检索结果-内蒙古大学图书馆

哈尔滨工程大学学报 2024年第2期45卷 359-366页

作者：胡升阳沈刚方宗德关亚彬侯祥颖安徽理工大学机械工程学院安徽淮南232001 西北工业大学机电学院陕西西安710072 燕山大学机电工程学院河北秦皇岛066004 南京航空航天大学机电学院江苏南京210016

试验测量行星传动系统均载与动载系数的精准度是评价系统动态性能的基础。针对现有行星传动系统均载与动载系数测量方法存在灵敏度与精度欠佳、系数测试算法缺失、测试应力点存误等问题,本文提出了一种方便、实用且具有高精度的行星传... 详细信息

试验测量行星传动系统均载与动载系数的精准度是评价系统动态性能的基础。针对现有行星传动系统均载与动载系数测量方法存在灵敏度与精度欠佳、系数测试算法缺失、测试应力点存误等问题,本文提出了一种方便、实用且具有高精度的行星传动系统均载与动载系数测试方法,定义了系统系数的测试算法与概念,明确了精确应力测试位置点及不同位置间差异性,采用应变片电桥传感器串并联设计,实现了拉压应力叠加、温度补偿以及繁琐标定免除等优点,为精准测取行星传动系统均载与动载性能提供了重要的理论基础和技术手段。

关键词：行星轮系齿根应力测试算法贴片方式试验测量信号分析均载系数动载系数

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一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法

一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法

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作者：汪杰君刘江宽许川佩胡聪叶松 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号

本发明公开了一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.建立数字微流控芯片的灾难性故障测试模型；S2.得到初步测试路径并设置最大最小蚁群算法的初始信息素上下界和信息素初始值；S... 详细信息

标准号: CN106650074A

本发明公开了一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.建立数字微流控芯片的灾难性故障测试模型；S2.得到初步测试路径并设置最大最小蚁群算法的初始信息素上下界和信息素初始值；S3. 搜索最终测试路径并输出结果。这种测试方法不但能改善单一蚁群算法收敛性差的问题，而且提高测试算法的执行效率，并且能快速求得测试路径，这种测试方法能够检测出相邻电极短路故障，且兼容规则与非规则阵列芯片的测试，更有利于应用于大规模芯片的测试。

关键词：测试测试路径微流控芯片灾难性故障最大最小蚁群算法初始信息素大规模芯片测试模型测试算法短路故障规则阵列融合算法输出结果相邻电极蚁群算法上下界收敛性信息素蚁群与非兼容搜索芯片遗传检测应用

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一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法

一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法

引用

作者：汪杰君刘江宽许川佩胡聪叶松 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号

本发明公开了一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.建立数字微流控芯片的灾难性故障测试模型；S2.得到初步测试路径并设置最大最小蚁群算法的初始信息素上下界和信息素初始值；... 详细信息

标准号: CN106650074B

本发明公开了一种基于遗传蚁群融合算法的数字微流控芯片灾难性故障测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.建立数字微流控芯片的灾难性故障测试模型；S2.得到初步测试路径并设置最大最小蚁群算法的初始信息素上下界和信息素初始值；S3.搜索最终测试路径并输出结果。这种测试方法不但能改善单一蚁群算法收敛性差的问题，而且提高测试算法的执行效率，并且能快速求得测试路径，这种测试方法能够检测出相邻电极短路故障，且兼容规则与非规则阵列芯片的测试，更有利于应用于大规模芯片的测试。

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测试深度学习算法的方法、装置、存储介质和电子设备

测试深度学习算法的方法、装置、存储介质和电子设备

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作者：刁化尧刘书明 100084 北京市海淀区上地信息路26号01层0112室

本发明涉及一种测试深度学习算法的方法、装置、存储介质和电子设备，包括：获取待测试深度学习算法和对应的测试数据集；构建各候选测试算法对应的候选测试参数初始值序列并赋值，依据赋值的候选测试算法运行待测试深度学习算法和对应... 详细信息

