检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：花磊武迪温涛崔骥 215000 江苏省苏州市工业园区星湖街328号创意产业园7-9F

本申请涉及一种服务器的硬件性能测试分数获取方法、装置和介质，属于计算机技术领域，其中，该方法包括：响应于对至少一个待测服务器的测试请求；根据测试请求获取待测服务器的案例集，案例集包括至少一个硬件的测试案例；调用测试案... 详细信息

标准号: CN117762760A

本申请涉及一种服务器的硬件性能测试分数获取方法、装置和介质，属于计算机技术领域，其中，该方法包括：响应于对至少一个待测服务器的测试请求；根据测试请求获取待测服务器的案例集，案例集包括至少一个硬件的测试案例；调用测试案例对应的任务模板，任务模板包括测试工具和执行脚本；利用任务模板中的测试工具执行该执行脚本以对该任务模板对应的测试案例进行测试，直至测试完案例集中所有测试案例，得到案例集中所有测试案例的性能测试分数。上述服务器的硬件性能测试分数获取方法可以实现对服务器的自动化测试，解决了现有的服务器测试效率低下的技术问题，同时得到性能测试分数，降低不同厂商和平台对服务器性能评估的难度。

关键词：测试任务模板服务器待测服务器测试分数测试工具测试请求性能测试硬件性能脚本计算机技术领域服务器测试服务器性能自动化测试调用厂商响应评估申请

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服务器的硬件性能测试分数获取方法、装置和介质

服务器的硬件性能测试分数获取方法、装置和介质

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作者：花磊武迪温涛崔骥 215000 江苏省苏州市工业园区星湖街328号创意产业园7-9F

标准号: CN117762760B

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一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法

一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法

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作者：宋金彩欧阳丹彤张立明田新亮太然蒋璐宇田乃予 130012 吉林省长春市前进大街2699号

本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；... 详细信息

标准号: CN111426937B

本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。

关键词：故障集合测试向量电路故障诊断数字电路测试自动测试模式测试成本测试分数测试效率电路生成分数计算故障信息生成测试输出响应向量集合语言仿真电子产品排序集合输出

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一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法

一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法

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作者：宋金彩欧阳丹彤张立明田新亮太然蒋璐宇田乃予 130012 吉林省长春市前进大街2699号

标准号: CN111426937A

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一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置

一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置

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作者：朱亮张卫清朱文松胡晓芳 230000 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号

本发明公开了一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置。该方法包括：提供相互之间存在一个延时精度值的两路测试信号；将两路测试信号分别送入延时值分别设置为零和延迟精度值的两个待测试分数延时滤波器中，并由此形成两路输... 详细信息

标准号: CN105891701B

本发明公开了一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置。该方法包括：提供相互之间存在一个延时精度值的两路测试信号；将两路测试信号分别送入延时值分别设置为零和延迟精度值的两个待测试分数延时滤波器中，并由此形成两路输出信号；比较两路输出信号：将两路输出信号相减，根据差值情况来判断评估该待测试分数延时滤波器的延时性能，或用将两路输出信号采用相关函数方法来评估；改变延时值为该延时精度值的整数倍数或改变两路测试信号的频率值，再重复以上步骤。本发明还公开应用该方法的分数延时滤波器延时性能测试装置、另一种分数延时滤波器延时性能测试方法及应用这另一种方法的分数延时滤波器延时性能测试装置。

关键词：延时滤波器两路延时测试信号输出信号性能测试装置测试分数性能测试输出信号相测试装置相关函数评估延迟应用送入重复

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一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置

一种分数延时滤波器延时性能测试方法及其测试装置

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作者：朱亮张卫清朱文松胡晓芳 230000 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号

标准号: CN105891701A

关键词：延时滤波器两路延时测试信号输出信号性能测试装置测试分数性能测试输出信号相测试装置相关函数评估延迟应用送入重复

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结合结构特征基于测试集重排序的故障诊断方法

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电子学报 2022年第1期50卷 63-71页

作者：欧阳丹彤刘扬宋金彩王浩然张立明吉林大学计算机科学与技术学院吉林长春130012 吉林大学软件学院吉林长春130012 符号计算与知识工程教育部重点实验室(吉林大学) 吉林长春130012 中国科学院大学计算机科学与技术学院北京100000

