止轨道微波辐射计天线发射率地面标定方法，包括：常温常压环境下采用谐振腔测试设备完成大口径天线反射面表面不同入射角度下的发射率测试；在真空环境内，将天线反射面物理温度控制到前一步骤状态，采用标准微波辐... 详细信息

标准号: CN116593003A

本发明公开了一种静止轨道微波辐射计天线发射率地面标定方法，包括：常温常压环境下采用谐振腔测试设备完成大口径天线反射面表面不同入射角度下的发射率测试；在真空环境内，将天线反射面物理温度控制到前一步骤状态，采用标准微波辐射计测量反射面自辐射；计算标准辐射计在反射面不同位置处的归一化照射功率，将天线物理温度测量值、常温常压发射率测量值与归一化照射功率加权计算反射面自辐射，并与上一步骤中的自辐射测量值进行比对分析，验证天线发射率测试值正确性；将天线反射面整体加温，测试不同温度状态下的自辐射量，计算天线表面发射率随温度的变化曲线，使得微波辐射计天线发射率测试的测试数据精确、计算简单、数据高效。

关键词：发射率反射面测试天线天线反射面微波辐射计常温常压照射功率归一化标准辐射计大口径天线发射率测量反射面表面辐射计测量比对分析变化曲线标准微波步骤状态测试设备测试数据地面标定辐射测量加权计算静止轨道天线表面天线物理温度测量温度状态真空环境整体加温辐射辐射量入射角位置处谐振腔验证

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一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法

一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法

引用

作者：郭敏王亚海徐宝令朱学波郑洪义阎涛王阳王兆灿王尊峰 266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号

本发明公开了一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法，评估电路包括主控计算机、自动化辅助设备、矢量网络分析仪、测试夹具A、测试夹具B和标准微波集成电路；本发明可以满足待测微波集成电路散射参数“即测即得”的快速... 详细信息

标准号: CN116183973A

本发明公开了一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法，评估电路包括主控计算机、自动化辅助设备、矢量网络分析仪、测试夹具A、测试夹具B和标准微波集成电路；本发明可以满足待测微波集成电路散射参数“即测即得”的快速高效和稳定一致的测试应用需求，并有效降低由于大量定制适配测试夹具的校准件及其相应操作复杂和大运算量的校准与误差修正等所引入的成本、时间、仪器资源方面的资源无效占用，提高测试应用效能；降低测试评估过程中的软硬件资源开销和占用，而且方便将该功能整合融入微波集成电路生产制造的产线综合能力判断中，满足微波集成电路低成本、高效能批量生产制造应用需求和集成测控的技术要求。

关键词：微波集成电路测试夹具测试应用评估电路散射参数矢量网络分析仪夹具占用软硬件资源主控计算机标准微波测试评估辅助设备功能整合技术要求快速测试适配测试误差修正仪器资源应用需求综合能力低成本高效能校准件运算量校准产线测控集成电路制造自动化融入生产引入评估

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一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置

一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置

引用

作者：刘彬彬陈鹏羽熊国辉粟炳龙李骁男许超磊林泽银郭浩楠 528400 广东省中山市火炬开发区金通街3号

一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置，采用局部点接触，自动采集的方式，收集反射面数据点，并将记录反射面法向数值点，对实际微波反射面各值和标准微波反射面的各值按照经度、纬度方向进行拟合，得出标准微波反射面与实... 详细信息

标准号: CN108548965B

一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置，采用局部点接触，自动采集的方式，收集反射面数据点，并将记录反射面法向数值点，对实际微波反射面各值和标准微波反射面的各值按照经度、纬度方向进行拟合，得出标准微波反射面与实测微波反射面的对比可视化结果，该种方式为局部接触，不会对反射面本身精度造成影响，而且克服了机械测量方法不可测量法向微小凸起的缺点，并通过相应特殊计算，并通过软件得出相应的可视化结果。

关键词：反射面可视化标准微波微波机械测量精度测量局部接触微波反射微小凸起纬度方向自动采集经度测量法点接触数据点法向拟合反射实测记录

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一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置

一种微波反射面精度测量的可视化实现方法以及装置

引用

作者：刘彬彬陈鹏羽熊国辉粟炳龙李骁男许超磊林泽银郭浩楠 528400 广东省中山市火炬开发区金通街3号

标准号: CN108548965A

关键词：反射面可视化标准微波微波机械测量精度测量局部接触微波反射微小凸起纬度方向自动采集经度测量法点接触数据点法向拟合反射实测记录

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一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法

一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法

引用

作者：颜振胡大海刘伟常庆功周杨王亚海 266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号

本发明提出了一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法，微波图像对比处理过程包括以下步骤：步骤(1)，光学图像预处理；步骤(2)，光学背景图像和待测划痕图像的刚性配准；步骤(3)，光学图像损伤和划痕的检测；步骤(4)，... 详细信息

