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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

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文献类型

16 篇 专利

馆藏范围

16 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

2 篇 上海工程技术大学
2 篇 上海申通地铁集团...
2 篇 北京市汉华环球科...
2 篇 电子科技大学
2 篇 昆山龙腾光电股份...
2 篇 武汉万集信息技术...
1 篇 深圳市爱普泰科电...
1 篇 创视微电子有限公...
1 篇 易思维科技有限公...
1 篇 中国人民解放军海...
1 篇 湖南艾科诺维科技...
1 篇 长鑫存储技术有限...

作者

2 篇 李煜
2 篇 冯伟
2 篇 张虎
2 篇 吴浩
2 篇 王泉
2 篇 彭俊
2 篇 沈涛
2 篇 李小波
2 篇 马志鹏
2 篇 乔向洋
2 篇 季颖
2 篇 王鹏鹏
2 篇 何松柏
2 篇 吴雷
2 篇 游飞
1 篇 鲍杰
1 篇 王睿轶
1 篇 张敏
1 篇 张舒妍
1 篇 秦艳琳

语言

16 篇 中文

检索条件"主题词=测试信号生成模块"

共 16 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

基于离散序列和非对称式距离电子设备故障检测方法及检测系统

基于离散序列和非对称式距离电子设备故障检测方法及检测系统

引用

作者：付钰杨金宝秦艳琳刘涛涛 430030 湖北省武汉市硚口区解放大道717号

本发明公开了一种基于离散序列和非对称式距离电子设备故障检测方法，包括以下步骤：S1、选取一个无故障电路模型，作为应用对象；S2、测试信号生成模块生产的激励信号经过检测模块施加到应用对象上的两个不同节点，获得两个不同节点的... 详细信息

标准号: CN116165574A

本发明公开了一种基于离散序列和非对称式距离电子设备故障检测方法，包括以下步骤：S1、选取一个无故障电路模型，作为应用对象；S2、测试信号生成模块生产的激励信号经过检测模块施加到应用对象上的两个不同节点，获得两个不同节点的电路响应信号；S3、建立离散时间的信号模型A和离散时间的信号模型B；S4、根据信号模型A和信号模型B中的点与点的匹配方式，求出具有最小距离的路径K′；S5、根据获得的路径K′，求出一系列的距离D_ij，选取其中最大的距离作为故障检测的阈值D_f；对待检测电路模型进行步骤S2‑S4，将距离D_ij与步骤S5获得的阈值D_f进行比较，若D>D_f，则认为电路处于故障状态，反之，则电路正常。

关键词：信号模型应用对象电路测试信号生成模块电路响应信号电子设备故障无故障电路非对称式故障检测故障状态激励信号检测电路检测模块离散序列匹配方式最小距离施加检测生产

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一种检前记录装置的上位机软件测试方法、系统及介质

一种检前记录装置的上位机软件测试方法、系统及介质

引用

作者：姜伟王萌 410000 湖南省长沙市开福区伍家岭街道栖凤路486号凯乐微谷商务中心1栋7层710号房

本发明公开了一种检前记录设备的上位机软件测试方法、系统及介质，方法包括以下步骤：创建虚拟设备，配置虚拟设备的接口；根据测试场景生成测试信号；虚拟设备获取测试信号，并通过对应接口实时发送给上位机软件。系统包括：虚拟设备... 详细信息

标准号: CN116701190A

本发明公开了一种检前记录设备的上位机软件测试方法、系统及介质，方法包括以下步骤：创建虚拟设备，配置虚拟设备的接口；根据测试场景生成测试信号；虚拟设备获取测试信号，并通过对应接口实时发送给上位机软件。系统包括：虚拟设备模块，用于创建虚拟设备，配置虚拟设备的接口；所述虚拟设备用于获取测试信号，并通过对应接口实时发送给上位机软件；测试信号生成模块，用于根据测试场景生成测试信号。本发明不需要原有装置的硬件支撑或仅需其计算机资源即可对其上位机软件进行全方位的测试。

