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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

114 篇 专利

馆藏范围

114 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

7 篇 北京工业大学
4 篇 西安西谷微电子有...
4 篇 泰克诺探头公司
3 篇 深圳市明微电子股...
3 篇 扬州扬杰电子科技...
2 篇 苏州联讯仪器有限...
2 篇 旷泰科技有限公司
2 篇 特克特朗尼克公司
2 篇 无锡市高宇晟新材...
2 篇 西安西谷芯创电子...
2 篇 襄阳晶马机电科技...
2 篇 南京朗禾智能控制...
2 篇 内蒙古送变电有限...
2 篇 深圳市奥达电源科...
2 篇 武汉国创科光电装...
2 篇 歌尔微电子股份有...
2 篇 杭州长川科技股份...
2 篇 浙江大学
2 篇 荣耀终端有限公司
1 篇 中国电建集团重庆...

作者

7 篇 郭春生
6 篇 冯士维
5 篇 朱慧
5 篇 苏雅
5 篇 廖之恒
4 篇 杨宏斌
3 篇 王毅
3 篇 李照华
3 篇 陈斌
3 篇 景昌忠
3 篇 刘伟东
3 篇 刘宁
3 篇 张方砚
3 篇 杨毓敏
3 篇 吴云云
3 篇 王晶
3 篇 杨军
3 篇 王欢
2 篇 吴倩倩
2 篇 朱庆禄

语言

114 篇 中文

检索条件"主题词=电子器件测试"

共 114 条记录，以下是81-90 订阅

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详细简洁

排序：

一种自由跌落试验装置

一种自由跌落试验装置

引用

作者：万文婷盛亮朱忠学 246300 安徽省安庆市潜山市黄铺镇经济开发区3号路88号

本实用新型公开了一种自由跌落试验装置，涉及电子器件测试技术领域，该装置包含试验槽、定位组件以及抽气泵；试验槽边侧架设有支架；定位组件呈纵向活动式装配于支架表面，且定位组件包含相互插合的安装台和抽拉板，且安装台和抽拉板... 详细信息

标准号: CN218885361U

本实用新型公开了一种自由跌落试验装置，涉及电子器件测试技术领域，该装置包含试验槽、定位组件以及抽气泵；试验槽边侧架设有支架；定位组件呈纵向活动式装配于支架表面，且定位组件包含相互插合的安装台和抽拉板，且安装台和抽拉板的底侧均设置有用于定位产品的吸盘；抽气泵安装于支架顶部，且抽气泵与安装台之间通过设置伸缩管连接，并与各个所述吸盘连通；控制器安装于试验槽边侧，用于操控所述抽气泵；其技术要点为：通过设计单个抽气泵即可同步完成对产品高度的调节以及完成对产品的定位处理，由于使用吸盘定位，不会对产品造成损坏。

关键词：抽气泵吸盘定位组件安装台试验槽抽拉板自由跌落试验装置电子器件测试本实用新型控制器安装定位产品定位处理技术要点同步完成支架表面支架顶部纵向活动伸缩管操控插合支架连通装配架设

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一种UV发光二极管测试装置

一种UV发光二极管测试装置

引用

作者：陈蕤森 226000 江苏省南通市开发区复兴路31号

本实用新型涉及电子器件测试技术领域，且公开了一种UV发光二极管测试装置，包括底座，所述底座顶部的左侧固定连接有控制箱，所述控制箱的正面由上至下依次固定连接有电流显示屏、电压显示屏和控制面板。该UV发光二极管测试装置，通过... 详细信息

标准号: CN211554221U

本实用新型涉及电子器件测试技术领域，且公开了一种UV发光二极管测试装置，包括底座，所述底座顶部的左侧固定连接有控制箱，所述控制箱的正面由上至下依次固定连接有电流显示屏、电压显示屏和控制面板。该UV发光二极管测试装置，通过设置固定圆盘的右侧固定连接有多个基座，基座的内部固定连接有UV发光二极管，再通过设置测光仪和取光设备，能够有效收集光信号，从而实现了在线实时检测UV发光二极管试件的光、色及电等性能参数，避免因应力条件发生改变以及反复安装、拆卸UV发光二极管试件而引入的测试误差，达到了测试精度高的效果，从而有效的解决了UV发光二极管测试过程中反复、拆卸UV发光二极管试件而影响测试误差的问题。

