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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

15 篇 专利

馆藏范围

15 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 佳能特机株式会社
2 篇 中国石油化工股份...
2 篇 新东工业株式会社
2 篇 株式会社大赛璐
2 篇 中国石油化工股份...
1 篇 日本精工株式会社
1 篇 千住金属工业株式...
1 篇 纳博特斯克有限公...
1 篇 希森美康株式会社

作者

2 篇 张日鹏
2 篇 徐银谋
2 篇 朴笑敏
2 篇 牧野良保
2 篇 德田政和
2 篇 中安雅之
2 篇 赵祥迪
2 篇 王正
2 篇 袁纪武
2 篇 NOT FOUND
1 篇 丰岛弘人
1 篇 三村拓平
1 篇 半泽编理
1 篇 吉村隆
1 篇 川岛泰司
1 篇 井原一征
1 篇 石井博
1 篇 近藤祯晃
1 篇 佐藤祐希
1 篇 菅原洋纪

语言

15 篇 中文

检索条件"主题词=测定构件"

共 15 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

对准装置、对准方法、成膜装置、成膜方法及电子器件的制造方法

对准装置、对准方法、成膜装置、成膜方法及电子器件的制造方法

引用

作者：三村拓平柴田匠日本新泻县

本发明涉及对准装置、对准方法、成膜装置、成膜方法以及电子器件的制造方法。抑制由对准照相机的光轴的倾斜引起的对准精度的降低。对准装置具有：移动构件，所述移动构件使基板和掩模中的至少一方沿着与基板的成膜面交叉的移动方向移... 详细信息

标准号: CN115831840A

本发明涉及对准装置、对准方法、成膜装置、成膜方法以及电子器件的制造方法。抑制由对准照相机的光轴的倾斜引起的对准精度的降低。对准装置具有：移动构件，所述移动构件使基板和掩模中的至少一方沿着与基板的成膜面交叉的移动方向移动；测定构件，所述测定构件使用光学拍摄构件来测定沿着基板的成膜面的方向上的基板与掩模的相对位置关系；对准构件，所述对准构件基于测定构件的测定结果来调整基板与掩模的相对位置关系；调整构件，所述调整构件对拍摄构件的光轴和基于移动构件的移动方向中的至少任一个的倾斜进行调整；以及控制构件，所述控制构件根据与拍摄构件的光轴和基于移动构件的移动方向的相对倾斜相关的信息来控制调整构件。

关键词：移动构件基板测定构件移动方向光轴掩模相对位置关系对准调整构件对准构件对准装置控制构件拍摄构件成膜成膜装置电子器件调整基板光学拍摄控制调整相对倾斜成膜面照相机移动制造

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成膜装置

成膜装置

引用

作者：菅原洋纪石井博朴笑敏日本新泻县

本发明涉及成膜装置，用于提高测定成膜后的基板的膜厚时的便利性。本发明的成膜装置具备：成膜室，所述成膜室设置有对基板进行成膜的成膜单元；输送构件，所述输送构件一边将基板保持在下侧，一边在基板的成膜位置与基板的接收位置之... 详细信息

标准号: CN115961255A

本发明涉及成膜装置，用于提高测定成膜后的基板的膜厚时的便利性。本发明的成膜装置具备：成膜室，所述成膜室设置有对基板进行成膜的成膜单元；输送构件，所述输送构件一边将基板保持在下侧，一边在基板的成膜位置与基板的接收位置之间输送基板；以及测定构件，所述测定构件对在保持于输送构件的基板上形成的膜的厚度进行测定。

关键词：基板输送构件测定构件成膜装置成膜室成膜成膜单元成膜位置基板保持接收位置输送基板便利性对基板膜厚

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膜厚测定装置、成膜装置、膜厚测定方法、电子器件的制造方法及存储介质

膜厚测定装置、成膜装置、膜厚测定方法、电子器件的制造方法及存...

引用

作者：佐藤祐希小林康信谷和宪日本新泻县

本发明涉及膜厚测定装置、成膜装置、膜厚测定方法、电子器件的制造方法以及存储介质。能够抑制从大型基板切出的基板的膜厚的测定精度降低。膜厚测定装置具备：基板支承构件，所述基板支承构件对将大型基板分割而得到的多个基板中的任... 详细信息

标准号: CN113851386A

本发明涉及膜厚测定装置、成膜装置、膜厚测定方法、电子器件的制造方法以及存储介质。能够抑制从大型基板切出的基板的膜厚的测定精度降低。膜厚测定装置具备：基板支承构件，所述基板支承构件对将大型基板分割而得到的多个基板中的任一个基板进行支承；测定构件，所述测定构件对在支承于基板支承构件的基板上形成的膜的膜厚进行光学测定；以及控制构件，所述控制构件控制测定构件。取得构件取得与支承于基板支承构件的基板在分割前的大型基板中的部位相关的基板信息。控制构件基于取得构件取得的基板信息，决定测定构件的测定条件。