标准号: CN117875357A

本发明涉及一种测试深度学习算法的方法、装置、存储介质和电子设备，包括：获取待测试深度学习算法和对应的测试数据集；构建各候选测试算法对应的候选测试参数初始值序列并赋值，依据赋值的候选测试算法运行待测试深度学习算法和对应的测试数据集，得到测试结果；获取每一测试结果的适应度值，选取适应度值大于适应度阈值的种子测试算法；基于种子测试算法进行变异及遗传，并赋值至对应的候选测试算法，基于进行变异及遗传的种子测试算法，执行依据赋值的候选测试算法运行的步骤，直至测试结果满足预先设置的选取条件；选取排序前n位的适应度值对应的种子测试算法及对应的测试参数值，分别对深度学习算法进行测试。可以提升测试效率。

关键词：测试算法学习算法适应度测试测试数据集遗传测试参数测试效率存储介质电子设备预先设置构建排序

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一种基于SM9算法的等式测试方法

一种基于SM9算法的等式测试方法

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作者：林烨熊虎曹潆方姜毅刘韬 610000 四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道北段1480号高新孵化园6号楼110室

本发明涉及密码算法技术领域，公开了一种基于SM9算法的等式测试方法，包括：使用系统初始化算法初始化授权系统，输入安全参数，密钥生成中心运行系统初始化算法并生成系统公开参数、系统主密钥和消息空间；在私钥提取算法中输入系统... 详细信息

标准号: CN115442102A

本发明涉及密码算法技术领域，公开了一种基于SM9算法的等式测试方法，包括：使用系统初始化算法初始化授权系统，输入安全参数，密钥生成中心运行系统初始化算法并生成系统公开参数、系统主密钥和消息空间；在私钥提取算法中输入系统公开参数、用户id和系统主密钥，密钥生成中心运行私钥提取算法生成用户身份所对应的私钥；在陷门生成算法中输入用户id，用户运行陷门生成算法生成陷门；在加密算法中输入明文、用户id和用户私钥，输出密文；在密文解密算法中输入密文消息、用户id和用户私钥，解密输出明文消息；在等式测试算法中分别输入两位不同用户的陷门以及分别使用两位用户公钥加密的密文，云服务器执行等式测试算法输出判等结果。

关键词：算法密钥生成中心系统主密钥测试算法公开参数私钥提取算法生成用户私钥初始化密文输出陷门算法初始化安全参数加密算法密码算法密文解密密文消息明文消息生成系统使用系统授权系统输入系统输入用户消息空间用户公钥用户身份云服务器运行系统解密明文私钥加密测试

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驾驶辅助算法测试方法、装置、电子装置和存储介质

驾驶辅助算法测试方法、装置、电子装置和存储介质

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作者：周克林韩东曾吴广梁晓剑魏轲 314500 浙江省嘉兴市桐乡市乌镇镇兴发路420号6幢一层

本申请涉及一种驾驶辅助算法测试方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该驾驶辅助算法测试方法包括：获取第一传感器数据和第二传感器数据，第一传感器数据至少包括图像数据和毫米波雷达数据，第二传感器数据至少包括激光雷达数据；... 详细信息

标准号: CN113268411A

本申请涉及一种驾驶辅助算法测试方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该驾驶辅助算法测试方法包括：获取第一传感器数据和第二传感器数据，第一传感器数据至少包括图像数据和毫米波雷达数据，第二传感器数据至少包括激光雷达数据；将第一传感器数据与第二传感器数据进行时间对齐，得到第一同步数据以及第二同步数据；基于驾驶辅助算法对第一同步数据进行处理，得到第一感知结果；基于测试算法对第二同步数据进行处理，得到第二感知结果；将第一感知结果与第二感知结果进行比对，获取第一测试结果。通过本申请，解决了智能驾驶辅助算法可靠性测试的准确率较低的问题，实现了对智能驾驶辅助算法的可靠性进行准确测试的技术效果。

关键词：感知结果同步数据第二传感器第一传感器驾驶辅助辅助算法算法测试智能驾驶激光雷达数据毫米波雷达可靠性测试测试算法存储介质电子装置技术效果时间对齐图像数据准确率比对算法申请测试

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一种基于SM9算法的等式测试方法

一种基于SM9算法的等式测试方法

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作者：林烨熊虎曹潆方姜毅刘韬 610000 四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道北段1480号高新孵化园6号楼110室