关键词：发光二极管试件发光二极管测试装置控制箱拆卸发光二极管测试电子器件测试在线实时检测本实用新型电流显示屏电压显示屏测试误差底座顶部固定圆盘控制面板内部固定性能参数应力条件影响测试有效收集测光仪光设备底座测试引入

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一种滤波器测试工装

一种滤波器测试工装

引用

作者：黄海阳田朝帅刘君梅矫波刘洪霞 130000 吉林省长春市长德新区长德工业园35栋

一种滤波器测试工装，属于电子器件测试技术领域。本实用新型公开了一种连接方便、结构简单、测试效率高的滤波器测试工装，能够根据需要进行调节，以用来测试不同规格的滤波器产品。本实用新型包括连接托盘、第一连接板及第二连接板，... 详细信息

标准号: CN206725681U

一种滤波器测试工装，属于电子器件测试技术领域。本实用新型公开了一种连接方便、结构简单、测试效率高的滤波器测试工装，能够根据需要进行调节，以用来测试不同规格的滤波器产品。本实用新型包括连接托盘、第一连接板及第二连接板，通过合理的设计，放弃了传统使用线束接插件的测试方式，避免了接插件易损所造成的浪费。本实用新型成本低廉，使用方便，可以大力推广。

关键词：本实用新型滤波器测试工装连接板电子器件测试滤波器产品线束接插件测试方式测试效率传统使用连接方便连接托盘接插件易损测试放弃

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一种多用组合座芯

一种多用组合座芯

引用

作者：张中华韩彦 441000 湖北省襄阳市樊城区春园东路(左岸春天门面)7号(住所申报)

本实用新型公开了一种多用组合座芯，包括焊接式二端元件老化检测座单元组件、装配式二端元件老化检测座单元组件、插接式二端元件老化检测座单元组件、焊接式多脚器件老化检测座单元组件、装配式多脚器件老化检测座单元组件、插接式多... 详细信息

标准号: CN215641378U

本实用新型公开了一种多用组合座芯，包括焊接式二端元件老化检测座单元组件、装配式二端元件老化检测座单元组件、插接式二端元件老化检测座单元组件、焊接式多脚器件老化检测座单元组件、装配式多脚器件老化检测座单元组件、插接式多脚器件老化检测座单元组件和配套插座，所述插接式二端元件老化检测座单元组件可拆卸设于配套插座上，所述插接式多脚器件老化检测座单元组件可拆卸设于配套插座上，本实用新型属于电子器件测试技术领域，具体是指一种根据特殊电子器件的封装图在电路板上设计制作组装，能制作各种类型的复杂封装座，且制作周期短、成本低的多用组合座芯。

关键词：单元组件老化检测二端元件插接式插座本实用新型焊接式可拆卸装配式组合座配套电子器件测试电路板电子器件复杂封装制作周期封装制作组装

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一种SPDT射频开关测试板

一种SPDT射频开关测试板

引用

作者：何启芃朱俊琦权亚娟柳叶青高梦轩朱元涛 710000 陕西省西安市锦业路69号创业园A区12号2幢1单元10403室

本实用新型涉及电子器件测试技术领域，具体涉及一种SPDT射频开关测试板，其包括:高频板，所述高频板由水平设置的RO4350B与FR4混压而，所述高频板顶部设有芯片焊盘，以及分布在所述芯片焊盘四周并贯穿所述高频板的VDD过孔、CTRL过孔、E... 详细信息

