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语言

  • 64 篇 中文
检索条件"主题词=测试结果记录"
64 条 记 录,以下是41-50 订阅
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半导体芯片测试探针卡及测试系统和测试方法
半导体芯片测试探针卡及测试系统和测试方法
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作者: 孙黎瑾 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
本发明公开了一种半导体芯片测试探针卡,该探针卡上制造有同一晶圆上所有类型芯片电学测试所需要的探针。本发明还公开了一种利用上述探针卡的半导体芯片测试系统,通过探针卡连接测试被测芯片,将测试结果记录为不同种类的失效信息,... 详细信息
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基于行为驱动脚本的车载控制器软件测试系统及方法
基于行为驱动脚本的车载控制器软件测试系统及方法
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作者: 繆炜恺 蒲戈光 常鸣 陈硕豪 200070 上海市静安区天目中路428号凯旋门大厦27层C/D室
本发明涉及一种基于行为驱动脚本的车载控制器软件测试系统及方法,包括:行为驱动脚本解析模块M1,用于对基于行为驱动的测试脚本进行解析,生成能够被测试系统所识别的机器指令输入;测试执行模块M2,用于以行为驱动脚本解析模块M1产... 详细信息
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自动化测试项目执行方法
自动化测试项目执行方法
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作者: 董罡 王伟平 王玉娟 徐成坡 100088 北京市西城区新街口外大街28号C座5层510号
本发明公开了一种自动化测试项目执行方法,包括:1.将消息中间件服务器IP、消息队列名称、队列类型与指定队列建立连接,启动执行自动化测试项目;2.将自动化测试任务发送到消息队列,生成一条异步任务,并将task_id发送到消息队列中... 详细信息
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一种基于机型模拟的功能测试方法、装置、设备及介质
一种基于机型模拟的功能测试方法、装置、设备及介质
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作者: 刘世伦 250101 山东省济南市自由贸易试验区济南片区浪潮路1036号浪潮科技园S05楼S311室
本申请公开了一种基于机型模拟的功能测试方法、装置、设备及介质,涉及计算机测试领域,该方法包括:从预设全局配置变量文件中确定目标测试功能的目标代理开关信息;若目标代理开关信息为表征目标测试功能的测试开关为开启状态的信息... 详细信息
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闪存的优化装置、优化方法及设备
闪存的优化装置、优化方法及设备
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作者: 苏志强 李建新 刘璐 100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层
本发明实施例公开了一种闪存的优化装置、优化方法及设备。所述优化装置包括:环境信息获取模块,用于获取并记录至少一种使用环境中的使用环境信息;测试结果记录模块,用于在每种使用环境下基于所述使用环境信息对闪存进行测试,并记... 详细信息
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一种复杂可编程逻辑器件CPLD测试方法和装置
一种复杂可编程逻辑器件CPLD测试方法和装置
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作者: 李俊 310052 浙江省杭州市滨江区长河路466号
本发明公开了一种CPLD测试方法,用于包括测试终端和交换机的系统中,测试终端和交换机通过电缆连接,且CPLD位于交换机上,包括:测试终端向交换机发送测试命令,用于指示交换机对CPLD进行测试;若测试终端在预设的周期内接收到交换机... 详细信息
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一种路由器DHCP功能的自动化测试方法及装置
一种路由器DHCP功能的自动化测试方法及装置
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作者: 朱渊 201616 上海市松江区思贤路3666号
本发明公开了一种路由器DHCP功能的自动化测试方法,包括:步骤S010创建并打开测试结果记录文件;步骤S100登录路由器的上网设置页面,将路由器配置为DHCP模式并保存;步骤S200测试DHCP功能测试项,当测试成功时,执行下一步骤,否则,... 详细信息
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电路板测试系统
电路板测试系统
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作者: 张倍铭 中国台湾台北市
本发明提供一种电路板测试系统,包括一电脑主机以及电性连接至该电脑主机的一电表。电脑主机内设置一测试程序且该测试程序于该电脑主机的一屏幕显示一测试接口。当使用者于该测试接口输入一电路板的电路板编号时,该测试程序于该测试... 详细信息
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一种减小石英wafer腐蚀散差的滴定方法
一种减小石英wafer腐蚀散差的滴定方法
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作者: 万杨 吴丰顺 栾兴贺 张小伟 杨飞 黄大勇 441300 湖北省随州市曾都经济开发区
一种减小石英wafer腐蚀散差的滴定方法,包括:双面镀膜、涂胶、双面曝光、显影、金属蚀刻、外形腐蚀、去胶、去金属、凹槽镀膜、涂胶、凹槽曝光、凹槽显影、凹槽蚀刻、凹槽去胶、第一次凹槽腐蚀、使用频率监测仪器将第一次凹槽腐蚀得到... 详细信息
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用于测试安卓应用稳定性的方法和装置
用于测试安卓应用稳定性的方法和装置
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作者: 张立保 李彦成 彭云鹏 100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦三层
本申请公开了用于测试安卓应用稳定性的方法和装置。所述方法的一具体实施方式包括:获取待测试应用的应用信息、测试结果记录位置信息、测试类型信息,其中,测试类型包括先随机位置点击测试后确定位置点击测试的第一测试类型和先随机... 详细信息
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