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作者

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  • 3 篇 丘泳埈
  • 3 篇 都昌镐
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  • 2 篇 李椙晛

语言

  • 124 篇 中文
检索条件"主题词=测试模式信号"
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用于测试半导体装置的电路和方法
用于测试半导体装置的电路和方法
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作者： 崔珉硕 李锺天 边相镇 丘泳埈 韩国京畿道
一种用于测试半导体装置的电路，包括：配置用于响应于测试模式信号、将测试电压施加到穿透硅通孔(TSV)的第一端的测试电压施加单元，以及配置为连接到所述TSV的第二端并检测从所述TSV的第二端输出的电流的检测单元。
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用于控制同步半导体存储装置中自我刷新操作的控制设备
用于控制同步半导体存储装置中自我刷新操作的控制设备
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作者： 崔烘硕 韩国京畿道
一种用于半导体存储装置中自我刷新操作的控制设备，包括一自我刷新脉冲信号产生单元，响应于一时钟启动信号、一自我刷新信号、一自我刷新终了信号、及一测试模式信号，而产生一自我刷新脉冲信号、一自我刷新入口信号、及一自我刷新模... 详细信息
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电路信号相位自适应系统、装置和方法
电路信号相位自适应系统、装置和方法
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作者： 廖裕民 350003 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼
本发明提供一种电路信号相位自适应系统、装置和方法，在装置中，遍历控制单元响应处理单元产生的有效的自适应测试模式信号控制延时电路对数据信号延迟处理。时钟信号判断单元和数据信号判断单元分别根据激励时钟信号确定符合预设条件... 详细信息
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熔丝电路及冗余电路
熔丝电路及冗余电路
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作者： 宋清基 申汉燮 韩国京畿道利川市
本发明涉及一种熔丝电路和一种冗余电路，能够检测具有裂缝的熔丝。该熔丝电路包括：熔丝区块，其被配置成响应于熔丝启用信号而经由包括熔丝的电流路径驱动输出节点；及电压检测区块，其被配置成基于根据测试模式信号调整的临界电压而... 详细信息
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半导体存储装置
半导体存储装置
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作者： 李椙晛 丘泳埈 韩国京畿道
一种半导体存储装置包括多个数据储存区；第一内部电路，其被配置成将多个控制信号输入至多个数据储存区；以及第二内部电路，其被配置成响应于测试模式信号，来控制测试控制信号的输入定时，以及根据控制的输入定时将测试控制信号输入... 详细信息
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一种电路测试控制方法及装置
一种电路测试控制方法及装置
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作者： 滕虓宇 张炜 马文波 于立波 100015 北京市朝阳区东直门外万红西街2号21幢B座四、五层
本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置，包括，在进入测试模式后，接收第一测试口令，以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号，将所述第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入片上... 详细信息
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用于多端口存储设备的测试电路
用于多端口存储设备的测试电路
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作者： 许晃 都昌镐 韩国京畿道
一种半导体存储设备，包括：读取总线，用于传送读取数据；写入总线，用于传送写入数据；和临时数据存储单元，连接在读取总线和写入总线之间，并且由在测试模式期间被使能的测试模式信号控制。
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周期测量电路和包括该周期测量电路的半导体装置
周期测量电路和包括该周期测量电路的半导体装置
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作者： 韩慜植 韩国京畿道
本发明公开一种半导体装置，包括：计数检测块，其用于在计数器启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值与时钟信号的计数值进行比较所获得的比较结... 详细信息
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测试电路的方法
测试电路的方法
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作者： 托马斯·沃格尔桑 亚当·B·威尔森 美国纽约
一种测试半导体电路的方法，半导体电路包括连接到存储器件的字线、接收地址的地址接受器、译码地址并选择一个字线的地址译码器、在非测试模式和测试模式期间刷新字线的自刷新单元，在测试模式中器件控制半导体电路，方法包括将测试模... 详细信息
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半导体测试装置
半导体测试装置
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作者： 李完燮 韩国京畿道
半导体测试装置使用高速内部时钟来执行测试。半导体测试装置包括：时钟发生器，适合于在测试模式期间响应于测试模式信号而产生内部时钟；数据发生器，适合于响应于内部时钟而产生内部数据；以及数据锁存电路，适合于响应于内部时钟而... 详细信息
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