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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

56 篇 专利

馆藏范围

56 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 武汉华星光电技术...
4 篇 成都京东方光电科...
4 篇 京东方科技集团股...
3 篇 海力士半导体有限...
3 篇 友达光电股份有限...
3 篇 长鑫存储技术有限...
2 篇 创意电子股份有限...
2 篇 英特盛科技股份有...
2 篇 业成科技有限公司
2 篇 普诚科技股份有限...
2 篇 三菱电机株式会社
2 篇 英特格灵芯片有限...
2 篇 华邦电子股份有限...
2 篇 中国汽车工程研究...
2 篇 业成光电有限公司
2 篇 中国科学院微电子...
2 篇 莱特普茵特公司
2 篇 联咏科技股份有限...
2 篇 宝山钢铁股份有限...
2 篇 深圳大学

作者

3 篇 蔡建畅
2 篇 c·v·欧拉加德
2 篇 陈岚
2 篇 李学仪
2 篇 胡思明
2 篇 林男颖
2 篇 宋振宇
2 篇 c·安德森
2 篇 权奇昌
2 篇 周玉忠
2 篇 榎健太郎
2 篇 张露
2 篇 陈涛
2 篇 秋山浩一
2 篇 w·艾尔-哈桑
2 篇 黄彦道
2 篇 龚强
2 篇 孔利明
2 篇 傅春霖
2 篇 尤云霞

语言

56 篇 中文

检索条件"主题词=测试数据信号"

共 56 条记录，以下是11-20 订阅

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详细简洁

排序：

存储器芯片内建自测试方法和电路装置

存储器芯片内建自测试方法和电路装置

引用

作者：杨正杰 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

本发明一种存储器芯片内建自测试方法和电路装置，所述方法包括：将原始测试向量输入至待测电路，以生成测试数据信号；将原始测试向量输入至寄存器中，使得原始测试向量与测试数据信号同步；对延迟后的原始测试向量和测试数据信号进行... 详细信息

标准号: CN110875080A

本发明一种存储器芯片内建自测试方法和电路装置，所述方法包括：将原始测试向量输入至待测电路，以生成测试数据信号；将原始测试向量输入至寄存器中，使得原始测试向量与测试数据信号同步；对延迟后的原始测试向量和测试数据信号进行逻辑异或运算，以生成用于表示待测电路是否有效的测试结果指示信号；将延迟后的原始测试向量的相位反转180度生成反相测试向量，并将反相测试向量和测试数据信号进行逻辑与非运算，输出逻辑状态指示值，用于表示待测电路失效时，测试数据信号的逻辑状态；根据测试结果指示信号，择一输出用于表示待测电路的有效测试结果和逻辑状态指示值中的一种。能够判断出待测电路是否有效，而且进一步得到待测电路的失效形态。

关键词：待测电路原始测试向量测试数据信号测试向量指示信号反相延迟逻辑状态指示生成测试数据存储器芯片内建自测试电路装置逻辑状态失效形态输出逻辑相位反转异或运算有效测试状态指示非运算寄存器逻辑与输出

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一种内嵌式存储器的测试方法及系统

一种内嵌式存储器的测试方法及系统

引用

作者：黄少娃黄旭彪吴桂冠罗晓东汪浩 518000 广东省深圳市福田区沙头街道天安社区滨河大道与泰然九路交汇东北角处万科滨海置地大厦八层整层

本发明公开了一种内嵌式存储器的测试方法及系统，涉及存储器测试技术领域。本发明包括如下步骤：将需要测试的嵌入式存储器芯片连接至测试平台上；测试程序根据测试指令将测试数据写入存储器阵列；存储器装置的存储器阵列读取测试数据... 详细信息

