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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

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AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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82 篇 专利

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82 篇 电子文献
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日期分布

机构

5 篇 上海华虹宏力半导...
5 篇 瑞昱半导体股份有...
4 篇 爱思开海力士有限...
4 篇 深圳比特微电子科...
4 篇 长鑫存储技术有限...
3 篇 珠海市一微半导体...
2 篇 上海晟矽微电子股...
2 篇 瑞萨电子株式会社
2 篇 中国科学院计算技...
2 篇 国际商业机器公司
2 篇 成都华微电子科技...
2 篇 大唐半导体设计有...
2 篇 深圳市爱普特微电...
2 篇 福州瑞芯微电子股...
2 篇 三星电子株式会社
2 篇 北京联盛德微电子...
2 篇 龙芯中科技术股份...
2 篇 联发科技私人有限...
2 篇 乐金显示有限公司
2 篇 联芸科技有限公司

作者

4 篇 范志军
4 篇 薛可
4 篇 李璋辉
4 篇 王鹏
3 篇 陈柏霖
3 篇 周喆
3 篇 徐佳斌
3 篇 赵锋
2 篇 王成
2 篇 张云鹏
2 篇 何再生
2 篇 王若男
2 篇 崔浩
2 篇 李楠
2 篇 李友刚
2 篇 丁丽
2 篇 许江
2 篇 杨炳君
2 篇 张莹
2 篇 苏锦荣

语言

82 篇 中文

检索条件"主题词=测试时钟信号"

共 82 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

用于产生全速扫描测试时钟信号的方法及系统

用于产生全速扫描测试时钟信号的方法及系统

引用

作者：张云鹏林琳许江李炜 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋A座1702

本发明公开了一种用于产生全速扫描测试时钟信号的方法，包括检测测试信号；基于测试信号，生成包括多个传递时钟、发射时钟和捕获时钟的测试时钟信号，传递时钟、发射时钟和捕获时钟的周期相同，根据周期和待测试芯片所需的高频时钟频... 详细信息

标准号: CN115542140A

本发明公开了一种用于产生全速扫描测试时钟信号的方法，包括检测测试信号；基于测试信号，生成包括多个传递时钟、发射时钟和捕获时钟的测试时钟信号，传递时钟、发射时钟和捕获时钟的周期相同，根据周期和待测试芯片所需的高频时钟频率调整测试时钟信号的发射时钟和捕获时钟的上升沿或下降沿。本发明时钟传递阶段、发射阶段和捕获阶段的时钟周期相同，只是对测试时钟信号发射阶段和捕获阶段的波形的上升沿或下降沿的时间点进行调整，从而使芯片在捕获阶段可以接收到所需的高频时钟频率信号；因此，可以通过波形控制达到输出高频的目的，省去芯片额外的OCC电路结构，节约芯片面积。

关键词：捕获发射时钟测试时钟信号高频时钟频率测试信号芯片上升沿下降沿扫描测试时钟待测试芯片波形控制电路结构调整测试时钟传递时钟信号时钟周期发射时间点传递输出检测节约

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用于产生全速扫描测试时钟信号的方法及系统

用于产生全速扫描测试时钟信号的方法及系统

引用

作者：张云鹏林琳许江李炜 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋A座1702

标准号: CN115542140B

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一种测试时钟信号抖动的片上系统

一种测试时钟信号抖动的片上系统

引用

作者：余菲 518055 广东省深圳市南山区西丽深圳大学城北大校区

本发明涉及一种测试时钟信号抖动的片上系统及其方法，尤其涉及锁相环抖动的测试。高时间解析度、低振幅、差动信号不受元件变动性影响。包括有N个延时单元的亚阈值电流控制单边延迟线、参考延迟线和测试时钟延迟线，所述亚阈值电流控... 详细信息

标准号: CN1862273B

本发明涉及一种测试时钟信号抖动的片上系统及其方法，尤其涉及锁相环抖动的测试。高时间解析度、低振幅、差动信号不受元件变动性影响。包括有N个延时单元的亚阈值电流控制单边延迟线、参考延迟线和测试时钟延迟线，所述亚阈值电流控制单边延迟线的所述每个延时单元输出的时钟信号的上升沿延时等于T/2N加一个本征延时、而下降沿延时为一个本征延时；还包括监测参考时钟信号和测试时钟的相位哪一个先变化的仲裁器，和通过控制电压调整延时的延迟校准器；所述参考延迟线为所述延迟校准器计算所述本征延时提供参考时钟；当第M个所述仲裁器判断所述测试时钟和所述延时单元的时钟的相位先后发生了反转时，输入超前判断翻转器输出信号，则判断所述时钟信号抖动值是M*d。

