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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

11 篇 专利

馆藏范围

11 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

2 篇 村田机械株式会社
2 篇 株式会社荏原制作...
2 篇 东西大学
2 篇 株式会社斯库林集...
1 篇 国立大学法人名古...
1 篇 三菱电机株式会社
1 篇 ntn株式会社
1 篇 富士设计科技有限...

作者

2 篇 矶野慎太郎
2 篇 冈崎阳平
2 篇 黄禹进
2 篇 曹大洙
2 篇 安田穗积
2 篇 塩田明仁
2 篇 福岛诚
2 篇 山木晓
2 篇 松本圭吾
2 篇 黄琪铉
2 篇 郑道云
2 篇 实井祐介
2 篇 并木计介
2 篇 锅谷治
2 篇 NOT FOUND
1 篇 高田声一
1 篇 内山刚
1 篇 中山晋介
1 篇 名女松谕
1 篇 安达健郎

语言

11 篇 中文

检索条件"主题词=测定用传感器"

共 11 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

参数调整装置、学习装置、测定系统、参数调整方法及程序

参数调整装置、学习装置、测定系统、参数调整方法及程序

引用

作者：阿多大树名女松谕日本东京

参数调整装置(500)对与由测定用传感器(210)向对象物投射的激光的控制相关的参数进行调整。参数计算部(520)针对通过使用了包含测定用传感器(210)的受光量的波形数据和表示取得波形数据时的参数的数据在内的学习数据的机器学习而生成的... 详细信息

标准号: CN115427753A

参数调整装置(500)对与由测定用传感器(210)向对象物投射的激光的控制相关的参数进行调整。参数计算部(520)针对通过使用了包含测定用传感器(210)的受光量的波形数据和表示取得波形数据时的参数的数据在内的学习数据的机器学习而生成的训练好的模型，应用在新的状态下新取得的波形数据，计算在新的状态下使用测定用传感器(210)能够对对象物进行测定的参数。参数输出部(530)将表示由参数计算部(520)计算出的参数的数据进行输出。

关键词：测定用传感器波形数据参数计算部对象物参数调整装置参数输出部机器学习学习数据受光量投射激光输出应用

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纱线监视装置和纱线卷绕机

纱线监视装置和纱线卷绕机

引用

作者：冈崎阳平松本圭吾日本京都府

本发明提供一种能够容易地应对保持架的规格变更的纱线监视装置及纱线卷绕机。纱线监视装置(50)具备：以沿规定方向排列的方式层叠的多个保持架(8)；多个平板状基板(52)；以及收纳多个保持架(8)和多个平板状基板(52)的壳体(54)。在多个... 详细信息

标准号: CN106429636A

本发明提供一种能够容易地应对保持架的规格变更的纱线监视装置及纱线卷绕机。纱线监视装置(50)具备：以沿规定方向排列的方式层叠的多个保持架(8)；多个平板状基板(52)；以及收纳多个保持架(8)和多个平板状基板(52)的壳体(54)。在多个保持架(8)上分别搭载有对移动的纱线的状态进行测定的测定用传感器部件。平板状基板(52)与多个保持架(8)分别对应且针对每个该保持架(8)设有一个或多个，并对来自搭载于对应的保持架(8)的测定用传感器部件的信号进行处理。多个保持架(8)各自的测定用传感器部件经由挠性连接部(73、93)与对应的平板状基板(52)分别电连接。

关键词：保持架平板状基板测定用传感器纱线监视装置信号进行处理挠性连接部纱线卷绕机收纳方向排列规格变更电连接壳体移动

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上浮量计算装置、涂覆装置以及涂覆方法

上浮量计算装置、涂覆装置以及涂覆方法

引用

作者：塩田明仁实井祐介日本京都府

本发明提供一种上浮量计算装置、涂覆装置以及涂覆方法。在使基板从载台上浮地进行搬运并向基板涂覆涂覆液的涂覆装置中，无论基板的种类，都能高精度地求出从载台上浮的上浮量。涂覆装置具有：板厚测定用传感器，检测吸附部件中的吸附... 详细信息

标准号: CN108525942B

本发明提供一种上浮量计算装置、涂覆装置以及涂覆方法。在使基板从载台上浮地进行搬运并向基板涂覆涂覆液的涂覆装置中，无论基板的种类，都能高精度地求出从载台上浮的上浮量。涂覆装置具有：板厚测定用传感器，检测吸附部件中的吸附基板的下表面的吸附面的铅垂方向位置和基板中的被吸附部位的上表面区域的铅垂方向位置；上浮测定用传感器，检测载台的上表面的铅垂方向位置和搬运至载台的上方的基板的上表面的铅垂方向位置；板厚计算部，基于吸附面的铅垂方向位置以及被吸附部位的上表面区域的铅垂方向位置来计算基板的板厚；上浮量计算部，基于载台的上表面的铅垂方向位置和基板的上表面的铅垂方向位置、计算出的板厚来计算基板的上浮量。

关键词：铅垂方向基板上表面上浮量板厚吸附涂覆装置载台测定用传感器上表面区域计算基板计算部搬运计算装置吸附部件吸附基板基板涂涂覆液下表面检测浮地上浮涂覆

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研磨装置及研磨方法

研磨装置及研磨方法

引用

作者：並木计介安田穗积锅谷治福岛诚富樫真吾山木晓矶野慎太郎日本国东京都大田区羽田旭町11番1号

本发明提供一种可抑制基板保持部件的保持环形状的每个保持环的偏差和经时变化所带来的研磨外形的重现性下降。该研磨装置具有：研磨头(1)，该研磨头将基板(W)按压到研磨垫(101)上并具有将被按压到研磨垫(101)上的基板(W)包围的挡环(3)... 详细信息