故障诊断是集成电路领域中的重要研究方向,基于测试激励集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法,而GTreord是目前具有较高诊断准确性的方法.在对GTreord方法深入研究的基础上,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征... 详细信息

故障诊断是集成电路领域中的重要研究方向,基于测试激励集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法,而GTreord是目前具有较高诊断准确性的方法.在对GTreord方法深入研究的基础上,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征,通过分析电路故障输出响应,提出结合结构特征的测试激励集重排序的候选诊断(Reor⁃dering Test Default Diagnosis,RTDD)方法.根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度的不同,提出测试分数概念;通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应,计算出测试激励的测试分数.测试激励集依据测试分数进行重排序,并将重排序后的测试激励集用于故障诊断.实验结果表明,与GTreord方法相比,RTDD方法提高了测试激励集重排序的效率,求解时间提高1~4个数量级;此外,在保障同样诊断准确性的情况下,RTDD方法有效减少了所需测试的激励个数.

关键词：故障诊断测试分数测试激励集重排序

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结合结构特征基于测试集的故障诊断方法

结合结构特征基于测试集的故障诊断方法

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作者：刘扬吉林大学

学位级别：硕士

故障诊断是电路领域中的重要研究方向,随着电路规模越来越大,电路结构越来越复杂,当电路发生故障时的诊断成本越来越高,为了解决这一问题,众多学者与研究机构开始电路故障诊断的研究。电路故障诊断方法根据电路类型不同可以分为:数字电... 详细信息

故障诊断是电路领域中的重要研究方向,随着电路规模越来越大,电路结构越来越复杂,当电路发生故障时的诊断成本越来越高,为了解决这一问题,众多学者与研究机构开始电路故障诊断的研究。电路故障诊断方法根据电路类型不同可以分为:数字电路故障诊断、模拟电路故障诊断和混合电路故障诊断。针对数字电路故障诊断,基于测试集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法。本文首先通过对电路中故障输出特征的研究,结合ADD候选故障诊断求解方法,提出故障响应指导下基于测试集的候选故障诊断求解方法ALFDD:依据当前测试激励下实际输出响应与预期输出响应不相同的单故障更可能是故障诊断解的原理,提出候选单故障集合的概念。针对ADD方法中需对电路中所有单故障求解Fsame的问题,给出仅对候选单故障集合求解Fsame的方法。该方法一方面避免了对所有单故障都进行对比并求解Fsame的问题,提高了诊断求解效率;另一方面有效删除了Fsame中包含的冗余候选诊断解,提升候选诊断解的分辨率;此外,还增加了候选故障集中所包含的真实诊断解的数量,提升了候选诊断解的准确率。实验结果表明,与ADD方法相比,ALFDD方法候选诊断分辨率和准确率明显提升,求解效率也有较大提高。随后,本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征,通过分析电路故障输出响应,提出基于测试集重排序的候选诊断求解方法RTDD方法:根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度不同,提出测试分数概念。通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应,计算出测试激励的测试分数。测试集依据测试分数进行重排序,并将重排序后测试集用于故障诊断。与GTreord方法的对比实验结果表明,该方法一方面提高了测试集重排序的效率,求解时间提高1至4个数量级;另一方面在保障同样诊断准确性的情况下,RTDD方法有效减少所需测试激励个数。

关键词：故障诊断候选单故障集合测试分数诊断分辨率诊断准确率

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集成电路故障测试和诊断优化问题研究

集成电路故障测试和诊断优化问题研究

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作者：宋金彩吉林大学

学位级别：硕士

集成电路的故障测试和诊断问题是半导体制造过程中非常重要的领域。每个使用新技术制造的芯片都需要进行故障测试,以确保故障芯片不会流入市场。随着特征尺寸的缩小,芯片上电路的复杂性越来越高,导致用于测试芯片的测试向量数量的增加,... 详细信息

