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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

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AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

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范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
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17 篇 专利

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17 篇 电子文献
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日期分布

机构

3 篇 精工爱普生株式会...
2 篇 瑞典爱立信有限公...
2 篇 华讯方舟科技有限...
2 篇 中国电子科技集团...
1 篇 圣邦微电子股份有...
1 篇 瑞萨电子株式会社
1 篇 深圳市华讯方舟卫...
1 篇 松下知识产权经营...
1 篇 松下电器产业株式...
1 篇 郑州万特电气股份...
1 篇 新唐科技日本株式...
1 篇 珠海迈科智能科技...

作者

3 篇 詹宇昕
3 篇 刘俊杰
2 篇 马蒂亚斯·帕尔姆
2 篇 中岛公德
2 篇 阿部哲也
2 篇 达尼埃莱·马斯坦托...
2 篇 鬼头崇泰
2 篇 远藤康行
2 篇 拉尔斯·桑德斯特罗...
2 篇 高宁
2 篇 德山克巳
2 篇 网川裕之
2 篇 荻田进一
2 篇 生熊诚
2 篇 松尾纯一
1 篇 堀和明
1 篇 野中勉
1 篇 福泽晃弘
1 篇 闫明春
1 篇 张佳升

语言

17 篇 中文

检索条件"主题词=测试信号生成电路"

共 17 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

测试信号生成电路、测试芯片和测试系统

测试信号生成电路、测试芯片和测试系统

引用

作者：于美洁张新城 100089 北京市海淀区西三环北路87号11层4-1106

本公开提供了一种测试信号生成电路、测试芯片和测试系统，在原有电路的基础上增加待测信号波形的优化电路(即测试信号生成电路)，该测试信号生成电路对待测信号滤波优化处理，生成激励信号，利用该激励信号对测试芯片翻转阈值的精度进... 详细信息

标准号: CN115902569A

本公开提供了一种测试信号生成电路、测试芯片和测试系统，在原有电路的基础上增加待测信号波形的优化电路(即测试信号生成电路)，该测试信号生成电路对待测信号滤波优化处理，生成激励信号，利用该激励信号对测试芯片翻转阈值的精度进行检测，当待测信号波形发生振荡时，可以保证测试芯片连接的后端功能测试机台检测到的输出波形一直为低电平状态，但当待测信号为完全翻转后的稳态波形时，功能测试机台可以及时检测到激励信号翻转后的高电平，由此可改善原有测试系统提前误触发的情况，提高该测试信号生成电路的测试准确性及精度。

关键词：测试信号生成电路测试芯片待测信号激励信号翻转机台测试系统功能测试检测测试准确性低电平状态波形发生输出波形信号滤波优化处理优化电路高电平误触发振荡稳态电路保证

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用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路

用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路

引用

作者：詹宇昕刘俊杰 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋4楼418

本发明属于微波产品测试技术领域，公开了一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。本发明提供的一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，且用于生成测试信号，其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元... 详细信息

标准号: CN106707062B

本发明属于微波产品测试技术领域，公开了一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。本发明提供的一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，且用于生成测试信号，其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；稳压单元对直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元，以使得电压信号切换单元向测试信号输出单元输出电压信号；频率信号生成单元根据工作电压生成频率信号，并将频率信号输出至测试信号输出单元，测试信号输出单元根据电压信号与频率信号输出测试信号，降低了实现对微波产品进行特性测试的成本，且使得测试信号的生成过程变得更简单。

关键词：测试信号频率信号输出单元电压信号切换测试信号生成电路测试设备生成单元微波产品稳压单元微波通信测试技术领域输出电压信号输出直流电输出电压信号工作电压生成测试输出测试特性测试稳压处理直流电源

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用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路

用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路

引用

作者：詹宇昕刘俊杰 434020 湖北省荆州市荆州开发区沙岑路(竺桥工业园)

本实用新型属于微波产品测试技术领域，公开了一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。本实用新型提供的一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，且用于生成测试信号，其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号... 详细信息

标准号: CN206431215U

本实用新型属于微波产品测试技术领域，公开了一种用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路。本实用新型提供的一种测试信号生成电路，内置于一测试设备中，且用于生成测试信号，其包括：稳压单元、电压信号切换单元、频率信号生成单元以及测试信号输出单元；稳压单元对直流电源的输出直流电进行稳压处理后输出至电压信号切换单元，以使得电压信号切换单元向测试信号输出单元输出电压信号；频率信号生成单元根据工作电压生成频率信号，并将频率信号输出至测试信号输出单元，测试信号输出单元根据电压信号与频率信号输出测试信号，降低了实现对微波产品进行特性测试的成本，且使得测试信号的生成过程变得更简单。

