检索结果-内蒙古大学图书馆

用单室平衡容器测量锅炉汽包水位的校正计算和误差分析

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热力发电 1997年第2期26卷 7-12页

作者：杨平陶霆吴文德刘训策檀文元上海电力学院上海200090 太原工业大学太原030024

随着单室平衡容器在工业过程微机控制领域的广泛应用，对用该平衡容器进行锅炉水位测量时的问题进行了深入研究，并重点研究密度校正和含汽率的校正计算，使锅炉水位测量更为准确，还举例分析了无校正计算时可能造成的水位测量误差。

关键词：汽包水位平衡容器校正计算锅炉误差

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化学物相分析中的误差和校正计算

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云南冶金 1973年第3期 35-41+60页

作者：王耀震

在化学物相分析中,同一元素的不同状态能够互相分离的基础在于溶剂的选择性能;近年来,不少作者对选择溶剂的基本原理以及如何提高溶剂的选择性等在有关文献上曾有过专门介绍。在物相分析实践过程中,经常会遇到这样的情况:同一元素不同... 详细信息

在化学物相分析中,同一元素的不同状态能够互相分离的基础在于溶剂的选择性能;近年来,不少作者对选择溶剂的基本原理以及如何提高溶剂的选择性等在有关文献上曾有过专门介绍。在物相分析实践过程中,经常会遇到这样的情况:同一元素不同状态的某些性质极其相近,尽管采取某些措施,仍然不易通过溶剂浸取使它们得到满意的分离。

关键词：化学物相分析溶剂校正计算浸取率

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不稳定河床非恒定流的水位流量关系校正计算

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水文 1987年第4期 33-40页

作者：钟国桢长办丹江口水利枢纽水文实验站

本文根据非恒定流运动的基本原理,并进行一系列简化假设,推导出不稳定河床并受多种水力因素影响下的水位～流量关系校正计算公式,用以改进水位～流量关系曲线,提高资料整编成果精度,效果较好,现整理成文,供参考。一、基本原理与公式推... 详细信息

本文根据非恒定流运动的基本原理,并进行一系列简化假设,推导出不稳定河床并受多种水力因素影响下的水位～流量关系校正计算公式,用以改进水位～流量关系曲线,提高资料整编成果精度,效果较好,现整理成文,供参考。一、基本原理与公式推导明渠水流运动可用圣维南方程组描述,即

关键词：河床校正计算河段河槽水面比降非恒定流不恒定流动能校正系数冲淤变化实测资料变形校正矩形断面落差指数法

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压缩机设计中X、Y函数的校正计算

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压缩机技术 1980年第3期 62-67页

作者：杭铮伍陆雪英上海化工学院化机教究组

一、引言压缩机设计中正确地确定气体的热力状态参数（压力P、比容V、绝对温度T、焓H、熵S）是一个非常重要的问题,多年来许多人在这领域里做了大量的研究工作,有的从宏观的角度依靠实验数据得出了性质属于半经验的气体状态方程,... 详细信息

一、引言压缩机设计中正确地确定气体的热力状态参数（压力P、比容V、绝对温度T、焓H、熵S）是一个非常重要的问题,多年来许多人在这领域里做了大量的研究工作,有的从宏观的角度依靠实验数据得出了性质属于半经验的气体状态方程,其中属于近代的有Peng-Robinson〔1〕方程、修正的Redlich-Kwong〔2〕方程、Sugie-lu〔3〕方程、修正的Benedict-Webb-Rubin〔3〕方程、Bукалович-Нови-ков〔5〕方程和Martin-Hou〔6〕方程等;有的

关键词：方程校正计算函数热力参数压缩机压气机

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薄膜微区定量分析中“净强度”校正计算方法

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自然杂志 1984年第4期 313-314页

作者：何延才中国科学院上海硅酸盐研究所

用X射线显微分析方法测定在一定衬底上的微区薄膜厚度或组份时,由于ZAP效应的存在,使得这一问题极为复杂。作者在文献[1]中定义了自由膜中X射线

关键词：校正计算衬底背散射电子薄膜厚度基片

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微颗粒X射线定量分析中二次荧光校正计算公式

微颗粒X射线定量分析中二次荧光校正计算公式

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第三次中国电子显微学会议

作者：何延才曹立群陈家光中国科学院上海硅酸盐研究所上海市物资局计算站上海宝山钢铁总厂研究室

二次荧光校正计算是微颗粒X射线定量分析中极为困难的问题。本文基于一定物理模型,提出了任意形状、尺寸的多元系颗粒样品二次荧光发射强度计算方法,导出了轴对称旋转体颗粒荧光校正计算公式。设一定能量电子束垂直入射到多元颗粒表面... 详细信息

二次荧光校正计算是微颗粒X射线定量分析中极为困难的问题。本文基于一定物理模型,提出了任意形状、尺寸的多元系颗粒样品二次荧光发射强度计算方法,导出了轴对称旋转体颗粒荧光校正计算公式。设一定能量电子束垂直入射到多元颗粒表面上（图1）,令S表示颗粒中元素j所产生的初次特征X射线光子（称X光子）的空间分辨率。考虑到初次特征X光光子及被激发的二次荧光光子分布的轴对称性,我们假定:1.X光子在颗粒中呈球状分布,且其总强度I集中在光子球心O′。2.颗粒尺寸小荧光激发范围时,二次荧光光子集中在颗粒体中心。由此可以计算强度为I、处于O′位置的X光点光源对整个颗粒体激发荧光的贡献。图1中dφ对应园环的立体

关键词：校正计算颗粒体微颗粒定量分析

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钻孔弯曲的校正计算

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浙江国土资源 1986年第1期 84-86页

作者：刘志珩浙江省测绘大队

钻孔在施工的过程中,由于地质和技术等原因,往往会使钻孔的倾角、方位角发生变化而偏离设计的情况。在编制钻孔剖而图前,必须先校正孔斜与方位。如未经校正,而用原设计钻孔轴线绘制地质界线和矿体,则会产生较大的空间移位,既影响计算储... 详细信息

钻孔在施工的过程中,由于地质和技术等原因,往往会使钻孔的倾角、方位角发生变化而偏离设计的情况。在编制钻孔剖而图前,必须先校正孔斜与方位。如未经校正,而用原设计钻孔轴线绘制地质界线和矿体,则会产生较大的空间移位,既影响计算储量的准确性,也会影响今后开采施工的设计。在小型计算器已较普及的今天,进行钻孔弯曲的校正计算实属易举。本文提供两种计算器的程序,供同行

关键词：存贮器校正计算存储器坐标转换极坐标钻孔弯曲孔斜

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烃族燃料燃气的等熵膨胀过程的校正计算