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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

分类表

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文献类型

123 篇 专利
1 篇 期刊文献

馆藏范围

124 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

1 篇 工学
- 1 篇 仪器科学与技术
- 1 篇 电子科学与技术（可...
- 1 篇 信息与通信工程

主题

1 篇 信道测量平台
1 篇 5g
1 篇 测量波形评估
1 篇 测量验证
1 篇 测试模式信号

机构

33 篇 爱思开海力士有限...
25 篇 海力士半导体有限...
6 篇 长鑫存储技术有限...
4 篇 南亚科技股份有限...
3 篇 三星电子株式会社
3 篇 美光科技公司
2 篇 美国博通公司
2 篇 艾普凌科有限公司
2 篇 上海类比半导体技...
2 篇 国家电网公司
2 篇 国网新疆电力公司...
2 篇 北京华大信安科技...
2 篇 中国科学院微电子...
2 篇 西门子公司
2 篇 国网辽宁省电力有...
2 篇 天津智芯半导体科...
2 篇 合肥智芯半导体有...
2 篇 国网信息通信产业...
2 篇 英特尔公司
2 篇 上海萨沙迈半导体...

作者

6 篇 尹泰植
4 篇 李完燮
4 篇 具岐峰
3 篇 金光淳
3 篇 丘泳埈
3 篇 都昌镐
3 篇 李锺天
2 篇 郭鲁侠
2 篇 韩慜植
2 篇 陈岚
2 篇 金大石
2 篇 涂因子
2 篇 张俊
2 篇 金奇泰
2 篇 杰森提摩太·法利奇...
2 篇 甘杰
2 篇 洪尹起
2 篇 李敏娜
2 篇 王海峰
2 篇 李椙晛

语言

124 篇 中文

检索条件"主题词=测试模式信号"

共 124 条记录，以下是51-60 订阅

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详细简洁

排序：

半导体存储器件及其操作方法

半导体存储器件及其操作方法

引用

作者：洪尹起韩国京畿道

本申请提供一种半导体存储器件及其操作方法。一种半导体存储器件，包括：多个存储体；多个地址储存电路，其分别对应于所述多个存储体，并且适用于储存对应存储体的刷新地址；输出控制电路，其适用于基于刷新命令信号和测试模式信号来... 详细信息

标准号: CN111816230B

本申请提供一种半导体存储器件及其操作方法。一种半导体存储器件，包括：多个存储体；多个地址储存电路，其分别对应于所述多个存储体，并且适用于储存对应存储体的刷新地址；输出控制电路，其适用于基于刷新命令信号和测试模式信号来产生输出时钟，并选择性地输出从所述地址储存电路中的任意一个输出的刷新地址或从所述多个存储体提供的存储体数据作为输出数据；输出缓冲器，其适用于基于所述输出时钟来将所述输出数据输出至多个数据输入/输出焊盘；以及选通信号发生电路，其适用于基于所述输出时钟来产生数据选通信号，以及经由数据选通焊盘来输出所述数据选通信号。

关键词：存储体输出时钟输出半导体存储器件地址储存电路数据选通信号输出数据选通信号发生电路测试模式信号输出控制电路刷新命令信号存储体数据输出缓冲器输出焊盘数据选通焊盘储存申请

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输出存储电路在自刷新模式的信息的电路及其相关方法

输出存储电路在自刷新模式的信息的电路及其相关方法

引用

作者：夏浚陈和颖张正男中国台湾新竹市

本发明公开了一种输出存储电路在自刷新模式的信息的电路及其相关方法。所述电路包含驱动器。所述驱动器耦接于所述存储电路内的自刷新控制电路和自刷新地址计数器，用于当自刷新模式信号和测试模式信号启用且所述存储电路进入所述自刷... 详细信息