标准号: CN219831320U

本实用新型涉及电子器件测试技术领域，具体涉及一种SPDT射频开关测试板，其包括:高频板，所述高频板由水平设置的RO4350B与FR4混压而，所述高频板顶部设有芯片焊盘，以及分布在所述芯片焊盘四周并贯穿所述高频板的VDD过孔、CTRL过孔、EN过孔和GND过孔；夹板连接器，所述夹板连接器为多个设置，并通过贯穿所述高频板边缘位置的螺栓过孔安装在所述高频板四周；所述VDD过孔、所述CTRL过孔、所述EN过孔和所述GND过孔分别与所述芯片焊盘电性连接。本实用新型所采用的RO4350B板材具有更小的介电常数和更小的损耗因子，在高频应用时相比于纯FR4板材阻抗匹配与插入损耗会有更稳定及优异的表现。

关键词：高频板芯片焊盘本实用新型夹板连接器电子器件测试边缘位置插入损耗电性连接高频应用介电常数螺栓过孔射频开关水平设置损耗因子阻抗匹配测试板贯穿混压表现

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保险丝修调电路

保险丝修调电路

引用

作者：刘伟东李照华邓健张方砚 518000 广东省深圳市南山区高新技术产业园南区高新南一道015号国微研发大厦三层

本实用新型涉及电子器件测试技术领域，本实用新型提供一种保险丝修调电路，包括第一开关器件、电压比较电路以及开关控制电路；开关控制电路根据初始使能信号控制第一开关器件导通，以使第一开关器件将第一预设电压输出给保险丝，电压... 详细信息

标准号: CN204720951U

本实用新型涉及电子器件测试技术领域，本实用新型提供一种保险丝修调电路，包括第一开关器件、电压比较电路以及开关控制电路；开关控制电路根据初始使能信号控制第一开关器件导通，以使第一开关器件将第一预设电压输出给保险丝，电压比较电路在保险丝灼烧的过程中根据保险丝输出的电压和参考电压输出导通使能信号，开关控制电路根据导通使能信号控制第一开关器件处于导通状态；当保险丝熔断时，开关控制电路控制第一开关器件关断，通过设置开关器件和开关控制电路，在保险丝熔断断开时，开关控制电路控制开关器件断开，采用自锁和自保护电路，使整个电路自动断电，防止预设电压施加到内部电路上从而造成内部电路损坏的风险。

关键词：开关控制电路第一开关保险丝导通电压比较电路使能信号控制保险丝熔断断开参考电压输出电子器件测试控制开关器件内部电路损坏预设电压输出自保护电路导通状态内部电路器件关断设置开关使能信号修调电路预设电压自动断电电压和实用一种灼烧自锁电路施加输出防止风险控制涉及

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一种电源管理IC测试系统

一种电源管理IC测试系统

引用

作者：许映山李训练唐承亮 215000 江苏省苏州市吴中经济开发区南官渡路5号

本实用新型公开了一种电源管理IC测试系统，涉及电子器件测试技术领域，包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机，所述电源与待测产品连接，所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连... 详细信息

标准号: CN206178097U

本实用新型公开了一种电源管理IC测试系统，涉及电子器件测试技术领域，包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机，所述电源与待测产品连接，所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接，所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机，所述MCU与所述继电器矩阵单元连接，并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。本实用新型通过继电器矩阵单元将被测产品与测试系统连接在一起，并通过MCU自动化控制各单元协调动作，可精确计算出电源管理IC充电过流保护响应时间及放电过流保护响应时间，从而实现同时检测多个电源管理IC的目的，有效提高了电源管理IC的测量精度，多通道的测量保证了测量的效率。

关键词：继电器矩阵电源管理IC 本实用新型自动化控制电源测试系统待测产品单元协调电压测量测量测量件电子器件测试放电过流保护被测产品单元连接电流测量电气连接电阻测量过流保护多通道响应计算机单路多路充电输出检测转化保证

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一种测试装置及散热组件

一种测试装置及散热组件

引用

作者：易思源曾维王海波周曦 300450 天津市滨海新区海洋高新技术开发区信安创业广场5号楼

本申请提供了一种测试装置及散热组件，测试装置包括测试容器和散热组件，测试容器具有测试内腔；散热组件包括主散热件和至少一个副散热件；测试内腔能容纳待测电子器件并能使待测电子器件处于真空环境，主散热件通过在测试内腔中与待... 详细信息

