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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

53 篇 专利

馆藏范围

53 篇 电子文献
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日期分布

机构

2 篇 苏州浪潮智能科技...
2 篇 阳光电源股份有限...
2 篇 一汽-大众汽车有限...
2 篇 浙江凌骁能源科技...
2 篇 北京金山云网络技...
2 篇 北京智芯半导体科...
2 篇 中国科学院微电子...
2 篇 北京金山云科技有...
2 篇 卡斯柯信号有限公...
2 篇 北京智芯微电子科...
2 篇 佛山市兴颂机器人...
2 篇 阿里巴巴集团控股...
2 篇 深圳基本半导体有...
2 篇 腾讯科技有限公司
2 篇 浙江零跑科技股份...
1 篇 深圳市易甲文技术...
1 篇 潍柴动力股份有限...
1 篇 NOT FOUND
1 篇 重庆赛力斯凤凰智...
1 篇 平安国际融资租赁...

作者

2 篇 罗璇
2 篇 刘田
2 篇 胡连逵
2 篇 叶志峰
2 篇 周斌
2 篇 赵晓健
2 篇 崔晓飞
2 篇 覃煜
2 篇 肖天为
2 篇 曲胜波
2 篇 刘恒
2 篇 许中
2 篇 郭倩雯
2 篇 饶毅
2 篇 刘雪强
2 篇 马智远
2 篇 莫文雄
2 篇 龙岩
2 篇 雷志远
2 篇 李强

语言

53 篇 中文

检索条件"主题词=测试参数确定"

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详细简洁

排序：

一种兼容性测试方法及装置

一种兼容性测试方法及装置

引用

作者：高超雷志远李跃英属开曼群岛大开曼

本申请实施例公开了一种兼容性测试方法及装置，所述方法包括：获取测试参数；所述测试参数包括：兼容性调用服务的名称以及所述兼容性调用服务中服务的代码版本；根据所述测试参数确定代码版本组合；获取待测服务器的IP地址，根据预设... 详细信息

标准号: CN106201850A

本申请实施例公开了一种兼容性测试方法及装置，所述方法包括：获取测试参数；所述测试参数包括：兼容性调用服务的名称以及所述兼容性调用服务中服务的代码版本；根据所述测试参数确定代码版本组合；获取待测服务器的IP地址，根据预设的IP地址与服务代码版本的对应关系，确定与所述代码版本组合对应的目标服务器；对所述目标服务器进行兼容性测试。本申请实施例提供的一种兼容性测试方法及装置，可以提高兼容性测试的执行效率。

关键词：兼容性测试代码版本目标服务器测试参数调用服务兼容性测试参数确定待测服务器服务代码预设申请服务

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一种智能插座语音测试的方法、装置及系统

一种智能插座语音测试的方法、装置及系统

引用

作者：周建蔡川 200333 上海市普陀区中江路879弄1号楼241室

本申请公开了一种智能插座语音测试的方法，包括：接收用户输入的测试参数及标准语音指令；根据测试参数确定测试策略；当接收到测试命令时，按照测试策略输出标准语音指令，以使智能插座执行标准语音指令并反馈测试值；当接收到智能插... 详细信息

标准号: CN109147778A

本申请公开了一种智能插座语音测试的方法，包括：接收用户输入的测试参数及标准语音指令；根据测试参数确定测试策略；当接收到测试命令时，按照测试策略输出标准语音指令，以使智能插座执行标准语音指令并反馈测试值；当接收到智能插座反馈的测试值时，根据测试值确定智能插座是否合格。本申请所提供的技术方案，避免了因口语不标准导致的被识别率不高的问题，从而降低了测试时间成本，提高了测试效率；同时，通过智能插座反馈的测试值时确定该智能插座是否合格，使得不需要人为判断测试结果，降低了对测试人员的负担，提高了测试质量和效率。本申请同时还提供了一种智能插座语音测试的装置及系统，具有上述有益效果。

关键词：智能插座测试标准语音指令测试策略语音测试申请测试参数确定装置及系统测试参数测试命令测试效率反馈测试接收用户判断测试时间成本输出标准语音指令反馈识别率口语

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麦克风抗射频干扰性能的测试方法、设备和系统

麦克风抗射频干扰性能的测试方法、设备和系统

引用

作者：孙凌云赵志勇 261031 山东省潍坊市高新技术开发区东方路268号

本发明公开了一种麦克风抗射频干扰性能的测试方法、设备和系统，该方法通过测试管理设备实施，测试管理设备分别与射频信号发生系统和音频分析装置通信连接，射频信号发生系统包括信号发生器，该方法包括：提供用于设置测试参数的窗口... 详细信息