关键词：虚拟设备上位机软件测试场景测试信号生成测试测试信号生成模块虚拟设备模块计算机资源测试记录设备创建配置支撑

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一种计数器及锁存器阵列的测试系统

一种计数器及锁存器阵列的测试系统

引用

作者：请求不公布姓名 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1577号10楼

本发明公开了一种计数器及锁存器阵列的测试系统，包括：输入模块，用于为测试人员提供输入测试值和期待值的接口，并将测试值发送给测试信号生成模块，将期待值发送给判定模块；信号生成模块，用于将测试值转换为测试值设定信号，同时... 详细信息

标准号: CN115695778A

本发明公开了一种计数器及锁存器阵列的测试系统，包括：输入模块，用于为测试人员提供输入测试值和期待值的接口，并将测试值发送给测试信号生成模块，将期待值发送给判定模块；信号生成模块，用于将测试值转换为测试值设定信号，同时接收来自锁相环的高速时钟信号，并根据测试值设定信号和所述高速时钟信号输出时钟个数控制信号；计数器及锁存器阵列，用于根据时钟个数控制信号进行计数，并根据计数值进行逻辑运算，将逻辑运算结果发送至判定模块；判定模块，用于对所述逻辑运算结果与所述期待值进行一致性判断，输出判定结果。本系统可实现对计数器及锁存器阵列的功能及性能完备性测试，达到对计数器及锁存器运算阵列的网罗性测试目的。

关键词：计数器测试锁存器阵列判定模块高速时钟信号逻辑运算结果个数控制测试信号生成模块信号生成模块完备性测试一致性判断测试系统逻辑运算输出判定输出时钟输入测试输入模块运算阵列锁存器锁相环发送转换

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一种宽带零中频收发系统失真补偿装置

一种宽带零中频收发系统失真补偿装置

引用

作者：何松柏张虎彭俊游飞 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

本发明公开了一种宽带零中频收发系统失真补偿装置，属于通信技术领域，具体提出了一种无需额外标准设备，即可同时完成宽带零中频收发系统收发两端I/Q不平衡估计与补偿的技术。该装置包括：测试信号生成模块、零中频发射机、非线性模... 详细信息

标准号: CN111934694B

本发明公开了一种宽带零中频收发系统失真补偿装置，属于通信技术领域，具体提出了一种无需额外标准设备，即可同时完成宽带零中频收发系统收发两端I/Q不平衡估计与补偿的技术。该装置包括：测试信号生成模块、零中频发射机、非线性模块、零中频接收机、发射机补偿模块、发射机补偿模块、接收机补偿模块；本发明能够联合求解发射端、接收端的I/Q不平衡的模型参数，同时提高收/发信机的性能。不需要额外设计发射/接收回路或者需要额外的标准设备，同时对于选用的非线性器件没有要求，只需要已知其非线性特征即可，一方面降低了校正的成本，另外也具有相对较大的灵活性。

关键词：补偿模块发射机标准设备收发系统零中频宽带测试信号生成模块零中频发射机零中频接收机失真补偿装置通信技术领域不平衡估计非线性模块非线性器件非线性特征接收机接收回路模型参数发射端发信机求解校正收发发射联合

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射频性能测试电路及装置

射频性能测试电路及装置

引用

作者：胡裕华 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A4栋501

本申请涉及一种射频性能测试电路，包括测试控制模块、测试信号生成模块及测试切换模块，其中，测试控制模块与多个待测射频设备一一连接，用于根据测试触发信号向待测射频设备发送测试准备指令，以控制待测射频设备进入预设准备状态；... 详细信息

标准号: CN217467051U

本申请涉及一种射频性能测试电路，包括测试控制模块、测试信号生成模块及测试切换模块，其中，测试控制模块与多个待测射频设备一一连接，用于根据测试触发信号向待测射频设备发送测试准备指令，以控制待测射频设备进入预设准备状态；及/或根据测试触发信号生成数字搜索指令；测试信号生成模块与测试控制模块连接，用于根据数字搜索指令生成测试载波信号；测试切换模块与测试信号生成模块、测试控制模块及多个射频设备均连接，测试控制模块根据测试触发信号生成开关切换指令，控制测试切换模块动作，使测试信号生成模块与待测射频设备连通，以控制待测射频设备根据测试载波信号发出射频信号，上述测试电路大大节约了等待时间，提高了测试效率。

