检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：祝广场华中科技大学

学位级别：硕士

降落伞空投试验是测试降落伞性能指标的一个必要步骤。降落伞的轨迹、速度和动载等性能指标都是要在空投试验中取得的。基于GPS的位置、速度和加速度测试技术可以实现一种新的测试系统,对降落伞空投试验具有重要的理论和实际意义。　　... 详细信息

降落伞空投试验是测试降落伞性能指标的一个必要步骤。降落伞的轨迹、速度和动载等性能指标都是要在空投试验中取得的。基于GPS的位置、速度和加速度测试技术可以实现一种新的测试系统,对降落伞空投试验具有重要的理论和实际意义。　　本论文首先阐述了光电测量技术和遥测技术在降落伞试验中的应用,然后介绍GPS的组成及其在测量中的应用,分析了常用的GPS定位技术。随后提出了基于GPS的降落伞试验测试系统方案。系统主要由地面测试基准站、地面数据处理计算机和机载测试装置三部分组成。地面基准站与机载测试装置共同构成差分定位方式。由于测试结果由数据后处理获取,没有实时性的要求,因此机载测试装置与基站间不设数据通信链路,所有的测试数据都同步保存到测试设备中以便事后处理使用。试验后将基准站、测试装置存储的数据下载到地面数据处理计算机,运用GPS差分技术进行处理,并给出试验结果。　　本文重点详细论述了测试算法与数据处理的实现,并设计与之匹配的处理软件。适宜的定位算法可以有效地提高定位测试精度,本文根据对象的动态特性和实际情况选用位置差分算法以获得良好的测试性能,并采用双模块二次差分算法以削弱失锁对试验造成的不利影响。为了避免误判和漏判消息帧,对原始二进制数据流进行解码时采用了滑窗算法。对加速度的处理采用了巴特沃兹滤波算法,巴特沃兹滤波器具有通带内最大平坦的振幅特性,滤波效果良好。

关键词：降落伞空投试验测试算法全球定位系统

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存储器测试算法与实现

存储器测试算法与实现

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作者：王曼雨西安电子科技大学

学位级别：硕士

存储器由于其应用广,产量大,成为了半导体行业的支柱。近年来,存储器芯片容量增大,单元密度增加,制造工艺越来越复杂,造成生产出的产品良率明显下降,因此必须采用新的故障模型和故障测试算法。本文研究了存储器的测试技术和故障模型,并... 详细信息

存储器由于其应用广,产量大,成为了半导体行业的支柱。近年来,存储器芯片容量增大,单元密度增加,制造工艺越来越复杂,造成生产出的产品良率明显下降,因此必须采用新的故障模型和故障测试算法。本文研究了存储器的测试技术和故障模型,并分析了5种常规测试算法,即全“0”全“1”法、棋盘算法、March算法、蝶形算法和奔跳算法。本文在深入研究着几种常规算法的基础上,提出了一种改进型March算法,基于棋盘格式对March算法进行改进。即每一个单元与其紧相邻的各个单元的值都不同,使得它们之间存在较大的电势差,容易产生互相影响。此算法能检测固定故障SAF、地址解码故障AF、转换故障TF和相邻图形敏感故障NPSF这四种类型的故障。在测试复杂度上,相对于基本March算法,此种改进型March算法没有增加额外的测试时间。本文使用ATL机器语言实现该算法。以DDR存储器为测试实例,使用一台Advantest T5571测试机和一片12英寸直径的512M DDR晶圆,验证改进型March算法的可行性。实验表明改进型March算法可显著提高故障覆盖率,并且测试时间与基本March算法相同,是一种经济有效的算法。

关键词：存储器 DDR 测试算法 March

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存储器测试算法研究与应用实现

存储器测试算法研究与应用实现

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作者：汤志北京交通大学

学位级别：硕士

随着集成电路技术的发展,存储器在集成电路产品中的地位变得越来越重要。由于存储器芯片的容量变得越来越大,集成度也越来越高,存储器内部的晶体管以及其他部件之间变得越来越密集,使得存储器芯片发生各种各样的物理故障或者缺陷的概率... 详细信息

