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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

123 篇 专利
1 篇 期刊文献

馆藏范围

124 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

1 篇 工学
- 1 篇 仪器科学与技术
- 1 篇 电子科学与技术（可...
- 1 篇 信息与通信工程

主题

1 篇 信道测量平台
1 篇 5g
1 篇 测量波形评估
1 篇 测量验证
1 篇 测试模式信号

机构

33 篇 爱思开海力士有限...
25 篇 海力士半导体有限...
6 篇 长鑫存储技术有限...
4 篇 南亚科技股份有限...
3 篇 三星电子株式会社
3 篇 美光科技公司
2 篇 美国博通公司
2 篇 艾普凌科有限公司
2 篇 上海类比半导体技...
2 篇 国家电网公司
2 篇 国网新疆电力公司...
2 篇 北京华大信安科技...
2 篇 中国科学院微电子...
2 篇 西门子公司
2 篇 国网辽宁省电力有...
2 篇 天津智芯半导体科...
2 篇 合肥智芯半导体有...
2 篇 国网信息通信产业...
2 篇 英特尔公司
2 篇 上海萨沙迈半导体...

作者

6 篇 尹泰植
4 篇 李完燮
4 篇 具岐峰
3 篇 金光淳
3 篇 丘泳埈
3 篇 都昌镐
3 篇 李锺天
2 篇 郭鲁侠
2 篇 韩慜植
2 篇 陈岚
2 篇 金大石
2 篇 涂因子
2 篇 张俊
2 篇 金奇泰
2 篇 杰森提摩太·法利奇...
2 篇 甘杰
2 篇 洪尹起
2 篇 李敏娜
2 篇 王海峰
2 篇 李椙晛

语言

124 篇 中文

检索条件"主题词=测试模式信号"

共 124 条记录，以下是21-30 订阅

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详细简洁

排序：

安全测试模式的检测系统及检测方法

安全测试模式的检测系统及检测方法

引用

作者：胡晓波晁攸重王海峰邓剑伟刘亮甘杰涂因子邵瑾陈奎林赵东艳张海峰唐晓柯张茜歌 100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼

本发明公开了一种安全测试模式的检测系统及检测方法，检测系统用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式，安全测试模式的检测系统包含：时序逻辑控制模块、检测电路模块以及触发模块。触发模块用于根据通断状态，产生高电... 详细信息

标准号: CN107861047B

本发明公开了一种安全测试模式的检测系统及检测方法，检测系统用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式，安全测试模式的检测系统包含：时序逻辑控制模块、检测电路模块以及触发模块。触发模块用于根据通断状态，产生高电平或低电平的触发信号。时序逻辑控制模块根据低电平的触发信号，输出高电平的测试模式信号，从而使得芯片能够进入安全测试模式；或，时序逻辑控制模块根据高电平的触发信号，输出低电平的测试模式信号，从而使得检测电路模块输出自毁信号使芯片进行自毁操作。借此，本发明的安全测试模式的检测系统，多重保证提高了对芯片敏感信息的保护效力，符合绝大部分工艺实现需求，可广泛应用于各类安全芯片。

关键词：安全测试检测系统时序逻辑控制触发信号高电平芯片测试模式信号触发模块检测电路低电平输出低电平安全芯片测试电路工艺实现敏感信息模块输出通断状态自毁操作自毁信号输出检测应用保证

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安全测试模式的检测系统及检测方法

安全测试模式的检测系统及检测方法

引用

作者：胡晓波晁攸重王海峰邓剑伟刘亮甘杰涂因子邵瑾陈奎林赵东艳张海峰唐晓柯张茜歌 100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼

标准号: CN107861047A

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设定集成内存测试模式电压供应的电路装置

设定集成内存测试模式电压供应的电路装置

引用

作者： R·林德斯特德特联邦德国慕尼黑

一种设定用于一集成内存之一测试模式的一供应电压的电路装置是包括一电压产生器电路(3)，以用于产生一供应电压(VNWLL)，而施加至该内存的位线(BL1，BL2)，接着，一控制电路(4)是藉由用于辨识一测试模式的一测试模式信号(TM)而加以驱... 详细信息

标准号: CN100346477C

一种设定用于一集成内存之一测试模式的一供应电压的电路装置是包括一电压产生器电路(3)，以用于产生一供应电压(VNWLL)，而施加至该内存的位线(BL1，BL2)，接着，一控制电路(4)是藉由用于辨识一测试模式的一测试模式信号(TM)而加以驱动，且其是被连接至该电压产生器电路(3)，而该控制电路是使得该供应电压(VNWLL)能够在该测试模式中被施加至该位线(BL1，BL2)的至少其中之一。该电压产生器电路(3)是会于该测试模式中产生一负供应电压数值(VNWLL)。此装置是使得藉由在字线以及位线间的一足够高电压差异，即使是在小特征尺寸的例子中，而实行一预烧测试模式，并且同时符合相关于一骤回崩溃(snapback breakdown)的电压限制成为可能。