关键词：基板支承构件测定构件基板大型基板控制构件支承膜厚测定装置基板信息膜厚测定条件成膜装置存储介质电子器件多个基板光学测定精度降低膜厚测定分割切出制造

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反射率测定装置、成膜装置

反射率测定装置、成膜装置

引用

作者：朴笑敏日本新泻县

本发明涉及反射率测定装置、成膜装置。用于防止反射率的测定精度降低。反射率测定装置具备：光源；投受光头，所述投受光头具备投光部、反射光输入部及修正光输入部，所述投光部向被测定物照射被输入到投受光头的来自光源的光所包含的... 详细信息

标准号: CN116083874A

本发明涉及反射率测定装置、成膜装置。用于防止反射率的测定精度降低。反射率测定装置具备：光源；投受光头，所述投受光头具备投光部、反射光输入部及修正光输入部，所述投光部向被测定物照射被输入到投受光头的来自光源的光所包含的第一光和第二光中的第一光，所述反射光输入部将第一光由被测定物反射后的反射光输入到第一线材，所述修正光输入部将第二光不照射到被测定物而输入到第二线材；测定构件，所述测定构件对经由第一线材传送的第三光的强度和经由第二线材传送的第四光的强度进行测定；以及确定构件，所述确定构件基于由测定构件测出的第三光的强度和第四光的强度来确定被测定物的反射率。

关键词：被测定物线材测定构件反射光光头反射率测定装置确定构件反射率投光部光源照射传送修正成膜装置光输入部精度降低光输入反射

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一种沥青路面摊铺厚度测定尺

一种沥青路面摊铺厚度测定尺

引用

作者：阎晓琦 730000 甘肃省兰州市城关区广武门后街75号803

本实用新型涉及测定尺技术领域，特别是一种沥青路面摊铺厚度测定尺，包括底板，所述底板的一侧固定连接有支架，所述支架的一侧设置有测定构件，所述测定构件包括控制板，所述控制板的一侧固定连接有连接杆。本实用新型的优点在于：当... 详细信息

标准号: CN218779296U

本实用新型涉及测定尺技术领域，特别是一种沥青路面摊铺厚度测定尺，包括底板，所述底板的一侧固定连接有支架，所述支架的一侧设置有测定构件，所述测定构件包括控制板，所述控制板的一侧固定连接有连接杆。本实用新型的优点在于：当进行沥青路面的沥青厚度进行测量时，首先将测量装置移至工作位置，随后使用锁地钉将底板固定在底面上，按动控制板通过升降板带动量尺向下运动，直至量尺插入沥青路面底部后，通过观察量尺可以进行沥青厚度的测定，沥青厚度测定完成之后松开控制板，在第一弹簧的弹力作用下可以带动量尺向下运动，并相对于刮板进行滑动，可以将粘在量尺上沥青进行刮除，可以防止沥青粘附在量尺上致其精度降低。

关键词：量尺控制板底板沥青本实用新型测定构件厚度测定向下运动支架动量沥青路面摊铺测量装置弹力作用精度降低沥青路面沥青粘附连接杆滑动弹簧松开按动板带地钉刮板刮除升降测量观察

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表面特性检查挑选装置、表面特性检查挑选系统以及表面特性检查挑选方法

表面特性检查挑选装置、表面特性检查挑选系统以及表面特性检查挑...

引用

作者：牧野良保日本爱知县

提供一种表面特性检查挑选装置、表面特性检查挑选系统以及表面特性检查挑选方法，能够高效地进行对实施表面处理后的弹簧状构件的表面特性进行评价并判断好坏来挑选出良品和不良品的工序，从而较佳地应用于生产节拍时间短的弹簧状构件... 详细信息

标准号: CN106030300B

提供一种表面特性检查挑选装置、表面特性检查挑选系统以及表面特性检查挑选方法，能够高效地进行对实施表面处理后的弹簧状构件的表面特性进行评价并判断好坏来挑选出良品和不良品的工序，从而较佳地应用于生产节拍时间短的弹簧状构件的检查和挑选。表面特性检查挑选装置(1)是对进行表面处理后的弹簧状构件(M)的表面特性进行评价并判断好坏来根据其判别结果挑选为良品和不良品后送出的装置，具备表面特性检查装置(2)、测定弹簧状构件(M)的表面特性的测定构件(40)以及将弹簧状构件(M)挑选为良品和不良品的挑选单元(50)。测定构件(40)构成为能够使弹簧状构件(M)通过检查检测器23，根据在弹簧状构件(M)通过检查检测器(23)的期间从交流桥电路(20)输出的输出信号，由表面特性检查装置(2)对弹簧状构件(M)的表面特性进行评价并判断好坏。

关键词：表面特性弹簧状构件检查不良品良品检测器测定构件检查装置挑选装置判别结果生产节拍输出信号交流桥送出电路输出应用

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螺纹部的加工方法以及加工装置

螺纹部的加工方法以及加工装置

引用

作者：吉村隆近藤祯晃日本东京

防止被加工物（19a）的螺纹部的导程因加工中的被加工物（19a）的热膨胀的影响而产生不一致。由测定构件（13）测定加工中的被加工物（19a）的关于轴方向的热膨胀量，从其测定结果得到关于加工中的被加工物（19a）的热膨胀量的履历信息... 详细信息