标准号: CN104820987B

本发明提出了一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法，微波图像对比处理过程包括以下步骤：步骤(1)，光学图像预处理；步骤(2)，光学背景图像和待测划痕图像的刚性配准；步骤(3)，光学图像损伤和划痕的检测；步骤(4)，光学图像匹配矩阵变换；微波图像对比处理过程之后，进行步骤(5)，微波图像损伤检测。本发明基于光学图像和微波图像融合检测目标隐身性能缺陷，利用光学图像获取匹配矩阵，经变换后应用于待测微波图像中，与标准微波图像对比后判定微波图像缺陷位置，可提高微波图像识别的准确度。

关键词：微波图像光学图像匹配矩阵预处理准确度标准微波光学背景划痕图像缺陷位置融合检测散射性能损伤检测图像对比隐身性能检测划痕配准判定损伤图像应用

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一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法

一种基于光学图像及微波图像检测目标散射性能缺陷的方法

引用

作者：颜振胡大海刘伟常庆功周杨王亚海 266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号

标准号: CN104820987A

关键词：微波图像光学图像检测匹配矩阵损伤变换预处理准确度标准微波刚性配准光学背景划痕图像缺陷位置散射性能图像对比隐身性能划痕图像融合

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一种微波频率信号被动传输系统及方法

一种微波频率信号被动传输系统及方法

引用

作者：王力军王波白钰高超 100084 北京市海淀区清华园1号

一种微波频率信号被动式传输系统及方法，该系统包括：发射装置，用于将标准微波频率信号与辅助微波频率信号同时调制到光信号上以通过同一光纤传输；接收补偿装置，利用接收并解调后得到的带有光纤相位噪声的标准微波频率信号与辅助微... 详细信息

标准号: CN103490816A

一种微波频率信号被动式传输系统及方法，该系统包括：发射装置，用于将标准微波频率信号与辅助微波频率信号同时调制到光信号上以通过同一光纤传输；接收补偿装置，利用接收并解调后得到的带有光纤相位噪声的标准微波频率信号与辅助微波频率信号，对光纤引入的相位噪声进行被动式补偿，最终在接收补偿装置复现相位锁定于发射装置频率参考源的标准微波频率信号。本发明的技术方案补充完善了微波频率信号主动式传输技术，结合本发明的技术方案可以实现微波频率信号的网络化传输，扩大其应用范围。

关键词：频率信号微波频率信号标准微波发射装置补偿装置辅助微波被动式传输系统及方法网络化传输传输技术光纤传输光纤相位频率参考相位噪声光信号主动式复现解调调制噪声光纤补偿完善

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具有复合感受体的可微波包装

具有复合感受体的可微波包装

引用

作者： U·J·厄尔瑞士沃韦

本发明涉及一种具有复合感受体的可微波包装和使用这种可微波包装的方法。在一般的实施例中，提供用于在微波炉中烹饪微波食品（12，14）的复合感受体。该复合感受体可以包括例如为标准微波感受体的第一层（30）和包括移动电荷的第二层... 详细信息

标准号: CN103717510A

本发明涉及一种具有复合感受体的可微波包装和使用这种可微波包装的方法。在一般的实施例中，提供用于在微波炉中烹饪微波食品（12，14）的复合感受体。该复合感受体可以包括例如为标准微波感受体的第一层（30）和包括移动电荷的第二层（32），其中，该第二层至少基本上不含金属。包括移动电荷的第二层可以为标准感受体屏蔽微波，并用作提高标准感受体的传导性的导体。本发明的复合感受体提供了与传统烤箱的表面加热模式类似的增强的表面加热模式，同时还提供了微波烹饪的优点。

关键词：复合加热模式微波包装移动电荷烹饪导体标准微波传统烤箱屏蔽微波微波食品微波炉传导微波金属

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一种红外微波目标模拟装置

一种红外微波目标模拟装置

引用

作者：李康刁海南 200135 上海市青浦区海盈路海盈新村3-4号楼H-003室

本实用新型涉及一种红外微波目标模拟装置，包括红外微波复合源、控制器，所述红外微波复合源包括红外目标源、微波目标源、用于将红外信号和微波信号形成一束光信号的波束合成器，波束合成器与红外目标源、微波目标源具有光通讯连接；... 详细信息

标准号: CN203039673U

本实用新型涉及一种红外微波目标模拟装置，包括红外微波复合源、控制器，所述红外微波复合源包括红外目标源、微波目标源、用于将红外信号和微波信号形成一束光信号的波束合成器，波束合成器与红外目标源、微波目标源具有光通讯连接；所述微波目标源包括标准微波信号源、发射天线、微波透镜和滑台，所述发射天线置于滑台上，发射天线接收微波信号源产生的微波信号，微波透镜置于发射天线前端。本实用新型的目标模拟装置能够同时向外辐射红外信号和微波信号，实现了红外光轴、微波电轴和装置机械轴三轴合一技术，红外光轴和微波电轴重合度达到0.14°。

关键词：发射天线微波红外微波微波信号波束合成器红外目标红外信号目标模拟微波透镜复合源电轴光轴微波信号源标准微波装置机械控制器光信号外辐射信号源合度滑台连接通讯

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