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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

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限定检索结果

文献类型

56 篇 专利

馆藏范围

56 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 武汉华星光电技术...
4 篇 成都京东方光电科...
4 篇 京东方科技集团股...
3 篇 海力士半导体有限...
3 篇 友达光电股份有限...
3 篇 长鑫存储技术有限...
2 篇 创意电子股份有限...
2 篇 英特盛科技股份有...
2 篇 业成科技有限公司
2 篇 普诚科技股份有限...
2 篇 三菱电机株式会社
2 篇 英特格灵芯片有限...
2 篇 华邦电子股份有限...
2 篇 中国汽车工程研究...
2 篇 业成光电有限公司
2 篇 中国科学院微电子...
2 篇 莱特普茵特公司
2 篇 联咏科技股份有限...
2 篇 宝山钢铁股份有限...
2 篇 深圳大学

作者

3 篇 蔡建畅
2 篇 c·v·欧拉加德
2 篇 陈岚
2 篇 李学仪
2 篇 胡思明
2 篇 林男颖
2 篇 宋振宇
2 篇 c·安德森
2 篇 权奇昌
2 篇 周玉忠
2 篇 榎健太郎
2 篇 张露
2 篇 陈涛
2 篇 秋山浩一
2 篇 w·艾尔-哈桑
2 篇 黄彦道
2 篇 龚强
2 篇 孔利明
2 篇 傅春霖
2 篇 尤云霞

语言

56 篇 中文

检索条件"主题词=测试数据信号"

共 56 条记录，以下是41-50 订阅

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详细简洁

排序：

显示基板及显示装置

显示基板及显示装置

引用

作者：周宏军杜丽丽 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

一种显示基板及显示装置，显示基板包括基底，基底包括显示区和周边区；显示区包括多个子像素、多条数据线和多条电源线；周边区包括至少一条测试数据信号线、至少一条测试控制信号线和多个测试单元，多个测试单元位于多条数据线远离显... 详细信息

标准号: CN114531922A

一种显示基板及显示装置，显示基板包括基底，基底包括显示区和周边区；显示区包括多个子像素、多条数据线和多条电源线；周边区包括至少一条测试数据信号线、至少一条测试控制信号线和多个测试单元，多个测试单元位于多条数据线远离显示区的一侧，多个测试单元中的至少一个与多条数据线中的至少一条、至少一条测试数据信号线和至少一条测试控制信号线电连接；周边区还包括第一电源总线和多个连接部，第一电源总线位于多个测试单元远离显示区的一侧；多个连接部与第一电源总线电连接，且与多条电源线电连接，多个连接部沿着多个测试单元之间的区域向显示区延伸。

关键词：测试单元显示区电源总线数据线周边区测试控制信号测试数据信号多条电源线显示基板电连接基底显示装置线电像素延伸

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显示面板、电子设备和显示面板的控制方法

显示面板、电子设备和显示面板的控制方法

引用

作者：刘育存 611730 四川省成都市高新区西区合作路689号

本发明涉及一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法，显示面板包括：多个子像素；多个像素电路，像素电路包括：像素测试单元，与至少一个子像素连接，用于为相应的子像素提供测试数据信号；静电释放单元，与像素测试单元连接，用... 详细信息

标准号: CN111489672A

本发明涉及一种显示面板、电子设备和显示面板的控制方法，显示面板包括：多个子像素；多个像素电路，像素电路包括：像素测试单元，与至少一个子像素连接，用于为相应的子像素提供测试数据信号；静电释放单元，与像素测试单元连接，用于释放相应的像素测试单元上的残余电荷；其中，像素测试单元和静电释放单元分时开启。本发明通过控制像素测试单元和静电释放单元分时开启，当子像素不发光时，使像素测试单元与静电释放单元之间的静电释放通路导通，以释放相应的像素测试单元上的残余电荷，从而避免了像素测试单元上积攒过多的静电电荷，进而避免了像素测试单元发生严重的静电放电现象，提高了显示面板的显示可靠性和安全性。

关键词：像素测试静电释放单元显示面板残余电荷分时开启像素电路子像素像素测试数据信号静电放电现象单元连接电子设备静电电荷静电释放通路导通释放发光

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一种基于振动信号的智能手表身份验证方法

一种基于振动信号的智能手表身份验证方法

引用

作者：伍楷舜黄彦道陈林 518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

本发明提供一种基于振动信号的智能手表身份验证方法。该方法包括：利用智能手表中的振动马达产生增量式振动信号；将采集的振动信号进行基于频率段的分级端点切断，获得多个频率段的振动信号；针对多个频率段的振动信号进行频域特征提... 详细信息

