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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

56 篇 专利

馆藏范围

56 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 武汉华星光电技术...
4 篇 成都京东方光电科...
4 篇 京东方科技集团股...
3 篇 海力士半导体有限...
3 篇 友达光电股份有限...
3 篇 长鑫存储技术有限...
2 篇 创意电子股份有限...
2 篇 英特盛科技股份有...
2 篇 业成科技有限公司
2 篇 普诚科技股份有限...
2 篇 三菱电机株式会社
2 篇 英特格灵芯片有限...
2 篇 华邦电子股份有限...
2 篇 中国汽车工程研究...
2 篇 业成光电有限公司
2 篇 中国科学院微电子...
2 篇 莱特普茵特公司
2 篇 联咏科技股份有限...
2 篇 宝山钢铁股份有限...
2 篇 深圳大学

作者

3 篇 蔡建畅
2 篇 c·v·欧拉加德
2 篇 陈岚
2 篇 李学仪
2 篇 胡思明
2 篇 林男颖
2 篇 宋振宇
2 篇 c·安德森
2 篇 权奇昌
2 篇 周玉忠
2 篇 榎健太郎
2 篇 张露
2 篇 陈涛
2 篇 秋山浩一
2 篇 w·艾尔-哈桑
2 篇 黄彦道
2 篇 龚强
2 篇 孔利明
2 篇 傅春霖
2 篇 尤云霞

语言

56 篇 中文

检索条件"主题词=测试数据信号"

共 56 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

测试数据信号放大器的方法和系统

测试数据信号放大器的方法和系统

引用

作者： C·V·欧拉加德 W·艾尔-哈桑 C·安德森美国加利福尼亚

本发明提供了测试数据信号放大器的方法和装置，数据信号放大器的输出信号功率取决于多个信号功率控制参数，例如，信号增益控制和放大器偏置电流控制。

标准号: CN102362189B

关键词：放大器数据信号放大器测试数据信号电流控制控制参数输出信号信号功率信号增益偏置

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测试输出信号功率取决于多个功率控制参数的数据信号放大器的方法和系统

测试输出信号功率取决于多个功率控制参数的数据信号放大器的方法...

引用

作者： C·V·欧拉加德 W·艾尔-哈桑 C·安德森美国加利福尼亚

标准号: CN102362189A

关键词：放大器数据信号放大器测试数据信号电流控制控制参数输出信号信号功率信号增益偏置

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芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质

芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质

引用

作者：林清龙任刚 215123 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园内11-3A0单元

本发明提供了一种芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质，芯片测试方法，包括将测试模式生成模块与总线的数据接口和时钟接口连接，从所述总线的数据接口获取数据信号，作为测试时钟信号，从所述总线的时钟接口获取时钟信号，作为测... 详细信息

标准号: CN116859216A

本发明提供了一种芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质，芯片测试方法，包括将测试模式生成模块与总线的数据接口和时钟接口连接，从所述总线的数据接口获取数据信号，作为测试时钟信号，从所述总线的时钟接口获取时钟信号，作为测试数据信号，通过所述测试时钟信号对所述测试数据信号进行采样，当采样到的数据发生翻转时，所述测试模式生成模块指示进入测试模式，通过总线的数据接口和时钟接口进行测试，无需占用额外的管脚。

关键词：总线测试模式时钟接口数据接口测试时钟信号测试数据信号生成模块芯片测试采样计算机可读存储介质获取数据时钟信号数据发生翻转管脚测试占用

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一种基于图像识别的自动驾驶系统测试方法、系统及介质

一种基于图像识别的自动驾驶系统测试方法、系统及介质

引用

作者：高洋吴坤冯景 100094 北京市海淀区丰豪东路四维图新大厦A座10层

本申请公开了一种基于图像识别的自动驾驶系统测试方法、系统及介质，属于自动化测试技术领域，该方法包括：向自动驾驶系统发送测试数据信号，并确定测试数据信号对应的预期识别结果，自动驾驶系统根据测试数据信号运行相应功能，并将... 详细信息

