检索结果-内蒙古大学图书馆

仪器仪表学报 2010年第8期31卷 1744-1749页

作者：吴丽华王旭东史芳芳杨洁琼哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院哈尔滨150080 哈尔滨理工大学电气与电子工程学院哈尔滨150080

对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,研究新型有效的数字集成电路测试生成算法具有十分重要的理论价值和实际意义。提出了一种基于遗传优化的三值神经网络多故障测试生成算法。该算法利用三值神经网络的相关定理、... 详细信息

对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,研究新型有效的数字集成电路测试生成算法具有十分重要的理论价值和实际意义。提出了一种基于遗传优化的三值神经网络多故障测试生成算法。该算法利用三值神经网络的相关定理、定义,推导出了数字电路逻辑门的三值神经网络能量函数,由此构成了三值神经网络的约束网络。用遗传算法求解出了约束网络能量函数的最小值点即多故障测试矢量。遗传算法中的适应度函数是与具体应用问题的主要接口,它的构造直接影响问题求解的效率。在研究了其他遗传算法适应度函数的基础上,提出了新的适应度函数,并用软件实现了算法,在国际基准电路上的仿真实验结果表明了该算法的正确性。

关键词：三值神经网络测试生成算法遗传算法适应度函数多故障

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测试生成算法评估与预报系统

引用

计算机工程 2001年第5期27卷 102-104页

作者：杭静徐拾义上海大学计算机工程与科学系上海200072

测试生成算法评估与预报系统分别利用回归算法、神经网络算法和遗传算法为测试生成算法建立预报模型,使得对给定电路,不必实际运行测试生成算法,就可快速地得到最有效的测试生成算法。对如何利用遗传算法建立预报模型进行了较为详细的... 详细信息

测试生成算法评估与预报系统分别利用回归算法、神经网络算法和遗传算法为测试生成算法建立预报模型,使得对给定电路,不必实际运行测试生成算法,就可快速地得到最有效的测试生成算法。对如何利用遗传算法建立预报模型进行了较为详细的论述。

关键词：遗传算法预报模型测试生成算法可测性参数 VLSI 超大规模集成电路

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基于神经网络的组合电路测试生成算法

引用

哈尔滨工业大学学报 2002年第2期34卷 255-257页

作者：刘晓东孙圣和哈尔滨工业大学计算机与电气学院黑龙江哈尔滨150001

介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能... 详细信息

介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能量函数 ,将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点 ,从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量 .在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间 .

关键词：神经网络组合电路测试生成算法遗传算法集成电路

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数字集成电路多故障测试生成算法和可测性设计的研究

数字集成电路多故障测试生成算法和可测性设计的研究

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作者：吴丽华哈尔滨理工大学

学位级别：博士

微电子技术是当今发展最快的技术领域之一。随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的规模和复杂度日益增大，芯片故障的测试日趋困难，对电路的测试也提出了更高的要求，从而推动了测试生成算法的研究。传统的测试生成算法已不能满足... 详细信息

微电子技术是当今发展最快的技术领域之一。随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的规模和复杂度日益增大，芯片故障的测试日趋困难，对电路的测试也提出了更高的要求，从而推动了测试生成算法的研究。传统的测试生成算法已不能满足要求，因此集成电路测试研究的重点主要集中于研究新的更加有效的测试生成算法和电路可测性设计技术。本论文主要研究数字集成电路中组合电路的多故障测试生成算法和可测性设计技术，以提高算法的故障覆盖率、减少测试生成时间及减少测试矢量的产生和施加为研究目标，主要研究了以下内容：在深入研究了二值神经网络模型基础上，建立了三值神经网络模型，并将三值神经网络成功应用于组合电路测试生成算法中。通过构建被测电路的约束网络，采用遗传算法并使用本文提出的适应度函数，求出约束网络对应能量函数的最小值点。通过编程仿真，在基准电路上得到故障的测试矢量。给出了三值模型与二值模型测试的比较结果。用三值神经网络表示数字电路，可以减小搜索空间，避免很多不必要的赋值，因此可以在保证具有较高故障覆盖率的情况下，减少测试生成时间，提高算法的测试生成效率。研究了基于布尔差分的组合电路测试生成算法。针对布尔差分算法需要进行大量的异或运算，特别是求解多故障测试矢量时，求解高阶布尔差分更加繁琐的问题，提出了将组合电路多故障转换成单固定故障或双固定故障后，采用具有约束条件的一阶、二阶布尔差分简化法的方法，可不用异或运算，而是通过求解恒等式及约束条件来得到完全测试集，避免了大量的布尔差分运算。在EST(equivalent state hashing)算法的基础上，利用E-前沿的控制关系，对基于搜索状态控制的组合电路测试生成算法进行了研究，通过实例证明了该算法可以更有效的减小搜索空间；通过仿真验证了所求测试矢量的正确性。症候群测试不需要产生测试矢量，因此对电路的症候群测试进行了深入研究。针对传统的症候群可测性判定条件需要写出电路的逻辑表达式，对于大规模集成电路，按照传统的方式很难进行判断，本文推导出了一元症候群和二元症候群可测性判定条件的新形式，并由此推出了多元症候群的判定条件。利用该判定条件，既可直接进行多元症候群判定，不必写出电路的逻辑表达式，又可保证症候群可测。研究了基于Reed-Muller模式的组合电路的可测性。针对组合电路产生测试矢量开销大的问题，对Reed-Muller模式的组合电路进行了研究。该方法采用通用型测试集测试的电路结构或模块进行电路设计。用此种方法不但可以方便的检测出电路的单固定型故障，而且可以确定单故障的具体位置，对于双故障以及多故障也可用此方法检测出来。为了减少测试矢量，有必要对电路中的故障加以分析，寻找各类故障之间的关系，以求压缩测试矢量。本文提出了一种将并行故障仿真与布尔约简法相结合来确定测试矢量最小测试集的方法。该方法通过编制软件程序进行并行故障仿真，利用并行故障仿真结果确定出故障点和测试矢量的对应关系，然后即可根据布尔约简法求出测试矢量的最小测试集。