关键词：延时延迟线测试时钟抖动时钟信号阈值电流校准器仲裁器延迟参考时钟信号测试时钟信号参考时钟差动信号电压调整片上系统时间解析输出信号翻转器锁相环反转监测

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测试时钟信号发生装置

测试时钟信号发生装置

引用

作者：叶大嘉林建光吴奇峰台湾省新竹科学园区

本发明提供一种测试时钟信号发生装置，该测试时钟信号发生装置包含：一同速时钟信号发生器，接收一参考时钟信号以及一扫描链致能信号，输出一同速时钟信号，其中，该同速时钟信号的频率与该参考时钟信号的频率相同；以及一多工器，接... 详细信息

标准号: CN100480717C

本发明提供一种测试时钟信号发生装置，该测试时钟信号发生装置包含：一同速时钟信号发生器，接收一参考时钟信号以及一扫描链致能信号，输出一同速时钟信号，其中，该同速时钟信号的频率与该参考时钟信号的频率相同；以及一多工器，接收该同速时钟信号以及一扫描链时钟信号信号，并依据该扫描链致能信号输出一测试时钟信号；其中，该参考时钟信号的频率高于该扫描链时钟信号信号的频率。

关键词：扫描链参考时钟信号测试时钟信号时钟信号时钟信号信号发生装置时钟信号发生器信号输出

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一种时钟信号测试方法和装置

一种时钟信号测试方法和装置

引用

作者：梅张雄郭涛 100044 北京市海淀区上园村3号交大知行大厦七层

本发明涉及一种时钟信号测试方法和装置，通过Perl脚本提取输入文件中与时钟相关的信息，所述输入文件包括Excel格式文件；根据所述与时钟相关的信息生成输出文件，所述文件包括Verilog文件；调用所述输出文件以实时检测时钟信号的状态... 详细信息

标准号: CN106250280A

本发明涉及一种时钟信号测试方法和装置，通过Perl脚本提取输入文件中与时钟相关的信息，所述输入文件包括Excel格式文件；根据所述与时钟相关的信息生成输出文件，所述文件包括Verilog文件；调用所述输出文件以实时检测时钟信号的状态，所述时钟信号的状态包括所述时钟信号的周期及当前周期的占空比，或者缺省状态，能够自动且高效的测试时钟信号。

关键词：时钟信号输出文件输入文件测试时钟信号方法和装置缺省状态实时检测信息生成占空比调用测试

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一种时钟信号测试方法和装置

一种时钟信号测试方法和装置

引用

作者：梅张雄郭涛 100044 北京市海淀区上园村3号交大知行大厦七层

标准号: CN106250280B

关键词：时钟信号输出文件输入文件测试时钟信号方法和装置缺省状态实时检测信息生成占空比调用测试

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一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器

一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器

引用

作者：黄新何堂泉杨竞波何世杰 541004 广西壮族自治区桂林市金鸡路一号

本发明提供一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器，所述方法包括：接收并解析基于IEEE1149.10标准格式的数据包，将其转换为JTAG信号，以允许与JTAG接口兼容的设备进行通信和控制。JTAG驱动信号包括：TCK测试时钟信号、TMS测试模式选择信号... 详细信息

标准号: CN117665534A

本发明提供一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器，所述方法包括：接收并解析基于IEEE1149.10标准格式的数据包，将其转换为JTAG信号，以允许与JTAG接口兼容的设备进行通信和控制。JTAG驱动信号包括：TCK测试时钟信号、TMS测试模式选择信号、TDI测试数据输入信号、TDO测试数据输出信号、TRST测试重置信号。本发明中，IR指令信息和DR数据信息只要按照IEEE1149.10标准中的数据打包标准进行打包，通过本方法就能获得时序正确的JTAG驱动信号，解决了高速测试端口数据需要快速准确解析，然后进行测试的要求。