标准号: CN107799143A

本发明公开了一种输出存储电路在自刷新模式的信息的电路及其相关方法。所述电路包含驱动器。所述驱动器耦接于所述存储电路内的自刷新控制电路和自刷新地址计数器，用于当自刷新模式信号和测试模式信号启用且所述存储电路进入所述自刷新模式时，驱动所述存储电路内的多个衬垫输出对应所述自刷新模式信号的多个内部信号的信息，以及输出所述存储电路内对应所述多个内部信号的多条字线的地址的信息，其中所述多条字线的每一字线对应所述多个内部信号的一内部信号。因此，相较于现有技术，测试者将较容易根据所述多个内部信号的信息和所述多条字线的地址的信息，排除所述存储电路的故障。

关键词：存储电路内部信号字线自刷新模式信号驱动器自刷新模式电路自刷新控制电路测试模式信号地址计数器输出输出存储一字线自刷新耦接测试驱动

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一种故障分析检测系统及故障分析检测方法

一种故障分析检测系统及故障分析检测方法

引用

作者：谭金龙陈军南东亮刘欢庆李德存王畅张良武崔大林赵启张路舒婓周杰刘永强陈罗飞 830063 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市高新技术产业开发区(新市区)恒达街200号

本申请公开了一种故障分析检测系统及故障分析检测方法，应用于变电站系统，该系统包括：管理单元，用于向采集单元发送录波模式信号或测试模式信号；采集单元，用于若接收到录波模式信号，则接收变电站中的一次设备发送的运行数据，并... 详细信息

标准号: CN116223957A

本申请公开了一种故障分析检测系统及故障分析检测方法，应用于变电站系统，该系统包括：管理单元，用于向采集单元发送录波模式信号或测试模式信号；采集单元，用于若接收到录波模式信号，则接收变电站中的一次设备发送的运行数据，并将运行数据发送至变电站中的二次设备；若接收到测试模式信号，则停止接收运行数据，并根据测试模式信号向二次设备发送测试信号；管理单元，还用于向采集单元发送测试模式信号后，获得二次设备的状态信息，并根据状态信息判断二次设备是否存在故障。通过改进变电站系统中的原本的采集单元，在测试时向二次设备发送测试信号以进行测试，在对原本的变电站系统改造成本较低的前提下，使得对二次设备的检修更加简便。

关键词：二次设备测试模式信号采集单元发送变电站系统运行数据测试信号故障分析管理单元模式信号变电站状态信息判断测试检测系统停止接收一次设备检修检测申请应用改进改造

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自动测试电路及电子设备

自动测试电路及电子设备

引用

作者：张雪停高本胜 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道臣田社区臣田工业区34栋1013

本实用新型公开一种自动测试电路及电子设备，自动测试电路包括控制器、模式切换电路、短路测试电路及电压测试电路，控制器用于输出短路测试模式信号，以使模式切换电路通过短路测试电路向被测设备输出第一测试电压；短路测试电路采集... 详细信息

标准号: CN217879519U

本实用新型公开一种自动测试电路及电子设备，自动测试电路包括控制器、模式切换电路、短路测试电路及电压测试电路，控制器用于输出短路测试模式信号，以使模式切换电路通过短路测试电路向被测设备输出第一测试电压；短路测试电路采集被测设备的测试点电压，输出第一电压采集信号至控制器；控制器根据测试点电压检测到被测设备未短路时，输出电压测试模式信号至模式切换电路，以使模式切换电路输出第二测试电压至被测设备的电源端；电压测试电路采集被测设备的测试点电压，并输出对应的第二电压采集信号至控制器，控制器根据第二电压采集信号输出电压测试结果信号。本实用新型解决了无法在一个档位进行电源短路测试和输出电压测试的问题。

关键词：控制器被测设备模式切换电路电压采集信号短路测试电路输出电压测试测试点输出电压测试电路自动测试电路本实用新型测试电压采集测试模式信号电压检测电源短路电子设备结果信号模式信号输出短路短路电源端档位测试

