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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 仪器科学与技术

主题

  • 1 篇 测试资源优化
  • 1 篇 芯片系统
  • 1 篇 测试资源划分
  • 1 篇 可测试性设计

机构

  • 1 篇 中国科学院研究生...
  • 1 篇 中国科学院计算技...

作者

  • 1 篇 胡瑜
  • 1 篇 韩银和
  • 1 篇 李晓维
  • 1 篇 han yinhe
  • 1 篇 li xiaowei
  • 1 篇 hu yu

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=测试资源划分"
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排序:
SOC可测试性设计与测试技术
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计算机研究与发展 2005年 第1期42卷 153-162页
作者: 胡瑜 韩银和 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 中国科学院研究生院北京 100039
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性... 详细信息
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