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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

96 篇 专利
13 篇 学位论文
7 篇 期刊文献
2 篇 成果

馆藏范围

118 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

21 篇 工学
- 14 篇 电子科学与技术（可...
- 7 篇 计算机科学与技术...
- 3 篇 机械工程
- 2 篇 仪器科学与技术
- 1 篇 电气工程
- 1 篇 信息与通信工程
- 1 篇 建筑学
- 1 篇 软件工程
- 1 篇 公安技术
1 篇 经济学
- 1 篇 应用经济学
1 篇 艺术学
- 1 篇 设计学（可授艺术学...

主题

22 篇 片上系统芯片
3 篇 低功耗设计
2 篇 集成电路
1 篇 图像获取
1 篇 嵌入式存储器
1 篇 内嵌式sram
1 篇 软硬协同验证
1 篇 功耗仿真
1 篇 ip核设计
1 篇 后端流程
1 篇 ip复用
1 篇 电源管理
1 篇 asic
1 篇 无线传感器网络
1 篇 ip验证
1 篇 遗传算法
1 篇 测试程序
1 篇 多时钟设计
1 篇 多速率网络
1 篇 起拉电压

机构

6 篇 晶晨半导体股份有...
4 篇 东南大学
4 篇 卓捷创芯科技有限...
3 篇 上海新储集成电路...
3 篇 珠海亿智电子科技...
3 篇 上海交通大学
2 篇 锐迪科微电子科技...
2 篇 南方电网数字电网...
2 篇 上海燧原科技有限...
2 篇 中国电子科技集团...
2 篇 上海维安半导体有...
2 篇 小米汽车科技有限...
2 篇 湖南海翼电子商务...
2 篇 中国科学院合肥物...
2 篇 中国电子科技集团...
2 篇 南京大鱼半导体有...
2 篇 上海物骐微电子有...
2 篇 深圳市汇顶科技股...
2 篇 比亚迪股份有限公...
2 篇 北京大学

作者

4 篇 张坤
4 篇 吴边
3 篇 陈邦明
3 篇 景蔚亮
2 篇 孙顺清
2 篇 李国强
2 篇 赖秋平
2 篇 冯所利
2 篇 关志华
2 篇 王发平
2 篇 陈军健
2 篇 黄敏君
2 篇 路利刚
2 篇 张召
2 篇 王娜
2 篇 张猛华
2 篇 李毅强
2 篇 李锐戈
2 篇 吴茗甫
2 篇 任思伟

语言

118 篇 中文

检索条件"主题词=片上系统芯片"

共 118 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

片上系统芯片（SoC）的CP测试程序优化及良率提升

片上系统芯片（SoC）的CP测试程序优化及良率提升

引用

作者：何建复旦大学

学位级别：硕士

在进入纳米科技的今天，片上系统芯片(SoC)已经大量出现，多个功能模块集合在一个芯片里，结合工艺水平的不断进步，从而成功的实现集成电路更小更快的目标。一般而言，片上系统芯片SOC生产的各个环节均具高成本性，包括晶圆，测试和封... 详细信息