标准号: CN118248205A

本发明公开了一种内嵌式存储器的测试方法及系统，涉及存储器测试技术领域。本发明包括如下步骤：将需要测试的嵌入式存储器芯片连接至测试平台上；测试程序根据测试指令将测试数据写入存储器阵列；存储器装置的存储器阵列读取测试数据；测试程序生成控制信号、测试数据信号及地址信号输入存储器；物理存储单元根据测试数据信号生成读取结果信号；将读取结果信号编码成编码数据，并输出给主机。本发明通过主控器件能够对接收到的模式控制指令进行解析，获得引脚工作模式，目标电子引脚又能够按照预设信号参数自动生成测试信号，并接收目标存储器引脚输出的测试反馈信号，将测试反馈信号发送给时序发生组件，测试自动化程度高，提高了测试效率。

关键词：引脚测试反馈信号测试数据信号存储器阵列存储器测试程序读取结果测试方法及系统地址信号输入模式控制指令内嵌式存储器嵌入式存储器生成控制信号物理存储单元测试自动化存储器测试存储器装置编码数据测试平台测试数据测试效率测试信号测试指令读取测试工作模式接收目标目标电子时序发生芯片连接信号编码预设信号主控器件自动生成输出解析主机写入测试

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一种显示面板、像素检测方法和显示装置

一种显示面板、像素检测方法和显示装置

引用

作者：蔡建畅张静龙跃李诗琪邬奇洋 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

本发明公开了一种显示面板、像素检测方法和显示装置，该显示面板可以包括衬底基板，第一显示区和第二显示区，第一子像素和第二子像素，第二子像素包括第二像素电路和第二发光元件，第二像素电路位于第一显示区，第二发光元件位于第二... 详细信息

标准号: CN113327529B

本发明公开了一种显示面板、像素检测方法和显示装置，该显示面板可以包括衬底基板，第一显示区和第二显示区，第一子像素和第二子像素，第二子像素包括第二像素电路和第二发光元件，第二像素电路位于第一显示区，第二发光元件位于第二显示区，第二像素电路和第二发光元件通过导电线连接；位于第一显示区的第一数据线与第一像素电路连接，第二数据线至少与第二像素电路连接；位于周边区的第一测试电路和第一数据线连接，第二测试电路和第二数据线连接，第一测试电路和第二测试电路被配置为向第一像素电路和第二像素电路传输能使第一子像素和第二子像素分时点亮的测试数据信号，有利于提高各显示区像素检测的有效性。

关键词：像素电路显示区子像素测试电路发光元件第一数据显示面板像素检测测试数据信号数据线连接衬底基板显示装置导电线数据线线连接周边区时点传输配置

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显示装置和显示装置的驱动方法

显示装置和显示装置的驱动方法

引用

作者：全丙起李在训安泰亨韩国京畿道

提供了显示装置和显示装置的驱动方法，显示装置包括像素电路、虚设像素电路、感测单元和时序控制器，像素电路包括在显示区域中，像素电路包括以与从外部输入的数据对应的灰度发射光的发光元件和驱动晶体管，虚设像素电路包括在非显示... 详细信息

标准号: CN117316107A

提供了显示装置和显示装置的驱动方法，显示装置包括像素电路、虚设像素电路、感测单元和时序控制器，像素电路包括在显示区域中，像素电路包括以与从外部输入的数据对应的灰度发射光的发光元件和驱动晶体管，虚设像素电路包括在非显示区域中，虚设像素电路包括虚设发光元件和虚设驱动晶体管，感测单元用于每隔预定时间将用于感测与预定测试数据对应的输出信号的测试数据信号输入到虚设像素电路并且然后基于从虚设像素电路输出的输出信号来执行生成用于补偿根据发光元件和驱动晶体管中的至少一个的驱动时间而引起的劣化的补偿信息的操作，并且时序控制器用于累积并且存储补偿信息并且通过补偿从外部输入的数据来生成补偿数据。

关键词：虚设像素驱动晶体管发光元件显示装置像素电路电路时序控制器补偿信息感测单元输出信号数据对应虚设测试数据信号非显示区域驱动补偿数据电路输出显示区域预定测试发射光外部感测灰度劣化存储

