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文字说明：

T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

19 篇 专利

馆藏范围

19 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 重庆京东方光电科...
4 篇 京东方科技集团股...
2 篇 深圳力钛科技术有...
2 篇 浪潮软件集团有限...
2 篇 南京邮电大学
2 篇 重庆长安汽车股份...
2 篇 成都市硅海武林科...
1 篇 佛吉亚歌乐电子有...
1 篇 哈尔滨冰雪大世界...
1 篇 深圳市靖洲科技有...
1 篇 郑州云海信息技术...
1 篇 芯河半导体科技有...

作者

4 篇 陈帅
2 篇 尹自强
2 篇 张元波
2 篇 王子轩
2 篇 王佐
2 篇 汪向阳
2 篇 赵敬鹏
2 篇 周国鹏
2 篇 王运波
2 篇 胡双
2 篇 张鹏
2 篇 郭宇锋
2 篇 徐彬彬
2 篇 郑才忠
2 篇 梁雪波
2 篇 陈宏
2 篇 刘祥
2 篇 田振国
2 篇 何文
2 篇 唐秀珠

语言

19 篇 中文

检索条件"主题词=测试输出模块"

共 19 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

一种反熔丝FPGA高速测试电路

一种反熔丝FPGA高速测试电路

引用

作者：王佐尹自强 610000 四川省成都市郫都区德源镇(菁蓉镇)创客公园12栋

本发明公开了一种反熔丝FPGA高速测试电路，涉及集成电路领域，包括测试采集模块和测试输出模块。所述测试采集模块分布于反熔丝FPGA片上的布线资源内，包括开漏输出NMOS管和开关MOS模块，可通过开关MOS模块对逻辑模块和/或IO模块的输... 详细信息

标准号: CN116718901A

本发明公开了一种反熔丝FPGA高速测试电路，涉及集成电路领域，包括测试采集模块和测试输出模块。所述测试采集模块分布于反熔丝FPGA片上的布线资源内，包括开漏输出NMOS管和开关MOS模块，可通过开关MOS模块对逻辑模块和/或IO模块的输出进行单个或批量的采集测试。所述测试输出模块包括交叉互耦的倒相PMOS管单元和下拉电阻单元，将测试采集模块输出的低电平“0”和高阻态转换成正常的高低逻辑电平。本发明可实现对芯片内部任意逻辑模块和/或IO模块输出的单个或批量测试，方便用户调试设计。并且用户调试完成后，可通过编程特定反熔丝，使得测试电路失效、内部节点不能被读取，保证了设计的安全性。

关键词：采集模块反熔丝测试输出测试输出模块逻辑模块调试读取高低逻辑电平高速测试电路集成电路领域布线资源测试电路内部节点批量测试下拉电阻低电平高阻态互耦编程芯片采集转换保证

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一种可控的Chiplet串行测试电路

一种可控的Chiplet串行测试电路

引用

作者：蔡志匡王运波宋健周国鹏姚佳飞徐彬彬王恒鹭王子轩郭宇锋 210046 江苏省南京市栖霞区文苑路9号

本发明公开一种可控的Chiplet串行测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该测试电路包括主控测试模块、从控测试模块、时钟控制模块、输出模块，主控测试模块由测试访问端口模块、段插入位模块、测试数... 详细信息

标准号: CN114578217B

本发明公开一种可控的Chiplet串行测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该测试电路包括主控测试模块、从控测试模块、时钟控制模块、输出模块，主控测试模块由测试访问端口模块、段插入位模块、测试数据寄存器模块组成，通过主控测试模块生成测试控制信号，从控测试模块接收到测试控制信号后分别控制从控芯粒的测试输入信号。同时，测试控制信号输入至时钟控制模块，得到从控芯粒的时钟信号。测试输出模块的输出信号由测试控制信号确定。该测试电路利用外部测试端口直接控制多芯粒集成电路的内部测试信号，实现对芯粒测试选择以及最终测试输出，保证各芯粒测试的有效性及独立性。

关键词：测试模块芯粒测试控制信号主控测试时钟控制模块测试电路测试数据寄存器测试访问端口测试输出模块测试输入信号内部测试信号半导体器件测试端口串行测试控制信号模块组成生成测试时钟信号输出模块输出信号多芯粒可控的集成电路独立性电路测量输出外部制造保证

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一种python自动化测试系列产品的框架系统

一种python自动化测试系列产品的框架系统

引用

作者：武斌 214135 江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园E1-301

本发明公开了一种python自动化测试系列产品的框架系统，包括：测试数据源模块A；测试数据源模块B；测试数据源模块C；测试用例脚本模块，使用客户端，测试者输入所测试的产品型号和测试接口；测试控制模块，用于读取各个数据配置源，... 详细信息

标准号: CN111723009A

本发明公开了一种python自动化测试系列产品的框架系统，包括：测试数据源模块A；测试数据源模块B；测试数据源模块C；测试用例脚本模块，使用客户端，测试者输入所测试的产品型号和测试接口；测试控制模块，用于读取各个数据配置源，设置产品参数，环境参数；测试执行模块，用于执行产品选择的测试用例集；测试结果验证模块搭建；测试输出模块，执行模块后，将测试环境端实际获取的输出值跟理论结果对比，将测试结果按照一定的格式，输出到excel测试结果表格。本发明通过配置统一的数据源，配置测试环境参数，选择测试用例，选择测试对应参数表，进行自动化的测试系统；实现统一系列不同型号产品的统一测试。

关键词：测试数据源选择测试测试读取测试环境参数测试控制模块测试输出模块测试用例脚本测试执行模块测试用例集自动化测试输出测试环境测试接口测试系统产品参数产品选择环境参数框架系统理论结果数据配置验证模块参数表客户端数据源统一配置自动化

