检索结果-内蒙古大学图书馆

电工技术学报 2008年第10期23卷 95-99页

作者：朱彦卿何怡刚湖南大学电气与信息工程学院长沙410082

针对混合信号电路内建自测试(BIST)结构中信号发生器的设计问题,本文提出了一种基于码密度直方图法测量模-数转换器性能的片上模拟三角波信号发生器的实现方法.该信号发生器由两个恒流源、电容和反馈控制电路组成,其中恒流源采用自偏压... 详细信息

针对混合信号电路内建自测试(BIST)结构中信号发生器的设计问题,本文提出了一种基于码密度直方图法测量模-数转换器性能的片上模拟三角波信号发生器的实现方法.该信号发生器由两个恒流源、电容和反馈控制电路组成,其中恒流源采用自偏压的Widlar电流源实现.实验结果表明,该信号发生器所生成的三角波信号不仅斜波部分具有良好的性线,而且其频率和幅值均可调.另外,该信号发生器结构精简,硬件开销小,易于片上集成.

关键词：内建自测试信号发生器码密度直方图混合信号测试

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混合信号测试潜在质量可测性研究

混合信号测试潜在质量可测性研究

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作者：陈鑫天津大学

学位级别：硕士

本文对摩托罗拉MA900797汽车气囊控制芯片的测试进行研究。该芯片作为汽车气囊电路系统的一部分,控制气囊弹射,具有内部自动检查功能,目前应用于TRW公司的汽车产品。它的使用提高了摩托罗拉在汽车芯片市场上的份额,也体现了摩托罗拉公... 详细信息

本文对摩托罗拉MA900797汽车气囊控制芯片的测试进行研究。该芯片作为汽车气囊电路系统的一部分,控制气囊弹射,具有内部自动检查功能,目前应用于TRW公司的汽车产品。它的使用提高了摩托罗拉在汽车芯片市场上的份额,也体现了摩托罗拉公司产品的优良性能和可靠质量。我本人的工作是负责对MA900797芯片进行全面测试,包括引脚开路短路,参数测试,系统测试,并在实际生产过程中,解决了热可靠性验证和硅片裂纹缺陷剔除问题。本文在介绍电路功能和热可靠性后,详细阐述硅片裂纹问题的解决过程。根据客户使用情况,发现MA900797芯片有硅片裂纹问题。这种裂纹存在于硅片表面,属于表面缺陷,是由于在生产中采用较薄硅片的结果。具有裂纹的芯片在高温工作下可能导致芯片局部过热而被烧毁。剔除裂片的目的是达到摩托罗拉公司对自己产品“零缺陷”的质量要求,彻底消除客户使用中的安全隐患。本文首先介绍了MA900797芯片的电路结构和功能,通过流体动力学软件验证了在现有的封装基础上的高温可靠性。在晶圆封装测试流程介绍中,分析了可能引起芯片裂纹的原因。其次通过热传导理论计算硅片质量与温度变化的关系,发现测量功率晶体管体二极管的正向导通电压差Δ(在常温和加热后的差值),可以反映芯片裂纹缺陷的存在。根据合格品/不合格品的实验结果确定了该测试项的接收界限。最后的解决方法是在MST(mixed-signal tester,混合信号测试仪)上,使用TPG(test program generator,测试程序生成器),通过增加高温工作前后和其差值Δ的测试项,实现了对裂片次品的剔除。VbeVbeVbe 本文在讨论问题的过程中,对热传导分析,半导体芯片封装测试,生产中使用的混合信号测试仪的结构,工作原理以及测试程序生成器的使用方法,编写新测试项的过程作了详细说明。

关键词：气囊控制芯片裂片热传导封装测试混合信号测试测试程序生成器

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对模拟/混合信号测试系统稳定性的一种评估方法

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集成电路应用 2005年第9期22卷 64-65页

作者：杨文

近年来出现了很多新的半导体产品,如可以用于无线通信、过程控制以及实时控制系统的所谓嵌入式半导体器件就是其中一种,它将模拟和数字电路结合到一个器件内,这种技术又称为混合信号技术。数字电路和模拟电路坐在同一块芯片上对产品的&q... 详细信息

近年来出现了很多新的半导体产品,如可以用于无线通信、过程控制以及实时控制系统的所谓嵌入式半导体器件就是其中一种,它将模拟和数字电路结合到一个器件内,这种技术又称为混合信号技术。数字电路和模拟电路坐在同一块芯片上对产品的"无缺陷"提出了挑战。对于数字部分,可以向电路施加一个给定的输入激励信号会得到一个离散且确定可知的响应信号。其测试稳定性可以通过SHMOO PLOT来找到最佳的窗口;而模拟信号则不同,给定输入产生的响应会在一个可接受范围内。这需要测试机能对模拟信号进行处理,得到所谓测试值,与给定的范围进行比较从而确定芯片的好坏。其测试稳定性的考虑就与数字测试有所不同。本文从一个实例得出一个评判混合信号测试模拟参数稳定性的通用方法。

关键词：模数转换重复性再现性工序能力混合信号测试系统稳定性模拟电路评估方法半导体产品半导体器件

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模数混合信号系统级芯片的测试与可测性设计研究

模数混合信号系统级芯片的测试与可测性设计研究

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作者：王玺湖南大学

学位级别：硕士

随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难以胜任,测试开销急遽增加。在模拟及混合信号电路领域,由于电路形式及处理信号的独特性,测试理论相对落后... 详细信息

