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数字电路测试生成算法综述
数字电路测试生成算法综述
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第十三届全国测试与故障诊断技术研讨会
作者： 于功敬 魏蛟龙 北京航天测控技术公司(北京)
随着数字电路的规模和复杂性不断增加,自动矢量生成技术已日益成为数字电路测试与诊断的瓶颈环节.本文主要讨论了电路的测试及故障检测的一些基本问题,并对数字电路测试生成的主要算法进行了分析和比较.最后预测了测试矢量自动生成技术... 详细信息
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基于布尔可满足性的数字电路测试生成算法
基于布尔可满足性的数字电路测试生成算法
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2002年全国电子测控工程学术年会
作者： 刘歆 华中科技大学
本文提出了关于数字电路确定性测试生成新的加速技术.它改进了TEGUS算法,减少了所产生的CNF公式的子句数和文字数,以及结合了基于结构算法中故障信号的传播约束条件.整个算法的基础是基于布尔可满足性模型,利用了工程上高度有效的SAT问... 详细信息
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时序电路测试生成算法研究
时序电路测试生成算法研究
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第十八届中国（天津）’2004IT、网络、信息技术、电子、仪器仪表创新学术会议
作者： 赵莹 吴丽华 马怀俭 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院
随着大规模集成电路复杂性的提高,时序电路的测试生成变得越来越困难,因此研究有效的时序电路测试生成算法不仅具有学术意义,还具有巨大的经济效益和社会效益。本文对近年国内外学者在时序电路测试生成算法方面的研究进行了综述,对其作... 详细信息
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具有最小搜索空间的优化测试生成算法
具有最小搜索空间的优化测试生成算法
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中国仪器仪表学会第四届青年学术会议
作者： 刘晓东 张毅刚 孙圣和 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系(哈尔滨)
介绍了一种优化的测试生成算法.该算法基于遗传算法,使用故障信号传播路径上的信号线来构造算法的评价函数,使得算法具有最小的搜索空间.该方法不同于传统的方法,它不需要故障传播、回退等过程.实验结果表明了算法的可行性.
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基于注入衰减混沌噪声的神经网络自动测试生成算法
基于注入衰减混沌噪声的神经网络自动测试生成算法
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2002年全国电子测控工程学术年会
作者： 徐红兵 王厚军 李焱骏 电子科技大学自动化工程学院
本文描述了一种基于混沌神经网络的自动测试生成方法.由双向神经元表示门电路,而用神经网络中神经元的阔值和相互之间的连接权来表示电路的功能.在神经网络中注入故障,并构造全局最小点与测试序列相对应的能量函数,并采用注入衰减混沌... 详细信息
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易测电路的构成及其测试生成算法
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电子学报 1986年 第2期 125-128页
作者： 茅巍巍 凌燮亭 复旦大学电子工程系上海
本文提出一种将任意组合电路转变为易测电路的方法和易测电路的测试生成算法。对电路中所有引线的单固定故障都能产生测试向量。测试生成所需的计算量的上限是2（n;+4n;）;。
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时序电路测试生成算法研究
时序电路测试生成算法研究
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2002年全国电子测控工程学术年会
作者： 康莉 李智 桂林电子工业学院
本文对近年来国内外学者在时序电路测试生成方面的研究成果进行了综述,对其做了比较、分析,并在前人研究的基础上提出一种时序电路的测试生成方法.
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一种数字电路的测试向量生成算法
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系统工程与电子技术 2002年 第6期24卷 95-98页
作者： 何华锋 胡昌华 许化龙 张伟 第二炮兵工程学院302教研室 陕西西安710025
结合一个实际电路 ,研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法。该算法首先划分电路功能块 ,然后基于功能测试的思想 ,通过功能块测试向量的迭代生成整个电路的测试向量。还提出了一种基于器件布尔函数建立故障字典的... 详细信息
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集成电路测试生成算法综述
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城市建设理论研究（电子版） 2011年 第31期
作者： 孙健 南京信息职业技术学院
随着集成电路芯片向深亚微米、特大规模集成电路和高密度方向发展，进行测试所需要的成本也越来越高，因此寻找计算量合理、故障覆盖率较高的测试生成算法已成为电路测试领域十分重要的研究课题。本文对目前电路测试生成算法做了一些介绍。
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多故障测试生成的一种简化算法
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电机与控制学报 2008年 第3期12卷 348-352页
作者： 吴丽华 李涛 邹海英 王鹏 哈尔滨理工大学 测量技术与通信工程学院龙江哈尔滨150040
针对求解布尔差分要做大量的异或运算,特别是求解高阶布尔差分繁琐的问题,提出一种具有约束条件的布尔差分简化方法。通过对布尔差分算法进行剖析,得出所求测试应该使测试集方程中的布尔函数f(X)随变量的改变而改变,由此可将差分方程表... 详细信息
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