关键词：测试模式供应电压电压产生器电路位线控制电路测试模式信号电路装置电压差异电压限制集成内存特征尺寸辨识字线内存连接

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测试模式设置电路和包括其的半导体器件

测试模式设置电路和包括其的半导体器件

引用

作者：李相昊金京兑朴宰范韩国京畿道

一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，其通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之... 详细信息

标准号: CN106875976A

一种测试模式设置电路可以包括：第一测试模式信号发生单元，其通过第一电源电压来操作，第一测试模式信号发生单元适用于在模式设置完成的状态下在第一电压电平处激活第一测试模式信号，所述第一测试模式信号在多个第一测试模式信号之中与测试码相对应；以及第二测试模式信号发生单元，其通过第二电源电压来操作，第二测试模式信号发生单元适用于将第一测试模式信号锁存在第二电压电平处，以及当第一电源电压被重置时将锁存的第一测试模式信号产生为第二测试模式信号。

关键词：测试模式信号发生单元电源电压电压电平测试模式模式设置设置电路测试码锁存重置激活

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带测试模式的电源管理芯片

带测试模式的电源管理芯片

引用

作者：王钊 214135 江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层

本发明公开了带测试模式的电源管理芯片，属于电子电路的技术领域。带测试模式的电源管理芯片，包括输出引脚及与该输出引脚相连的功能电路，与功能电路输出端连接的检测电路，检测电路基于所述输出引脚上的电压确定是否需要使得电源管... 详细信息

标准号: CN103888114A

本发明公开了带测试模式的电源管理芯片，属于电子电路的技术领域。带测试模式的电源管理芯片，包括输出引脚及与该输出引脚相连的功能电路，与功能电路输出端连接的检测电路，检测电路基于所述输出引脚上的电压确定是否需要使得电源管理芯片进入测试模式。检测电路将输出引脚上的电压与阈值电压相比较，在输出引脚上的电压大于阈值电压时，输出有效的测试模式信号，否则，检测电路输出无效的测试模式信号。本发明通过复用复位输出管脚，在电源管理芯片PMU的复位电路处于非工作状态时实现电管管理芯片的测试，减少了引脚数目，在不增加封装尺寸的前提下亦可实现测试功能。

关键词：引脚电源管理芯片检测电路测试模式电压测试模式信号功能电路阈值电压测试功能电子电路封装尺寸复位电路管理芯片输出端电管复位复用管脚大于连接

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电池保护芯片和测试系统

电池保护芯片和测试系统

引用

作者：王小平王蒙白青刚杨小华 518116 广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区宝荷大道76号龙岗智慧家园A座401

本申请涉及电池测试技术领域，提供了一种电池保护芯片和测试系统。芯片包括：芯片电源端与第一测试模式信号产生电路的第一端相连，电池电压正采样端与第一测试模式信号产生电路的第二端相连，第一测试模式信号产生电路的输出端与驱动... 详细信息

标准号: CN114217203A

本申请涉及电池测试技术领域，提供了一种电池保护芯片和测试系统。芯片包括：芯片电源端与第一测试模式信号产生电路的第一端相连，电池电压正采样端与第一测试模式信号产生电路的第二端相连，第一测试模式信号产生电路的输出端与驱动电路的第一输入端相连；电池电压正采样端与第二测试模式信号产生电路的第一端相连，电池电压负采样端与第二测试模式信号产生电路的第二端相连，第二测试模式信号产生电路的输出端与驱动电路的第二输入端相连；计时器的输出端与驱动电路的第三输入端相连，计时器的输入端与驱动电路的计时信号输出端相连，驱动电路的控制模式总信号输出端用于连接至芯片测试模式信号端。

关键词：测试模式信号产生电路驱动电路输入端电池电压采样端输出端计时器电池保护芯片输出端相连信号输出端测试系统电池测试计时信号控制模式模式信号芯片测试芯片电源芯片申请

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终结电路、半导体器件及其操作方法

终结电路、半导体器件及其操作方法

引用

作者：金光淳韩国京畿道

一种半导体器件包括：校准电路，其适用于基于耦接到校准焊盘的外部电阻器而产生阻抗控制码；单独微调控制器，其适用于基于测试模式信号和组选择信号而产生多个单独微调信号；以及终结电路，其包括并联耦接到数据焊盘的多个电阻器组，... 详细信息