标准号: CN111083626A

本发明公开了一种麦克风抗射频干扰性能的测试方法、设备和系统，该方法通过测试管理设备实施，测试管理设备分别与射频信号发生系统和音频分析装置通信连接，射频信号发生系统包括信号发生器，该方法包括：提供用于设置测试参数的窗口和用于设置校准信息的窗口，测试参数包括目标射频信号的频率，校准信息包括目标射频信号的大小和精度阈值；根据校准信息和测试参数确定信号发生器的工作参数，按照工作参数配置信号发生器；调用射频信号发生系统进行工作以向待测麦克风发射与目标射频信号一致的射频信号；将目标射频信号的频率提供给音频分析装置，调用音频分析装置根据目标射频信号和麦克风拾取到的信号生成分析结果。

关键词：射频信号音频分析装置麦克风发生系统校准信息测试管理设备信号发生器工作参数调用测试参数确定设置测试参数抗射频干扰设备和系统测试参数配置信号通信连接信号生成发生器拾取测试发射

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存储阵列的性能检测方法、系统、电子设备及存储介质

存储阵列的性能检测方法、系统、电子设备及存储介质

引用

作者：李强 215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

本申请公开了一种存储阵列的性能检测方法，包括：获取目标存储阵列的阵列数据和用户输入的测试参数；利用所述阵列数据和所述测试参数确定所述目标存储阵列的基础性能；通过预设参数对所述基础性能进行调整得到所述目标存储阵列的实际... 详细信息

标准号: CN114490224A

本申请公开了一种存储阵列的性能检测方法，包括：获取目标存储阵列的阵列数据和用户输入的测试参数；利用所述阵列数据和所述测试参数确定所述目标存储阵列的基础性能；通过预设参数对所述基础性能进行调整得到所述目标存储阵列的实际性能；其中，所述预设参数包括读写比例、缓存命中率、产品型号中的任一项或任几项的组合。本申请能够提高检测存储阵列性能的准确率。本申请还公开了一种存储阵列的性能检测系统、一种存储介质及一种电子设备，具有以上有益效果。

关键词：存储阵列目标存储阵列预设参数阵列数据申请测试参数确定性能检测系统缓存命中率测试参数存储介质电子设备获取目标性能检测准确率读写检测

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激光诱导光谱测量钢件渗碳层的分析方法

激光诱导光谱测量钢件渗碳层的分析方法

引用

作者：杨春贾云海陈吉文张勇 100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号

本发明是一种分析钢铁零件渗碳层中碳浓度深度分布及渗碳层深度的化学方法。通过激光诱导光谱在渗碳层的剖面上分析碳浓度的分布，实现对钢件渗碳热处理效果的检验。分析过程为：从渗碳处理后的测试零件上取剖面样品，并对剖面样品进行... 详细信息

标准号: CN103900999B

本发明是一种分析钢铁零件渗碳层中碳浓度深度分布及渗碳层深度的化学方法。通过激光诱导光谱在渗碳层的剖面上分析碳浓度的分布，实现对钢件渗碳热处理效果的检验。分析过程为：从渗碳处理后的测试零件上取剖面样品，并对剖面样品进行镶嵌和磨制；在最佳仪器参数条件下垂直于渗碳表面的轮廓线进行线扫描分析；根据校准曲线计算各点的碳浓度，根据曲线变化特征和测试参数确定各点深度值，获得渗碳层中碳浓度深度分布和深度值。与已有的化学分析方法比较，本方法不受零件形状、规格的限制，分析样品易于制备，可快速、直接、准确的测定渗层中碳的分布和渗碳层深度，特别是可对复杂形状零件进行快速分析。

关键词：渗碳层渗碳测试参数确定复杂形状零件热处理效果线扫描分析测试零件分析过程分析样品钢铁零件化学分析激光诱导快速分析零件形状曲线变化渗碳处理校准曲线仪器参数轮廓线钢件光谱磨制渗层制备镶嵌垂直分析检验