标准号: CN220359617U

本申请提供了一种测试装置及散热组件，测试装置包括测试容器和散热组件，测试容器具有测试内腔；散热组件包括主散热件和至少一个副散热件；测试内腔能容纳待测电子器件并能使待测电子器件处于真空环境，主散热件通过在测试内腔中与待测电子器件接触，以使主散热件在真空环境下对待测电子器件进行散热，或使主散热件以及副散热件在真空环境下对待测电子器件进行散热。待测电子器件测试时需要散热，通过设置散热组件对真空环境下的待测电子器件进行散热，而散热组件又包括主散热件和至少一个副散热件，通过主散热件或主散热件和任意数量的副散热件组合对不同测试情况的待测电子器件散热，以满足待测电子器件的不同测试需求，提升测试装置的适用性。

关键词：电子器件主散热散热组件散热真空环境散热件测试内腔测试装置测试容器电子器件测试测试需求容纳测试申请

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高效电子元件检测自检装置

高效电子元件检测自检装置

引用

作者：杨军朱俊琦杨宏斌韩碧涛 710000 陕西省西安市高新区锦业路69号创业园A区12号现代企业中心东区2-10402

本实用新型提供的高效电子元件检测自检装置，包括，LCR测试机、量程检测控制器、显示输出装置；量程检测控制器根据当前待检测电子元件的电性能值获取当前检测期间的量程值，将当前检测期间的量程值输出到LCR测试机的参数设定输入端，... 详细信息

标准号: CN208580160U

本实用新型提供的高效电子元件检测自检装置，包括，LCR测试机、量程检测控制器、显示输出装置；量程检测控制器根据当前待检测电子元件的电性能值获取当前检测期间的量程值，将当前检测期间的量程值输出到LCR测试机的参数设定输入端，LCR测试机将当前检测期间的量程值设定为当前待检测电子元件的电性能检测参数，对待检测电子元件进行检测。解决了现有电子器件测试过程中，器件的电性能测试精度受到人为调节因素，从而测量准确性差、效率低的问题。通过量程检测控制器，对LCR测试装置中的当前检测数据量程进行前期预设，从而保证了检测精度读取准确性，降低了电子器件检测的检测成本并提高了检测效率及准确性。

关键词：检测量程量程检测控制器测试机电子器件测试电子器件检测电子元件检测显示输出装置本实用新型电性能测试电性能检测参数设定测试装置检测数据精度读取自检装置电性能输入端预设测量输出保证

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高可靠的电子元件检测装置

高可靠的电子元件检测装置

引用

作者：汪维平杨军杨宏斌王晓光 710000 陕西省西安市高新区锦业路69号创业园A区12号现代企业中心东区2-10402

本实用新型的高可靠的电子元件检测装置，解决现有电子器件测试过程中因测试笔接触不到造成误检测的问题，包括，LCR测试机、可靠检测控制器及提示装置；所述可靠检测控制器的输出端与所述提示装置的输入端连接，输入/输出端与所述LCR... 详细信息

标准号: CN208705410U

本实用新型的高可靠的电子元件检测装置，解决现有电子器件测试过程中因测试笔接触不到造成误检测的问题，包括，LCR测试机、可靠检测控制器及提示装置；所述可靠检测控制器的输出端与所述提示装置的输入端连接，输入/输出端与所述LCR测试机的信息输入端连接，从所述LCR测试机接收当前待检测电子元件的电性能值，发送到所述可靠检测控制器的输入端，所述可靠检测控制器判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，若否，驱动所述提示装置发出当前检测异常信息。有益效果：通过可靠检测控制器判断所述当前待检测电子元件的电性能值是否为设定检测电性能值，从而判定电子器件测试过程中是否存在因测试笔接触不到而造成误检测的问题。

关键词：可靠检测电性能检测提示装置控制器测试机电子器件测试控制器判断测试笔误检测电子元件检测装置输入/输出端本实用新型输入端连接信息输入端异常信息高可靠输出端输入端判定驱动

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