关键词：测试数据驱动信号解析测试模式选择信号转换器测试时钟信号通信和控制测试时序标准格式端口数据高速测试输出信号数据打包数据信息指令信息重置信号数据包打包兼容转换

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扫描测试装置与扫描测试方法

扫描测试装置与扫描测试方法

引用

作者：陈柏霖中国台湾新竹

本案涉及扫描测试装置与扫描测试方法。该扫描测试装置包含扫描正反器电路与时钟门控电路。扫描正反器电路用以根据一扫描时钟信号接收一扫描输入信号并输出接收到的该扫描输入信号为一测试信号。时钟门控电路用以根据该测试信号中的一... 详细信息

标准号: CN113759240B

本案涉及扫描测试装置与扫描测试方法。该扫描测试装置包含扫描正反器电路与时钟门控电路。扫描正反器电路用以根据一扫描时钟信号接收一扫描输入信号并输出接收到的该扫描输入信号为一测试信号。时钟门控电路用以根据该测试信号中的一预定位与一扫描致能信号选择性地遮蔽该扫描时钟信号，以产生用于测试至少一核心电路的一测试时钟信号。

关键词：扫描测试装置扫描时钟信号扫描输入信号时钟门控电路正反器电路测试信号扫描测试时钟信号扫描致能信号核心电路扫描测试预定位遮蔽测试输出

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一种芯片扫描测试电路及芯片

一种芯片扫描测试电路及芯片

引用

作者：马炜华张浩亮 519000 广东省珠海市高新区金唐路1号港湾1号科创园5栋6层603室

本发明公开了一种芯片扫描测试电路及芯片，其中一种芯片扫描测试电路包括：至少一个高频逻辑模块以及至少一个低频逻辑模块；至少一个时钟控制器；第一时钟输入端，用于接收外部测试时钟信号；选择模块，选择模块的第一输入端与时钟控... 详细信息

标准号: CN115469208A

本发明公开了一种芯片扫描测试电路及芯片，其中一种芯片扫描测试电路包括：至少一个高频逻辑模块以及至少一个低频逻辑模块；至少一个时钟控制器；第一时钟输入端，用于接收外部测试时钟信号；选择模块，选择模块的第一输入端与时钟控制器连接，选择模块第二输入端与第一时钟输入端连接，选择模块的输出端分别与高频逻辑模块以及低频逻辑模块连接；模式控制端，与选择模块的受控端连接。以此，通过选择模块控制输出的时钟信号，使得低频逻辑模块无需连接在时钟控制器后亦可以获取测试时钟信号，有利于提高测试覆盖率，同时，无需在低频逻辑模块前插入与其对应的时钟控制器，有利于减少片上时钟控制器数量，节省芯片面积，降低成本。

关键词：逻辑模块选择模块时钟控制器测试时钟信号时钟输入端测试电路芯片扫描输入端芯片测试覆盖率模式控制时钟信号受控端输出端输出外部

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基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路

基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路

引用

作者：范志军李楠薛可段恋华郭海丰 518000 广东省深圳市南山区高新南六道航盛科技大厦801

本公开涉及基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路。提供基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路，能够在工作模式或测试模式下工作，电包括：时钟模块，配置为在测试模式下提供测试时钟信号；逻辑单元，包括多个半静态D触发器，... 详细信息

标准号: CN114563693B

本公开涉及基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路。提供基于半静态D触发器的支持可测性设计的电路，能够在工作模式或测试模式下工作，电包括：时钟模块，配置为在测试模式下提供测试时钟信号；逻辑单元，包括多个半静态D触发器，每个半静态D触发器包括串联耦接的动态锁存器和静态锁存器，其中每个半静态D触发器中的动态锁存器的保持时钟电平为第一时钟电平，在测试模式下，多个半静态D触发器基于测试时钟信号工作，在测试时钟信号的每个时钟周期中，第一时钟电平的持续时间满足动态锁存器的最低工作频率，以及至少部分半静态D触发器中的每个半静态D触发器构成电路中支持可测性设计的扫描链中扫描寄存器的至少部分。

关键词：半静态测试时钟信号动态锁存器可测性设计测试模式时钟电平电路静态锁存器扫描寄存器串联耦接工作模式工作频率逻辑单元时钟模块时钟周期扫描链配置

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