关键词：射频设备测试控制模块测试信号生成模块测试触发信号测试切换搜索指令载波信号测试准备指令射频性能测试测试电路测试效率开关切换控制测试模块动作射频信号生成测试准备状态预设连通电路指令测试发送节约申请

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模式控制结构、测试模式控制方法及存储器

模式控制结构、测试模式控制方法及存储器

引用

作者：鲍杰 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

本公开涉及半导体电路设计领域，特别涉及一种模式控制结构、测试模式控制方法及存储器，包括：配置模块，用于接收存储器的预控制信号和模式寄存器的模式选择信号，若所述预控制信号有效，则基于所述模式选择信号生成中间控制信号；传... 详细信息

标准号: CN115206409A

本公开涉及半导体电路设计领域，特别涉及一种模式控制结构、测试模式控制方法及存储器，包括：配置模块，用于接收存储器的预控制信号和模式寄存器的模式选择信号，若所述预控制信号有效，则基于所述模式选择信号生成中间控制信号；传输模块，基于所述模式解码信号和所述中间控制信号生成测试复位信号；控制单元，设置于所述传输模块中，用于接收复位消除信号，被配置为，基于所述复位消除信号去除所述测试复位信号中包含的所述复位脉冲；测试信号生成模块，被配置为，基于所述测试复位信号生成测试指示信号；当A7位设置为0，消除存储器内部产生的DFT复位信号，使得存储器的测试指示信号避免被复位，存储器可以稳定地处于测试模式下进行测试。

关键词：存储器复位测试复位信号模式选择信号中间控制信号测试模式传输模块复位信号生成测试消除信号预控制测试信号生成模块测试指示信号半导体电路接收存储器模式寄存器复位脉冲模式解码模式控制配置模块信号有效指示信号位设置配置去除测试

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射频读写器、测试信号的选择方法及存储介质

射频读写器、测试信号的选择方法及存储介质

引用

作者：李煜吴雷王鹏鹏 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道77号金融后台服务中心基地建设项目5栋6-7层01-04室

本发明提供了一种射频读写器，包括：测试信号生成模块，用于接收主控模块发送的伪随机序列，本振模块发送的本振信号，将伪随机序列变频到与本振信号相同的频段得到调制信号；还用于执行第一操作：根据从主控模块接收到的第一控制信息... 详细信息

标准号: CN111382587B

本发明提供了一种射频读写器，包括：测试信号生成模块，用于接收主控模块发送的伪随机序列，本振模块发送的本振信号，将伪随机序列变频到与本振信号相同的频段得到调制信号；还用于执行第一操作：根据从主控模块接收到的第一控制信息对调制信号的衰减量进行调整，得到调整后的测试信号，将调整后的测试信号发送至与测试信号生成模块连接的第一耦合器中；主控模块，用于接收解析模块对第一合成信号的解析结果，根据解析结果确定测试信号的误码率，在误码率不满足预设条件的情况下，指示测试信号生成模块循环执行第一操作，在满足预设条件的误码率对应的多个测试信号中，选择出功率最小的测试信号。

关键词：测试信号测试信号生成模块主控模块误码率伪随机序列本振信号调制信号解析结果预设条件发送测试信号发送射频读写器本振模块合成信号解析模块控制信息循环执行衰减量耦合器变频频段

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显示装置的测试装置

显示装置的测试装置

引用

作者：马志鹏乔向洋 215301 江苏省苏州市昆山市龙腾路1号

本申请公开了一种显示装置的测试装置，该测试装置包括多组测试输出端、测试信号生成模块、电阻检测模块以及微控制模块。每组测试输出端分别与显示装置上的一组输入端相连接，测试信号生成模块用于在第一模式下分别向每组测试输出端中... 详细信息

标准号: CN111402770B

本申请公开了一种显示装置的测试装置，该测试装置包括多组测试输出端、测试信号生成模块、电阻检测模块以及微控制模块。每组测试输出端分别与显示装置上的一组输入端相连接，测试信号生成模块用于在第一模式下分别向每组测试输出端中的第一测试端和第二测试端提供第一测试电压和第二测试电压，电阻检测模块该第一测试端和第二测试端之间的电压差，微控制模块根据所述电压差提供指示信号，从而可以在点灯测试前检测显示装置中的终端电阻是否正常连接于源极驱动芯片的输入端之间，有利于降低测试成本，提高测试效率。