在进入纳米科技的今天，片上系统芯片(SoC)已经大量出现，多个功能模块集合在一个芯片里，结合工艺水平的不断进步，从而成功的实现集成电路更小更快的目标。一般而言，片上系统芯片SOC生产的各个环节均具高成本性，包括晶圆，测试和封装。\n 因为其设计功能的复杂性，所以它的测试也是相当的具有挑战性，SOC测试一般包括两个部分，即裸晶测试(CP)和封装后测试(FT)。也是因为它的高成本性，所以如何优化CP测试程序也就显得日益重要，一个好的CP测试程序才能保证在最低的测试时间里既不会误杀(over-rejecting)好的芯片造成晶圆成本损失，也不会误放(under—rejecting)坏的芯片造成封装成本损失：而且SOC的测试包括很多的高频和模拟信号测试，因此一个好的CP程序必须具备很高的稳定性，才能便于测试厂生产控制。\n 而SOC通常具有非常多的门级，一般也会采用比较先进的工艺，晶圆成本也就价值不菲了。良率，即Yield=完好的芯片数／每片晶圆上所有的芯片数，好的良率才能带来高的利润，可是SOC因为其电路的复杂，良率提升往往也不易实现，手段非常有限，因此好的SOC设计都必须考虑到了后面的失效分析，提供一些特殊的测试的手段来帮助工厂尽快找到失效的原因，从而快速提升良率，而用SOC中内嵌式SRAM的故障失效分析就是一种非常有效的方法。\n 本论文基于一块无线通讯芯片，通过上面两个方面的努力，最终让我们工厂可以帮助设计公司用最低的成本取的最优化的稳定的产品良率。\n 第一章简单介绍SOC的CP测试程序优化和良率提升基本简介。第二章主要从经济角度介绍程序优化实现的重要性，和内嵌式SRAM的可定位测试相对于传统SOC良率提升方法的优点。第三章具体探讨实施片上系统芯片的CP测试程序的优化及结果验证。第四章则是具体实现内嵌式SRAM的可定位测试，最终用物性失效分析PFA验证此可定位测试的准确性。第五章最后在实际量产过程中应用实现效益最大化，包括测试时间优化及引导相应工艺改进。

关键词：片上系统芯片测试程序良率集成电路内嵌式SRAM 失效分析

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片上系统芯片架构

片上系统芯片架构

引用

作者：习伟姚浩陈军健李肖博向柏澄关志华于杨 510700 广东省广州市黄埔区中新广州知识城亿创街1号406房之86

本申请所提供了一种片上系统芯片架构。所述片上系统芯片架构包括基于精简指令集原则的开源指令集架构、存储器、AHB总线矩阵、总线架构和外设模块。所述基于精简指令集原则的开源指令集架构与所述存储器电连接。AHB总线矩阵与所述存储... 详细信息

标准号: CN113836081A

本申请所提供了一种片上系统芯片架构。所述片上系统芯片架构包括基于精简指令集原则的开源指令集架构、存储器、AHB总线矩阵、总线架构和外设模块。所述基于精简指令集原则的开源指令集架构与所述存储器电连接。AHB总线矩阵与所述存储器和所述基于精简指令集原则的开源指令集架构电连接。所述基于精简指令集原则的开源指令集架构通过所述总线架构与所述存储器和所述AHB总线矩阵电连接。所述AHB总线矩阵与所述外设模块电连接。通过基于精简指令集原则的开源指令集架构，可以自主可控的进行开发。所述基于精简指令集原则的开源指令集架构通过所述总线架构与所述存储器和所述AHB总线矩阵电连接，所述AHB总线矩阵与所述外设模块电连接，可以对缓存、总线、核心的性能和参数等进行自主可控的配制设计，能够针对不同的应用场景完成自主可控的开发。

关键词：矩阵精简指令集指令集架构电连接存储器外设模块总线架构可控的片上系统芯片架构缓存应用场景总线配制开发申请

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片上系统芯片、测试方法及测试系统

片上系统芯片、测试方法及测试系统

引用

作者：张召李峰朱凌王娜 210000 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦A座7层

本申请提供一种片上系统芯片、测试方法及测试系统，涉及集成电路技术领域。该片上系统芯片包括：导出模块、多个电路模块以及多个数据选择器；每个电路模块中包含有至少一个扫描链，每个扫描链由多个扫描寄存器串联形成，每个扫描链各... 详细信息

标准号: CN113990382B

本申请提供一种片上系统芯片、测试方法及测试系统，涉及集成电路技术领域。该片上系统芯片包括：导出模块、多个电路模块以及多个数据选择器；每个电路模块中包含有至少一个扫描链，每个扫描链由多个扫描寄存器串联形成，每个扫描链各扫描寄存器的时钟引脚连接一个数据选择器的输出引脚，各扫描寄存器的扫描使能端并联在一起，根据扫描使能信号进入测试模式；现场模式输出引脚连接数据选择器的控制引脚，数据选择器的一个输入引脚连接内部时钟，另一个输入引脚连接现场时钟输出引脚，最后一个扫描寄存器的输出引脚连接现场输入引脚，现场输出引脚用于输出采集到的目标电路模块中每个扫描链上各扫描寄存器内的状态数据。

