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作者

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  • 229 篇 中文
检索条件"主题词=测量系统结构"
229 条 记 录,以下是1-10 订阅
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一种以标准球为反射装置的激光跟踪测量系统结构误差补偿方法
一种以标准球为反射装置的激光跟踪测量系统结构误差补偿方法
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作者: 石照耀 宋辉旭 陈洪芳 孙衍强 100124 北京市朝阳区平乐园100号
本发明公开了一种以标准球为反射装置的激光跟踪测量系统结构误差补偿方法,该方法定量地分析了以标准球为反射装置的激光跟踪测量系统内部结构误差对激光测量结果的影响。在测量工作开始之前,首先要对测量系统的各项结构误差进行测量... 详细信息
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一种激光跟踪测量系统结构误差补偿方法
一种激光跟踪测量系统结构误差补偿方法
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作者: 石照耀 宋辉旭 陈洪芳 孙衍强 100124 北京市朝阳区平乐园100号
本发明公开了一种以标准球为反射装置的激光跟踪测量系统结构误差补偿方法,该方法定量地分析了以标准球为反射装置的激光跟踪测量系统内部结构误差对激光测量结果的影响。在测量工作开始之前,首先要对测量系统的各项结构误差进行测量... 详细信息
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光伏元件评估方法、测量系统结构和使用测量系统结构的过程
光伏元件评估方法、测量系统结构和使用测量系统结构的过程
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作者: C.莫诺克劳索斯 D.埃蒂恩内 200072 上海市闸北区广中西路777弄177莱茵技术大厦
提供一种光伏元件(1)评估方法、用于执行可替换光伏元件(1)的电流‑电压特性的时间控制测量测量系统结构(8)和使用测量系统结构(8)的评估过程。所述方法包括:布置在用于至少测量电流‑电压特性的电流和/或电压的测量电路中的光伏元件(1... 详细信息
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光伏元件评估方法、测量系统结构和使用测量系统结构的过程
光伏元件评估方法、测量系统结构和使用测量系统结构的过程
收藏 引用
作者: C.莫诺克劳索斯 D.埃蒂恩内 200072 上海市闸北区广中西路777弄177莱茵技术大厦
提供一种光伏元件(1)评估方法、用于执行可替换光伏元件(1)的电流-电压特性的时间控制测量测量系统结构(8)和使用测量系统结构(8)的评估过程。所述方法包括:布置在用于至少测量电流-电压特性的电流和/或电压的测量电路中的光伏元件(1... 详细信息
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超材料周期结构单元幅相特性测量系统及方法
超材料周期结构单元幅相特性测量系统及方法
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作者: 张雨 钟文旭 张军英 刘霞 王威 田平 崔剑 林帅 250031 山东省济南市天桥区田家庄东路3号
本发明属于微波测量领域,涉及超材料周期结构单元幅相特性测量系统及方法。测量系统包括测量夹具、外部场源、待测周期结构单元和矢量网络分析仪,矢量网络分析仪与测量夹具电性连接,待测周期结构单元置于测量夹具内部,外部场源置于... 详细信息
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一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统测量方法
一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统及测量方法
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作者: 周雷 孙建 夏鹏 215400 江苏省苏州市太仓市娄东街道江南路89号
本申请涉及一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统,包括:工作台,包括顶板、底板以及支撑杆,顶板顶部开设有水平凹槽和竖直凹槽,竖直凹槽垂直于水平凹槽;固定杆,固定于水平凹槽底部;测量杆,穿设于竖直凹槽内;连杆,底部与固... 详细信息
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一种管道内液体的静电荷密度的动态测量系统和方法
一种管道内液体的静电荷密度的动态测量系统和方法
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作者: 王良旺 梁栋 蒋漳河 黄国健 郑培奖 510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
本发明公开了一种管道内液体的静电荷密度的动态测量系统,包括:去电荷模块、测试管道、微电流计和流量计,测试管道设置在去电荷模块的后端,流量计设置在测试管道的后端,测试过程中液体流经去电荷模块后使得流入测试管道的液体中的... 详细信息
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一种激光测距系统
一种激光测距系统
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作者: 孙彩明 卢庆杰 张爱东 518000 广东省深圳市龙岗区龙翔大道2001号
本申请实施例公开了一种激光测距系统,用于对一定区域内不同位置进行测距,包括:激光器,用于发射波长周期性变化的初始光束;分束器,用于将初始光束分为测量光束和参考光束;分光装置,用于将测量光束中不同波长的光束进行拆分,以... 详细信息
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一种激光测距系统
一种激光测距系统
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作者: 孙彩明 卢庆杰 张爱东 518000 广东省深圳市龙岗区龙翔大道2001号
本申请实施例公开了一种激光测距系统,用于对一定区域内不同位置进行测距,包括:激光器,用于发射波长周期性变化的初始光束;分束器,用于将初始光束分为测量光束和参考光束;分光装置,用于将测量光束中不同波长的光束进行拆分,以... 详细信息
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超材料调控元件微波阻抗测量系统及方法
超材料调控元件微波阻抗测量系统及方法
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作者: 张雨 钟文旭 田平 邱桂花 张军英 刘霞 王威 刘新 郭国建 胡倩倩 黄辉 250031 山东省济南市天桥区田家庄东路3号
本发明属于微波测量技术领域,涉及超材料调控元件微波阻抗测量系统及方法。测量系统包括测量夹具、外部场源、待测调控元件和矢量网络分析仪,待测调控元件为对外部场源感应的材料或者元器件,矢量网络分析仪与测量夹具电性连接,待测... 详细信息
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