随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难以胜任,测试开销急遽增加。在模拟及混合信号电路领域,由于电路形式及处理信号的独特性,测试理论相对落后,测试难度更大。尤其是当前,SOC系统设计和深亚微米工艺都带来了新的问题,测试正逐渐成为设计的瓶颈,研究人员今后要花更多的精力到如何降低测试成本上。基于以上考虑,本文从如何有效提高测试性能、减轻对自动测试设备(ATE)的依赖和要求以及系统级芯片的可测性这一角度来研究模数混合信号系统芯片的测试。首先,根据集成电路通用测试流程,对比分析了混合信号测试流程,在测试模拟、模型的建立、测试算法的生成等方面进行了初步的分析,并且讨论了数模混合信号系统的高层次建模问题,明确了混合信号系统进行高层次可测性综合是解决系统级芯片测试问题的发展方向。然后本文研究了可测性设计的方法,包括针对数字系统以及模数混合信号系统的边界扫描测试、扫描测试和内建自测试等,应用FPGA实现了内建自测试的测试向量发生器、被测内核和特征分析器,仿真结果表明了该方法的正确有效和快速性。接着以Sigma Delta A/D转换器为例,介绍了模数混合信号测试的方法和可测性设计,在分析了Sigma Delta调制器的各个参数噪声模型的基础上,提出了一个更为一般的噪声模型,仿真结果证明,提出的模型可以得到比原来模型更为精确的结果。之后分析了混合信号的BIST结构,所改进的基于Sigma Delta调制的信号发生器,不仅可以产生精确的模拟激励信号,而且可以并发产生数字的参考信号,节省了电路开销。最后还介绍了SOC测试核的研究和智能集成电路及PCB测试仪器的软硬件设计。总之,低测试代价和高故障覆盖率的混合信号芯片的可测性设计方法将是系统级芯片进一步发展的要求和保障。

关键词：系统级芯片混合信号测试可测性设计内建自测试 ΣΔ调制器

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AGILENT的混合信号测试解决方案

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半导体技术 2004年第1期29卷 49-50页

作者：杨广宇安捷伦科技

1 前言具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中.通讯领域的MODEM、CODEC和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片,以及各种DSP、图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯... 详细信息

1 前言具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中.通讯领域的MODEM、CODEC和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片,以及各种DSP、图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类.

关键词：混合信号测试 AD/DA 93000SOC系列 AGILENT公司

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无线通信和消费电子融合芯片系统(SoC):对混合信号测试的意义

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半导体技术 2004年第5期 120-123页

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Agilent混合信号测试解决方案—ADC的测试

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半导体技术 2004年第2期29卷 54-56页

作者：徐润生安捷伦科技

模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对... 详细信息

模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对其中集成的ADC/DAC的性能设计相应的测试方案.

关键词：混合信号测试 ADC 模拟/数字信号转换器转换速率 Agilent93000 测试机

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无线通信和消费电子融合芯片系统(SoC):对混合信号测试的意义

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半导体技术 2004年第5期29卷 J001-J004页

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混合信号测试新结构——同步及存储磁心

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电子设计应用 2004年第2期 115-118页

作者：美国国家仪器(NI)公司美国国家仪器(NI)公司

引言当前电子设计的趋势是复合功能化以及更广泛地使用模拟、数字混合技术.在设计、建模和测试诸如3G手机及机顶盒等混合了视频、音频及数据信号的系统时,需要紧密集成与基频采样频率、失真和触发特性相匹配的数字及模拟数据采集和发生... 详细信息

引言当前电子设计的趋势是复合功能化以及更广泛地使用模拟、数字混合技术.在设计、建模和测试诸如3G手机及机顶盒等混合了视频、音频及数据信号的系统时,需要紧密集成与基频采样频率、失真和触发特性相匹配的数字及模拟数据采集和发生硬件.模拟及数字仪器不再是具有完全相异的定时引擎和不匹配模拟性能的独立系统.另外,随着这些具有类似时钟的设备在全球范围内广泛地制造,产品必须在极宽的温度范围内具有稳定性和性能一致性,以便进行可靠的、高性能的功能测试.

关键词：数字混合同步及存储磁心 SMC 混合信号测试

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凌华科技推出高精度系列多功能数据采集卡

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测控技术 2008年第8期27卷 47-47页

2008年7月16日，凌华科技推出PCI接口、32通道、16位高分辨率模拟输出人多功能数据采集卡PCI-9223，模拟输入最高单通道可达500 kS／s采样频率，模拟输入动态性能相比凌华现有产品提升10％以上，提供更高的精确度，模拟输出部分支持两... 详细信息

2008年7月16日，凌华科技推出PCI接口、32通道、16位高分辨率模拟输出人多功能数据采集卡PCI-9223，模拟输入最高单通道可达500 kS／s采样频率，模拟输入动态性能相比凌华现有产品提升10％以上，提供更高的精确度，模拟输出部分支持两通道同步输出，并可同时达到1MS／s的更新速度，另整合32通道多功能数字I／O及多种数字触发模式，适用于混合信号测试等相关应用。

关键词：多功能数据采集卡凌华科技高精度混合信号测试模拟输出模拟输入 PCI接口数字I/O

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