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加速耐久性试验的路线规划方法和装置

加速耐久性试验的路线规划方法和装置

引用

作者：龙岩蒋凌山熊海林刘雪强吉雷 130000 吉林省长春市东风大街一汽-大众汽车有限公司

本申请涉及一种加速耐久性试验的路线规划方法和装置，所述方法包括：获取备用道路的预测特征数据；根据所述预测特征数据从备用道路中选取若干条测试道路；根据预设的测试参数确定每一条测试道路对应的循环次数。本申请的方法将道路的... 详细信息

标准号: CN110082120B

本申请涉及一种加速耐久性试验的路线规划方法和装置，所述方法包括：获取备用道路的预测特征数据；根据所述预测特征数据从备用道路中选取若干条测试道路；根据预设的测试参数确定每一条测试道路对应的循环次数。本申请的方法将道路的特征进行量化，并根据量化后的数据规划出合理的测试路线，使车辆的加速耐久性试验能够在公开道路上进行，克服了试验场的诸多缺点，公开道路的加速耐久性试验更符合用户的实际使用情况；并且根据量化后的数据，可以准确地将公开道路直接进行的加速耐久性试验与试验场加速耐久性试验相等效，该方法可利用的资源多，且成本低。

关键词：耐久性试验特征数据量化备用测试参数确定方法和装置测试测试路线路线规划数据规划预测预设申请相等

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存储阵列的性能检测方法、系统、电子设备及存储介质

存储阵列的性能检测方法、系统、电子设备及存储介质

引用

作者：李强 215100 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

标准号: CN114490224B

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加速耐久性试验的路线规划方法和装置

加速耐久性试验的路线规划方法和装置

引用

作者：龙岩蒋凌山熊海林刘雪强吉雷 130000 吉林省长春市东风大街一汽-大众汽车有限公司

标准号: CN110082120A

关键词：耐久性试验特征数据量化备用测试参数确定方法和装置测试测试路线路线规划数据规划预测预设申请相等

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一种芯片修调电路及修调方法

一种芯片修调电路及修调方法

引用

作者：朱海刚李龙弟方伟 310051 浙江省杭州市滨江区长河街道滨安路1181号A幢1201室

本申请公开了一种芯片修调电路及修调方法，用以解决现有技术中对芯片的修调不可靠，导致芯片的测试参数的精度较低的问题。该芯片修调电路包括：修调控制模块、固化电路模块和输出电路模块，固化电路模块包括第一固化子模块、第二固化... 详细信息

标准号: CN107743035B

本申请公开了一种芯片修调电路及修调方法，用以解决现有技术中对芯片的修调不可靠，导致芯片的测试参数的精度较低的问题。该芯片修调电路包括：修调控制模块、固化电路模块和输出电路模块，固化电路模块包括第一固化子模块、第二固化子模块以及控制烧写第一固化子模块和第二固化子模块的烧写控制子模块，修调控制模块用于向固化电路模块输出根据芯片的测试参数确定的修调位，固化电路模块用于根据修调位，控制烧写控制子模块烧写第一固化子模块或者烧写第二固化子模块，并在烧写后将修调位转换为与被烧写的固化子模块对应的阻值变化，输出电路模块，用于根据阻值变化输出逻辑电平信号。

关键词：固化子模块烧写电路模块芯片调位输出电路模块控制子模块阻值变化电路测试参数确定输出逻辑电平测试参数调控输出转换申请

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一种测试系统、测试方法、控制服务器和执行服务器

一种测试系统、测试方法、控制服务器和执行服务器

引用

作者：苗龙 100085 北京市海淀区小营西路33号3F02室

本文公布一种测试系统、测试方法、控制服务器和执行服务器，该测试方法包括：控制服务器获取测试对象存储系统所需的测试参数并根据获得的测试参数确定测试环境；控制服务器将获得的测试参数分配给符合测试环境的一个或一个以上执行服... 详细信息

标准号: CN108075931B

本文公布一种测试系统、测试方法、控制服务器和执行服务器，该测试方法包括：控制服务器获取测试对象存储系统所需的测试参数并根据获得的测试参数确定测试环境；控制服务器将获得的测试参数分配给符合测试环境的一个或一个以上执行服务器；控制服务器获取符合测试环境的一个或一个以上执行服务器存储的性能测试的信息；控制服务器整合获得的性能测试的信息以获取测试结果。本发明实施例实现了对对象存储系统的性能和稳定性进行测试。

关键词：控制服务器测试环境测试参数性能测试测试服务器测试参数确定对象存储系统服务器存储测试对象测试系统存储系统整合分配

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