随着集成电路技术的发展,存储器在集成电路产品中的地位变得越来越重要。由于存储器芯片的容量变得越来越大,集成度也越来越高,存储器内部的晶体管以及其他部件之间变得越来越密集,使得存储器芯片发生各种各样的物理故障或者缺陷的概率大大提高,尤其在低电压下,存储器芯片发生故障更为明显。因此,研究一种快速检测存储器故障的测试方法尤其重要。本文以存储器测试算法、算法验证以及算法应用实现为研究核心,主要研究内容如下:(1)分析存储器常见故障发生的原因以及原理,根据故障原理分析故障原语,确定敏化操作序列,根据敏化操作序列给出测试故障的March测试元素,整合优化March测试元素,提出新的测试算法。本文算法覆盖常见的存储器故障以外,降低了算法复杂度,提升了测试存储器的测试速度,和March SS算法相比节省测试时间约11.5%。(2)根据存储器故障发生的原因及故障描述,设计存储器故障模拟验证系统,然后通过故障模拟系统来检验新的测试算法是否覆盖了存储器的常见故障(固定故障、转换故障、耦合故障、地址故障、干扰故障、固定开路故障等等)。(3)本文通过设计存储器内建自测试电路系统实现算法的功能,并且完成了各个子模块电路的设计和功能仿真。运用SMIC40nm制造工艺完成了整个电路的前端设计和后端版图的设计,最终整个电路的后端仿真最高频率达到500MHZ,版图面积为 229.9um×243.6um。本文最终实现了一种能够快速检测存储器普遍存在的故障的测试算法-March FM,并且在实际应用中得到了验证。

关键词：存储器测试算法存储器故障故障模拟内建自测试

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嵌入式memory内建自测试算法

嵌入式memory内建自测试算法

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作者：任爱玲东南大学

学位级别：硕士

传统的自动测试设备（ATE）已经不能满足大规模集成电路测试的需求,芯片内建自测试（BIST）已经逐步运用到芯片测试中。在片上系统（SOC）的微电子应用中大容量嵌入式内存的增殖也使内建自测试成为需要,因为,比较而言,嵌入式内存难以从... 详细信息

传统的自动测试设备（ATE）已经不能满足大规模集成电路测试的需求,芯片内建自测试（BIST）已经逐步运用到芯片测试中。在片上系统（SOC）的微电子应用中大容量嵌入式内存的增殖也使内建自测试成为需要,因为,比较而言,嵌入式内存难以从芯片管脚访问,那麽内部测试就比较有效。和单机memory一样,嵌入式内存也存在生产过程中产生的随机物理故障,这些故障将降低生产的成品率,从而导致费用升高。所以,有效的故障模型,有效的测试算法及其实现是嵌入式存储器内建自测试设计的关键问题。针对这一情况,本文对嵌入式内存的内建自测试技术的核心问题——测试算法进行了研究,并对其他内存测试方法作了介绍和比较。本文在原有测试算法的基础上对其进行了修正,提出了具有更高的故障覆盖率,并且具有更好的故障诊断能力的测试算法——MARCH TB+算法,通过在自主研发的Garfield4芯片中的实验可知,它实现了在具有很高故障覆盖率的前提下提高了故障诊断能力。对地址译码故障（AF）,传输故障（TF）,stuckat故障（SAF）,耦合故障（CF）,数据保留故障（DRF）这些主要内存故障的覆盖率达到100%,除了stuckat1故障与传输故障中由1到0的转换故障,其他故障都能诊断出故障类型,尤其是解决了stuckat0故障与传输故障中由0到1的转换故障,状态耦合中低位1决定高位0与高位1决定低位0,低位0决定高位1与高位0决定低位1的诊断问题,由于算法的修正使得测试时间相比于原有的Garfield4中MARCH C-（2.1毫秒）有所增加,为3毫秒（时间数据都指是20K的eSRAM分成4块同时测试的时间）,但是对于Garfield4而言,由于原有的MARCH LR,MATS++,MARCH C-三种算法由MARCH TB+代替,所以总的测试时间将减少2毫秒（含义同上）左右。本文组织如下,首先理论背景,介绍了嵌入式内存的测试及内建自测试的基本原理。然后根据故障覆盖率较高的MARCH C- BIST算法提出了改进的MARCHTB+算法及测试结构。接下来是实验和结论。最后是对本文的总结和内建自测试及未来工作的展望。

关键词：嵌入式内存内建自测试测试算法 MARCHTB+算法故障模型

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一种优化的Flash存储器测试算法

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微电子学与计算机 2004年第5期21卷 121-123页

作者：张曦朱一杰俞军复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

直流写、直流擦以及漏极干扰是影响Flash存储器长期有效保存数据的主要原因,本文在Mohammad失效模型的基础上提出了一个更优的测试算法,从而有效缩短测试时间,节约生产成本。

关键词：直流写直流擦漏极干扰测试算法

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NAND型FLASH测试算法的设计与基于FPGA的实现

NAND型FLASH测试算法的设计与基于FPGA的实现

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作者：张雷浩北京大学

学位级别：硕士

随着非易失存储器应用的日益广泛，对非易失存储器测试的需求更加突出。作为一种非易失性存储器，Flash存储器除了可能发生地址译码故障、固定型故障和跳变故障等传统SRAM/DRAM存储器会发生的故障之外，还可能发生与Flash浮栅工艺技术... 详细信息

随着非易失存储器应用的日益广泛，对非易失存储器测试的需求更加突出。作为一种非易失性存储器，Flash存储器除了可能发生地址译码故障、固定型故障和跳变故障等传统SRAM/DRAM存储器会发生的故障之外，还可能发生与Flash浮栅工艺技术相关的干扰故障和数据保持故障，并且擦写次数严重影响其使用寿命。由于In-Field场景下必须考虑Flash存储器的使用寿命，因此要求测试算法以利用尽可能少的擦写次数获得较高的故障覆盖率。\n 本文的主要研究内容包括:1）简要介绍非易失性存储器的发展现状和Flash存储器测试算法的研究现状;从课题研究目标出发，详细介绍浮栅晶体管的工作原理，然后介绍本项目采用的Flash芯片的工作原理和时序。2）介绍Flash的典型故障和测试算法相关研究工作，为了达到测试目的，跟踪目前流行的测试算法和测试技术，分析已有算法的优缺点，设计了一个SLC NAND Flash测试算法:MARCH-D算法。为了尽快的实现并验证算法的测试效果，本文还设计了相应的芯片老化方案。接着详细描述了本项目搭建的基于FPGA开发板的SLC NAND Flash测试平台。3）通过基于FPGA的测试平台实现MARCH-D算法，该测试算法对于干扰故障有较高的故障覆盖率;测试平台设计灵活，消耗硬件资源少，工作频率达到100Mhz，针对不同的测试算法修改算法模块代码即可实现;本文针对干扰故障和数据保持故障进行了分组实验，给出了数据保持故障和干扰故障与芯片寿命之间的关系，同时本文验证了芯片在高温加热发生热退火的现象，该现象可一定程度的恢复芯片的数据保持能力。在文章的最后提出测试平台的优化方案和实验结果的应用场景。

关键词：非易失存储器地址译码故障浮栅工艺干扰故障测试算法 FPGA平台

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数字交换网络中时分接线器的一种测试算法

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通信学报 1986年第3期 19-24页

作者：鲁刚陈俊亮北京邮电学院

本文把时分接线器(T接线器)表示成功能块的形式,在此基础上,导出了T接线器的一种测试算法。该算法生成测试序列的复杂性为: O(M_c×N)次写控制存储器+O(M_c)次遍读控制存储器其中N和M_c分别为控制存储器的字数和字长。实验结果表明... 详细信息

本文把时分接线器(T接线器)表示成功能块的形式,在此基础上,导出了T接线器的一种测试算法。该算法生成测试序列的复杂性为: O(M_c×N)次写控制存储器+O(M_c)次遍读控制存储器其中N和M_c分别为控制存储器的字数和字长。实验结果表明:本文提出的算法能够较好地解决T接线器的自动测试问题,并已被应用于国产数字程控交换机的研制工作中。该算法还可推广到T接线器网络的测试。

关键词：接线器自动测试程控交换机自动检测程控变换机计算机存储器存贮器数字交换网络测试算法

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基于边界扫描技术的抗混淆自适应测试算法

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信息工程大学学报 2013年第5期14卷 600-606页

作者：钟春丽张平生拥宏朱毅曹凯信息工程大学 95854部队

针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法。首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案。该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提... 详细信息

针对现有边界扫描测试快速测试算法存在征兆混淆现象的问题,在深入分析多种测试算法的基础上,提出一种抗混淆的自适应测试算法。首先,通过分析走步算法的特点,给出一种走步算法的改进方案。该方案在保证算法完备性指标不变的情况下,提高了算法的紧凑性指标。在此基础上,结合改良计数序列算法,生成抗混淆自适应测试算法。该算法解决了改良计数序列算法存在的征兆混淆问题,极大提高了算法的完备性指标,且紧凑性指标较好。

关键词：边界扫描技术测试算法紧凑性指标完备性指标

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嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证

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中国集成电路 2006年第2期15卷 77-80页

作者：林晓伟郑学仁刘汉华闾晓晨万艳广州华南理工大学微电子研究所

嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2P... 详细信息

嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。

关键词：嵌入式存储器测试验证测试算法 BIST 内建自测试 SoC设计 MARCH 体系结构仿真模型 SRAM

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存储器故障测试算法分析与研究

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信息系统工程 2023年第5期 135-137页

作者：宋建磊许航陆祥磊贵州航天计量测试技术研究所

存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测... 详细信息

存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测试算法,在基本不改变测试时间长度的情况下增加了故障检测类型,是一种简单可行的方法。

关键词：存储器测试算法故障

来源：评论

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