检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：贺三军南华大学

学位级别：硕士

本论文为了实现采用小闪烁室延时法222Rn/220Rn绝对测量，进行了保证100%222Rn/220Rn探测效率的小闪烁室内部ZnS（Ag）涂层厚度影响研究，优化了ZnS（Ag）制作涂层厚度参数。用241Amα参考源模拟氡的放射性粒子，实验测量222Rn/220Rn绝... 详细信息

本论文为了实现采用小闪烁室延时法222Rn/220Rn绝对测量，进行了保证100%222Rn/220Rn探测效率的小闪烁室内部ZnS（Ag）涂层厚度影响研究，优化了ZnS（Ag）制作涂层厚度参数。用241Amα参考源模拟氡的放射性粒子，实验测量222Rn/220Rn绝对测量小闪烁室的ZnS（Ag）不同涂层厚度情况下α粒子本征探测效率，实验表明：10mg/cm2的ZnS（Ag）涂层对α粒子本征探测效率可接近100%。并且采用10mg/cm2的ZnS（Ag）涂层制作小闪烁室用于222Rn/220Rn探测效率重复实验，验证了上述实验结果。理论推导了小闪烁室流气状态与静置状态下222Rn、220Rn浓度与其计数值之间关系的响应因子，考虑了流气过程中由于222Rn子体附壁效应导致的计数率随时间增加并提出了修正方法。在南华大学氡实验室220Rn室对推导的流气状态下222Rn、220Rn响应因子及222Rn子体附壁效应修正方法进行了实验验证；分别对小闪烁室流气延时法、流气静态法实现222Rn/220Rn混和场的绝对测量进行了验证；在流气静态法222Rn/220Rn绝对测量中，考虑了流气状态时222Rn子体附壁效应引入到静置时的本底，并对静置时间进行了优化。实验结果表明推导的响应因子是可靠的，这种考虑附壁效应响应因子推导方法与静置时间优化在高222Rn、220Rn浓度条件下应用于小闪烁室流气延时法、小闪烁室流气静态法实现222Rn/220Rn绝对测量是可行的。由此，提出一种基于双气路与双小闪烁室的流气延时222Rn/220Rn绝对测量方法，与以前流气延时法相比，没有庞大的延时装置，缩短了测量时间；与以前流气静态法相比，没有静置时间，测量时间更短且降低了小闪烁室下次使用的本底，方便较短时间内再次使用。本方法是一种新的方法，可以方便于222Rn/220Rn绝对测量便携式仪器的实现。在南华大学氡实验室220Rn室对基于双气路与双小闪烁室的流气延时222Rn/220Rn绝对测量方法进行了实验验证，实验结果表明该方法与流气延时法222Rn/220Rn测量结果基本一致。

关键词：小闪烁室 222Rn/220Rn 绝对测量方法相关问题

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溶液电导率的绝对测量方法

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化学分析计量 2004年第6期13卷 88-89页

作者：宋小平国家标准物质研究中心北京100013

概括论述了三种溶液电导率绝对测量方法 :基于精确测量电导池几何参数的测量方法、基于电容测量的溶液电导率测量方法和基于VanDerPauw方法的溶液电导率测量方法。前一种方法用于许多国家的溶液电导率基准测量 ,后两种方法可发展为溶液... 详细信息

概括论述了三种溶液电导率绝对测量方法 :基于精确测量电导池几何参数的测量方法、基于电容测量的溶液电导率测量方法和基于VanDerPauw方法的溶液电导率测量方法。前一种方法用于许多国家的溶液电导率基准测量 ,后两种方法可发展为溶液电导率测量的基准方法。

关键词：溶液电导率绝对测量方法电导池几何参数电容测量 Van Der Pauw法

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脉冲λ时间谱绝对测量方法

脉冲λ时间谱绝对测量方法

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中国科协2003年学术年会

作者：胡孟春叶文英周殿忠张三阳中国工程物理研究院核物理与化学研究所

绝对测量,需要选择能量响应较平坦的探测器,或者选择可以得到绝对灵敏度的探测系统。对于高强度的脉冲γ源,可采用散射法探测系统布局,当散射角为70°时,对于脉冲裂变λ(主要能量0.25～4.25MeV),散射λ能量可变窄为0.20～0.73MeV。... 详细信息

绝对测量,需要选择能量响应较平坦的探测器,或者选择可以得到绝对灵敏度的探测系统。对于高强度的脉冲γ源,可采用散射法探测系统布局,当散射角为70°时,对于脉冲裂变λ(主要能量0.25～4.25MeV),散射λ能量可变窄为0.20～0.73MeV。研究表明:通过将γ辐射能谱变窄,利用散射能量、散射效率、微分散射截面分别与入射能量的关系,探测器对散射能量的能量响应等关系,能够实现探测系统在较窄能量范围内λ能量响应较平坦,在不能准确知道源能谱、时间谱形式的情况下,不进行复杂

关键词：绝对测量方法时间谱探测器

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一种状态方程绝对测量方法的分析

一种状态方程绝对测量方法的分析

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作者：罗平庆张永慧于仁

1993年***等人提出进行状态方程(EOS)绝对测量的一种设想。在NOVA上利用激光转换成X光驱动金飞片三台阶靶进行了尝试,但未解决对称碰撞条件。这里研究利用神光Ⅱ基频激光进行直接驱动EOS绝对测量的可行性。如图1示意,通过测试冲击波在... 详细信息