标准号: CN110390966A

一种半导体器件包括：校准电路，其适用于基于耦接到校准焊盘的外部电阻器而产生阻抗控制码；单独微调控制器，其适用于基于测试模式信号和组选择信号而产生多个单独微调信号；以及终结电路，其包括并联耦接到数据焊盘的多个电阻器组，多个电阻器组基于阻抗控制码而按组被微调，多个电阻器组中的每个电阻器组基于多个单独微调信号之中的对应信号而被单独微调。

关键词：电阻器组微调信号阻抗控制微调测试模式信号半导体器件外部电阻器微调控制器组选择信号数据焊盘校准电路终结电路校准并联焊盘

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存储器及其测试方法、存储器系统

存储器及其测试方法、存储器系统

引用

作者：陆天辰程彪 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

本公开实施例提供了一种存储器的测试方法，该存储器包括主存储模块以及ECC存储模块，该方法包括：在第一测试模式下接收第一写入数据，对第一写入数据进行复制扩展得到第一测试数据，或者，在第二测试模式下接收第二写入数据，利用ECC... 详细信息

标准号: CN118351923A

本公开实施例提供了一种存储器的测试方法，该存储器包括主存储模块以及ECC存储模块，该方法包括：在第一测试模式下接收第一写入数据，对第一写入数据进行复制扩展得到第一测试数据，或者，在第二测试模式下接收第二写入数据，利用ECC算法对第二写入数据进行计算得到第二测试数据；其中，第一测试数据用于判断ECC存储模块和主存储模块的读写功能是否正常，第二测试数据用于判断主存储模块的读写功能是否正常；响应于测试模式信号，将第一测试数据或者第二测试数据作为ECC校验数据写入ECC存储模块；测试模式信号用于指示执行第一测试模式或者第二测试模式；读取ECC存储模块中存储的ECC校验数据，基于ECC校验数据进行判断。

关键词：测试数据测试模式存储模块写入数据主存储模块测试模式信号读写功能存储器读取指示执行写入存储复制测试响应

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字线控制方法、字线控制电路装置以及半导体存储器

字线控制方法、字线控制电路装置以及半导体存储器

引用

作者：张良 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

本发明提供了一种字线控制方法和字线控制电路装置，所述方法包括：获取行地址输入信号，获取测试模式信号，对行地址输入信号和测试模式信号进行逻辑及译码处理，生成行地址控制信号，行地址控制信号包括至少两位有效开启信号，根据至... 详细信息

标准号: CN111192621A

本发明提供了一种字线控制方法和字线控制电路装置，所述方法包括：获取行地址输入信号，获取测试模式信号，对行地址输入信号和测试模式信号进行逻辑及译码处理，生成行地址控制信号，行地址控制信号包括至少两位有效开启信号，根据至少两位有效开启信号控制非相邻的至少两条字线同时打开。在测试模式下，通过对行地址输入信号和测试模式信号的逻辑运算和译码处理，得到的行地址控制信号能够同时打开非相邻两条字线。由于非相邻的两条字线之间并不共用同一个接触区，所以，排除了由于接触区断开或者阻抗太大对测试的影响，提高了测试的准确度。

关键词：行地址测试模式信号字线开启信号控制信号译码处理接触区地址控制信号字线控制电路测试测试模式逻辑运算字线控制准确度断开阻抗成行

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半导体存储器件及其操作方法

半导体存储器件及其操作方法

引用

作者：洪尹起韩国京畿道

本申请提供一种半导体存储器件及其操作方法。一种半导体存储器件，包括：多个存储体；多个地址储存电路，其分别对应于所述多个存储体，并且适用于储存对应存储体的刷新地址；输出控制电路，其适用于基于刷新命令信号和测试模式信号来... 详细信息

标准号: CN111816230A

本申请提供一种半导体存储器件及其操作方法。一种半导体存储器件，包括：多个存储体；多个地址储存电路，其分别对应于所述多个存储体，并且适用于储存对应存储体的刷新地址；输出控制电路，其适用于基于刷新命令信号和测试模式信号来产生输出时钟，并选择性地输出从所述地址储存电路中的任意一个输出的刷新地址或从所述多个存储体提供的存储体数据作为输出数据；输出缓冲器，其适用于基于所述输出时钟来将所述输出数据输出至多个数据输入/输出焊盘；以及选通信号发生电路，其适用于基于所述输出时钟来产生数据选通信号，以及经由数据选通焊盘来输出所述数据选通信号。

关键词：存储体输出时钟输出半导体存储器件地址储存电路数据选通信号输出数据选通信号发生电路测试模式信号输出控制电路刷新命令信号存储体数据输出缓冲器输出焊盘数据选通焊盘储存申请

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