检索结果-内蒙古大学图书馆

半导体光电 2024年第2期45卷 216-221页

作者：王祖军聂栩唐宁王兴鸿尹利元晏石兴李传洲西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应全国重点实验室西安710024 湘潭大学材料科学与工程学院湖南湘潭411105 西安高科技研究所西安710024 兰州大学核科学与技术学院兰州730000

以航天领域广泛应用的CMV4000型CMOS图像传感器(CIS)为研究对象,通过开展CIS辐射敏感参数测试电路设计,将CIS辐照电路板与测试电路板中FPGA数据采集及传输板分离,辐照电路板与测试电路板通过接插口通信,从而实现开展辐照试验时对FPGA数... 详细信息

以航天领域广泛应用的CMV4000型CMOS图像传感器(CIS)为研究对象,通过开展CIS辐射敏感参数测试电路设计,将CIS辐照电路板与测试电路板中FPGA数据采集及传输板分离,辐照电路板与测试电路板通过接插口通信,从而实现开展辐照试验时对FPGA数据采集部分进行辐射屏蔽防护,避免FPGA数据采集板受到辐射影响。开展了CIS测试电路中的电源模块、数据采集、存储模块、外围电路等设计及PCB版图的布局布线设计。采用VerilogHDL硬件描述语言对各个功能模块进行驱动时序设计,实现CIS辐射敏感参数测试功能。通过开展CMV4000型CIS ^(60)Coγ射线辐照试验,分析了平均暗信号、暗信号非均匀性、暗信号分布等辐射敏感参数随总剂量增大的退化规律,验证了CIS辐射敏感参数测试系统的可靠性。

关键词： CMOS图像传感器测试电路设计辐照试验辐照损伤效应辐射敏感参数

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高分辨率A/D静态参数测试电路设计

高分辨率A/D静态参数测试电路设计

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作者：谢力东南大学

学位级别：硕士

高分辨率A/D静态参数测试电路设计是针对工作实际中A/D静态参数测试遇到的困难而提出的。目前，国内大多数A/D静态参数测试系统是利用传统的外挂信号源与数字集成电路测试系统集成而成。在测试时由外挂信号源提供模拟信号，由数字系统... 详细信息

高分辨率A/D静态参数测试电路设计是针对工作实际中A/D静态参数测试遇到的困难而提出的。目前，国内大多数A/D静态参数测试系统是利用传统的外挂信号源与数字集成电路测试系统集成而成。在测试时由外挂信号源提供模拟信号，由数字系统提供被测A/D的数字激励并捕获被测A/D产生的数字量，再对数字量进行算法处理得出测试结果。在测试高分辨率的A/D时，这就带来了一些问题：首先测试高分辨率A/D时模拟输入信号的步进非常小，由于信号源是外挂的，将模拟输入信号从信号源传递给被测A/D的信号线就较长，由信号线产生的噪声及由线阻产生的电压损耗很可能比模拟输入信号的步进还要大，这将极大影响测试。其次模拟信号提供的最大值应与被测A/D的参考电压值相等，但由于这两个值并不是同源的，必定存在一定的差值，这个差值将对测试带来误差。根据A/D静态参数的直方图测试，设计了一种高分辨率A/D静态参数测试电路，该测试电路可以测量高分辨率A/D静态参数，测试所需的模拟信号，具体由一很高位的D/A产生。由于测试电路尺寸很小，可直接与数字系统的适配器相连，从而大大缩短了模拟信号到被测A/D的传输距离，减小了信号线产生的噪声及由线阻产生的电压损耗。由于采用同一可控精密电源对测试电路中的高位D/A和被测A/D提供参考电压，从而大大减小了由最大模拟输入信号与被测A/D的参考电压值不等而引起的误差。该测试电路在测试高分辨率A/D静态参数时，无需购置外挂信号源，大大降低了测试高分辨率A/D静态参数的系统构成成本，同时解决了传统测试方法无法解决的测试误差问题，提高了高分辨率A/D静态参数测试的精度，在高分辨率A/D静态参数测试的验证测试和入厂测试领域有较大的应用前景。

关键词： A/D 静态参数直方图法高分辨率测试电路设计

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基于FastICA算法的电路故障诊断方法

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电路与系统学报 2013年第2期18卷 291-297页

