检索结果-内蒙古大学图书馆

光电子器件属于半导体器件中的一个重要的组成部分。它在日常生产生活和许多特殊场合的应用越来越广泛，需求量也在飞速增长。这对光电子器件的设计生产和制造提出了很高的要求，其中器件测试是设计生产和制造中的一个必不可少的环节，测试的方法和精度直接决定了器件质量和生产速度。本文主要研究和开发一套低成本高效率高精度的光电耦合器测试系统，用于满足当前快速高标准的光电耦合器测试需求。\n 光电子器件中的一个主要代表是光电耦合器。它是以光信号为载体传输电子信号的一种元器件，具有良好的抗干扰特性和隔离特性。本文研究开发的测试系统主要是针对光电耦合器的模拟光电参数进行测试。通过计算机的并行接口控制测试条件选择加载，把测量得到的模拟信号利用模数转换芯片转化为数字信号由计算机处理显示，并保存测试结果，生成测试报告。主要的研发工作有:1.设计测试硬件电路原理图和印制电路板的制造2.编写与该测试电路相配套的测试软件3.开发对应于不同器件管脚类型和不同测试环境要求的测试夹具4.调试和完善测试系统，通过专业的计量。该套测试系统具有专业，低成本，易维护，操作简便，软件功能强人的特点。依据光电耦合器参数特点专业定制，完全自主研发，硬件电路全部采用常见的电子元器件，设计制作成本低。各测试环节设计思路原理简单明确，后期整套系统的扩展升级能力好。通过更好的开发工具设计测试软件平台，适用于更为常见的计算机操作环境，提供更为强大的测试功能。\n 本文研究开发的测试系统，利用模数转换芯片把测试得到的模拟信号转换为数字信号经计算机处理获得测试结果。数据的通信和控制信号通过并行接口实现。测试系统硬件电路采用基础元件设计，同时自行配套开发了测试软件，有效地降低了系统设计成本，具有完全的自主知识产权。测试系统通过反复测试验证，达到了光电耦合器的相关行业测试标准，可以快速准确的进行成批量元器件测试，解决了实际工程中对光电耦合器的生产需求。

关键词：光电耦合器测试系统模数转换芯片光电参数

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

采用Σ-Δ工作原理的24位模数转换芯片AD7710

引用

电子与自动化 1999年第5期28卷 38-39页

作者：张培仁王洪波中国科学技术大学自动化系合肥230027

介绍串行输入输出的２４位ＡＤＣ芯片ＡＤ７７１０的基本特点及其Σ－Δ工作原理，最后给出它与８０５１

关键词： AD7710 接口模数转换芯片

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

精密称重模数转换芯片AD7710原理及应用

引用

衡器 2000年第6期29卷 32-34页

作者：郭凌中国人民解放军后勤工程学院

本文介绍了串行24位双通道∑—Δ型的ADC芯片AD7710的组成框图、管脚结构、功能描述及控制寄存器AD7710芯片可广泛应用于各种精密称重测量仪表之中。

关键词：精密称重命令寄存器模数转换芯片 AD7710

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种保护模数转换芯片的实用电路

引用

机械工业自动化 1988年第2期 56-57页

作者：齐国良大连市计算机技术研究所

微机或单板机在工业过程控制中必然要用到模数转换芯片。在采用模数转换芯片进行联机使用的过程中,常常会遇到这样的问题:控制系统中所采用的一次仪表(这里指DDZ-Ⅲ型仪表)由于受到环境温度的影响和外界的干扰而产生偶然性的零点漂移... 详细信息

<正> 微机或单板机在工业过程控制中必然要用到模数转换芯片。在采用模数转换芯片进行联机使用的过程中,常常会遇到这样的问题:控制系统中所采用的一次仪表(这里指DDZ-Ⅲ型仪表)由于受到环境温度的影响和外界的干扰而产生偶然性的零点漂移或由于现场被测量偶然增大(如温度、压力、流量

关键词：模数转换芯片实用电路一次仪表单板机控制系统过程控制信号输入端环境温度干扰脉冲被测量

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备

模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备

引用

作者：胡信伟戴海平李永胜李翔 211899 江苏省南京市自由贸易试验区南京片区研创园团结路99号孵鹰大厦1272室

一种模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备，所述方法包括：向模数转换芯片中输入正弦波，获取采样输出波形；将采样输出波形转换为编码‑采样数量的第一实际输出函数；获取编码‑采样数量的理论标准波形的第一函数；裁剪所... 详细信息

标准号: CN115882858B

一种模数转换芯片微分非线性的测量方法、装置、电子设备，所述方法包括：向模数转换芯片中输入正弦波，获取采样输出波形；将采样输出波形转换为编码‑采样数量的第一实际输出函数；获取编码‑采样数量的理论标准波形的第一函数；裁剪所述第一实际输出函数的两侧中的一侧，以获取第二实际输出函数；横向缩放所述第一函数，所述理论输出函数是通过缩放后的第一函数和第一正态分布函数卷积形成的；基于所述第二实际输出函数和所述理论输出函数，计算所述模数转换芯片的微分非线性。本发明提高测量微分非线性的准确度和精度。