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字线控制电路装置以及半导体存储器

字线控制电路装置以及半导体存储器

引用

作者：张良 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

本实用新型提供了一种字线控制电路装置，包括测试模式输入模块、行地址输入模块以及逻辑译码处理器，测试模式输入模块输出端和行地址输入模块的输出端连接至逻辑译码处理器的信号输入端，逻辑译码处理器的信号输出端与存储阵列的多条... 详细信息

标准号: CN208834750U

本实用新型提供了一种字线控制电路装置，包括测试模式输入模块、行地址输入模块以及逻辑译码处理器，测试模式输入模块输出端和行地址输入模块的输出端连接至逻辑译码处理器的信号输入端，逻辑译码处理器的信号输出端与存储阵列的多条字线对应连接；测试模式输入模块用于接收测试模式信号，行地址输入模块用于接收多个行地址信号，逻辑译码处理器用于对多个行地址信号和测试模式信号进行逻辑及译码处理，生成行地址控制信号，行地址控制信号包括至少两位有效开启信号，用于控制非相邻的至少两条字线同时打开。排除了由于接触区断开或者阻抗太大对测试的影响，提高了测试的准确度。

关键词：输入模块逻辑译码行地址处理器测试模式行地址信号字线测试模式信号地址控制信号字线控制电路本实用新型输出端连接信号输出端信号输入端测试存储阵列接收测试开启信号控制信号模式信号译码处理准确度接触区输出端阻抗断开成行

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用于电压应力测试的开关电路及测试系统

用于电压应力测试的开关电路及测试系统

引用

作者：郑凯华王飞沈慧德国斯图加特

本实用新型涉及一种用于电子器件的电压应力测试系统，包括：驱动电路，用于驱动所述电子器件；测试模式信号发生器，连接至所述电子器件与驱动电路之间，用于向所述电子器件提供测试模式信号；开关电路，与所述驱动电路串联在供电驱动... 详细信息

标准号: CN205986807U

本实用新型涉及一种用于电子器件的电压应力测试系统，包括：驱动电路，用于驱动所述电子器件；测试模式信号发生器，连接至所述电子器件与驱动电路之间，用于向所述电子器件提供测试模式信号；开关电路，与所述驱动电路串联在供电驱动线路中，用于在正常工作模式下防止从所述供电驱动线路中产生偏置电流，并且在测试模式下，断开所述供电驱动线路；测量电路，用于在所述供电驱动线路断开时测量所述测试模式信号发生器与所述电子器件之间的泄漏电流。根据本实用新型的方案，由于开关电路良好的开关特性，因此不但对驱动电路的驱动电流不产生任何不良影响，还可避免偏置电流的产生。

关键词：电子器件驱动电路驱动线路测试模式信号供电本实用新型开关电路偏置电流发生器断开正常工作模式测量电路测试模式测试系统电压应力开关特性驱动电流泄漏电流串联测量驱动

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存储装置及其测试方法

存储装置及其测试方法

引用

作者：吴祥煌李日农中国台湾新竹科学园区

本发明提供一种存储装置及其测试方法，可以检测两个存储器阵列间的耦合错误。该存储装置包含存储器阵列单元及测试模块。该存储器阵列单元包括值存储器阵列及屏蔽存储器阵列。该测试模块耦接至该存储器阵列单元，用以根据测试规则来产... 详细信息

标准号: CN101615433B

本发明提供一种存储装置及其测试方法，可以检测两个存储器阵列间的耦合错误。该存储装置包含存储器阵列单元及测试模块。该存储器阵列单元包括值存储器阵列及屏蔽存储器阵列。该测试模块耦接至该存储器阵列单元，用以根据测试规则来产生测试模式信号至该存储器阵列单元，以执行存储器测试。其中，该测试规则包括M个用于测试该值存储器阵列的第一测试片段，及N个用于测试该屏蔽存储器阵列的第二测试片段，该M个第一测试片段与该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N为大于或等于2的整数。