标准号: CN110414196B

本发明提供一种基于振动信号的智能手表身份验证方法。该方法包括：利用智能手表中的振动马达产生增量式振动信号；将采集的振动信号进行基于频率段的分级端点切断，获得多个频率段的振动信号；针对多个频率段的振动信号进行频域特征提取；将多个频率段的振动信号作为训练数据集，训练动态时间规整模型，将提取的频域特征作为训练数据，训练最近邻模型；采集待进行身份验证的振动信号经处理后作为测试数据信号；通过动态时间规整模型判别测试数据信号与相应的训练数据信号的相似度，通过最近邻模型给出分类结果，对动态时间规整模型的判别结果和最近邻模型的判别结果进行加权，得出身份验证结果。本发明的身份验证方法安全实用，可靠性高。

关键词：振动信号频率段身份验证规整最近邻测试数据信号判别结果频域特征训练数据智能手表身份验证结果采集训练数据集安全实用分类结果振动马达相似度增量式分级加权

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半导体存储装置的修复电路和修复方法

半导体存储装置的修复电路和修复方法

引用

作者：金帝润权奇昌韩国京畿道

本发明提供一种半导体存储装置的修复电路，所述修复电路包括：修复地址检测电路，基于从存储模块输出的多个测试数据信号来确定在所述存储模块中的失效的发生，并储存与被确定为失效的存储模块相对应的地址作为修复地址；以及反熔丝电... 详细信息

标准号: CN102237146A

本发明提供一种半导体存储装置的修复电路，所述修复电路包括：修复地址检测电路，基于从存储模块输出的多个测试数据信号来确定在所述存储模块中的失效的发生，并储存与被确定为失效的存储模块相对应的地址作为修复地址；以及反熔丝电路，接收来自所述修复地址检测电路的所述修复地址，并将所述修复地址电编程来储存编程地址。

关键词：修复地址存储模块检测电路修复电路半导体存储装置储存测试数据信号编程地址反熔丝编程电路

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一种内建自测试电路及存储器

一种内建自测试电路及存储器

引用

作者：陈巍巍陈岚尤云霞秦毅 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所

本发明公开了一种内建自测试电路及存储器。该内建自测试电路，包括：数字压控振荡器，用于生成高频时钟信号；时钟信号控制模块，用于在高速测试时，将高频时钟信号输入地址输入通道、数据输入通道、输出通道和被测设备；地址输入通道... 详细信息

标准号: CN111354412A

本发明公开了一种内建自测试电路及存储器。该内建自测试电路，包括：数字压控振荡器，用于生成高频时钟信号；时钟信号控制模块，用于在高速测试时，将高频时钟信号输入地址输入通道、数据输入通道、输出通道和被测设备；地址输入通道，用于根据时钟信号控制模块输入的时钟信号，将测试地址信号输入被测设备；数据输入通道，用于根据时钟信号控制模块输入的时钟信号，将测试数据信号输入被测设备；输出通道，用于接收并输出被测试设备的输出信号。内建自测试电路中集成了数字压控振荡器，为测试提供高频时钟信号，降低了对测试机台提供的测试时钟的频率要求，简化了外围设备，缩短了测试时间，降低了测试成本。

关键词：时钟信号控制模块内建自测试电路高频时钟信号被测设备数字压控振荡器数据输入通道时钟信号输出通道外围设备测试地址信号测试数据信号被测试设备测试存储器测试成本测试机台测试时钟地址输入高速测试频率要求输出信号输入地址输入通道输出

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测试电路和包括该测试电路的半导体存储装置

测试电路和包括该测试电路的半导体存储装置

引用

作者：李康悦朴文必韩国京畿道

本发明提供一种半导体存储装置的测试电路，包括：第一失效检测单元，被配置为通过将从第一存储模块的存储单元组输出的多个第一测试数据信号进行组合来检测第一存储模块的存储单元组的失效；第二失效检测单元，被配置为通过将从第二存... 详细信息

标准号: CN102237144A

本发明提供一种半导体存储装置的测试电路，包括：第一失效检测单元，被配置为通过将从第一存储模块的存储单元组输出的多个第一测试数据信号进行组合来检测第一存储模块的存储单元组的失效；第二失效检测单元，被配置为通过将从第二存储模块的存储单元组输出的多个第二测试数据信号进行组合来检测第二存储模块的存储单元组的失效；公共失效检测单元，被配置为通过将多个第一测试数据信号以及多个第二测试数据信号进行组合来检测第一存储模块和第二存储模块的存储单元组的失效；以及失效确定单元，被配置为根据第一失效检测单元和第二失效检测单元的检测结果来输出第一失效检测单元和第二失效检测单元的检测结果或输出公共失效检测单元的检测结果。

关键词：失效检测存储模块存储单元测试数据信号检测半导体存储装置测试电路

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显示基板、显示装置

显示基板、显示装置

引用

作者：魏锋杜丽丽周宏军蔡建畅 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

一种显示基板包括：基底(9)，包括显示区(99)和围绕所述显示区(99)的周边区；多个子像素(1)，位于所述显示区(99)；多条数据线(81)，位于所述显示区(99)且与所述多个子像素(1)电连接，所述多条数据线(81)被配置为向所述多个子像素(1)提... 详细信息

