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机构

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  • 3 篇 西北工业大学
  • 3 篇 商飞信息科技有限...
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作者

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语言

  • 357 篇 中文
检索条件"主题词=测试算法"
357 条 记 录,以下是31-40 订阅
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测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备
测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备
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作者: 张烨 401120 重庆市渝北区回兴街道霓裳大道24号
本申请公开了一种测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括:当需要进行算法库的测试时,检测是否存在后台应用;若存在后台应用,则对该后台应用进行预设处理,以使该后台应用在测试过程中不向系统请求分配运行资源;... 详细信息
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测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备
测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备
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作者: 张烨 401120 重庆市渝北区回兴街道霓裳大道24号
本申请公开了一种测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备。该方法包括:当需要进行算法库的测试时,检测是否存在后台应用;若存在后台应用,则对该后台应用进行预设处理,以使该后台应用在测试过程中不向系统请求分配运行资源;... 详细信息
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获取测试算法故障覆盖率的方法及相关设备
获取测试算法故障覆盖率的方法及相关设备
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作者: 方辉 韩宝磊 李晓磊 侯正龙 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
本公开提供一种获取测试算法故障覆盖率的方法及相关设备,属于半导体集成电路测试技术领域。该方法包括:获得待测对象的故障模型的故障特征式;获得测试算法算法逻辑式;根据所述算法逻辑式和所述故障特征式,确定所述测试算法是否... 详细信息
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一种基于图强化学习的FPGA互联资源测试算法
一种基于图强化学习的FPGA互联资源测试算法
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作者: 阮爱武 杨胜江 范樱宝 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
本发明属于FPGA测试技术,具体涉及一种基于图强化学习的FPGA互联资源测试算法。本发明改进了现有基于强化学习和深度强化学习的FPGA互联资源测试方法的缺点,即神经网络不具迁移性的缺点。本发明借助图神经网络提取互联资源图的隐藏特... 详细信息
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AB测试算法的性能信息获取方法、装置和存储介质
AB测试算法的性能信息获取方法、装置和存储介质
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作者: 赵一飞 欧明栋 赵亮 印卧涛 许欢 英属开曼群岛大开曼资本大厦一座四层847号邮箱
本公开实施例涉及一种AB测试算法的性能信息获取方法、装置、电子设备和计算机存储介质,包括:获取样本获取指令,基于所述样本获取指令获取AB测试的样本数据,所述样本数据包括至少两组测试数据,每组测试数据与一个测试方案相对应;... 详细信息
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一种加热体功率测试算法
一种加热体功率测试算法
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作者: 聂姣 周淼龙 韦承佐 赵凯 张建芳 518000 广东省深圳市光明区凤凰街道塘家社区汇业路13号401
一种加热体功率测试算法,系统包括温度计、加热体和控制器,温度计用来检测加热体温度,而控制器控制加热体启停并采集温度计的数值,其特征在于,该测试算法包括以下步骤:步骤一:由实验测定加热体的做功转化效率;步骤二:由实验测... 详细信息
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3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置
3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置
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作者: 王颀 张桔萍 刘飞 霍宗亮 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所
本发明提供一种3D NAND Flash存储器3D NAND Flash存储器的测试算法及其装置,基于3D NAND Flash存储器的结构,考虑3D NAND Flash存储器的故障模型,提出新的测试方法,按照特定的测试顺序和测试向量进行测试,可以更多覆盖或进一步全... 详细信息
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GSM-R网络接收信号强度动态测试算法
GSM-R网络接收信号强度动态测试算法
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作者: 龙承念 马永森 茅晓峰 200240 上海市闵行区东川路800号
本发明公开了一种GSM-R网络接收信号强度动态测试算法,其包括如下步骤:步骤一:进行接收信号包络检测;步骤二:根据上一次计算所得的接收信号强度采样的统计区间与采样点数对接收信号强度进行动态采样;步骤三:根据当前采样得到的... 详细信息
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一种适用于光模块的接收信号告警与去告警值测试算法
一种适用于光模块的接收信号告警与去告警值测试算法
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作者: 刘萍 刘平 518109 广东省深圳市龙华新区大浪街道办丽荣路1号昌毅工业厂区1栋1002
本发明涉及光通信领域,旨在提供一种适用于光模块的接收信号告警与去告警值测试算法,其技术方案要点是包括在精确测定实测告警值L_VAL后,设定去告警值D_VAL等于实测告警值L_VAL‑5dBm;调整光衰减器衰减量,使接收光衰减目标值ATT等... 详细信息
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一种存储器寿命测试算法
一种存储器寿命测试算法
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作者: 郑坚江 许大帅 郜波 何涛 315031 浙江省宁波市江北区慈城镇枫林路16号
一种存储器寿命测试算法,存储器寿命测试程序中加入计算器单元,根据存储器数据手册设定额定寿命上限,再设定至少2倍额定寿命上限的极限寿命上限;如读写次数大于极限寿命上限,则判定存储器失效;如读写次数未超过极限寿命上限,则... 详细信息
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