关键词：存储器阵列单元测试片段存储器阵列测试规则屏蔽存储器测试模块存储装置测试模式信号存储器测试测试方法交错排列耦合错误大于检测

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半导体存储装置中的内部信号监视装置及其监视方法

半导体存储装置中的内部信号监视装置及其监视方法

引用

作者：都昌镐韩国京畿道

本发明提供一种于半导体存储装置中内部信号监视装置，该装置包括：内部信号输入单元，其用以接收一待监视的内部信号且具有一输出以响应于一测试模式信号来提供一监视源信号；及内部信号输出单元，其具有一耦接至该内部信号输入单元的... 详细信息

标准号: CN101149976B

本发明提供一种于半导体存储装置中内部信号监视装置，该装置包括：内部信号输入单元，其用以接收一待监视的内部信号且具有一输出以响应于一测试模式信号来提供一监视源信号；及内部信号输出单元，其具有一耦接至该内部信号输入单元的该输出的输入，该内部信号输出单元用以响应于该测试模式信号来将该监视源信号传输至该半导体存储装置的一预定衬垫。

关键词：内部信号半导体存储装置测试模式信号输出单元输入单元监视监视装置信号传输响应

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半导体装置

半导体装置

引用

作者：尹荣俊韩国京畿道

一种半导体装置，包括：输入缓冲器，被配置成缓冲经由数据输入/输出焊盘输入的数据；数据输入控制单元，被配置成响应于写入时钟而将输入缓冲器的输出传送至数据输入/输出线；测试循环控制单元，被配置成响应于测试模式信号而将数据输... 详细信息

标准号: CN104183257A

一种半导体装置，包括：输入缓冲器，被配置成缓冲经由数据输入/输出焊盘输入的数据；数据输入控制单元，被配置成响应于写入时钟而将输入缓冲器的输出传送至数据输入/输出线；测试循环控制单元，被配置成响应于测试模式信号而将数据输入/输出线的信号和测试锁存数据中之一输出；数据输出控制单元，被配置成响应于读取时钟而输出测试循环控制单元的输出；输出反相选择单元，被配置成通过将或不将数据输出控制单元的输出信号反相来输出数据输出控制单元的输出信号；以及输出缓冲器，被配置成缓冲输出反相选择单元的输出信号、并且将所得的信号输出至将数据输入/输出焊盘与输入缓冲器电耦接的节点。

关键词：配置成输入/输出缓冲器输出信号测试循环数据输出焊盘响应测试模式信号数据输入控制半导体装置输出缓冲器缓冲输出输出控制输出数据锁存数据信号输出电耦缓冲

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扫描控制方法、扫描控制电路及装置

扫描控制方法、扫描控制电路及装置

引用

作者：岩见义和木下贵行小佐野秀和日本神奈川县

本发明提供了一种扫描控制方法、扫描控制电路及装置。该扫描控制方法针对与第一总线相连接且具有测试访问端口控制器的电路器件，该方法包括以下步骤：经由与所述第一总线不同的第二总线来设定指示所述电路器件中的要被扫描的寄存器、... 详细信息

标准号: CN101545951B

本发明提供了一种扫描控制方法、扫描控制电路及装置。该扫描控制方法针对与第一总线相连接且具有测试访问端口控制器的电路器件，该方法包括以下步骤：经由与所述第一总线不同的第二总线来设定指示所述电路器件中的要被扫描的寄存器、扫描移位的数量及扫描开始的信息；以及通过使用定序器，生成用于选择经由第一总线传送的信号或经由第二总线传送的信号的选择信号，以及基于所设定的信息来生成对在测试所述电路器件的过程中经由所述第一总线而传送来的测试模式信号及测试复位信号进行替代的信号，并根据选择信号将替代的信号提供给所述测试访问端口控制器。

关键词：总线电路器件测试访问端口扫描控制方法扫描控制器测试复位信号测试模式信号扫描控制电路定序器寄存器移位连接

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