检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：包旭雷李为姚国勤朱杰董斌杭乐 214135 江苏省无锡市新区大学科技园清源路立业楼C区

本发明公开了一种基于似然比测试的噪声鲁棒性端点检测方法，分别从信噪比的估计、阈值的鲁棒性设置和拖尾失真消除三个方面进行改进，使得提出的算法相对于现有技术在低信噪比环境下尤其是非平稳噪声环境下具有更好的检测性能。本发明... 详细信息

标准号: CN103730124A

本发明公开了一种基于似然比测试的噪声鲁棒性端点检测方法，分别从信噪比的估计、阈值的鲁棒性设置和拖尾失真消除三个方面进行改进，使得提出的算法相对于现有技术在低信噪比环境下尤其是非平稳噪声环境下具有更好的检测性能。本发明所述的方法与基于谐波特征的多观测似然比测试算法具有相似的语音边界检测正确率，但却比基于谐波特征的多观测似然比测试算法具有更好的声音检测精度，从而验证本方法要比传统的方法在性能上更为优异。同时，本方法在15dB和25dB的信噪比下具有相似的性能，说明它对噪声具有很好的鲁棒性。本方法在实际环境中可以作为语音识别或者声纹识别系统的前端预处理重要的有效方法，拥有很好的应用价值。

关键词：信噪比测试算法谐波特征鲁棒观测预处理端点检测方法噪声鲁棒性边界检测声音检测应用价值语音识别噪声环境正确率声纹算法噪声失真语音验证检测

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薄壁弧形件装夹用定位点优化布置方法

薄壁弧形件装夹用定位点优化布置方法

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作者：马嵩华胡凯鑫 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区南区虚拟大学园A301

薄壁弧形件装夹用定位点优化布置方法，所述优化布置方法包括以下步骤：S1，通过测试算法来比较不同定位点个数对不同曲率薄壁弧形件形变的影响，建立夹具定位点布局与变形量相关的图像模型；S2，结合夹具实际设计要求和图像模型确定最... 详细信息

标准号: CN113742979A

薄壁弧形件装夹用定位点优化布置方法，所述优化布置方法包括以下步骤：S1，通过测试算法来比较不同定位点个数对不同曲率薄壁弧形件形变的影响，建立夹具定位点布局与变形量相关的图像模型；S2，结合夹具实际设计要求和图像模型确定最佳的定位点个数N，判断定位点个数N是否满足变形量要求；S3，通过响应曲面算法设计正交试验，以研究在重力作用下主定位面上定位点布置对薄壁弧形件法向变形的影响；S4，建立变形二次响应预测模型，通过方差分析算法检测预测模型的准确性；S5，通过三维响应曲面直观分析不同定位布置对变形的影响，通过预测模型得到定位点优化布局。

关键词：定位点预测模型弧形件薄壁图像模型变形的优化夹具曲率变形量要求测试算法方差分析夹具定位算法检测算法设计正交试验直观分析重力作用变形量次响应主定位响应形变法向装夹三维变形研究

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一种AOAAE层次包围盒碰撞检测方法

一种AOAAE层次包围盒碰撞检测方法

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作者：李正刚徐进荣陈立金晶黄川陈鹏 311228 浙江省杭州市萧山区萧山临江工业园区纬七路2000号

本发明涉及一种基于AOAAE层次包围盒及非接触角度分析碰撞检测方法。方法包括计算模型AABB、OBB包围盒；机械臂与工件AABB间相交测试；机械臂与工件的OBB间相交测试；AABB包围盒重叠区域的筛选；几何元素AABB包围盒筛选；基本几何元素... 详细信息

标准号: CN107803831A

本发明涉及一种基于AOAAE层次包围盒及非接触角度分析碰撞检测方法。方法包括计算模型AABB、OBB包围盒；机械臂与工件AABB间相交测试；机械臂与工件的OBB间相交测试；AABB包围盒重叠区域的筛选；几何元素AABB包围盒筛选；基本几何元素相交测试。本发明的优点是避开了传统构建繁杂的层次包围盒方法，通过改进OBB直接相交测试算法，分别构建碰撞模型和基本几何元素的AABB包围盒筛选掉不相交面片，从而提出AOAAE碰撞检测算法，较之传统测试方法，加快了碰撞检测的速度。

关键词：包围盒相交几何元素碰撞检测层次包围盒机械臂筛选测试测试算法传统测试传统构建计算模型角度分析碰撞模型重叠区域不相交非接触构建面片算法避开改进

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芯片动态功耗测试系统及方法

芯片动态功耗测试系统及方法

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作者：王栋窦志军王赟王于波胡晓波魏斌成嵩 102200 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层

本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源... 详细信息

标准号: CN115113019A

本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。

关键词：测试芯片测试算法示波器预设电流探头采集芯片安全芯片测试环境测试设备测试系统电流信号电源通道动态功耗工作电源功耗信息算法动态功耗自动化

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ETA-RT离线光盘质量控制系统

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记录媒体技术 2003年第2期 58-58页

ETA-RT是德国STEAG ETA-Optik公司开发的离线光盘质量控制系统。其主要技术特点为: 1.利用ETA专利薄膜算法测试染料层厚度、溅镀层厚度; 2.先进的n＆k测试算法;全波长380～1070nm的光密度测试; 3.精确的测量基片、粘接层、保护层厚度;ET... 详细信息

ETA-RT是德国STEAG ETA-Optik公司开发的离线光盘质量控制系统。其主要技术特点为: 1.利用ETA专利薄膜算法测试染料层厚度、溅镀层厚度; 2.先进的n＆k测试算法;全波长380～1070nm的光密度测试; 3.精确的测量基片、粘接层、保护层厚度;ETA专利槽测试算法检测槽深、槽顶宽、槽底宽;405nm蓝光测试道间距和衍射效率; ***-Omega软件包适合所有格式盘片的快速质量测试。 ETA-RT能测试各种盘片格式,包括: