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文献类型

  • 3 篇 期刊文献
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  • 1 篇 成果

馆藏范围

  • 6 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 6 篇 工学
    • 6 篇 电子科学与技术(可...
    • 3 篇 材料科学与工程(可...

主题

  • 6 篇 比例差值算符
  • 2 篇 半导体器件
  • 1 篇 质量控制
  • 1 篇 半导体
  • 1 篇 集成电路芯片分析
  • 1 篇 综合检测
  • 1 篇 特征参数
  • 1 篇 退化模型
  • 1 篇 本征特性
  • 1 篇 直接提取
  • 1 篇 可靠性分析
  • 1 篇 mos器件特性
  • 1 篇 谱分析
  • 1 篇 一代
  • 1 篇 谱峰
  • 1 篇 退化特性
  • 1 篇 器件参数
  • 1 篇 mosfet
  • 1 篇 系统
  • 1 篇 集成电路芯片检测

机构

  • 6 篇 北京大学
  • 3 篇 北信通微电子系统...

作者

  • 4 篇 许铭真
  • 3 篇 杨斌
  • 3 篇 谭映
  • 3 篇 王国林
  • 3 篇 马进元
  • 2 篇 谭长华
  • 1 篇 纪志罡
  • 1 篇 马金源
  • 1 篇 许名镇
  • 1 篇 靳磊
  • 1 篇 王金延

语言

  • 6 篇 中文
检索条件"主题词=比例差值算符"
6 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
用于集成电路芯片检测与分析的比例差值算符及其应用技术
用于集成电路芯片检测与分析的比例差值算符及其应用技术
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作者: 许名镇 谭长华 北京大学
该项目为硅基集成电路芯片,属微电子科学技术领域,该项研究运用一种新的数据处理运概念,即比例差值算符,揭示了元器件的另一种本征特性一比例差值特性,基于wIn95\NT操作系统下的最新图形操作界面,所有测试与分析结果均可用图形方式显... 详细信息
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ULSI MOS器件的比例差值特性及其退化效应的研究
ULSI MOS器件的比例差值特性及其退化效应的研究
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作者: 王金延 北京大学
学位级别:博士
器件表征技术一直是深入理解和分析器件特性的必要工具.随着深亚微米器件的出现,原有的表征技术存在许多困难,这为表征技术的发展和新的表征技术的创建提供了客观需求.该文在比例差值算符理论基础上,发展了一系列MOS器件的比例差值特性... 详细信息
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新一代半导体器件参数的比例差值谱系统
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中国集成电路 2005年 第12期14卷 49-53,72页
作者: 纪志罡 靳磊 许铭真 谭映 王国林 马进元 北京大学微电子研究院 北信通微电子系统公司
1.引言随着大规模集成芯片上的器件尺寸的微型化,为了解决微小尺度的各种功能器件关键参数的直接提取及建立一种在线的综合检测与分析技术,半导体器件参数比例差值谱系统运用了一种新的数据处理运概念,即比例差值算符,揭示了元器件的... 详细信息
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半导体器件参数的比例差值谱分析系统
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中国集成电路 2004年 第1期13卷 67-70,83页
作者: 杨斌 谭映 王国林 马进元 许铭真 北京大学微电子研究院 北信通微电子系统公司
1.引言随着大规模集成芯片上的器件尺寸的微型化,为解决微小尺度的各种功能器件关键参数的直接提取及建立一种在线的综合检测与分析技术,半导体器件参数比例差值谱分析系统运用一种新的数据处理运概念,即比例差值算符,揭示了元器件的... 详细信息
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半导体器件参数比例差值谱分析系统
半导体器件参数比例差值谱分析系统
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第十三届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议暨第九届全国固体薄膜学术会议
作者: 谭长华 许铭真 杨斌 马金源 北京大学微电子研究院
该系统运用一种新的数据处理运概念,即比例差值算符,揭示了元器件的另一种本征特性-比例差值特性.提供的统一用户接口便于用户实现监测、快速数据采集和分析一体化.该系统适用于薄膜材料缺陷分析和多类半导体器件如二极管、三极管、... 详细信息
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0.13μm MOSFET 器件的可靠性分析技术
收藏 引用
中国集成电路 2004年 第4期13卷 15-18页
作者: 杨斌 谭映 王国林 马进元 许铭真 北京大学微电子研究院 北信通微电子系统公司
随着大规模集成化芯片上的器件尺寸微型化,MOSFET器件的按比例缩小的一个突出的影响是饱和区趋向消失,给器件特征参数(饱和电流,饱和电压,阈值电压,载流子迁移率)的确定和可靠性评估带来困难。为解决微小尺度的各种功能器件关键参... 详细信息
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