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  • 124 篇 电子文献
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  • 1 篇 工学
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    • 1 篇 电子科学与技术（可...
    • 1 篇 信息与通信工程

主题

  • 1 篇 信道测量平台
  • 1 篇 5g
  • 1 篇 测量波形评估
  • 1 篇 测量验证
  • 1 篇 测试模式信号

机构

  • 33 篇 爱思开海力士有限...
  • 25 篇 海力士半导体有限...
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  • 3 篇 美光科技公司
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  • 2 篇 上海类比半导体技...
  • 2 篇 国家电网公司
  • 2 篇 国网新疆电力公司...
  • 2 篇 北京华大信安科技...
  • 2 篇 中国科学院微电子...
  • 2 篇 西门子公司
  • 2 篇 国网辽宁省电力有...
  • 2 篇 天津智芯半导体科...
  • 2 篇 合肥智芯半导体有...
  • 2 篇 国网信息通信产业...
  • 2 篇 英特尔公司
  • 2 篇 上海萨沙迈半导体...

作者

  • 6 篇 尹泰植
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  • 4 篇 具岐峰
  • 3 篇 金光淳
  • 3 篇 丘泳埈
  • 3 篇 都昌镐
  • 3 篇 李锺天
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  • 2 篇 韩慜植
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  • 2 篇 甘杰
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  • 2 篇 李敏娜
  • 2 篇 王海峰
  • 2 篇 李椙晛

语言

  • 124 篇 中文
检索条件"主题词=测试模式信号"
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存储器内处理器件及测试存储器内处理器件的方法
存储器内处理器件及测试存储器内处理器件的方法
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作者： 李桢埈 韩国京畿道
本申请提供一种存储器内处理器件及测试存储器内处理器件的方法。存储器内处理(PIM)器件包括乘法/累加(MAC)运算器。MAC运算器包括相乘块和相加块。相乘块包括第一乘法器和第二乘法器。第一乘法器对第一数据的第一半数据和第二数据的第... 详细信息
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半导体测试装置
半导体测试装置
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作者： 李完燮 韩国京畿道
半导体测试装置使用高速内部时钟来执行测试。半导体测试装置包括：时钟发生器，适合于在测试模式期间响应于测试模式信号而产生内部时钟；数据发生器，适合于响应于内部时钟而产生内部数据；以及数据锁存电路，适合于响应于内部时钟而... 详细信息
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互连重定时器增强
互连重定时器增强
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作者： D·S·弗洛里奇 D·达斯莎玛 美国加利福尼亚州
产生测试模式信号，该测试模式信号包括测试样式和错误报告序列。在链路上发送该测试模式信号，该链路包括一个或超过一个扩展设备和两个或超过两个子链路。该测试模式信号在多个子链路中的特定子链路上被发送，并且由接收设备使用以标... 详细信息
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周期测量电路和包括该周期测量电路的半导体装置
周期测量电路和包括该周期测量电路的半导体装置
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作者： 韩慜植 韩国京畿道
本发明公开一种半导体装置，包括：计数检测块，其用于在计数器启用区段期间产生通过第一传送路径传送的时钟信号的计数值和通过第二传送路径传送的目标信号的计数值，并基于通过将预定代码值与时钟信号的计数值进行比较所获得的比较结... 详细信息
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