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多功能便携式光纤通信检测仪

多功能便携式光纤通信检测仪

引用

作者：朱克明 132000 吉林省吉林市高新区创业园D-512D

本实用新型公开了一种多功能便携式光纤通信检测仪，包括单片机、电源电路、液晶屏、光接收电路，激光发射电路；光接收电路将接收的光信号转换成电信号，一路通过信号放大电路、功率放大电路，发送放大后的电信号到耳机产生语音输出，... 详细信息

标准号: CN202364222U

本实用新型公开了一种多功能便携式光纤通信检测仪，包括单片机、电源电路、液晶屏、光接收电路，激光发射电路；光接收电路将接收的光信号转换成电信号，一路通过信号放大电路、功率放大电路，发送放大后的电信号到耳机产生语音输出，同时传送放大后的电信号到调制/解调电路，产生测试需要的数据信号给单片机；另一路通过功率测量电路、A/D转换电路将所述电信号转换成数字信号送到单片机处理；所述激光发射电路通过调制/解调电路连接单片机，将单片机发送的测试数据信号解调转换成光信号发送到光纤中。该检测仪具有一机多用，既有光源、光功率功能，又可双工通话，使用简单，体积小，抗冲击震动，耐高低温，携带轻便等优点。

关键词：单片机激光发射电路解调电路光接收检测仪调制电路放大测试数据信号功率测量电路功率放大电路信号放大电路转换成电信号单片机处理电源电路功率功能光纤通信耐高低温数据信号数字信号语音输出转换成光光信号抗冲击液晶屏耳机解调双工光源光纤通话震动连接转换

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存储器芯片内建自测试电路装置

存储器芯片内建自测试电路装置

引用

作者：杨正杰 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

本实用新型提供了一种存储器芯片内建自测试电路装置，包括待测电路、寄存器、比较电路以及测试结果输出模块。待测电路用于根据原始测试向量生成测试数据信号。比较电路连接至待测电路和寄存器，用于对经过寄存器延迟后的原始测试向量... 详细信息

标准号: CN208655247U

本实用新型提供了一种存储器芯片内建自测试电路装置，包括待测电路、寄存器、比较电路以及测试结果输出模块。待测电路用于根据原始测试向量生成测试数据信号。比较电路连接至待测电路和寄存器，用于对经过寄存器延迟后的原始测试向量和测试数据信号进行逻辑异或运算，生成用于表示待测电路是否有效的测试结果指示信号。测试结果输出模块用于根据测试结果指示信号，择一输出用于表示待测电路有效的有效测试结果和逻辑状态指示值中的一种。不仅能够判断出待测电路是否有效，而且进一步得到待测电路的失效形态，即能够从测试结果中直接得出测试数据信号的逻辑状态，以及原始测试向量的逻辑状态。不仅提高测试效率，而且便于后续对待测电路的检修。

关键词：待测电路原始测试向量寄存器测试数据信号逻辑状态输出模块指示信号内建自测试电路逻辑状态指示生成测试数据本实用新型存储器芯片测试效率失效形态异或运算有效测试延迟检修电路输出

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用于校准模拟集成电路的装置

用于校准模拟集成电路的装置

引用

作者：宋振宇陈利杰 300457 天津市开发区第四大街80号天大科技园软件南楼210室

本实用新型公开了一种集成电路，包括存储单元阵列、写操作逻辑控制单元以及双路数据选择器，其特征在于：存储单元阵列由一个或多个存储单元并联而成以存储校准信息；写操作逻辑控制单元接收测试数据信号并且控制将测试数据信号作为校... 详细信息

标准号: CN202153440U

本实用新型公开了一种集成电路，包括存储单元阵列、写操作逻辑控制单元以及双路数据选择器，其特征在于：存储单元阵列由一个或多个存储单元并联而成以存储校准信息；写操作逻辑控制单元接收测试数据信号并且控制将测试数据信号作为校准信息写入到存储单元阵列的操作；双路数据选择器选择存储单元中的校准信息或测试数据中的一个作为输出；其中，双路数据选择器先选通测试数据，当测试数据信号写入存储单元阵列后双路数据选择器选通校准信息。

