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作者

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  • 369 篇 中文
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基于有功恢复斜率校正的风电场单机等值方法
基于有功恢复斜率校正的风电场单机等值方法
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作者： 晁璞璞 李卫星 孙勇 齐金玲 常学飞 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
基于有功恢复斜率校正的风电场单机等值方法，涉及电力系统仿真建模技术领域。本发明是为了解决传统单机等值方法计算量和等值精度无法兼顾的问题。在建立和实测暂态响应特性一致的风电机组暂态模型的基础上，进行风电机组从切入风速每... 详细信息
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半导体器件和数据生成方法
半导体器件和数据生成方法
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作者： 有坂直也 伊藤崇泰 堀口真志 日本东京
本公开涉及半导体器件和数据生成方法。目标在于提高温度传感器的精度，抑制测试过程中测试温度的数量。半导体器件包括系数计算单元和校正运算单元，系数计算单元计算系数直至N阶(N为大于等于一的整数)的校正函数作为特征函数的N阶近... 详细信息
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显示面板补偿方法
显示面板补偿方法
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作者： 雷蒙德·利伦特韦德 丹尼尔·希尔斯 萨默·穆萨 加拿大安大略
本发明公开一种针对有源矩阵有机发光二极管器件(AMOLED)和其他发光显示器的非均匀性补偿方法。对于每个像素，确定能产生均匀的平场的多个预定的灰度驱动电平的灰度电平偏移，并使用该灰度电平偏移生成像素的校正函数。
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半导体器件和数据生成方法
半导体器件和数据生成方法
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作者： 有坂直也 伊藤崇泰 堀口真志 日本神奈川
本公开涉及半导体器件和数据生成方法。目标在于提高温度传感器的精度，抑制测试过程中测试温度的数量。半导体器件包括系数计算单元和校正运算单元，系数计算单元计算系数直至N阶(N为大于等于一的整数)的校正函数作为特征函数的N阶近... 详细信息
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负载测量装置及其方法
负载测量装置及其方法
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作者： 藤冈秀康 林义之 日本东京
本发明的目的在于根据以广阔的观测条件收集到的数据校正负载并迅速校正多个风车叶片的负载。本发明的负载测量装置(1)，其适用于风车叶片(10)的间距角可变的风车，且包括：传感器，其用于求出风车叶片(10)的形变；负载算出机构(20)，... 详细信息
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校正装置及校正方法
校正装置及校正方法
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作者： 江敬群 黄奕铭 柳昀呈 张晋纲 中国台湾桃园县
本发明提供一种应用于图像处理装置的校正装置。该校正装置包含第一运算模块、第二运算模块及调整模块。第一运算模块根据第一指示点、第二指示点与特定点决定第三指示点及第四指示点，并根据通过第一指示点与第三指示点的第一直线及通... 详细信息
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地震属性叠后振幅补偿方法
地震属性叠后振幅补偿方法
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作者： 王猛 罗延 郑连弟 毛凌 郑四连 100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
一种地震属性叠后振幅补偿方法，包括以下步骤：在叠后地震资料中提取振幅数据；获得属性点均方根振幅或绝对值振幅A＝{(x,y,z)|z≥0},其中x、y为属性点的平面坐标，z为坐标x、y处的振幅值；恢复煤层沉积时的古构造，基于古构造，计算... 详细信息
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状态判定装置以及状态判定方法
状态判定装置以及状态判定方法
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作者： 堀内淳史 浅冈裕泰 清水显次郎 日本山梨县
本发明提供状态判定装置以及状态判定方法。状态判定装置取得与注射成形机有关的数据，存储学习了该数据所对应的该注射成形机的动作状态的学习模型，并根据该数据进行使用了学习模型的推定。并且，取得与注射成形机的机型以及安装在注... 详细信息
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用于在片材制造或处理系统中校正片材产品的卡尺厚度测量值的系统和方法
用于在片材制造或处理系统中校正片材产品的卡尺厚度测量值的系统...
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作者： F.M.哈兰 S.蒂克西尔 M.K.Y.休斯 G.I.杜克 J.F.莎士比亚 加拿大安大略省
一种方法包括使用具有第一和第二传感器模块（202‑204，302‑304）的卡尺厚度传感器（200，300）来测量（508）材料片材（108）的卡尺厚度。所述方法还包括基于第一传感器模块中的第一传感器组件和第二传感器模块中的第二传感器组件之间... 详细信息
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用于生产齿的方法、工具和机器部件
用于生产齿的方法、工具和机器部件
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作者： R·赫斯 德国博霍尔特
本发明涉及一种用于生产齿(10)的方法(100)，包括以下步骤：在第一步(110)中，选择齿(12)的根侧起始轮廓(20)和头侧局部轮廓(22)。在第二步(120)中，为所述根侧起始轮廓(20)的至少一部分选择适配区域(38)。还有第三步(130)，其中确定适... 详细信息
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