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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

16 篇 专利

馆藏范围

16 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

3 篇 桂林电子科技大学
3 篇 睿力集成电路有限...
3 篇 意法半导体国际有...
2 篇 长鑫存储技术有限...
2 篇 北方电子研究院安...
1 篇 北京汤谷软件技术...
1 篇 意法半导体股份有...
1 篇 深圳市柠檬光子科...

作者

3 篇 m·沙玛
3 篇 v·n·斯里尼瓦桑
2 篇 许川佩
2 篇 秦盼
2 篇 张硕
2 篇 蒙超勇
2 篇 陈雪山
2 篇 王健
2 篇 全新国
2 篇 刘德状
2 篇 孙丽丽
1 篇 肖岩
1 篇 李银斯
1 篇 f·明内拉
1 篇 李俊华
1 篇 何世杰
1 篇 杨竞波
1 篇 请求不公布姓名
1 篇 黄新
1 篇 何堂泉

语言

16 篇 中文

检索条件"主题词=测试模式选择信号"

共 16 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

测试电路及测试方法

测试电路及测试方法

引用

作者：杨强强肖岩 518000 广东省深圳市宝安区新桥街道新桥社区新玉路84号深圳激光谷B栋柠檬光子科技有限公司2楼

本说明书实施例提供一种测试电路及测试方法，其中，测试电路包括：控制单元被配置为根据输入的配置指令，输出对应的测试模式选择信号和参考频率信号；以及被配置为根据检测信号，确定功率器件的状态；频率调节单元被配置为根据预先设... 详细信息

标准号: CN117554787A

本说明书实施例提供一种测试电路及测试方法，其中，测试电路包括：控制单元被配置为根据输入的配置指令，输出对应的测试模式选择信号和参考频率信号；以及被配置为根据检测信号，确定功率器件的状态；频率调节单元被配置为根据预先设定的基准频率信号，对参考频率信号进行调节，输出与基准频率信号的基准频率值相同的目标时钟信号；模式选择单元被配置为根据测试模式选择信号，输出对应的电参数；开关单元被配置为在获取到目标时钟信号时，导通模式选择单元与功率器件间的通路；检测单元被配置为获取功率器件在电参数下的实际工作参数，并输出对应的检测信号。采用上述技术方案，能够自适应的改变输入至功率器件的电参数。

关键词：功率器件配置电参数输出测试模式选择信号参考频率信号基准频率信号模式选择单元目标时钟信号测试电路检测信号频率调节单元工作参数基准频率开关单元配置指令自适应导通测试检测

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存储器装置及用于其的测试电路

存储器装置及用于其的测试电路

引用

作者：请求不公布姓名 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

本发明至少提供一种存储器装置，其中，地址锁存器可根据块选择使能信号输出块选择控制信号；测试模式选择单元可根据测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；块选择单元根据模式选择信号和块选择使能信号输出块选择信号；当根据块... 详细信息

标准号: CN108564982B

本发明至少提供一种存储器装置，其中，地址锁存器可根据块选择使能信号输出块选择控制信号；测试模式选择单元可根据测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；块选择单元根据模式选择信号和块选择使能信号输出块选择信号；当根据块选择信号使能第一存储模块时，第一存储模块输出第一输入输出数据；当根据块选择信号使能第二存储模块时，第二存储模块输出第二输入输出数据；当存储器根据测试模式选择信号进入第一测试模式时，输出缓存器将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一输入输出数据和第二输入输出数据先后从未禁用的输入输出端口输出。本发明的存储器装置可以减少占用测试机台的输入输出端口。

关键词：输入输出数据存储模块输入输出端口块选择信号输出块选择测试模式选择信号测试模式选择存储器装置使能信号使能模式选择信号指令信号输出地址锁存器块选择单元输出缓存器测试机台测试模式禁用状态控制信号存储器禁用占用

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一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器

一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器

引用

作者：黄新何堂泉杨竞波何世杰 541004 广西壮族自治区桂林市金鸡路一号

本发明提供一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器，所述方法包括：接收并解析基于IEEE1149.10标准格式的数据包，将其转换为JTAG信号，以允许与JTAG接口兼容的设备进行通信和控制。JTAG驱动信号包括：TCK测试时钟信号、TMS测试模式选择信号... 详细信息