关键词：存储单元阵列数据选择器校准双路测试数据信号逻辑控制单元测试数据存储单元写操作信息写入并联集成电路存储

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一种液晶盒测试电路、显示面板和装置

一种液晶盒测试电路、显示面板和装置

引用

作者：龚强 430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋

本发明提供了一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置，该测试电路包括：测试使能信号端，用于输入测试使能信号；多个测试数据信号端，用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联；多个第一晶体管，其栅极连接测试使能信号端，源极... 详细信息

标准号: CN106444107A

本发明提供了一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置，该测试电路包括：测试使能信号端，用于输入测试使能信号；多个测试数据信号端，用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联；多个第一晶体管，其栅极连接测试使能信号端，源极连接至一一对应的测试数据信号端，漏极连接液晶盒，由测试使能信号控制打开以将测试数据信号输入至液晶盒，其中，在液晶盒测试完毕后，通过控制测试使能信号和测试数据信号，使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。本发明可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。

关键词：测试数据信号测试使能信号液晶盒测试使能信号液晶盒晶体管输入测试数据测试晶体管栅源极电压漏电测试电路分组并联控制测试输入测试显示面板预定规则源极连接栅极连接串扰漏极电路

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一种智能网联汽车测试场景的测试方法和系统

一种智能网联汽车测试场景的测试方法和系统

引用

作者：罗浩轩陈涛张强杨良义 401122 重庆市北部新区金渝大道9号

本发明提出了一种智能网联汽车测试场景的测试方法和系统，该系统包括待测试场景车辆安置于场景测试台上，在待测试场景车辆正前方安置有场景测试显示屏，在待测试场景车辆上设置有M个图像获取装置，待测试场景车辆控制器根据图像获取... 详细信息

标准号: CN110954341A

本发明提出了一种智能网联汽车测试场景的测试方法和系统，该系统包括待测试场景车辆安置于场景测试台上，在待测试场景车辆正前方安置有场景测试显示屏，在待测试场景车辆上设置有M个图像获取装置，待测试场景车辆控制器根据图像获取装置获取的场景测试显示屏上显示的测试场景，控制待测试场景车辆相应的运动，待测试场景车辆控制器的测试数据信号输出端与测试场景控制器的测试数据信号输入端相连，将待测试场景车辆的运动状态模拟显示在场景测试显示屏上。本发明能够针对各个复杂多变的测试场景，解决场景测试比重分布不均，覆盖不全或漏测关键场景等问题，提升智能网联汽车的发展。

关键词：测试场景场景测试显示屏测试数据信号图像获取装置车辆控制器智能网运动状态模拟场景汽车测试控制器正前方输出端输入端安置测试覆盖汽车

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用于模拟测试模块的控制电路及控制系统

用于模拟测试模块的控制电路及控制系统

引用

作者：李扬汉吴永裕陈辉煌中国台湾台北县

本发明提供一种用于模拟测试模块的控制电路及控制系统。在控制电路中使用光耦合器隔绝噪声，并使用通用放大器来调整增益，使得逻辑测试机可配合模拟测试模块中不同规格与操作电压差的继电器进行模拟信号测试。在控制系统中，每一控制... 详细信息

标准号: CN102375113B

本发明提供一种用于模拟测试模块的控制电路及控制系统。在控制电路中使用光耦合器隔绝噪声，并使用通用放大器来调整增益，使得逻辑测试机可配合模拟测试模块中不同规格与操作电压差的继电器进行模拟信号测试。在控制系统中，每一控制电路的移位暂存器亦将测试数据信号逐一传递至下一级的控制电路中，使得逻辑测试机可在仅使用单一输出入端口的前提下同时输出多个位至多个控制电路与模拟测试模块。

关键词：控制电路模拟测试模块控制系统逻辑测试继电器测试数据信号通用放大器移位暂存器调整增益隔绝噪声光耦合器进行模拟信号测试电压

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