集成电路的故障测试和诊断问题是半导体制造过程中非常重要的领域。每个使用新技术制造的芯片都需要进行故障测试,以确保故障芯片不会流入市场。随着特征尺寸的缩小,芯片上电路的复杂性越来越高,导致用于测试芯片的测试向量数量的增加,从而增加了故障测试所需的时间,提高了测试成本,因此,需要约简测试集来节约芯片测试的成本。同时,在故障测试期间测试出故障的芯片需要通过诊断来确定故障的原因,以便改进芯片的制造过程,提高芯片成品率,准确性高的故障诊断程序能够帮助物理故障分析过程快速准确地找出芯片故障的位置,减少批量生产中成本的投入。芯片的故障测试可以通过自动测试向量生成技术为特定的故障类型生成一组高质量的测试向量,现在提供商用自动测试向量生成工具的代表公司有Cadence,Mentor Graphic和Synopsys芯片设计公司,其中Tetra MAX ATPG是由Synopsys芯片设计公司开发的功能最强大、使用最方便的自动测试向量生成工具。然而,Tetra MAX ATPG只能针对指定的故障类型生成故障覆盖率最高的测试集,且该测试集包含大量冗余的测试向量。传统的静态测试集约简方法仅仅以故障覆盖率为唯一目标,只能得到一个特定故障类型的约简测试集。但是,一个目标很难适用于所有情况,现实生活中包含测试成本以及多种故障类型的故障覆盖率等多个目标需要满足。基于上述问题背景,本文提出一种基于多目标粒子群优化算法的静态测试集约简方法,以解决单目标测试集约简的局限性。该方法首先将测试集约简问题重新建模,转化为粒子群优化问题,然后将测试集长度和多种故障类型的多个故障覆盖率设置为目标,利用多目标粒子群优化算法对多目标测试集约简问题进行求解。该方法可以在多种故障类型的多个故障覆盖率下同时约简测试集。在基准电路上的实验结果表明了该方法的有效性。芯片的故障诊断可以为故障芯片找出芯片可能发生故障的位置,在新技术生产改进的初始阶段,故障芯片可能同时发生多个故障,由于这些故障之间的相互作用,基于模拟单故障模型的故障诊断方法可能会产生大量的候选故障。早期的基于测试分数的故障诊断方法在缩小候选故障集合时会剔除集合中包含的真实发生的故障,从而导致了诊断准确性的下降,而现实生活中需要准确性高的故障诊断技术来降低成本。因此,本文提出一种结合测试分数的新方法,以更好地利用诊断信息,减少候选故障的数量,提高诊断准确性。该方法利用无故障电路的输出响应和插入单故障的电路输出响应来计算每个测试向量的分数,使得同一个测试集能够区分更多的故障,提高了测试集的诊断能力,从而使得诊断出的候选故障集合中冗余故障的数量减少,实际故障的数量增加。同时,该方法利用无故障信息可以离线完成测试分数的统计,减少了故障诊断的运行时间。与现有方法的对比实验表明,该方法有效提高了故障诊断的准确性,提高了诊断效率。

关键词：测试集约简多目标优化故障诊断测试分数诊断准确性

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图形数据库筛选方法与装置、存储介质、电子设备

图形数据库筛选方法与装置、存储介质、电子设备

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作者：湛淼湘 518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室

本公开属于功能测试技术领域，涉及一种图形数据库筛选方法及装置、计算机可读存储介质、电子设备。该方法包括：接收图形数据库的测试指令，从测试指令中提取图形数据库的图形数据库标识以确定多个待测试图形数据库；从测试指令中提取... 详细信息

标准号: CN110334005A

本公开属于功能测试技术领域，涉及一种图形数据库筛选方法及装置、计算机可读存储介质、电子设备。该方法包括：接收图形数据库的测试指令，从测试指令中提取图形数据库的图形数据库标识以确定多个待测试图形数据库；从测试指令中提取待测试性能，以从预设的模板数据库中获取与待测试性能匹配的测试用例模板；获取待测试性能的一个或多个性能指标，并利用测试用例模板确定与性能指标相对应的测试用例；在待测试图形数据库上运行测试用例，以得到待测试图形数据库的测试分数；将测试分数大于预设阈值的待测试图形数据库选作目标图形数据库。本公开对图形数据库进行筛选，减少人力成本，提高测试效率，缩短测试周期，增加测试可靠性。

关键词：图形数据库测试图形数据库测试性能测试指令测试用例模板测试分数预设计算机可读存储介质筛选测试可靠性模板数据库测试效率测试周期电子设备功能测试目标图形人力成本运行测试匹配测试个性

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