标准号: CN117665534A

本发明提供一种IEEE1149.10到JTAG信号转换器，所述方法包括：接收并解析基于IEEE1149.10标准格式的数据包，将其转换为JTAG信号，以允许与JTAG接口兼容的设备进行通信和控制。JTAG驱动信号包括：TCK测试时钟信号、TMS测试模式选择信号、TDI测试数据输入信号、TDO测试数据输出信号、TRST测试重置信号。本发明中，IR指令信息和DR数据信息只要按照IEEE1149.10标准中的数据打包标准进行打包，通过本方法就能获得时序正确的JTAG驱动信号，解决了高速测试端口数据需要快速准确解析，然后进行测试的要求。

关键词：测试数据驱动信号解析测试模式选择信号转换器测试时钟信号通信和控制测试时序标准格式端口数据高速测试输出信号数据打包数据信息指令信息重置信号数据包打包兼容转换

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存储器装置及用于其的测试电路

存储器装置及用于其的测试电路

引用

作者：不公告发明人 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦526室

本实用新型至少提供一种存储器装置，其中，地址锁存器可根据块选择使能信号输出块选择控制信号；测试模式选择单元可根据测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；块选择单元根据模式选择信号和块选择使能信号输出块选择信号；当根... 详细信息

标准号: CN207833931U

本实用新型至少提供一种存储器装置，其中，地址锁存器可根据块选择使能信号输出块选择控制信号；测试模式选择单元可根据测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；块选择单元根据模式选择信号和块选择使能信号输出块选择信号；当根据块选择信号使能第一存储模块时，第一存储模块输出第一输入输出数据；当根据块选择信号使能第二存储模块时，第二存储模块输出第二输入输出数据；当存储器根据测试模式选择信号进入第一测试模式时，输出缓存器将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一输入输出数据和第二输入输出数据先后从未禁用的输入输出端口输出。本实用新型的存储器装置可以减少占用测试机台的输入输出端口。

关键词：输入输出数据存储模块输入输出端口块选择信号输出块选择测试模式选择信号测试模式选择本实用新型存储器装置使能信号使能模式选择信号指令信号输出地址锁存器块选择单元输出缓存器测试机台测试模式禁用状态控制信号存储器禁用占用

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一种原型验证平台的电路结构

一种原型验证平台的电路结构

引用

作者：李俊华李银斯 100000 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷一街8号院6号楼4层401(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)

本实用新型提供一种原型验证平台的电路结构，包括：第一FPGA芯片、闪存芯片以及第二FPGA芯片；第一FPGA芯片的测试数据串行输入引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输出引脚连接；第二FPGA芯片的测试数据串行输出引脚与闪存芯片的测试数... 详细信息

标准号: CN219552990U

本实用新型提供一种原型验证平台的电路结构，包括：第一FPGA芯片、闪存芯片以及第二FPGA芯片；第一FPGA芯片的测试数据串行输入引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输出引脚连接；第二FPGA芯片的测试数据串行输出引脚与闪存芯片的测试数据串行输入引脚连接；第一FPGA芯片的测试模式选择引脚、闪存芯片的测试模式选择引脚以及第二FPGA芯片的测试模式选择引脚均与测试模式选择信号线电连接；第一FPGA芯片的测试时钟引脚、闪存芯片的测试时钟引脚以及第二FPGA芯片的测试时钟引脚均与测试时钟信号线电连接；与第一FPGA芯片电连接的至少两个JTAG接口，第一JTAG接口接收硬件电路配置信息，第二JTAG接口接收软件代码调试信号。本实用新型可以加快芯片开发速度，提高流片成功率。

关键词：闪存芯片引脚测试数据测试模式选择测试时钟引脚串行输出引脚本实用新型串行输入线电测试模式选择信号测试时钟信号代码调试电路结构接收软件配置信息芯片开发验证平台硬件电路电连接流片成功率原型

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用于将TAP信号耦合到集成电路封装中的JTAG接口的电路

用于将TAP信号耦合到集成电路封装中的JTAG接口的电路

引用

作者： V·N·斯里尼瓦桑 M·沙玛荷兰阿姆斯特丹

本申请涉及用于将TAP信号耦合到集成电路封装中的JTAG接口的电路。nTRST引脚接收测试复位信号，TMS引脚接收测试模式选择信号，测试用TAP具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入，以及调试用TAP具有耦合到nTRST引脚的测试复位信号... 详细信息

标准号: CN207965049U

本申请涉及用于将TAP信号耦合到集成电路封装中的JTAG接口的电路。nTRST引脚接收测试复位信号，TMS引脚接收测试模式选择信号，测试用TAP具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入，以及调试用TAP具有耦合到nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到TMS引脚的测试模式选择信号输入。反相器具有耦合到nTRST引脚的输入和耦合到测试用TAP的测试复位信号输入的输出，并且与门具有耦合到反相器的输出的第一输入、耦合到TMS引脚的第二输入、以及耦合到测试用TAP的测试模式选择输入的输出。由此实现在JTAG接口中的组合串行和并行的TAP选择。