1993年***等人提出进行状态方程(EOS)绝对测量的一种设想。在NOVA上利用激光转换成X光驱动金飞片三台阶靶进行了尝试,但未解决对称碰撞条件。这里研究利用神光Ⅱ基频激光进行直接驱动EOS绝对测量的可行性。如图1示意,通过测试冲击波在前两个台阶(等高度已测定)卸载时间差,确定飞片碰

关键词：绝对测量方法冲击波状态方程

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基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法

基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法

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作者：侯溪杨鹏伍凡范斌万勇建 610209 四川省成都市双流350信箱

本发明公开了一种基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法，该方法通过对一个“猫眼”位置干涉测量和多个共焦位置干涉测量结果进行数据处理直接获得与参考面误差无关的被测球面光学元件面形误差信息。多特征匹配根据设置在被测球面... 详细信息

标准号: CN102221348B

本发明公开了一种基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法，该方法通过对一个“猫眼”位置干涉测量和多个共焦位置干涉测量结果进行数据处理直接获得与参考面误差无关的被测球面光学元件面形误差信息。多特征匹配根据设置在被测球面光学元件表面的多个特征标记在共焦位置测量数据中形成的特征形状进行准确的旋转角度控制和数据匹配，然后将多组由“猫眼”位置测量、被测球面光学元件某一共焦位置测量和与之相对旋转180度后共焦位置测量组成的三位置法计算结果进行平均处理，以提高被测球面光学元件绝对面形误差的准确性。本发明无需复杂的调整机构和辅助对准装置，同时可避免反复进行光路调整，在实际操作中的方便性和绝对测量结果的准确性之间保持了较好的平衡，具有较大的应用价值。

关键词：球面光学元件位置测量猫眼面形误差特征匹配绝对测量方法位置测量数据球面调整机构对准装置绝对测量平均处理数据匹配特征标记特征形状相对旋转旋转角度应用价值数据处理参考面平均法位置法干涉光路辅助平衡

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一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法

一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法

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作者：龙兴武谭中奇 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号国防科技大学光电科学与工程学院

本发明公开了一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法，它属于对光学薄膜参数进行测量的技术领域，其测量原理基于正、反两方向光束在折叠腔镜高反膜内的干涉效应。本发明以可调谐窄带激光器作为光源，首先通过连续波腔衰荡光谱技... 详细信息

标准号: CN102053007B

本发明公开了一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法，它属于对光学薄膜参数进行测量的技术领域，其测量原理基于正、反两方向光束在折叠腔镜高反膜内的干涉效应。本发明以可调谐窄带激光器作为光源，首先通过连续波腔衰荡光谱技术测得折叠型光学无源腔的损耗谱曲线δ(v)，然后利用该损耗谱曲线δ(v)在其一个振荡周期光谱范围内的最大值与最小值之间的差值求得折叠腔镜处被测高反射率膜片膜内的散射和吸收总损耗S+A，即S+A＝[δ(v)_max-δ(v)_min]/2。本发明结构简单、精度高、测量过程简单便捷且结果无需标定，更重要的是它能为高反射率膜片各损耗项的分离提供必要条件。

关键词：高反射率膜谱曲线折叠腔调谐绝对测量方法参数进行测量过程测量原理方向光束光谱范围光谱技术光学薄膜振荡周期激光器连续波折叠型散射标定镜处无源光源干涉

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基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法

基于多特征匹配和平均法的球面绝对测量方法

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作者：侯溪杨鹏伍凡范斌万勇建 610209 四川省成都市双流350信箱

标准号: CN102221348A

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非线性误差的绝对测量方法及装置

非线性误差的绝对测量方法及装置

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作者：孙若端马煜 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置，其中，非线性误差的绝对测量方法包括：将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口，其中，各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同；在所述光学测量仪器的光路中放... 详细信息

标准号: CN103383347A

本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置，其中，非线性误差的绝对测量方法包括：将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口，其中，各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同；在所述光学测量仪器的光路中放置光阑；按照所述光学测量仪器需要测量非线性误差的测量量程，调整使用的反射板的个数，并在每次调整后，获取调整后的所述反射板放置于所述样品口时，所述光学测量仪器的输出结果；对所述输出结果进行非线性误差计算处理，获取所述光学测量仪器输出结果的非线性误差。通过本申请，在保证非线性误差测量精度的同时，实现了对光学测量仪器最终输出结果的非线性误差的测量。

关键词：非线性误差光学测量仪器反射板绝对测量方法测量精度测量量程覆盖面积计算处理光阑光路拼接

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非线性误差的绝对测量方法及装置

非线性误差的绝对测量方法及装置

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作者：孙若端马煜 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

标准号: CN103383347B

关键词：非线性误差光学测量仪器反射板绝对测量方法测量精度测量量程覆盖面积计算处理光阑光路拼接

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一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法

一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法

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作者：龙兴武谭中奇 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号国防科技大学光电科学与工程学院

标准号: CN102053007A

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