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文献类型

  • 1 篇 专利

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

  • 1 篇 三菱电机株式会社

作者

  • 1 篇 前野秀史
  • 1 篇 大泽德哉

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=移位模式信号"
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带有测试功能和冗余功能的半导体存储装置
带有测试功能和冗余功能的半导体存储装置
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作者: 前野秀史 大泽德哉 日本东京都
得到具有能早期地识别内部的被测试的存储电路的故障的有无的测试电路的半导体集成电路装置。在将移位模式信号SM定为“1”、测试模式信号TM定为“1”的第1测试模式时,如果将比较控制信号CMP定为“1”,则成为测试有效状态。而且,各... 详细信息
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