标准号: CN115442102B

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算法的测试方法、装置、电子设备及存储介质

算法的测试方法、装置、电子设备及存储介质

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作者：陈孝良艾文冯大航 100086 北京市海淀区北四环西路67号3层306室

一种算法的测试方法，应用于测试技术领域，包括：采用待测试算法对待识别语音信号进行语音信号处理，得到音频数据，采用预置的语音识别算法模型，对该音频数据进行语音识别，得到相应的语音识别准确率，根据预置的参数调整算法，更新... 详细信息

标准号: CN111968620B

一种算法的测试方法，应用于测试技术领域，包括：采用待测试算法对待识别语音信号进行语音信号处理，得到音频数据，采用预置的语音识别算法模型，对该音频数据进行语音识别，得到相应的语音识别准确率，根据预置的参数调整算法，更新该待测试算法的参数的取值，并再次执行该采用待测试算法对待识别语音信号进行语音信号处理的步骤，当遍历完待测试算法的所有参数的取值后，在所有得到的语音识别准确率中，选取使语音识别准确率最高的参数的取值为该待测试算法的参数的最优取值。本发明还公开了一种算法的测试装置、电子设备及存储介质，可适用不同算法，测试效率高。

关键词：测试算法语音识别准确率算法语音信号处理音频数据语音信号预置参数调整算法测试技术领域语音识别算法测试效率测试装置存储介质电子设备遍历测试更新应用

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算法自动测试方法、装置、计算机系统及可读存储介质

算法自动测试方法、装置、计算机系统及可读存储介质

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作者：刘璐臧磊单以磊匡原彭涛 518052 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室

本发明公开了算法自动测试方法、装置、计算机系统及可读存储介质，基于测试技术领域，包括：将从生产服务器中获取的生产数据储存至数据服务器并将其转为测试数据，在测试服务器中部署测试算法，并储存关联有测试需求的测试逻辑数据包... 详细信息

标准号: CN111258913A

本发明公开了算法自动测试方法、装置、计算机系统及可读存储介质，基于测试技术领域，包括：将从生产服务器中获取的生产数据储存至数据服务器并将其转为测试数据，在测试服务器中部署测试算法，并储存关联有测试需求的测试逻辑数据包；接收用户端输出的目标信息，根据目标信息在测试服务器中确定目标测试算法以及从数据服务器中提取目标测试数据，根据测试需求在测试服务器中确定目标测试逻辑；将目标测试逻辑和目标测试数据汇总打包形成测试脚本，控制目标测试算法运行测试脚本以获得测试结果，调用回调接口生成回调信号并将其与测试结果输出至用户端。本发明实现了自动对算法进行测试的效果，避免了当前测试的工作效率低、随意性大的问题。

关键词：目标测试测试服务器算法数据服务器测试算法测试需求目标信息测试技术领域可读存储介质生产数据储存测试生产服务器输出测试脚本测试逻辑测试数据工作效率回调接口接收用户控制目标数据汇总运行测试自动测试数据包用户端脚本计算机系统回调打包调用储存关联部署

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基于40nm超大规模SoC芯片存储器测试电路设计与实现

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电子器件 2017年第4期40卷 813-818页

作者：陈冬明成建兵蔡志匡南京邮电大学电子科学与工程学院南京210046

针对超大规模SoC(System on Chip)芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对电路性能的影响、以及测试成本的增加等。针对上述问题,存储器测试电路设计中,综合考虑PPA(Power Perfor... 详细信息

针对超大规模SoC(System on Chip)芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故障模型和新算法的需求、对电路性能的影响、以及测试成本的增加等。针对上述问题,存储器测试电路设计中,综合考虑PPA(Power Performance Area)等多个设计因素优化测试电路,包括BIST(Build-in-Self Test)电路布局、数量、时序、存储器布图规划等。最后在一款40 nm量产SoC芯片上,应用Mentor Graphics公司LV(Logic Vision)流程实现了测试电路设计,实验结果证明本方案的可行性和有效性。

关键词：可测性设计存储器测试内建自测试故障模型测试算法

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