标准号: CN116501011A

本申请公开了一种基于图像识别的自动驾驶系统测试方法、系统及介质，属于自动化测试技术领域，该方法包括：向自动驾驶系统发送测试数据信号，并确定测试数据信号对应的预期识别结果，自动驾驶系统根据测试数据信号运行相应功能，并将运行结果通过自动驾驶人机交互界面进行展示；利用摄像机对自动驾驶人机交互界面进行拍摄，获取拍摄图像；对拍摄图像进行图像识别分析，得到测试结果；将预期识别结果与测试结果进行对比，若两者不一致，则对自动驾驶系统的测试错误进行记录。本申请通过摄像机采集人机交互界面的图像，使用图像识别算法识别采集图像是否符合信号预期识别结果，实现自动化测试，提高测试的效率，降低人力成本。

关键词：自动驾驶系统测试数据信号人机交互界面拍摄图像自动驾驶测试自动化测试技术图像识别分析图像识别算法摄像机采集自动化测试采集图像符合信号人机交互人力成本图像识别运行结果不一致申请摄像机发送图像拍摄记录展示

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显示装置

显示装置

引用

作者：安珍星金成虎成硕济禹珉宇李旺宇李知嬗韩国京畿道龙仁市

一种显示装置，包括：显示面板，包括连接到与数据线以及扫描线的多个像素；以及测试电路，与所述数据线电连接，所述显示面板包括具有第一透光率的第一区域以及具有第二透光率的第二区域，所述多个像素包括配置在所述第一区域中的第一... 详细信息

标准号: CN115331627A

一种显示装置，包括：显示面板，包括连接到与数据线以及扫描线的多个像素；以及测试电路，与所述数据线电连接，所述显示面板包括具有第一透光率的第一区域以及具有第二透光率的第二区域，所述多个像素包括配置在所述第一区域中的第一像素以及配置在所述第二区域中的第二像素，所述测试电路在所述第一像素被驱动时向所述多个数据线中的与所述第一像素连接的数据线提供第一测试数据信号，在所述第二像素被驱动时向所述多个数据线中的与所述第二像素连接的数据线提供第二测试数据信号，所述第一测试数据信号以及所述第二测试数据信号具有彼此不同的电压电平。

关键词：像素数据线测试数据信号测试电路第二区域第一区域显示面板透光率数据线电连接驱动电压电平显示装置扫描线配置

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半导体晶片及序列检查电路

半导体晶片及序列检查电路

引用

作者：高士政李必扬中国台湾新竹科学园区力行六路10号

一种半导体晶片及序列检查电路，半导体晶片包含一实体层以及一处理电路。该实体层包含至少一序列检查电路以及至少一信号传输路径，其中该至少一序列检查电路用以根据一时脉信号以及经由该至少一信号传输路径传输的至少一测试数据信号... 详细信息

标准号: CN117637005A

一种半导体晶片及序列检查电路，半导体晶片包含一实体层以及一处理电路。该实体层包含至少一序列检查电路以及至少一信号传输路径，其中该至少一序列检查电路用以根据一时脉信号以及经由该至少一信号传输路径传输的至少一测试数据信号产生至少一测试结果信号，且该时脉信号未经由该至少一信号传输路径传输。该处理电路电性耦接于该实体层，并用以根据该至少一测试结果信号的电压位准判断该至少一信号传输路径的运作状态。通过序列检查电路对测试数据信号进行两次检查，本揭示内容的半导体晶片可在时脉信号与测试数据信号原本匹配的时序消失的情况下建立一个适用于指令/地址实体层的数据回送式样机制，以提升可测试性设计的覆盖范围。

关键词：信号传输路径检查电路测试数据信号半导体晶片实体层测试结果信号处理电路时脉信号可测试性设计地址实体电性耦接电压位准运作状态传输时序回送匹配式样并用指令覆盖检查

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半导体晶片及序列检查电路

半导体晶片及序列检查电路

引用

作者：张鴻儀李必扬高士政中国台湾新竹科学园区力行六路10号

一种半导体晶片及序列检查电路，半导体晶片包含一物理层以及一处理电路。该物理层包含一输入输出电路、至少一序列检查电路以及至少一信号传输路径，其中该至少一序列检查电路用以根据经由该输入输出电路传输的一时脉信号以及经由该至... 详细信息