关键词：扫描寄存器输出引脚扫描链数据选择器输入引脚电路模块集成电路技术片上系统芯片扫描使能信号时钟输出引脚测试模式测试系统导出模块控制引脚连接数据目标电路内部时钟时钟引脚输出采集系统芯片现场模式状态数据选择器使能串联扫描测试申请

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片上系统芯片的测试方法、系统、介质和计算设备

片上系统芯片的测试方法、系统、介质和计算设备

引用

作者：林水洋宋颖杨啸吴华平 510663 广东省广州市黄埔区科学大道18号A栋301房(仅限办公)

本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法、系统、介质和计算设备，包括从预先构建的量测软件库中获取与已装载的被测芯片匹配的目标量测软件以及与目标量测软件对应的期望数据；当接收到功能量测开启指令时，将目标量测软件刻录至所述... 详细信息

标准号: CN115684882A

本发明公开了一种片上系统芯片的测试方法、系统、介质和计算设备，包括从预先构建的量测软件库中获取与已装载的被测芯片匹配的目标量测软件以及与目标量测软件对应的期望数据；当接收到功能量测开启指令时，将目标量测软件刻录至所述被测芯片，以使被测芯片运行目标量测软件，得到测试数据和输出信号，并反馈测试数据和输出信号；其中，所述输出信号的信号类型包括成功类型和失败类型；当接收到所述测试数据和所述输出信号时，将所述测试数据与所述期望数据进行对比，得到对比结果；将所述对比结果和所述输出信号的目标信号类型确定为所述被测芯片的测试结果。本发明能够预先开发芯片在多种应用场景下的量测软件，提升了芯片测试的效率。

关键词：输出信号被测芯片目标量测试数据对比结果量测软件期望数据片上系统芯片成功类型反馈测试计算设备开启指令目标信号失败类型芯片测试信号类型应用场景功能量构建刻录匹配装载芯片测试开发

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片上系统芯片结构及保存调试信息的方法

片上系统芯片结构及保存调试信息的方法

引用

作者：曾旭 215123 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园6-1002

本发明提供一种片上系统芯片结构及保存调试信息的方法。根据本发明的方法，首先，在所述片上系统芯片结构包含的存储单元中指定部分子单元用于存储调试信息；随后，在所述片上系统芯片结构中的处理单元执行调试作业的过程中，所述片上... 详细信息

标准号: CN103246584B

本发明提供一种片上系统芯片结构及保存调试信息的方法。根据本发明的方法，首先，在所述片上系统芯片结构包含的存储单元中指定部分子单元用于存储调试信息；随后，在所述片上系统芯片结构中的处理单元执行调试作业的过程中，所述片上系统芯片结构中的记录单元记录自身所属片上系统芯片结构的调试信息；最后，所述片上系统芯片结构中的读写单元在所述处理单元不对所述存储单元进行读或写操作时，将所述记录单元所记录的调试信息写入所述部分子单元。本发明的优点包括：芯片中没有单独的存储器来存储调试信息，也没有设置与外部存储器连接的引脚，由此可以有效节约芯片面积，降低成本。

关键词：片上系统芯片调试信息处理单元存储单元分子单元记录单元存储芯片外部存储器读写单元存储器写操作记录引脚调试写入保存节约

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片上系统芯片架构

片上系统芯片架构

引用

作者：习伟姚浩陈军健李肖博向柏澄关志华于杨 510700 广东省广州市黄埔区中新广州知识城亿创街1号406房之86

标准号: CN113836081B

关键词：矩阵精简指令集指令集架构电连接存储器外设模块总线架构可控的片上系统芯片架构缓存应用场景总线配制开发申请

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固态硬盘(SSD)控制器片上系统芯片(SOC)

固态硬盘(SSD)控制器片上系统芯片(SOC)

