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  • 43 篇 专利
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主题

  • 2 篇 电学特性测试
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  • 1 篇 阻抗

机构

  • 5 篇 浙江大学
  • 4 篇 西安电子科技大学
  • 3 篇 英铂科学仪器有限...
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  • 1 篇 西安交通大学
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作者

  • 5 篇 赵毅
  • 5 篇 曲益明
  • 4 篇 卢继武
  • 3 篇 张睿
  • 3 篇 谢振
  • 3 篇 尹洪伟
  • 3 篇 韩菁慧
  • 3 篇 张佐兵
  • 3 篇 陆冰彬
  • 3 篇 张顺勇
  • 3 篇 马永伟
  • 3 篇 马观岚
  • 3 篇 陈冰
  • 2 篇 任豪
  • 2 篇 陈晓龙
  • 2 篇 方益
  • 2 篇 卢小燕
  • 2 篇 李康业
  • 2 篇 宦惠庭
  • 2 篇 刘益春

语言

  • 45 篇 中文
检索条件"主题词=电学特性测试"
45 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
一种半导体显示屏电学特性测试全自动探针台设备
一种半导体显示屏电学特性测试全自动探针台设备
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作者: 马永伟 尹洪伟 马观岚 215300 江苏省苏州市常熟市东南街道银河路128号
本发明公开了一种半导体显示屏电学特性测试全自动探针台设备,包括送料机构和检测框,所述检测框设置于送料机构的一侧,所述检测框的内部固定安装有对物料进行承载吸附的气浮机构,所述气浮机构的内部设置有用于升降接料的接驳机构,... 详细信息
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一种应用于晶体管的高速三维电学特性测试系统
一种应用于晶体管的高速三维电学特性测试系统
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作者: 赵毅 曲益明 陈冰 卢继武 韩菁慧 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
本发明公开了一种应用于晶体管的高速三维电学特性测试系统,该系统包括数据反馈与处理器、波形处理器、宽频带拾捡三通装置、第一微波探针和第二微波探针。本发明的创新在于通过给晶体管的漏极施加阶梯变化的电压波形,并在每个阶梯电... 详细信息
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一种提高半导体器件皮秒级超快速电学特性测试精度的方法
一种提高半导体器件皮秒级超快速电学特性测试精度的方法
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作者: 赵毅 韩菁慧 陈冰 曲益明 张睿 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
本发明公开了一种提高半导体器件皮秒级超快速电学特性测试精度的方法,属于半导体器件电学特性测试领域,该方法包括对金属氧化物半导体场效应晶体管电学特性测试时的栅极激励信号(Vg)和示波器得到的响应信号(可对应换算为源漏电流Id)... 详细信息
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一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备
一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备
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作者: 马永伟 尹洪伟 马观岚 215300 江苏省苏州市常熟市东南街道银河路128号
本发明公开了一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备,包括设备底座,所述设备底座的顶部固定安装有两组Y轴方向设置的第一Y轴直线电机,所述第一Y轴直线电机的顶部固定安装有X轴方向设置的第一X轴直线电机,所述检测组件固定... 详细信息
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一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备
一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备
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作者: 马永伟 尹洪伟 马观岚 215300 江苏省苏州市常熟市东南街道银河路128号
本发明公开了一种半导体显示屏电学特性测试半自动探针台设备,包括设备底座,所述设备底座的顶部固定安装有两组Y轴方向设置的第一Y轴直线电机,所述第一Y轴直线电机的顶部固定安装有X轴方向设置的第一X轴直线电机,所述检测组件固定... 详细信息
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一种应用于晶体管的高速三维电学特性测试系统
一种应用于晶体管的高速三维电学特性测试系统
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作者: 赵毅 曲益明 陈冰 卢继武 韩菁慧 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
本发明公开了一种应用于晶体管的高速三维电学特性测试系统,该系统包括数据反馈与处理器、波形处理器、宽频带拾捡三通装置、第一微波探针和第二微波探针。本发明的创新在于通过给晶体管的漏极施加阶梯变化的电压波形,并在每个阶梯电... 详细信息
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一种基于PXI的雪崩光电探测器电学特性测试系统
一种基于PXI的雪崩光电探测器电学特性测试系统
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作者: 刘飞 210000 江苏省南京市江宁区弘景大道99号
本发明公开了一种基于PXI的雪崩光电探测器电学特性测试系统,包括PXI机箱、PXI控制器、带有PXI接口的源测量板卡和示波器板卡,以及多功能外围电路板、LED光源。其中,多功能外围电路板集成了猝灭电阻、采样电阻、雪崩光电二极管插座... 详细信息
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一种多功能固体氧化物电学特性测试的平台装置
一种多功能固体氧化物电学特性测试的平台装置
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作者: 陈锡勇 史君佐 曾杰 卢小燕 周明欣 袁川 李伟洲 梁天权 罗能能 530004 广西壮族自治区南宁市西乡塘区大学东路100号
本发明公开了一种多功能固体氧化物电学特性测试的平台装置,包括加热单元、支撑台、外接盒、测试底座、样品支撑组件、保护套管和测试配件;加热单元固定安装在支撑台上,测试底座下方连接有外接盒,外接盒设有若干个与外接测试仪器设... 详细信息
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一种基于PXI的雪崩光电探测器电学特性测试系统
一种基于PXI的雪崩光电探测器电学特性测试系统
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作者: 刘飞 210000 江苏省南京市江宁区弘景大道99号
本发明公开了一种基于PXI的雪崩光电探测器电学特性测试系统,包括PXI机箱、PXI控制器、带有PXI接口的源测量板卡和示波器板卡,以及多功能外围电路板、LED光源。其中,多功能外围电路板集成了猝灭电阻、采样电阻、雪崩光电二极管插座... 详细信息
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一种应用于半导体器件的皮秒级超快速电学特性测试系统
一种应用于半导体器件的皮秒级超快速电学特性测试系统
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作者: 赵毅 张睿 卢继武 曲益明 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
本发明公开了一种应用于半导体器件的皮秒级超快速电学特性测试的系统。该系统包括波形处理器、宽频带电压放大器、宽频带电压偏置器、宽频带拾捡三通装置、第一微波探针和第二微波探针。本发明的创新在于通过给电子器件施加皮秒级的脉... 详细信息
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