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检索条件"主题词=测试数据确定"
233 条 记 录,以下是31-40 订阅
排序:
环流测试方法和电池测试系统
环流测试方法和电池测试系统
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作者: 岳锦霞 周长裕 左启琪 李茂华 罗剑锋 鲁振华 352100 福建省宁德市蕉城区漳湾镇新港路2号
本申请涉及一种环流测试方法和电池测试系统。所述方法包括:根据测试样品的样品类型从多个测试工况中确定出目标测试工况;其中,所述样品类型包括磷酸铁锂电池、三元锂电池和钠电池中的至少一种;所述目标测试工况包括以下至少一项:... 详细信息
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阻尼力响应时间测试方法、装置、设备及存储介质
阻尼力响应时间测试方法、装置、设备及存储介质
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作者: 陈钟 邓聚才 唐振天 周文 韦永尤 周志斌 王广坤 李民峰 张旭 545000 广西壮族自治区柳州市屏山大道286号
本发明属于设备测试技术领域,公开了一种阻尼力响应时间测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取减振器阻尼力响应时间测试测试参数信息;当待测试减振器安装到试验台时,根据所述测试参数信息配置所述试验台;启动所述试... 详细信息
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一种自动驾驶车辆测试方法、系统、装置和存储介质
一种自动驾驶车辆测试方法、系统、装置和存储介质
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作者: 周鲁东 刘博 张娜 何贝 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区荣华中路10号1幢12层1单元1501-3O
本申请实施例公开了一种自动驾驶车辆测试方法、系统、装置和存储介质。方法由处理器执行,包括:向待测试车辆发出执行初始测试方案的指令;通过通讯网络获取待测试车辆反馈的初始测试方案对应的测试数据;基于测试数据确定分析结果;... 详细信息
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一种检测设备精度的方法、装置、电子设备和存储介质
一种检测设备精度的方法、装置、电子设备和存储介质
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作者: 戎迪 201600 上海市松江区中辰路299号1幢636室
本申请提供了一种检测设备精度的方法、装置、电子设备和存储介质,包括:确定测试请求中的待检测设备、用于检测每个待检测设备的第一工艺线路和为每个第一工艺线路绑定的测试片;针对每个测试片,控制第一工艺线路中的每个设备对测试... 详细信息
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测试结果的确定方法及装置、存储介质、电子设备
测试结果的确定方法及装置、存储介质、电子设备
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作者: 肖明 任明刚 张鹏 周敏敏 任鹏飞 250000 山东省济南市高新区港西路2177号港盛大厦4层401室
本申请实施例提供了一种测试结果的确定方法及装置、存储介质、电子设备,其中,该测试结果的确定方法包括:在接收到测试对象发送的功能数据的情况下,确定功能数据包含的多个测试用例的第一数量;在确定环境池中存在与第一数量相同个... 详细信息
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交换机的流量测试方法、装置、计算机设备和存储介质
交换机的流量测试方法、装置、计算机设备和存储介质
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作者: 杜守峰 晋兆琼 尹龙辉 311200 浙江省杭州市萧山区闻堰街道王家里工业园区368号4号楼210室
本申请涉及一种交换机的流量测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:通过第一交换机的第一端口接收第一测试端口发送的第一测试流量,将第一测试流量转发至第一交换机的第二端口,以使第一测试流量经由... 详细信息
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一种MOS器件的建模方法
一种MOS器件的建模方法
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作者: 刘林林 201210 上海市浦东新区张江高斯路497号
本发明公开了一种MOS器件的建模方法,包括如下步骤:S01:构建MOS器件的模型电路,其中,模型电路中包括本征晶体管,衬底寄生电阻、寄生电容、寄生二极管、栅极寄生电阻电感网络、源极寄生电阻电感网络和漏极寄生电阻电感网络;S02:... 详细信息
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裸芯片的异常值检测方法、装置、电子设备与存储介质
裸芯片的异常值检测方法、装置、电子设备与存储介质
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作者: 毛宏坤 杨治国 付盈盈 200433 上海市杨浦区四平路1779号一层1016室
本发明提供了一种裸芯片的异常值检测方法、装置、电子设备与存储介质,其中,裸芯片的异常值检测方法,包括:获取多个裸芯片的一维的测试数据;将所述一维的测试数据转换为样本的二维阵列,所述样本的二维阵列中样本的数值是根据对应... 详细信息
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无人车边界检测方法、装置、设备及存储介质
无人车边界检测方法、装置、设备及存储介质
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作者: 孙佳晶 唐涵 韩旭 210000 江苏省南京市建邺区江心洲贤坤路1号科创中心2楼220-784号
本发明涉及自动驾驶测试数据分析领域,公开了一种无人车边界检测方法、装置、设备及存储介质。本方法包括:通过在预设仿真平台对模糊测试场景对应的初始化数据进行仿真计算,得到模糊测试场景下的无人车的测试数据;对测试数据进行多... 详细信息
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固态驱动器的异常检测处理方法和装置
固态驱动器的异常检测处理方法和装置
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作者: 薛妮 王晔阳 王嘉明 赵志学 710000 陕西省西安市高新区洨河北路1999号
提供了一种固态驱动器(SSD)的异常检测处理方法和装置。所述SSD的异常检测处理方法包括:采集SSD的测试数据,其中,测试数据包括自我监控、分析和报告技术S.M.A.R.T.数据、NAND闪存单元阈值电压分布数据和误码率眼图数据中的至少一项... 详细信息
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