引用

作者：骆建军楼向雄陈振超王时杨旭光付建云邓先灿丁塔周斌樊凌雁刘卫东吴建锋杨腾周建国杭州电子科技大学

计算机三大核心(中央处理器(CPU)、操作系统、硬盘)一直是我国产业界梦寐以求突破的技术。其中,硬盘产业正在发生着从传统机械硬盘到半导体固态硬盘的产业革命。固态硬盘(SSD)是最近几年半导体技术发展的一个热点,目前,正经历着SSD和传... 详细信息

标准号: 1300400490

计算机三大核心(中央处理器(CPU)、操作系统、硬盘)一直是我国产业界梦寐以求突破的技术。其中,硬盘产业正在发生着从传统机械硬盘到半导体固态硬盘的产业革命。固态硬盘(SSD)是最近几年半导体技术发展的一个热点,目前,正经历着SSD和传统机械硬盘的生死轮替之战,而新兴的SSD将毫无悬念地战胜传统硬盘,成为信息产业的核心支柱之一。过去的几十年,全世界的机械硬盘都被美国和日本的少数公司垄断。这是一个千亿美元的产业。 SSD具有抗震性好、速度快、质量轻、功耗低、噪音小、形态可塑性强等明显优势,取代机械硬盘的进程非常迅速,呈现出爆发性的增长态势。迄今,我国的信息全部存放在国外的硬盘中,国家信息安全难以得到保障,所以,必须寻求自主开发的硬盘产品。我们的飞机、导弹、坦克、航天飞机等必需要高可靠性的硬盘作为计算机核心部件,可一直受到海外的限制。例如,本项目成果一出来就解决了沈阳某无人飞机制造企业的难题,被评价为“终于解决了一直困扰着我们的无人飞机高速度、高可靠性资料存储的难题。” 本技术成果是硬盘产业的一次创新性技术革命,颠覆了传统机械硬盘的国际寡头垄断,让我们中国后来者有了一次公平竞争的机会。目前全球拥有这项技术的公司屈指可数,中国有了自主知识产权的SSD控制器芯片,中国SSD产业在国际上有了自己的核心竞争力,本成果芯片的独特的设计和高可靠性保障,具有强大的竞争力和广阔的推广前景。本项目攻克了高速SATA接口、复杂FLASH控制算法等多项技术难关,融合了片上系统设计和多CPU协同技术,完成了新一代计算机硬盘——固态硬盘(SSD)的核心控制器大规模集成系统芯片(SOC)。该芯片是用于制造固态硬盘和决定固态硬盘性能的最核心芯片。本项目有机融合了模拟和数字混合集成电路技术、嵌入式CPU技术、固件(Firmware)和软件(Software)技术,采用上海中芯国际的110纳米工艺生产线,在3.9mm* 3.7mm的面积上集成了包括6个嵌入式CPU、完整SATA电路和最大10路FLASH通道在内的整个系统,电路规模达到千万门级。本项目成果芯片是我国第一颗自主知识产权的SSD片上系统SOC芯片,是我国在电脑硬盘技术方面的重大突破,标志着我国掌握了固态硬盘设计、生产的核心技术。本项目成果在国际上首先确立了独特的多CPU并行处理控制器架构,取得了专利保护,具体成果产品采用了多达6个CPU的单片集成高效运转。这种多CPU并行处理技术带来了多项独特优势,包括：FLASH缺陷块的互相隔离使得FLASH生产良率要求降低;便于二次开发;等等。同时片上集成的电压检测电路和断电保护算法,解决了固态硬盘的断电可靠性保障难题。本项目成果支持Serial ATA Revision 2.6标准(SATA-I/SATA-II),接口速度最高达到3Gb/s,兼容来自Samsung /Intel /Micron /Toshiba /Hynix 的主流Flash型号,灵活配置包括SLC\MLC\TLC在内的不同类型FLASH,最大支持10路FLASH通道并行操作。可以灵活配置成为1路,2路,4路,8路,10路模式,也可以支持多盘分路的灵活配置。产品对主板的兼容性好,支持二次开发,支持Homogeneous技术、TRIM功能、SMART功能和NCQ功能,具有大容量、高可靠、低成本、灵活性强的优势。

关键词：固态硬盘控制器片上系统芯片

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超大规模SoC设计方法及CAD技术研究协作课题之——集成64位RISC处理器的复杂片上系统芯片—ARK2000

超大规模SoC设计方法及CAD技术研究协作课题之——集成64位RISC处...

