检索结果-内蒙古大学图书馆

电子测量与仪器学报 2021年第11期35卷 54-60页

作者：詹文法彭登辉邵志伟安庆师范大学计算机与信息学院安庆246133

目前在集成电路测试中,测试时间长、测试效率低是影响测试成本的关键问题之一,针对此问题提出了一种基于测试性能估算的测试集重排序方法。首先针对不同的故障类型进行分类建模,然后对每种故障类型进行仿真,通过在每个逻辑门注入故障,... 详细信息

目前在集成电路测试中,测试时间长、测试效率低是影响测试成本的关键问题之一,针对此问题提出了一种基于测试性能估算的测试集重排序方法。首先针对不同的故障类型进行分类建模,然后对每种故障类型进行仿真,通过在每个逻辑门注入故障,统计测试向量命中故障门的面积之和来估算测试向量的测试性能,最后根据测试性能的优劣对测试集进行重新排序。实验表明,对于单固定故障使用排序后的测试集测试可以减少53.29%的故障检测时间。该方法是通过对电路的逻辑结构进行分析和统计然后对测试集进行优化,对ISCAS 89标准电路进行试验,与其他测试集重排序对比,有着明显的优化。算法运行完全是基于软件的,不需要增加任何硬件开销,可以直接相容于传统的集成电路测试流程。

关键词：故障模型测试性能泊松分布测试集重排序

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基于测试性能估算的测试集重排序方法

基于测试性能估算的测试集重排序方法

引用

作者：彭登辉安庆师范大学

学位级别：硕士

从20世纪50年代左右开始,集成电路出现并蓬勃的发展,随着科技的发展集成电路制造工艺也越来越精湛,集成电路的内部结构也越来越复杂。更先进的设计和工艺让芯片有着更强的计算能力的同时也给测试带来了新的挑战,大量的测试数据带来了更... 详细信息

从20世纪50年代左右开始,集成电路出现并蓬勃的发展,随着科技的发展集成电路制造工艺也越来越精湛,集成电路的内部结构也越来越复杂。更先进的设计和工艺让芯片有着更强的计算能力的同时也给测试带来了新的挑战,大量的测试数据带来了更长的测试时间和更高昂的测试成本,于是提出了测试集的重排序测试方法。重排序的目的是将高价值的测试向量优先测试,在保证故障覆盖率的同时缩短了测试时间。论文的研究内容围绕测试集重排序课题展开,针对测试时间长的问题,提出了一种基于性能估算的测试向量重排序方法,引入性能作为测试向量排序的标准,提出性能是测试向量命中故障门的面积。首先根据电路故障的分布规律建立了关于门面积和故障概率的泊松分布模型,然后对集成电路进行故障仿真,再将故障注入每一个逻辑门,并将测试生成算法得到的测试向量依次输入。利用失败即停止方法,统计每条测试向量命中故障门的次数和门类型,使测试向量和集成电路的面积建立映射关系,然后利用测试向量命中故障门的面积进行估算性能,把性能作为测试向量的一种属性并进行重排序,对于不同的测试向量,测试的故障点和测试的故障类型以及测试性能都相同,那么在重排序过程中会进行合并处理,从而缩小排序后的测试集。以ISCAS 89标准电路进行实验,从缩短故障检测时间的角度进行分析,论文缩短故障检测时间为50.85%,对比分级动态调整测试方法和裸片级自适应测试方法,实验结果表明本论文方法结果更优。论文提出的方法有效缩短故障芯片的测试时间,创新之处是将测试向量与集成电路的面积建立了映射关系,通过计算测试向量对应的集成电路的面积大小来确定测试向量的质量高低。论文算法运行完全是基于软件的,不需要增加任何硬件开销,可以直接相容于传统的集成电路测试流程。

关键词：故障模型测试性能泊松分布测试集重排序

来源：评论

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一种集成电路有效测试模式的重排序和重选方法

一种集成电路有效测试模式的重排序和重选方法

引用

作者：张鲁萍安庆师范大学

学位级别：硕士

随着集成电路工艺水平的飞速发展,集成电路测试技术也随之快速发展,芯片的制造规模越来越大,电子元器件的密集程度和电路复杂性也不断提高,单个芯片上晶体管的集成数量呈指数增长。但先进的制造线程也带来了新的问题,电路内部结构复杂... 详细信息

随着集成电路工艺水平的飞速发展,集成电路测试技术也随之快速发展,芯片的制造规模越来越大,电子元器件的密集程度和电路复杂性也不断提高,单个芯片上晶体管的集成数量呈指数增长。但先进的制造线程也带来了新的问题,电路内部结构复杂度的不断增加,故障类型和故障发生的可能性也随之增大,直接导致了自动化测试设备在性能和技术方面无法满足芯片测试的实际需求。在对故障数据进行采集时,测试人员通过收集对缺陷诊断有用的信息用于对测试的预测,因此,如果能够尽早终止对失败数据的收集,则可以有效减少测试时间且不影响诊断质量。而改变测试模式的最终目标是利用最优测试集来发现测试过程中可能会出现故障的每个部件,以降低测试所需的成本开支。其一,针对目前集成电路的特征尺寸不断缩小导致电路设计越加复杂,引起测试复杂度不断增加和测试效率低下的问题,提出一种基于有效关键面积的测试向量动态调整方法。利用晶体管特征尺寸与电路单元的占比来度量测试向量的测试质量,这个方法考虑到电路复杂性问题,从测试全局综合计算每条测试向量的测试特征值,将测试向量按照测试质量由高到低排序,同时,在测试过程中根据测试向量的特征值的大小动态调整测试向量的顺序,可以显著减少故障集成电路的测试时间。对ISCAS 89和ITC 99电路实验表明,进行重排序后的测试流程分别缩短了37.98%、36.15%的测试时间,提升了测试效率,优化了测试成本。其二,为了对测试集进行进一步的优化,针对目前集成电路测试复杂度的不断增加,导致测试成本不断攀升的问题,提出一种可靠而有效的测试集优化方法。首先,通过k均值(K-means)聚类对原始测试集中的特征进行聚类筛选,其次,采用改进的mRMR算法,分段式引入特征之间的冗余性权重因子,用以权衡特征相关性和冗余性的度量。同时,插入了SVM交叉验证,强化了测试模式选择的准确性。在保证故障覆盖率基本不变的情况下,达到减少原始测试集维数的目的。对ISCAS 89电路实验表明,本研究方法将原始测试集的测试模式进行大量的精简,既保证测试质量,也极大地优化了测试集,提高测试效率,且将测试时间缩短了40.43%,更进一步地优化了测试成本。

关键词：测试特征值测试集重排序改进的mRMR算法优化测试集 SVM交叉验证

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