关键词：数字集成电路测试生成算法可测性设计神经网络遗传算法

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一种有效的组合电路测试生成算法（英文）

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机床与液压 2018年第18期46卷 100-103,156页

作者：曲萍萍赵莹赵航马建宇李艳娟北华大学电气信息工程学院吉林吉林132021 吉林省九台市第二中学吉林九台130513 东北林业大学信息与计算机学院哈尔滨150040

为了改善组合电路测试生成效率,提出了一种有效的基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不需要传播和回溯,而是使用三值神经网络把组合电路表示为双向神经元网络,并构建网络的能量函数,最后使用遗传算法求出全局最小值点作为... 详细信息

为了改善组合电路测试生成效率,提出了一种有效的基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不需要传播和回溯,而是使用三值神经网络把组合电路表示为双向神经元网络,并构建网络的能量函数,最后使用遗传算法求出全局最小值点作为电路的测试矢量,所以组合电路的测试生成问题转换为优化问题。在标准电路上的测试实验结果表明该算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试生成时间。

关键词：三值神经网络测试生成算法遗传算法能量函数

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基于阈值的数字电路故障测试生成算法

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煤矿机械 2010年第10期31卷 249-251页

作者：曲萍萍北华大学电气信息工程学院吉林吉林132021

针对数字电路中的可接受故障提出了一种有效的基于阈值的测试生成算法。该算法构建了数字电路的阈值测试生成模型,使用此模型能够有效地区分可接受故障和不可接受故障。应用成熟的固定故障测试生成算法生成不可接受故障的阈值测试矢量。... 详细信息

针对数字电路中的可接受故障提出了一种有效的基于阈值的测试生成算法。该算法构建了数字电路的阈值测试生成模型,使用此模型能够有效地区分可接受故障和不可接受故障。应用成熟的固定故障测试生成算法生成不可接受故障的阈值测试矢量。在ISCAS’85国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。

关键词：可接受故障阈值测试测试生成算法

来源：评论

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数字电路阈值故障测试生成算法（英文）

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机床与液压 2019年第12期47卷 19-23页

作者：赵莹宋在勇赵航李艳娟北华大学电气信息工程学院吉林吉林132021 北华大学科研处吉林吉林132021 吉林省九台市第二中学吉林九台130513 东北林业大学信息与计算机学院哈尔滨150040

提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法。首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可接受故障,然后使用成熟的固定故障测试生成算法得到不可接受故障的测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89... 详细信息

提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法。首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可接受故障,然后使用成熟的固定故障测试生成算法得到不可接受故障的测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89电路上的实验结果表明:该算法的故障覆盖率能达到96%,故障测试生成时间少于0. 019 s。

关键词：可接受故障阈值测试生成测试生成算法

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采用基本门单元完全测试矢量的测试生成算法

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微电子学 2002年第1期32卷 34-36,45页

作者：刘晓东孙圣和哈尔滨工业大学自动化测试与控制系黑龙江哈尔滨150001

文章介绍了一种采用基本逻辑门单元的完全测试矢量集生成测试矢量的方法 ,该方法可以将搜索空间限制在 2 (n+1 )种组合内。它采用故障支配和故障等效的故障传播、回退等技术 ,建立了一套从局部到全局的测试生成新方法。同时 ,利用基本... 详细信息

文章介绍了一种采用基本逻辑门单元的完全测试矢量集生成测试矢量的方法 ,该方法可以将搜索空间限制在 2 (n+1 )种组合内。它采用故障支配和故障等效的故障传播、回退等技术 ,建立了一套从局部到全局的测试生成新方法。同时 ,利用基本门单元完全测试矢量的规律性 ,可以实现最小的内存容量要求。在一些基准电路的应用实例中 ,得到了满意的结果。

关键词：基本门单元完全测试测试生成算法

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基于极限学习机的模拟电路测试生成算法

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微电子学与计算机 2015年第7期32卷 33-37页

作者：周靖宇田书林王厚军龙兵电子科技大学自动化工程学院四川成都610054

为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率,提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法.首先利用极限学习机对采集的脉冲响应空间样本进行分类,从而减少分类时间消耗,然后联立求解极限学习机表达式和模拟测试生成算法... 详细信息

为了在保证测试精度的前提下提高模拟测试生成算法测试效率,提出了一种基于极限学习机的模拟测试生成算法.首先利用极限学习机对采集的脉冲响应空间样本进行分类,从而减少分类时间消耗,然后联立求解极限学习机表达式和模拟测试生成算法测试序列生成式,得到基于极限学习机的测试序列生成算法表达式,从而简化了测试结构.实验结果表明,基于极限学习机的模拟电路测试生成算法,在保证精度的前提下,可以较好地减少测试时间消耗,提高测试效率.

关键词：模拟电路测试生成算法分类算法极限学习机

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神经网络在组合电路故障模拟测试生成算法中的应用

引用

电路与系统学报 2001年第4期6卷 107-110页

作者：徐建斌李智桂林电子工业学院广西桂林541004

本文在基于故障模拟的测试生成算法基础上,提出了一种初始测试矢量的生成方法,即采用神经元网络模型来生成初始矢量,既避免了随机生成初始矢量的盲目性,又避免了确定性算法使用回溯所带来的大运算量。试验结果证明这种方法是有效的。

关键词：神经网络故障模拟测试生成算法初始矢量组合电路集成电路

来源：评论

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