关键词：测试信号频率信号输出单元电压信号切换测试信号生成电路本实用新型测试设备生成单元微波产品稳压单元微波通信测试技术领域输出电压信号输出直流电输出电压信号工作电压生成测试输出测试特性测试稳压处理直流电源开关管测试信号生成电路低电位端高电位端集电极受控端发射

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用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路

用于微波通信装置的测试设备及其测试信号生成电路

引用

作者：詹宇昕刘俊杰 434020 湖北省荆州市荆州开发区沙岑路(竺桥工业园)

标准号: CN106707062A

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半导体装置和电子设备

半导体装置和电子设备

引用

作者：片山贵夫福泽晃弘倍赏文仁野中勉日本东京都

半导体装置和电子设备。在半导体装置中，在第1工作模式下，向第1放大电路所具有的多个反相电路输入所述第1调制信号，向第2放大电路所具有的多个反相电路输入所述第2调制信号，在第2工作模式下，测试信号生成电路对测试信号进行调制而... 详细信息

标准号: CN117793605A

半导体装置和电子设备。在半导体装置中，在第1工作模式下，向第1放大电路所具有的多个反相电路输入所述第1调制信号，向第2放大电路所具有的多个反相电路输入所述第2调制信号，在第2工作模式下，测试信号生成电路对测试信号进行调制而生成第3调制信号和第4调制信号，向所述第1放大电路所具有的所述多个反相电路的一部分输入所述第3调制信号，另一部分的输出成为高阻抗，向所述第2放大电路所具有的所述多个反相电路的一部分输入所述第4调制信号，另一部分的输出成为高阻抗，峰值频率检测电路检测包含声音再现装置的阻抗成为峰值的所述测试信号的频率的频率范围。

关键词：调制信号反相电路放大电路半导体装置测试信号工作模式高阻抗测试信号生成电路声音再现装置电子设备峰值频率检测电路输出阻抗调制检测

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时间交错模数转换器

时间交错模数转换器

引用

作者：拉尔斯·桑德斯特罗姆达尼埃莱·马斯坦托诺马蒂亚斯·帕尔姆瑞典斯德哥尔摩

公开了一种ADC(50)。ADC(50)包括被配置为以时间交错方式操作的多个子ADC(A1‑AM)和被配置为接收ADC(50)的模拟输入信号的采样电路(60)，其中，采样电路(60)对于所有的子ADC(A1‑AM)是公共的。ADC(50)进一步包括被配置为生成用于ADC(50)... 详细信息

标准号: CN111512557B

公开了一种ADC(50)。ADC(50)包括被配置为以时间交错方式操作的多个子ADC(A1‑AM)和被配置为接收ADC(50)的模拟输入信号的采样电路(60)，其中，采样电路(60)对于所有的子ADC(A1‑AM)是公共的。ADC(50)进一步包括被配置为生成用于ADC(50)的校准的测试信号的测试信号生成电路(65)。采样电路(60)具有被配置为接收模拟输入信号的第一输入(61)和被配置为接收测试信号的第二输入(62)；采样电路(60)包括放大器电路(90)和被连接在放大器电路(90)的输出与放大器电路(90)的输入之间的第一反馈开关(s1)。第一反馈开关(s1)被配置为在第一时钟相位期间闭合而在与第一时钟相位不重叠的第二时钟相位期间断开。另外，采样电路(60)包括输入电路(95)，输入电路(95)包括一个或多个电容器(C1、C2)，每个电容器具有第一节点和第二节点。此外，采样电路(60)包括采样开关(100)，采样开关(100)将第一输入(61)和第二输入(62)与输入电路(95)中的电容器(C1、C2)的节点进行连接，以对被表示为输入电路(95)中的电容器上的电荷的模拟输入信号和测试信号进行采样。输入电路(95)中的电容器中的每个电容器被配置为在第二时钟相位期间利用该每个电容器的第二节点连接到放大器电路(90)的输入。采样电路(60)包括被连接在放大器电路(90)的输出与输入电路(95)中的电容器(C1)中的至少一个电容器的第一节点之间的第二反馈开关(s2)，其中，第二反馈开关被配置为在第二时钟相位期间闭合而在第一时钟相位期间断开。

关键词：电容器采样电路时钟相位输入电路放大器电路配置反馈开关模拟输入信号采样开关测试信号闭合断开测试信号生成电路接收测试信号时间交错方式输出节点连接不重叠电荷校准采样

