咨询与建议
  • 全部搜索
  • 期刊论文
  • 图书
  • 学位论文
  • 标准
  • 纸本馆藏
  • 外文资源发现
  • 数据库导航
  • 超星发现
高级检索

限定检索结果

文献类型

  • 4 篇 专利

馆藏范围

  • 4 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

  • 2 篇 国际商业机器公司
  • 1 篇 亚德诺半导体股份...
  • 1 篇 西门子公司
  • 1 篇 长鑫存储技术有限...

作者

  • 1 篇 吴公一
  • 1 篇 亚当·b·威尔森
  • 1 篇 j·范霍恩
  • 1 篇 p·s·祖霍斯基
  • 1 篇 a·加蒂克
  • 1 篇 托马斯·沃格尔桑
  • 1 篇 d·霍萨克
  • 1 篇 m·d·诺克斯
  • 1 篇 p·奈伊
  • 1 篇 徐亚超
  • 1 篇 d·兰伯
  • 1 篇 f·莫提卡
  • 1 篇 d·a·格罗施
  • 1 篇 k·o·d·弗兰森

语言

  • 4 篇 中文
检索条件"主题词=测试半导体电路"
共 4 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
详细 简洁
排序：
用于系统内扫描测试的半导体电路和方法
用于系统内扫描测试的半导体电路和方法
收藏
分享
引用
作者： D·兰伯 K·O·D·弗兰森 D·霍萨克 丹麦阿勒鲁德
本发明涉及用于系统内扫描测试的半导体电路和方法。一种包括具有组合逻辑块的数字电路部分的半导体电路，包括将预定义数字测试样式加载和应用到组合逻辑块的输入的扫描链。双向通信端口适用于把到来数据写到数字电路部分的地址空间。... 详细信息
来源： 评论
半导体测试单元制造方法和位线接触结构电阻测试方法
半导体测试单元制造方法和位线接触结构电阻测试方法
收藏
分享
引用
作者： 吴公一 徐亚超 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
本公开提供一种半导体测试单元制造方法以及位线接触结构电阻测试方法。半导体测试单元制造方法包括：在切割道区域制作多个有源区组，每个有源区组包括沿第一方向排列的多个第一有源区；对有源区组进行一次蚀刻，以形成多个测试有源区... 详细信息
来源： 评论
用于测试具有阱的集成电路的方法和系统
用于测试具有阱的集成电路的方法和系统
收藏
分享
引用
作者： A·加蒂克 D·A·格罗施 M·D·诺克斯 F·莫提卡 P·奈伊 J·范霍恩 P·S·祖霍斯基 美国纽约
一种用于测试半导体电路(10)的方法，包括测试电路并在测试期间调节电路的阱偏置(14，18)。该方法通过在测试期间调节阱偏置改善了基于电压的和IDDQ测试和诊断的分辨率。另外，该方法在应力测试中提供了更有效的应力。该方法应用于IC，... 详细信息
来源： 评论
测试电路的方法
测试电路的方法
收藏
分享
引用
作者： 托马斯·沃格尔桑 亚当·B·威尔森 美国纽约
一种测试半导体电路的方法，半导体电路包括连接到存储器件的字线、接收地址的地址接受器、译码地址并选择一个字线的地址译码器、在非测试模式和测试模式期间刷新字线的自刷新单元，在测试模式中器件控制半导体电路，方法包括将测试模... 详细信息
来源： 评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页 <<  < 1 >  >>
回到顶部
执行限定条件