标准号: CN104136160B

防止被加工物（19a）的螺纹部的导程因加工中的被加工物（19a）的热膨胀的影响而产生不一致。由测定构件（13）测定加工中的被加工物（19a）的关于轴方向的热膨胀量，从其测定结果得到关于加工中的被加工物（19a）的热膨胀量的履历信息，由控制装置（17a）根据加工完的被加工物（19a）的热膨胀量的履历信息，决定相对于下一个应加工的被加工物（19a）的旋转驱动轴（11）的相对旋转的速度或轴方向进给装置（16a）的进给速度。

关键词：被加工物热膨胀量加工履历信息热膨胀旋转驱动轴测定构件进给装置控制装置相对旋转不一致螺纹部导程进给

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喷流焊料高度确认器具及其操作方法

喷流焊料高度确认器具及其操作方法

引用

作者：川岛泰司工藤孝则小峰滋男杉原崇史半泽编理日本东京都

如图1所示，喷流焊料高度确认器具包括：测定构件(10)，其具有导电性，进行熔融焊料的喷流波的高度的设定和测量中的至少任一者；滑动保持构件(20)，其具有绝缘性，具有-侧电极和+侧电极，该滑动保持构件(20)与-侧电极滑动接触且将保持... 详细信息

标准号: CN103958105B

如图1所示，喷流焊料高度确认器具包括：测定构件(10)，其具有导电性，进行熔融焊料的喷流波的高度的设定和测量中的至少任一者；滑动保持构件(20)，其具有绝缘性，具有-侧电极和+侧电极，该滑动保持构件(20)与-侧电极滑动接触且将保持测定构件(10)保持为滑动自如；LED显示构件(30)，其用于确认接触动作，设于滑动保持构件(20)且连接于-侧电极；以及桥接构件(40)，其具有导电性，具有能够桥接容纳有熔融焊料的容器上部的金属构件之间的长度，该桥接构件(40)与连接于LED显示构件(30)的+侧电极滑动接触且支承滑动保持构件(20)。能够使测定构件(10)和熔融焊料喷流波作为LED显示构件(30)的驱动开关(接触点)发挥功能。其结果，在调整熔融焊料的喷流波的高度时，能够利用发光颜色的闪烁、间歇性的蜂鸣等确认熔融焊料的喷流波的高度已达到喷流目标高度的状态。

关键词：熔融焊料侧电极保持构件测定构件滑动导电性桥接构件喷流发光颜色焊料高度滑动自如接触动作金属构件目标高度驱动开关容器上部支承滑动间歇性接触点绝缘性与连接蜂鸣桥接测量设定容纳闪烁保持连接调整进行

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试样分析装置

试样分析装置

引用

作者：丰岛弘人增谷晃一日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号

本发明提供一种在误放入耗材的情况下也能顺利进行以后的处理的试样分析装置。试样分析装置具有用反应杯C1进行试样测定的测定构件部分、用于放入反应杯C1的放入口、将从放入口放入的反应杯C1供应给测定构件部分的反应杯供应部件、区分... 详细信息

标准号: CN103675310B

本发明提供一种在误放入耗材的情况下也能顺利进行以后的处理的试样分析装置。试样分析装置具有用反应杯C1进行试样测定的测定构件部分、用于放入反应杯C1的放入口、将从放入口放入的反应杯C1供应给测定构件部分的反应杯供应部件、区分与反应杯C1形状不同的吸头C2和反应杯C1的移送轨531、收纳部件、将移送轨531区分的吸头C2引导至收纳部件的引导部件55。由此，用户无需通过复杂的作业来除去误放入的吸头C2，只需除去收纳部件中的吸头C2就能取出误放入的吸头C2。

关键词：反应杯放入吸头收纳部件试样分析装置测定构件放入口供应部件试样测定引导部件耗材取出

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连接强度的测定方法

连接强度的测定方法

引用

作者：中塚直树德田政和中安雅之日本大阪府

本发明提供测定对象的连接强度的测定方法，其为测定第1测定构件与第2测定构件连接而成的测定对象的连接强度的方法，所述测定对象是作为筒构件或杯构件的所述第1测定构件与作为筒构件或杯构件的所述第2测定构件在各自的开口部侧连接而... 详细信息

标准号: CN107923829A

本发明提供测定对象的连接强度的测定方法，其为测定第1测定构件与第2测定构件连接而成的测定对象的连接强度的方法，所述测定对象是作为筒构件或杯构件的所述第1测定构件与作为筒构件或杯构件的所述第2测定构件在各自的开口部侧连接而成，所述方法具有：步骤1：在以从外侧包围的状态固定所述第1测定构件的周壁部的同时，将所述第2测定构件的开口部的环状端面不固定而是从轴向进行支撑；步骤2：中空地保持在步骤1中固定了的所述第1测定构件；步骤3：拉离所述第1测定构件直至所述第1测定构件与所述第2测定构件的连接部分分离。

关键词：测定构件测定对象杯构件开口部筒构件环状端面侧连接周壁部从轴空地包围支撑

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