标准号: CN104942699A

本发明提供一种可抑制基板保持部件的保持环形状的每个保持环的偏差和经时变化所带来的研磨外形的重现性下降。该研磨装置具有：研磨头(1)，该研磨头将基板(W)按压到研磨垫(101)上并具有将被按压到研磨垫(101)上的基板(W)包围的挡环(3)；测定用传感器(51)，该测定用传感器对挡环(3)的表面形状进行测定；以及控制部(500)，该控制部根据由测定用传感器(51)测定的挡环(3)的表面形状来决定基板(W)的研磨条件。

关键词：测定用传感器挡环基板按压保持环控制部研磨垫研磨头测定板保持部件经时变化研磨条件研磨装置研磨偏差和抑制基重现性一种包围下降决定进行

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研磨装置及研磨方法

研磨装置及研磨方法

引用

作者：並木计介安田穗积锅谷治福岛诚富樫真吾山木晓矶野慎太郎日本国东京都大田区羽田旭町11番1号

标准号: CN104942699B

关键词：测定用传感器挡环基板按压研磨垫研磨头板保持部件经时变化研磨条件研磨装置研磨环形状抑制基重现性包围

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利用无拘束活体信息的散漫度推测系统

利用无拘束活体信息的散漫度推测系统

引用

作者：黄禹进郑道云黄琪铉曹大洙韩国釜山市沙上区周礼路47(周礼洞东西大学校)

本发明是一种利用无拘束活体信息的散漫度推测系统，所述系统包括：散漫度测定椅子，其从上到下依次形成就坐部、信息发送部、压力检测部、支撑部，所述散漫度测定椅子具有智能传感器，所述智能传感器包括在位于所述支撑部上部的所述压... 详细信息

标准号: CN108778127A

本发明是一种利用无拘束活体信息的散漫度推测系统，所述系统包括：散漫度测定椅子，其从上到下依次形成就坐部、信息发送部、压力检测部、支撑部，所述散漫度测定椅子具有智能传感器，所述智能传感器包括在位于所述支撑部上部的所述压力检测部上的平面三角边角区域以3点状形成的三个称重传感器；移动智能终端，通过蓝牙通信接收来自所述散漫度测定椅子的所述信息发送部的散漫度信息，智能传感器利用基于多传感器的姿势测定用传感器即所述三个称重传感器来同时对多路信息进行监控，并形成为多通道模式以利用姿势信息同时测定大小和方向值，利用无拘束活体信息的散漫度推测系统具有微处理器，由此，构成信息发送部的接口模块通过扩展接口能够与外部传感器相连接，从而能够进行活体测量，并用于将获得的活体测量信号进行A/D变换及无线数据传送，微处理器在姿势信息监控时，从智能传感器提取乘坐者最初就坐时一次测定的体重信息，并通过生成预设正确的姿势信息的补正信息，从智能传感器接收到的体重信息的分布中检测出姿势分布变化。

关键词：智能传感器姿势信息椅子称重传感器信息发送部压力检测部微处理器活体测量活体信息体重信息推测系统无拘束姿势测定用传感器无线数据传送移动智能终端多通道模式外部传感器边角区域补正信息从上到下多传感器多路信息分布变化构成信息接口模块扩展接口蓝牙通信平面三角就坐部监控点状预设支撑发送检测

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纱线监视装置和纱线卷绕机

纱线监视装置和纱线卷绕机

引用

作者：冈崎阳平松本圭吾日本京都府

标准号: CN106429636B

关键词：保持架平板状基板测定用传感器纱线监视装置信号进行处理挠性连接部纱线卷绕机收纳方向排列规格变更电连接壳体移动

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利用无拘束活体信息的散漫度推测系统

利用无拘束活体信息的散漫度推测系统

引用

作者：黄禹进郑道云黄琪铉曹大洙韩国釜山市沙上区周礼路47(周礼洞东西大学校)

标准号: CN108778127B

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上浮量计算装置、涂覆装置以及涂覆方法

上浮量计算装置、涂覆装置以及涂覆方法

引用

作者：塩田明仁实井祐介日本京都府

标准号: CN108525942A

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磁检测装置

磁检测装置

引用

作者：内山刚中山晋介热田谕志日本爱知县

本发明提供一种磁检测装置，其在使多个传感器差动来进行磁场检测的情况下能够进行高精度的检测。在磁检测装置（10）中，一对传感器（12）的感磁部通过耦合部件（14）在磁路上串联耦合，所述耦合部件（14）由相对磁导率为100以上的磁... 详细信息

标准号: CN103492895B

本发明提供一种磁检测装置，其在使多个传感器差动来进行磁场检测的情况下能够进行高精度的检测。在磁检测装置（10）中，一对传感器（12）的感磁部通过耦合部件（14）在磁路上串联耦合，所述耦合部件（14）由相对磁导率为100以上的磁性材料、具有构成所述感磁部的磁性材料的相对磁导率的1/100以上的相对磁导率的磁性材料、或者与磁传感器的感磁部材料相同的磁性材料构成，因此在两个传感器中被相等地施加环境磁场、磁背景噪声等外部磁场，并能够对其进行检测。另外，使测定用传感器（12）检测测定对象物（50）产生的磁场，使参照用传感器（12b）的输出进行差动，由此能够降低外部磁场的影响，仅高精度地检测测定对象物（50）产生的磁场。

关键词：磁性材料传感器磁导率感磁部检测测定对象物磁检测装置外部磁场耦合部件差动磁场测定用传感器背景噪声串联耦合磁场检测磁传感器环境磁场相等施加输出

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