作者：雍静雷冬梅曾礼强徐欣重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室重庆400030

在电路故障检测中针对元件种类较少且同一种元件重复出现的电路,提出基于FastICA(fast independent component analysis)算法的故障诊断方法。该方法首先对电路中的元件进行分类再按信号叠加算法分组建立测试电路,电路正常工作时测试电... 详细信息

在电路故障检测中针对元件种类较少且同一种元件重复出现的电路,提出基于FastICA(fast independent component analysis)算法的故障诊断方法。该方法首先对电路中的元件进行分类再按信号叠加算法分组建立测试电路,电路正常工作时测试电路不给电。利用FastICA算法对测试信号进行盲分离,初步判断分离结果后与预先建立的元件故障信号库Mf的信号作相关分析判定故障类型。这种故障诊断方法简单易实现且对元件类型没有限制,在检测过程中元件之间没有相互干扰可确保诊断的准确性。仿真表明该方法能有效判断出电路的故障情况。

关键词：故障诊断 FastICA算法相关性分析测试电路设计

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千万门级FPGA内嵌PCI Express IP核测试技术研究

千万门级FPGA内嵌PCI Express IP核测试技术研究

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作者：杜艺波中国运载火箭技术研究院

学位级别：硕士

PCI Express是一种高速串行计算机扩展总线标准,在带宽、工作频率等性能指标上远远超过了PCI与PCI-X总线,并且将传统PCI总线系列的并行总线体系转变为了点对点的串行总线体系,在性能可扩展性方面跨上了一个新的台阶,被称为计算机的第三... 详细信息

PCI Express是一种高速串行计算机扩展总线标准,在带宽、工作频率等性能指标上远远超过了PCI与PCI-X总线,并且将传统PCI总线系列的并行总线体系转变为了点对点的串行总线体系,在性能可扩展性方面跨上了一个新的台阶,被称为计算机的第三代I/O总线。随着FPGA向着片上系统的方向发展,FPGA内嵌PCI Express IP核也应运而生,并且成为FPGA内部重要的逻辑资源,大大提高了设计人员对器件的设计效率和使用效率。本课题源于航天微电子技术研究所“十三五”核高基“面向高性能信号处理和高性能逻辑运算的千万门级单粒子加固SRAM型FPGA”项目,对PCI Express总线的原理结构和协议规范进行了系统的学习,对现有PCI Express IP核的测试方法进行了研究分析,设计了针对PCI Express IP核的测试解决方案。本文使用FPGA内部资源设计了一种基于灰盒架构的测试电路用于FPGA内嵌PCI Express Gen1.1 IP核的功能测试,该测试电路从功能上分为控制电路和引擎电路两部分,其中引擎电路负责与PCI Express IP核完成满足协议规范的各类数据包收发操作,控制电路负责对引擎电路数据包收发的控制,并且对来自PCI Express IP核的响应进行分析,判断响应结果是否正确。在该测试电路的基础上,本课题以功能覆盖为导向设计了用于功能测试的测试向量集,降低了测试向量的设计难度,并通过对测试向量集以节点覆盖率为指标进行排序优化,得到了测试效率更高的测试向量集,满足工程量产测试所需。同时,本文设计了用于PCI Express IP核性能测试所需的测试向量,并且构建了用于性能测试的硬件测试环境,从差分摆幅和是否去加重两方面对PCI Express IP核Tx端的信号质量设计了测试方案。最后本文对测试电路和测试向量进行了功能仿真和板级实测,测试结果表明:本课题对FPGA内嵌PCI Express Gen1.1 IP核内部资源的节点覆盖率最高达到了97.83%,并通过对测试向量集的重新排序优化,优化后的测试向量集在达到90.45%的节点覆盖率的情况下将配置测试总时间控制在17.5s,基本满足工程量产测试需要;本课题设计的物理层测试向量与硬件测试平台可以实现对千万门级FPGA内嵌PCI Express Gen1.1 IP核的物理层发送端(TX端)的性能测试,满足协议规范要求。

关键词： PCI Express IP核功能测试性能测试测试电路设计节点覆盖率

来源：评论

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