引用

该项目提出一种具有独特的5+3流水线控制和预进位并行混合运算的体系结构,采用了超前滑行流水线技术,实现单指令周期内完成不同类型的多条指令运算。利用这种体系结构,不仅可以进行32位定点处理和32位、64位浮点处理,还可以进行特殊的32... 详细信息

标准号: hg07034666

该项目提出一种具有独特的5+3流水线控制和预进位并行混合运算的体系结构,采用了超前滑行流水线技术,实现单指令周期内完成不同类型的多条指令运算。利用这种体系结构,不仅可以进行32位定点处理和32位、64位浮点处理,还可以进行特殊的32位DSP处理。开发快速预进位并行方式ALU模块,设计一种有效片内功耗管理模式。精简型单指令混合处理的指令系统;指令启动运行方式：研究可重配置、特定浮动启动程序控制机制。分离的指令和数据转换技术在存储管理单元的应用。先进双总线无缝式自转换总线架构。

关键词： SoC设计 CAD 片上系统芯片

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片上系统芯片设计方案的测试方法及片上系统

片上系统芯片设计方案的测试方法及片上系统

引用

作者：李锐戈黄哲宋雪张凡 518000 广东省深圳市南山区兴科一街2号

本发明公开了一种片上系统芯片设计方案的测试方法，包括以下步骤：提供具有固化外设的可编程器件；其中，所述可编程器件被划分为可编程系统端和可编程逻辑端，且所述固化外设置于所述可编程系统端；将待测试的片上系统芯片的设计方案... 详细信息

标准号: CN112232004B

本发明公开了一种片上系统芯片设计方案的测试方法，包括以下步骤：提供具有固化外设的可编程器件；其中，所述可编程器件被划分为可编程系统端和可编程逻辑端，且所述固化外设置于所述可编程系统端；将待测试的片上系统芯片的设计方案采用所述可编程逻辑端进行处理器的实例化；将位于所述可编程逻辑端的实例化的处理器与位于所述可编程系统端的固化外设建立连接；利用所述固化外设对所述片上系统芯片的处理器的设计功能进行测试；本发明还公开了一种片上系统，解决现有技术中片上系统芯片测试过程导致资源消耗量大的问题，降低了片上系统芯片验证测试成本。

关键词：片上系统芯片外设固化可编程逻辑可编程系统处理器可编程器件实例化测试资源消耗量测试过程建立连接片上系统验证测试

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片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量

片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量

引用

作者：彭增发郑坚斌 201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼

片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量方法及装置，所述片上系统包括：CPU、嵌入式存储器和外围电路，电压调节器输入基准电压，向嵌入式存储器输出测试电压，电压调节器能够连接测试机台；嵌入式存储器连接数据比较器；参... 详细信息

标准号: CN105989900A

片上系统芯片及其嵌入式存储器最低工作电压的测量方法及装置，所述片上系统包括：CPU、嵌入式存储器和外围电路，电压调节器输入基准电压，向嵌入式存储器输出测试电压，电压调节器能够连接测试机台；嵌入式存储器连接数据比较器；参考数据产生器连接数据比较器；数据比较器能够连接所述测试机台；状态机连接嵌入式存储器、数据比较器和加法器/减法器，状态机能够连接所述测试机台；加法器/减法器连接电压调节器。本发明在测量片上系统芯片的嵌入式存储器最低工作电压的过程中，采用片上系统芯片内置的电压调节器来向嵌入式存储器提供测试电压，从而大大减少了每次调节测试电压之后等待电压稳定所花费的时间，显著提高了测试效率。

关键词：嵌入式存储器电压调节器片上系统芯片数据比较器测试电压测试机台工作电压连接数据比较器加法器减法器状态机测量方法及装置机台参考数据测试效率等待电压连接测试片上系统输出测试输入基准外围电路系统芯片测量片产生器内置

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