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  • 1 篇 上海华虹宏力半导...

作者

  • 1 篇 杨光军

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  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=模式代码信号"
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存储器测试模式信号产生电路及方法
存储器测试模式信号产生电路及方法
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作者: 杨光军 201203 上海市张江高科技园区祖冲之路1399号
本发明提供了一种存储器测试模式信号产生电路及方法。根据本发明的存储器测试模式信号产生电路包括:多个存储模块,用于存储数据;主电路,用于产生时钟信号模式代码信号、以及输出判断信号;以及与所述多个存储模块相对应的多个从... 详细信息
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