关键词：耦合到测试复位信号引脚测试模式选择信号接收测试反相器测试输出测试模式选择集成电路封装模式选择信号复位信号信号耦合与门并行电路调试申请

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包括可通过JTAG接口访问的存储器的电子设备和方法

包括可通过JTAG接口访问的存储器的电子设备和方法

引用

作者： F·明内拉意大利阿格拉布里安扎

本公开的实施例涉及包括可通过JTAG接口访问的存储器的电子设备和相应方法。电子设备包括：处理单元，具有存储器；JTAG接口，具有耦合至处理单元的测试数据输入线和测试模式选择线；桥电路；和多路复用器电路。桥电路包括接收传送输入... 详细信息

标准号: CN115203111A

本公开的实施例涉及包括可通过JTAG接口访问的存储器的电子设备和相应方法。电子设备包括：处理单元，具有存储器；JTAG接口，具有耦合至处理单元的测试数据输入线和测试模式选择线；桥电路；和多路复用器电路。桥电路包括接收传送输入串行数据帧的串行数据输入信号的串行通信接口。桥电路包括串并转换器电路块，其接收输入串行数据帧，处理输入串行数据帧以从中读取输入二进制值的第一和第二子集，并且通过第一、第二输出信号分别传送第一、第二子集。多路复用器电路选择性地将接收的测试数据输入信号或者第一输出信号传播至测试数据输入线，并选择性地将测试模式选择信号或者第二输出信号传播至JTAG接口的测试模式选择线。

关键词：测试数据输出信号桥电路多路复用器电路测试模式选择输入串行数据存储器处理单元电子设备输入线子集传送测试模式选择信号串行数据输入信号二进制读取串行通信接口串并转换器串行数据帧接收输入耦合电路块传播访问

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在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择

在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择

引用

作者： V·N·斯里尼瓦桑 M·沙玛荷兰阿姆斯特丹

本申请涉及在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择。电路用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口。nTRST引脚接收测试复位信号，TMS引脚接收测试模式选择信号，测试用测试访问端口(TAP)具... 详细信息

标准号: CN109425824A

本申请涉及在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择。电路用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口。nTRST引脚接收测试复位信号，TMS引脚接收测试模式选择信号，测试用测试访问端口(TAP)具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入，以及调试用测试访问端口(TAP)具有耦合到nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到TMS引脚的测试模式选择信号输入。反相器具有耦合到nTRST引脚的输入和耦合到测试用TAP的测试复位信号输入的输出，并且与门具有耦合到反相器的输出的第一输入、耦合到TMS引脚的第二输入、以及耦合到测试用TAP的测试模式选择输入的输出。

关键词：耦合到测试访问端口测试复位信号引脚测试模式选择信号接收测试反相器测试输出测试模式选择集成电路封装模式选择信号并行测试访问端口复位信号联合测试信号耦合动作组与门电路调试申请

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存储器装置的测试方法

存储器装置的测试方法

引用

作者：不公告发明人 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

本发明提供一种存储器装置的测试方法，包括：根据块选择信号输出第一测试数据和第二测试数据；以及根据测试模式选择信号进入第一测试模式、第二测试模式和第三测试模式的任一者，其中，当进入第一测试模式时，将部分输入输出端口置于... 详细信息

标准号: CN108447522B

本发明提供一种存储器装置的测试方法，包括：根据块选择信号输出第一测试数据和第二测试数据；以及根据测试模式选择信号进入第一测试模式、第二测试模式和第三测试模式的任一者，其中，当进入第一测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一测试数据和第二测试数据先后从未禁用的输入输出端口输出；当进入第二测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一测试数据和第二测试数据进行逻辑处理后从未禁用的输入输出端口输出；当进入所述第三测试模式时，将全部输入输出端口置于未禁用状态，并将第一测试数据和第二测试数据从全部输入输出端口输出。本发明的技术方案可以选择不同的测试模式，并减少占用测试机台的输入输出端口。

关键词：测试数据输入输出端口测试模式禁用状态输出禁用测试模式选择信号存储器装置块选择信号测试机台逻辑处理占用测试

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在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择

在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择

引用

作者： V·N·斯里尼瓦桑 M·沙玛荷兰阿姆斯特丹

标准号: CN109425824B

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