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物理量检测电路、物理量传感器及其故障诊断方法

物理量检测电路、物理量传感器及其故障诊断方法

引用

作者：中岛公德日本东京都

物理量检测电路、物理量传感器及其故障诊断方法，能够在不增大电路规模的情况下提高故障诊断的可靠性。物理量检测电路包含：检测信号生成电路，其根据物理量检测元件的输出信号来生成检测信号；模拟/数字转换电路，其将检测信号转换为... 详细信息

标准号: CN112147371B

物理量检测电路、物理量传感器及其故障诊断方法，能够在不增大电路规模的情况下提高故障诊断的可靠性。物理量检测电路包含：检测信号生成电路，其根据物理量检测元件的输出信号来生成检测信号；模拟/数字转换电路，其将检测信号转换为第1数字信号，将测试信号转换为第2数字信号；测试信号生成电路，其生成测试信号；以及故障诊断电路，其根据所述第2数字信号来进行模拟/数字转换电路的故障诊断，所述模拟/数字转换电路的满量程电压是根据电源电压从大小不同的多个电压中选择的，所述测试信号包含上限值测试信号、下限值测试信号以及第1中间值测试信号，所述测试信号生成电路对所述满量程电压进行电阻分压而生成所述第1中间值测试信号。

关键词：测试信号模拟/数字转换电路故障诊断检测信号数字信号测试信号生成电路物理量检测满量程电路物理量检测元件故障诊断电路物理量传感器电路规模电源电压电阻分压生成测试生成电路输出信号转换

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一种回路电阻测试实训仿真装置

一种回路电阻测试实训仿真装置

引用

作者：李建新杨晓磊刘明阳闫明春张欣慧 450001 河南省郑州市高新技术产业开发区黄杨街38号

本实用新型提供一种回路电阻测试实训仿真装置，它包括箱体以及设置在箱体内的线路板，所述线路板上设置主控制器、测试信号生成电路和接线检测电路，所述主控制器分别连接所述测试信号生成电路和所述接线检测电路；所述箱体的控制面板... 详细信息

标准号: CN216697546U

本实用新型提供一种回路电阻测试实训仿真装置，它包括箱体以及设置在箱体内的线路板，所述线路板上设置主控制器、测试信号生成电路和接线检测电路，所述主控制器分别连接所述测试信号生成电路和所述接线检测电路；所述箱体的控制面板上设置显示屏、测试接口和信号检测接口，所述显示屏与所述主控制器连接，所述测试接口包括I+测试用端子、U+测试用端子、U‑测试用端子和I‑测试用端子，所述I+测试用端子连接所述测试信号生成电路，所述U+测试用端子、所述U‑测试用端子和所述I‑测试用端子分别连接所述接线检测电路。该回路电阻测试实训仿真装置在保证学员安全的前提下，对学员进行回路电阻测试培训。

关键词：测试测试信号生成电路回路电阻测试接线检测主控制器电路线路板测试接口仿真装置显示屏信号检测接口本实用新型端子连接控制面板培训安全保证

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固体摄像装置以及使用该固体摄像装置的摄像装置

固体摄像装置以及使用该固体摄像装置的摄像装置

引用

作者：生熊诚网川裕之鬼头崇泰荻田进一松尾纯一远藤康行德山克巳阿部哲也日本京都府

本公开提供一种固体摄像装置以及使用该固体摄像装置的摄像装置。固体摄像装置(1)具备：像素阵列部(10)；列处理部(26)；测试信号生成电路(81)，生成测试用的第1数字信号；DAC(82)，将第1数字信号转换为第1模拟信号，并作为模拟像素信... 详细信息

标准号: CN110036632B

本公开提供一种固体摄像装置以及使用该固体摄像装置的摄像装置。固体摄像装置(1)具备：像素阵列部(10)；列处理部(26)；测试信号生成电路(81)，生成测试用的第1数字信号；DAC(82)，将第1数字信号转换为第1模拟信号，并作为模拟像素信号的代替而供给至像素阵列部(10)或者列处理部(26)；以及判定电路(83)，测试信号生成电路(81)在摄像动作中的垂直回扫区间所包含的一个水平扫描期间内执行第1数字信号的生成动作，列处理部(26)在摄像动作中的所述垂直回扫区间所包含的所述一个水平扫描期间内执行从第1模拟信号向第2数字信号的转换动作。

关键词：固体摄像装置数字信号测试信号生成电路垂直回扫区间像素阵列部模拟信号摄像动作水平扫描模拟像素信号数字信号转换判定电路摄像装置生成测试转换动作

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时间交错模数转换器

时间交错模数转换器

引用

作者：拉尔斯·桑德斯特罗姆达尼埃莱·马斯坦托诺马蒂亚斯·帕尔姆瑞典斯德哥尔摩

标准号: CN111512557A

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