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文献类型

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  • 124 篇 电子文献
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  • 1 篇 工学
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    • 1 篇 信息与通信工程

主题

  • 1 篇 信道测量平台
  • 1 篇 5g
  • 1 篇 测量波形评估
  • 1 篇 测量验证
  • 1 篇 测试模式信号

机构

  • 33 篇 爱思开海力士有限...
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  • 2 篇 上海类比半导体技...
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  • 2 篇 西门子公司
  • 2 篇 国网辽宁省电力有...
  • 2 篇 天津智芯半导体科...
  • 2 篇 合肥智芯半导体有...
  • 2 篇 国网信息通信产业...
  • 2 篇 英特尔公司
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作者

  • 6 篇 尹泰植
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  • 4 篇 具岐峰
  • 3 篇 金光淳
  • 3 篇 丘泳埈
  • 3 篇 都昌镐
  • 3 篇 李锺天
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  • 2 篇 金奇泰
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  • 2 篇 甘杰
  • 2 篇 洪尹起
  • 2 篇 李敏娜
  • 2 篇 王海峰
  • 2 篇 李椙晛

语言

  • 124 篇 中文
检索条件"主题词=测试模式信号"
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终结电路、半导体器件及其操作方法
终结电路、半导体器件及其操作方法
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作者： 金光淳 韩国京畿道
一种半导体器件包括：校准电路，其适用于基于耦接到校准焊盘的外部电阻器而产生阻抗控制码；单独微调控制器，其适用于基于测试模式信号和组选择信号而产生多个单独微调信号；以及终结电路，其包括并联耦接到数据焊盘的多个电阻器组，... 详细信息
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字线测试电路和包括该字线测试电路的半导体设备
字线测试电路和包括该字线测试电路的半导体设备
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作者： 崔晳焕 韩国京畿道
本公开涉及字线测试电路和包括该字线测试电路的半导体设备。本技术可以包括：电流镜，所述电流镜被配置为将通过测试电压产生的测试电流施加到多条字线中的被选字线，并且通过复制所述测试电流来生成复制电流；比较电路，所述比较电路... 详细信息
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测试电路
测试电路
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作者： 李敏娜 230011 安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
本申请提供一种测试电路。该电路包括：输入端、处理电路和输出端，输入端用于接收输入信号，输入信号包括用于指示测试目标电路模块的测试命令和目标电路模块的地址，处理电路用于根据测试命令和目标电路模块的地址确定测试模式信号，... 详细信息
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测试电路
测试电路
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作者： 李敏娜 230011 安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
本申请提供一种测试电路。该电路包括：输入端、处理电路和输出端，输入端用于接收输入信号，输入信号包括用于指示测试目标电路模块的测试命令和目标电路模块的地址，处理电路用于根据测试命令和目标电路模块的地址确定测试模式信号，... 详细信息
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半导体器件
半导体器件
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作者： 朴洛圭 韩国京畿道
半导体器件可以包括被配置为提供第一电压的第一焊盘。半导体器件可以包括第二焊盘。半导体器件可以包括：连接电路，其被配置为基于连接信号而将第一焊盘耦接至第二焊盘，或者基于连接信号而将第二焊盘与第一焊盘电分离。半导体器件可... 详细信息
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包含具有减小的栅极诱发漏极泄漏的存储器子字驱动器电路的设备及用于所述电路的方法
包含具有减小的栅极诱发漏极泄漏的存储器子字驱动器电路的设备及...
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作者： 朝木健次 美国爱达荷州
描述了包含具有减小的栅极诱发漏极泄漏的存储器子字驱动器电路的设备及用于所述存储器子字驱动器电路的方法。一种实例设备包含第一子字线和通过第一共同晶体管耦合到所述第一子字线的第二子字线，其中响应于测试模式信号，将所述第一... 详细信息
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芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统
芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统
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作者： 历广绪 张俊 201203 上海市浦东新区张江高科达尔文路88号3幢5楼
本申请实施例提供一种芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统，该芯片测试电路包括：控制模块，模式生成模块，激励生成模块和检测模块。控制模块根据外部设备发来的测试信号生成激励源和测试模式信号，激励生成模块模块根据激励源生... 详细信息
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测试控制电路、使用其的半导体存储装置和半导体系统
测试控制电路、使用其的半导体存储装置和半导体系统
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作者： 蔡行善 韩国京畿道
本发明公开了一种测试控制电路以及使用该测试控制电路的半导体存储装置和半导体系统。所述测试控制电路包括测试模式发生电路。所述测试模式发生电路可以被配置为：在快速访问模式时，基于多个模式信号中的一个所包括的信息以及快速设... 详细信息
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一种TWS蓝牙耳机成品产测装置及方法
一种TWS蓝牙耳机成品产测装置及方法
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作者： 赵雨 陈云峰 518000 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区立新路2号天佑创客产业园F1F3-401
本申请涉及一种TWS蓝牙耳机成品产测装置及方法，属于电子产品测试技术领域，产测装置包括按键模块和控制模块，其中：按键模块：包括多个按键，每个按键对应一种测试模式；控制模块：用于和按键模块连接，根据按压的按键信号以查询模... 详细信息
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复用芯片PAD的检测方法
复用芯片PAD的检测方法
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作者： 蔡国蔚 610041 四川省成都市高新区吉泰路33号1栋801、1栋901、1栋902
本发明公开了一种复用芯片PAD的检测方法，用以检测芯片是否进入测试模式，其包括如下步骤：a.芯片系统复位，清除芯片的测试模式信号或正常功能运转模式信号；b.检测任意一个PAD的输入信号的波形参数以确定芯片是否进入测试模式；c.根... 详细信息
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