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  • 1 篇 电子文献
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  • 1 篇 海力士半导体有限...

作者

  • 1 篇 金起业

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  • 1 篇 中文
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半导体存储器的测试模式信号产生器及其产生方法
半导体存储器的测试模式信号产生器及其产生方法
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作者: 金起业 韩国京畿道
本发明公开一种用于半导体存储设备的测试模式信号产生器,包括响应于测试模式寄存器设置信号接收输入的测试进入模式设置地址的测试模式进入控制单元。该测试模式进入控制单元依据该测试进入模式设置地址,输出多个测试进入模式信号和... 详细信息
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