标准号: CN114342368A

一种显示基板包括：基底(9)，包括显示区(99)和围绕所述显示区(99)的周边区；多个子像素(1)，位于所述显示区(99)；多条数据线(81)，位于所述显示区(99)且与所述多个子像素(1)电连接，所述多条数据线(81)被配置为向所述多个子像素(1)提供数据信号；多个焊盘(71)，位于所述周边区，所述多个焊盘(71)中的至少部分被配置为向所述多条数据线(81)提供数据信号；至少一条测试数据信号线(8531)，位于所述周边区；至少一条测试控制信号线(8532)，位于所述周边区；多个测试单元(3)，位于所述周边区，且所述多个测试单元(3)位于所述多个焊盘(71)远离所述显示区(99)的一侧，所述多个测试单元中(3)的至少一个与至少一条所述测试数据信号线(8531)、至少一条所述测试控制信号线(8532)、所述多条数据线(81)中的至少一条电连接，并被配置为根据所述至少一条测试控制信号线(8532)提供的信号将所述至少一条测试数据信号线(8531)提供的信号传递给所述至少一条数据线(81)。

关键词：数据线显示区周边区测试控制信号测试数据信号测试单元焊盘像素数据信号电连接配置显示基板信号传递基底

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液晶显示器及其测试电路

液晶显示器及其测试电路

引用

作者：林男颖傅春霖丁友信中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号

本发明提供一种液晶显示器及其测试电路。测试电路包含多个信号垫、第一数据分配器、多个逻辑电路单元以及N个开关。N为正整数。上述的信号垫用以接收测试数据信号、电位信号、致能信号以及多个第一切换控制信号。第一数据分配器将测试... 详细信息

标准号: CN104460065A

本发明提供一种液晶显示器及其测试电路。测试电路包含多个信号垫、第一数据分配器、多个逻辑电路单元以及N个开关。N为正整数。上述的信号垫用以接收测试数据信号、电位信号、致能信号以及多个第一切换控制信号。第一数据分配器将测试数据信号分配至第一数据分配器的N个输出端。每一逻辑电路单元依据所接收的电位信号、致能信号以及对应的第一切换控制信号，产生第二切换控制信号。每一开关依据对应逻辑电路单元所产生的第二切换控制信号，控制所耦接的第一数据分配器的输出端与所耦接的至少一数据线之间的电性连接。

关键词：数据分配器切换控制逻辑电路单元测试数据信号测试电路电位信号输出端液晶显示器电性连接数据线

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测试电路

测试电路

引用

作者：马亮赵莽 430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋

本发明公开了一种测试电路，其包括：信号产生模块用于生成与所述数据线对应的测试数据信号；控制模块用于在所述测试电路处于工作状态时，控制所述测试数据信号的输出；静电抑制模块，与所述第一静电控制端、所述第二静电控制端、所述... 详细信息

标准号: CN106019115A

本发明公开了一种测试电路，其包括：信号产生模块用于生成与所述数据线对应的测试数据信号；控制模块用于在所述测试电路处于工作状态时，控制所述测试数据信号的输出；静电抑制模块，与所述第一静电控制端、所述第二静电控制端、所述控制模块以及所述信号产生模块连接，所述静电抑制模块用于在所述测试电路处于非工作状态时，阻止所述数据输出端输出。本发明的测试电路，避免了静电对显示画面的影响，提高了显示效果。

关键词：测试电路测试数据信号信号产生模块静电控制静电抑制控制模块非工作状态数据输出端显示画面显示效果静电输出数据线

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校正移动产业处理器接口中信号偏移方法及相关传输系统

校正移动产业处理器接口中信号偏移方法及相关传输系统

引用

作者：林清淳汤志伟李学仪彭昱勋中国台湾新竹

本发明公开了一种校正移动产业处理器接口中信号偏移的方法及相关传输系统。在校正模式下，透过移动产业处理器接口之一频率信道和一数据信道分别传送一频率信号和一数据信号。调整频率信号和数据信号之相位以分别提供相对应之一测试频... 详细信息

标准号: CN102789442A

本发明公开了一种校正移动产业处理器接口中信号偏移的方法及相关传输系统。在校正模式下，透过移动产业处理器接口之一频率信道和一数据信道分别传送一频率信号和一数据信号。调整频率信号和数据信号之相位以分别提供相对应之一测试频率信号和一测试数据信号。依据测试频率信号来撷取测试数据信号以得到一撷取资料，再依据撷取资料来求出对应于频率信道和数据信道之一最佳相位关系。在正常模式下传送频率信号和数据信号时，依据最佳相位关系来调整频率信道和数据信道之信号延迟。

关键词：频率信道数据信道数据信号撷取测试频率信号测试数据信号最佳相位关系处理器接口频率信号传输系统传送频率信号延迟正常模式偏移校正产业

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