检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：王轸哈尔滨理工大学

学位级别：硕士

数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一,随着数字电路设计及工艺技术的发展,电路的规模和复杂度日益增大,使得电路的测试生成日益困难。对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,因此研究新型有效的数字集成电路测... 详细信息

数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一,随着数字电路设计及工艺技术的发展,电路的规模和复杂度日益增大,使得电路的测试生成日益困难。对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,因此研究新型有效的数字集成电路测试生成算法具有十分重要的理论价值和实际意义。集成电路的测试生成问题是数学上公认的难题-NP完全问题,在过去的几年中,国内外的学者虽然提出了许多新的测试生成算法,但是到目前为止还没有一种算法能适合所有的大规模集成电路,集成电路的测试生成问题已成为一个重要的研究课题。本文采用固定故障模型和三值神经网络模型,对数字集成电路的测试生成进行研究,为提高故障覆盖率,减小测试生成时间,重点研究了以下内容: 1.在深入研究二值神经网络测试生成算法基础上,将遗传算法引入到组合电路的测试生成算法中。基于遗传算法是一种全新的寻优方法,本文采用遗传算法求解约束网络对应能量函数的最小值点。在遗传算法中,适应度函数是影响算法性能的一个主要因素,它主要影响问题的求解空间,本文在比较其他适应度函数的基础上,提出本文的适应度函数,利用本文的适应度函数,在基准电路上得到测试矢量。同时,交叉、变异概率是影响收敛速度的一个重要的指标,本文将提出一个合理的交叉和变异的概率。 2.在二值基础上,建立基本逻辑门电路的三值神经网络模型和组合电路的三值神经网络模型。用三值神经网络表示数字电路,可以减小搜索空间,避免很多不必要的赋值,因此可以在保证具有较高故障覆盖率的情况下,减小测试生成时间。在三值神经网络模型中,二值模型的能量函数不能适用于三值模型,因此需要求解三值模型的能量函数,在此本文对三值神经网络测试生成算法与二值神经网络测试生成算法进行比较。 3.研究遗传算法的软件实现方法。在软件构建的标准电路基础上,用适当的编程方法实现遗传操作,可以有效的缩短程序的执行时间。在仿真过程中,根据程序运行状况,优化程序结构,调整遗传操作参数,以提高算法的测试速度。

关键词：测试生成算法三值神经网络遗传算法

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数字集成电路测试生成算法研究

数字集成电路测试生成算法研究

引用

作者：赵莹哈尔滨理工大学

学位级别：硕士

数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一,随着数字电路设计及工艺技术的发展,电路的规模和复杂度日益增大,使得电路的测试生成日益困难,并已成为集成电路芯片生产的瓶颈。对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,因... 详细信息

数字集成电路是当今发展最快的技术领域之一,随着数字电路设计及工艺技术的发展,电路的规模和复杂度日益增大,使得电路的测试生成日益困难,并已成为集成电路芯片生产的瓶颈。对于复杂的大规模集成电路,传统的测试生成算法已不再适用,因此研究新型有效的数字集成电路测试生成算法具有十分重要的理论价值和实际意义。集成电路的测试生成问题是数学上公认的难题—NP 完全问题,在过去的几年中,国内外的学者虽然提出了许多新的测试生成算法,但是到目前为止还没有一种算法能适合所有的大规模集成电路,集成电路的测试生成问题已成为一个重要的研究课题。本文采用单固定故障模型和路径时滞故障模型,对数字集成电路的测试生成进行研究,为提高故障覆盖率,减小测试生成时间,重点研究了以下内容: 1.综述了集成电路测试生成技术的研究现状和发展概况,指出了目前存在的问题和不足之处,并且展望了未来的发展趋势。 2.研究了基于二值Hopfield 神经网络的组合电路测试生成算法。并在此基础上,将三值神经网络应用于组合电路测试生成算法中,用三值神经网络表示数字电路,可以减小搜索空间,避免很多不必要的赋值,因此可以在保证具有较高故障覆盖率的情况下,减小测试生成时间,提高算法的测试生成效率。通过构造电路的约束网络,求解约束网络对应能量函数的最小值点得到故障的测试矢量。　　　　　3.研究了基于布尔差分的组合电路测试生成算法。针对布尔差分法存在大量异或运算的问题,提出了组合电路单固定故障测试生成中求解一阶布尔差分的简化方法,它不用异或运算,而是通过求解恒等式来得到完全测试集,避免了大量的布尔运算。同时,通过对二阶布尔差分的剖析,得到了二阶布尔差分法的简化算法,为双故障的测试生成提供了方便。 4.　研究了组合电路中非鲁棒性路径时滞故障的测试生成算法。时滞故障是集成电路故障中的一种,电路中如果存在时滞故障,将导致它在给定的高速时钟频率下无法正常工作。因此研究时滞故障的测试生成算法非常重要。迄今为止,国内外学者提出了很多时滞故障模型,其中路径时滞故障模型是最常用的。　

