检索结果-内蒙古大学图书馆

集成电路的发展在降低芯片制造成本和加快芯片投放市场速度的同时,增加了测试难度。可测性设计技术的发展,尤其是内建自测试技术的出现,简化了芯片测试过程,却又使得降低芯片测试功耗成为测试开发的主要目标之一。芯片测试功耗主要取决于供电电压、时钟频率和电路中的翻转活动三方面。如果为了降低功耗而减少供电电压或时钟频率,又会增加测试时间,影响测试效率,并会使得一些在高频测试下才能显现的故障难以被测出。因此惟有减少测试期间电路中的翻转活动才是降低测试功耗最可行的途径。目前面向低功耗内建自测试的研究主要有低功耗测试向量生成技术、改进扫描链结构、设计扫描单元和电路分割技术等。本文主要对低功耗测试向量生成技术进行研究。针对BIST确定测试的功耗问题,研究优化算法和确定测试的“存储与生成”技术,主要从设计向量排序优化算法和改进向量生成电路两方面实现低功耗。在向量排序优化策略的选择上,由于遗传演化方法使用概率搜索技术,更有利于全局优化,因此本文采用遗传算法对测试向量进行优化排序。在减少被测电路翻转的遗传算法基础上,本文增加对减少ATPG电路翻转的考虑,设计了双目标优化遗传算法。根据实际运算的需要,设计了与测试向量等值的十进制整数编码;设计了相应的双目标适应度评价函数以及选择、变异和交叉概率。在改进向量生成电路方面,本文ATPG电路采用了折叠计数思想,改进传统折叠计数方法以提高向量相关性,并改进相应的ATPG电路,对优化后的向量进行不重播种的测试向量生成,从而减少被测电路和ATPG电路的翻转,以尽可能降低功耗。最后,通过对基准电路的仿真测试实验,与现有的研究成果进行了对比,证实了本文方法的有效性。

关键词： BIST 低功耗确定测试遗传算法折叠计数

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基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计

引用

计算机系统应用 2008年第5期17卷 107-111页

作者：谈恩民梁晓琳刘建军桂林电子科技大学电子工程学院广西桂林541004 上海交通大学电子信息与电气工程学院上海200030

提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变。由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,... 详细信息

提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变。由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,而没有改变原来的测试矢量,因而故障覆盖率不会改变,这样既保证了高故障覆盖率又解决不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余。研究结果表明该方案不仅具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。

关键词：低功耗设计折叠集折叠矢量伪单输入跳变确定测试

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基于低功耗SIC序列模型的种子向量选取算法

基于低功耗SIC序列模型的种子向量选取算法

引用

第十届中国计算机图形学大会暨第十八届全国计算机辅助设计与图形学会会议

作者：曹贝温殿忠王永生周彬黑龙江大学电子科学与技术博士后流动站哈尔滨中国 150080 黑龙江大学寒区传感技术与系统培育省部共建教育部重点实验室哈尔滨中国 150080 哈尔滨工业大学微电子中心哈尔滨中国 150001

单输入变化(SIC)序列可有效降低数字集成电路中待测电路内部节点翻转率.因此,在确定内建自测试技术中,SIC可作为低功耗序列.SIC序列生成技术的关键是SIC序列种子选取.本文通过建立SIC序列理论模型,进一步提炼出SIC序列性质,用以指导SIC... 详细信息

单输入变化(SIC)序列可有效降低数字集成电路中待测电路内部节点翻转率.因此,在确定内建自测试技术中,SIC可作为低功耗序列.SIC序列生成技术的关键是SIC序列种子选取.本文通过建立SIC序列理论模型,进一步提炼出SIC序列性质,用以指导SIC序列种子向量选取算法的设计.采用模拟退火算法进行SIC序列和LFSR种子向量协同选取,以优化SIC种子向量数量.采用ISCAS' 85与ISCAS' 89基准电路进行实验,实验结果表明本文方案可有效减少SIC种子数量,SIC种子释放所生成的测试向量集在降低待测电路功耗的同时,还可保证高的测试故障覆盖率.

关键词：低功耗测试内建自测试确定测试单输入变化序列

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铝电解槽槽电阻的智能控制方法研究

铝电解槽槽电阻的智能控制方法研究

引用

中国科协第三届青年学术年会

作者：李民军肖劲工业大学冶金系青海铝厂

以１６０ｋＡ预焙铝电解槽为试验研究对象，开发出铝电解槽电阻的智能控制方法。文中首先分析了常规的恒电阻控制方法的缺点，总结出新的控制策略;然后着重介绍了为实现新的控制策略而综合运用模糊控制和专家系统技术所建立起来的智能... 详细信息

以１６０ｋＡ预焙铝电解槽为试验研究对象，开发出铝电解槽电阻的智能控制方法。文中首先分析了常规的恒电阻控制方法的缺点，总结出新的控制策略;然后着重介绍了为实现新的控制策略而综合运用模糊控制和专家系统技术所建立起来的智能控制算法－－槽电阻专家模糊控制器。该方法已应用于新近开发的铝电解槽智能模糊控制系统中。运行结果表明其控制精度高，鲁棒性好，具有显著的增产节能效果。

关键词：通信ASIC 确定测试概率测试内测试

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