标准号: CN117854575A

一种半导体晶片及序列检查电路，半导体晶片包含一物理层以及一处理电路。该物理层包含一输入输出电路、至少一序列检查电路以及至少一信号传输路径，其中该至少一序列检查电路用以根据经由该输入输出电路传输的一时脉信号以及经由该至少一信号传输路径传输的至少一测试数据信号产生至少一测试结果信号。该处理电路电性耦接于该物理层，并用以根据该至少一测试结果信号的电压位准判断该至少一信号传输路径的运作状态。通过对测试数据信号的每个数据值检查至少一次，序列检查电路能大幅减少正反器的使用数量，以缩减电路面积。此外，半导体晶片可通过序列检查电路建立一个适用于指令/地址物理层的数据回送式样机制，以提升可测试性设计的覆盖范围。

关键词：检查电路信号传输路径半导体晶片物理层测试结果信号测试数据信号输入输出电路处理电路可测试性设计数据值检查传输地址物理电性耦接电压位准运作状态正反器回送式样电路并用指令覆盖

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显示面板的检测电路、方法及显示面板

显示面板的检测电路、方法及显示面板

引用

作者：王欢张露秦旭侯亚辉胡思明 215300 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号4幢

本申请提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，涉及显示技术领域。检测电路包括：多个第一面板测试开关单元，被配置为通过数据线与第一子像素区域连接；测试信号单元，与第一面板测试开关单元连接，用于向多个第一面板测试开... 详细信息

标准号: CN111710272B

本申请提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，涉及显示技术领域。检测电路包括：多个第一面板测试开关单元，被配置为通过数据线与第一子像素区域连接；测试信号单元，与第一面板测试开关单元连接，用于向多个第一面板测试开关提供N个不同的测试信号，以控制在同一时刻至少一个第一子像素区域中的子像素与其他任意一个第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，测试信号包括测试控制信号和测试数据信号，N为大于2的整数；多个多路分配开关单元，被配置为通过数据线与子像素区域连接，以及与扇区走线连接。利用本申请的技术方案能够确定扇区走线是否发生短路，以保证显示面板的安全性。

关键词：子像素区域开关单元面板测试显示面板测试信号检测电路数据线子像素扇区测试控制信号测试数据信号测试信号单元多路分配同一时刻走线连接暗状态短路走线配置申请期望保证

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一种JTAG控制装置

一种JTAG控制装置

引用

作者：马恒苏建龙王明明 250000 山东省济南市中国(山东)自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S01楼35层

本发明涉及一种JTAG控制装置，其包括：主TAP控制器和多个从TAP控制器；第一选择单元，连接主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试时钟信号，配置为根据主TAP控制器中的第一寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试时钟信号；... 详细信息

标准号: CN114253184A

本发明涉及一种JTAG控制装置，其包括：主TAP控制器和多个从TAP控制器；第一选择单元，连接主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试时钟信号，配置为根据主TAP控制器中的第一寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试时钟信号；第二选择单元，连接主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试数据输入信号，配置为根据主TAP控制器中的第二寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试数据信号；第三选择单元，与主TAP控制器和每个TAP控制器的输出数据信号连接，配置为根据主TAP控制器中的第三寄存器将主TAP控制器和多个从TAP控制器的输出之一作为JTAG的测试数据输出端口。

关键词：选择单元寄存器测试时钟信号测试数据选通配置测试数据信号输出数据信号控制装置输出端口输出

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显示面板、电子设备和显示面板的控制方法

显示面板、电子设备和显示面板的控制方法

引用

作者：刘育存 611730 四川省成都市高新区西区合作路689号

本发明涉及一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法，显示面板包括：多个子像素；多个像素电路，像素电路包括：像素测试单元，与至少一个子像素连接，用于为相应的子像素提供测试数据信号；静电释放单元，与像素测试单元连接，用... 详细信息

标准号: CN111489672B

本发明涉及一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法，显示面板包括：多个子像素；多个像素电路，像素电路包括：像素测试单元，与至少一个子像素连接，用于为相应的子像素提供测试数据信号；静电释放单元，与像素测试单元连接，用于释放相应的像素测试单元上的残余电荷；其中，像素测试单元和静电释放单元分时开启。本发明通过控制像素测试单元和静电释放单元分时开启，当子像素不发光时，使像素测试单元与静电释放单元之间的静电释放通路导通，以释放相应的像素测试单元上的残余电荷，从而避免了像素测试单元上积攒过多的静电电荷，进而避免了像素测试单元发生严重的静电放电现象，提高了显示面板的显示可靠性和安全性。

关键词：像素测试静电释放单元显示面板残余电荷分时开启像素电路子像素像素测试数据信号静电放电现象单元连接电子设备静电电荷静电释放通路导通释放发光

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