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一种移位寄存单元、移位寄存器、显示装置和检测方法

一种移位寄存单元、移位寄存器、显示装置和检测方法

引用

作者：田振国陈帅胡双梁雪波陈宏唐秀珠吴海龙 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

本发明提供一种移位寄存单元，所述移位寄存单元包括移位寄存单元主体和扫描信号输出端，所述移位寄存单元还包括测试输出模块，所述测试输出模块包括第一测试输入端、测试控制端、第二测试输入端和测试信号输出端，所述第一测试输入端... 详细信息

标准号: CN109859714B

本发明提供一种移位寄存单元，所述移位寄存单元包括移位寄存单元主体和扫描信号输出端，所述移位寄存单元还包括测试输出模块，所述测试输出模块包括第一测试输入端、测试控制端、第二测试输入端和测试信号输出端，所述第一测试输入端与所述扫描信号输出端电连接，所述测试输出模块的第一测试输入端和所述测试输出模块的测试信号输出端能够在所述测试控制端接收到有效的测试控制信号、以及所述第二测试输入端接收到有效的时序信号时导通。本发明的移位寄存单元能够通过测试信号输出端输出由扫描信号输出端输出的扫描信号，避免了去除封胶时导致显示面板破坏的风险，同时提高了故障检测的效率。

关键词：移位寄存单元测试输入端测试输出模块测试信号输出端扫描信号输出端测试控制测试控制信号输出故障检测扫描信号时序信号显示面板电连接导通封胶去除

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一种车载网关的安全检测系统及检测方法

一种车载网关的安全检测系统及检测方法

引用

作者：曾涛何文汪向阳张鹏 400020 重庆市江北区建新东路260号

本发明公开了一种车载网关的安全检测系统及检测方法，该系统包括登录管理模块、信息录入模块、调试接口模块、测试用例模块、测试模块和测试输出模块；登录管理模块用于输入登录账号；信息录入模块用于输入网关的信息；调试接口模块包... 详细信息

标准号: CN114915484B

本发明公开了一种车载网关的安全检测系统及检测方法，该系统包括登录管理模块、信息录入模块、调试接口模块、测试用例模块、测试模块和测试输出模块；登录管理模块用于输入登录账号；信息录入模块用于输入网关的信息；调试接口模块包括多个调试接口，不同的调试接口用于与不同的网关进行连接；测试用例模块用于设置测试用例明细；测试模块用于根据测试用例明细对网关进行测试；测试输出模块用于收集测试模块对网关进行测试的所有结果，并根据收集到的测试结果生产并输出检测报告。本发明能够完成对网关的安全测试，通过对网关的安全测试，可以及时的发现网关的安全问题以及时解决，从而提高车载网关使用的安全性，进而提高汽车安全性能。

关键词：网关测试模块测试测试输出模块测试用例模块登录管理模块调试接口模块信息录入模块安全测试车载网关调试接口安全检测系统汽车安全性能安全问题登录账号输出检测检测发现生产

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用于半导体器件老化测试的环境控制调节系统

用于半导体器件老化测试的环境控制调节系统

引用

作者：陈海峰郑才忠王跃伟 518000 广东省深圳市南山区西丽街道新围社区新围村石岭工业区9栋703

本发明涉及半导体测试技术领域，尤其涉及用于半导体器件老化测试的环境控制调节系统；包括：数据采集模块、服务器、环境调控模块和测试输出模块；通过分析测试参数与标准参数以得到停留阶段的停留时长，并在停留阶段稳定时进行性能参... 详细信息

标准号: CN117250465A

本发明涉及半导体测试技术领域，尤其涉及用于半导体器件老化测试的环境控制调节系统；包括：数据采集模块、服务器、环境调控模块和测试输出模块；通过分析测试参数与标准参数以得到停留阶段的停留时长，并在停留阶段稳定时进行性能参数的采集，依据性能输出测试结果和测试报告，实现在最大限度减少对半导体器件损害的条件下对半导体器件老化测试环境的精确控制和监测，以便得到可靠的测试结果并评估器件的性能是否符合技术要求。

关键词：半导体器件老化测试测试输出模块环境调控模块输出测试结果数据采集模块最大限度减少半导体测试停留标准参数测试报告调节系统分析测试环境控制技术要求评估器件停留时长性能参数服务器采集监测损害

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一种通用大数据平台稳定性测试系统及方法

一种通用大数据平台稳定性测试系统及方法

引用

作者：刘祥张雪莲孟建 250100 山东省济南市高新区科航路2877号

本发明涉及数据平台测试领域，具体提供了一种通用大数据平台稳定性测试系统及方法。与现有技术相比，本发明的通用大数据平台稳定性测试系统，由场景管理模块、场景编排模块、测试输出模块和问题跟踪模块组成，所述场景管理模块与场景... 详细信息

标准号: CN110990290B

本发明涉及数据平台测试领域，具体提供了一种通用大数据平台稳定性测试系统及方法。与现有技术相比，本发明的通用大数据平台稳定性测试系统，由场景管理模块、场景编排模块、测试输出模块和问题跟踪模块组成，所述场景管理模块与场景编排模块、测试输出模块和问题跟踪模块依次连接；所述场景管理模块包含硬件层、操作系统层和/或应用层的异常脚本；所述场景编排模块用于保证平台服务不中断的前提下，来模拟不同组件不同场景的异常；所述测试输出模块用于测试结果进行输出；所述问题跟踪模块用于测试结果异常时，跟踪定位记录是哪种异常场景组合导致本次异常。快速构建测试场景，构建的测试场景整体、全面，便于发现日常测试中难以发现的隐藏问题，具有良好的推广价值。