关键词：测试生成算法神经网络蕴涵路径敏化

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CMOS电路开路故障的Robust测试生成算法

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电子学报 1987年第4期 44-50页

作者：茅巍巍凌燮亭复旦大学电子工程系

本文提出了一种CMOS电路开路故障的测试生成算法,检测开路故障所需的复位输入T;和测试输入T;可以一次同时产生,并且能够保证所得的测试是Robust测试。

关键词：开路故障 Robust 测试生成算法 CMOS

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一种新的功能级数字电路测试生成算法

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电子学报 1986年第6期 99-106页

作者：茅巍巍阮根鸿凌燮亭复旦大学

本文利用过程式功能描述语言描述功能级电路,建立由功能图和数据流图构成的信息流模型。在此模型的基础上,试图提出一种新的、适合于一般功能级电路的测试生成算法。根据本算法,用FORTRAN语言编制的一个测试生成程序,已在PDP-11/23机上... 详细信息

本文利用过程式功能描述语言描述功能级电路,建立由功能图和数据流图构成的信息流模型。在此模型的基础上,试图提出一种新的、适合于一般功能级电路的测试生成算法。根据本算法,用FORTRAN语言编制的一个测试生成程序,已在PDP-11/23机上实现。

关键词：测试生成算法数据流图功能图信息流模型语句条件判断功能描述语言数字电路

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VLSI测试生成算法

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计算机与数字工程 1998年第1期26卷 19-24页

作者：石坚沈森祖中船总公司第七研究院第七○九所武汉430074

本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。

关键词： VLSI 测试测试生成算法神经网络

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论测试生成算法的加速

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计算机工程与科学 1984年第4期 77-89页

作者： HIDEO FUJIWARA ,TAKESHI SHIMONO ,周守本

要加速测试生成算法就必须在算法中减少回退的次数,缩短回退的处理时间。本文考虑了几种加速测试生成的方法,并给出了一种称为FAN(面向扇出的测试生成算法)的新测试生成算法。可以看出,FAN 算法比Goel的PODEM 算法更快更有效。我们也给... 详细信息

要加速测试生成算法就必须在算法中减少回退的次数,缩短回退的处理时间。本文考虑了几种加速测试生成的方法,并给出了一种称为FAN(面向扇出的测试生成算法)的新测试生成算法。可以看出,FAN 算法比Goel的PODEM 算法更快更有效。我们也给出了一个由FAN 算法和同时故障模拟组成的自动测试生成系统。实验结果证明,该系统对3000个门组成的大型组合电路的测试生成又快又有效。

关键词：测试生成算法扇出通路自动测试故障模拟点目标自动检测回退组合逻辑电路逻辑电路组合电路

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基于三值神经网络的组合电路测试生成算法

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哈尔滨理工大学学报 2004年第4期9卷 20-23页

作者：赵莹吴丽华马怀俭哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院黑龙江哈尔滨150040

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法,该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用... 详细信息

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法,该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量,这样就把组合电路的测试生成问题转化为数学问题,在一些基准电路上的实验结果表明,本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间。

关键词：三值神经网络测试生成算法遗传算法能量函数

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一种先进的时序电路测试生成算法

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电子质量 2004年第9期 6-8页

作者：刘晓华广州邮电通信设备有限公司广州510630

本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析, 并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法。

关键词：路测时序电路测试生成算法

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基于三值神经网络的组合电路测试生成算法

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伺服控制 2011年第8期 64-66页

作者：吴丽华王旭东沃晓丹杨阳哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难的问题,本文提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量... 详细信息

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难的问题,本文提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法。该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量,这样就把组合电路的测试生成问题转化为数学问题:在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间:

关键词：三值神经网络测试生成算法遗传算法能量函数

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一种基于边界扫描的自适应测试生成算法

一种基于边界扫描的自适应测试生成算法

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2002年全国电子测控工程学术年会

作者：周清林颜学龙雷加郭学仁桂林电子工业学院

在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础上,提出了一种改进自适应测试生成算法.实验表明该算法具有完备的诊断能力、测试时间较短的优点,是一种性能优良的测试生成算法.

关键词：边界扫描故障诊断测试生成算法电路检测数字电路

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