检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：李光俊李治斌段炼陈黎肖青白龙柏森 610000 四川省成都市武侯区国学巷37号

本发明提供了一种基于统计过程控制的针对影像引导放疗设备定位精度的性能评估方法，属于影像引导放疗设备定位精度领域。所述方法包括以下步骤：步骤1、定位误差数据采集；步骤2、绘制Shewhart控制图；步骤3、异常检查；步骤4、排除异... 详细信息

标准号: CN113559423B

本发明提供了一种基于统计过程控制的针对影像引导放疗设备定位精度的性能评估方法，属于影像引导放疗设备定位精度领域。所述方法包括以下步骤：步骤1、定位误差数据采集；步骤2、绘制Shewhart控制图；步骤3、异常检查；步骤4、排除异常数据。该方法基于统计过程控制技术，对临床使用的影像引导放疗设备的定位精度进行系统综合的评估，评估内容包括系统的定位精度及定位精度随时间而发生的系统偏移，以及系统在多大程度上能够满足既定的定位精度要求。运用本发明的方法，可以快速高效的查找到对影像引导放疗设备定位精度产生影响的因素，据此制定改进措施，进一步规范工作流程，提高该设备在临床运用中的定位精度。

关键词：放疗设备影像引导统计过程控制技术定位精度要求统计过程控制定位误差工作流程评估内容数据采集系统偏移系统综合性能评估异常数据控制图绘制评估改进检查制定

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基于统计过程控制技术的XBT故障概率控制研究

基于统计过程控制技术的XBT故障概率控制研究

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首届海洋女科学家论坛

作者：方芳张鹏国家海洋技术中心天津300112

XBT（投弃式温度剖面测量仪）是一种快速、实时、大面积、低成本测量海水温度剖面的海洋测量仪器,自问世以来一直受到海洋学家尤其是军事海洋学家的重视.国家海洋技术中心研制的XBT工程样机的测量指标已经达到国外同类产品的水平,但海... 详细信息

XBT（投弃式温度剖面测量仪）是一种快速、实时、大面积、低成本测量海水温度剖面的海洋测量仪器,自问世以来一直受到海洋学家尤其是军事海洋学家的重视.国家海洋技术中心研制的XBT工程样机的测量指标已经达到国外同类产品的水平,但海上试验的成功率与国外产品相比还存在差距.针对这种情况,本文重点研究XBT海上试验故障.通过对海上试验数据进行总结及统计分析,并借鉴工程加权法对数据进行处理,利用统计过程控制技术(SPC)对海上试验数据故障概率波动的原因进行了分析,得出机械部件失效是国产XBT成功率不高的主要原因的初步结论.

关键词：海洋测量仪器投弃式温度剖面测量仪故障概率统计过程控制技术

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一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制方法

一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制方法

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作者：卢治兵薄洪光王文鹏黄诗雁 100089 北京市海淀区永定路51号1号楼

一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制方法，属于产品质量控制领域。针对车间质量管理方面存在的问题，根据统计过程控制的原理，运用计算机信息技术设计开发了一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制技术的系统，运用SPC... 详细信息

标准号: CN114217576A

一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制方法，属于产品质量控制领域。针对车间质量管理方面存在的问题，根据统计过程控制的原理，运用计算机信息技术设计开发了一种面向复杂产品多型共线生产的统计过程控制技术的系统，运用SPC方法对加工车间的生产过程进行有效监控，按照明确车间质量管理业务，采集关键过程的产品质量信息，对质量数据进行控制图分析和过程能力分析，通过控制图对生产过程进行监控的管理流程进行统计过程控制。该统计过程控制系统改善了原有的质量管理模式，能及时发现问题并纠正，最终达到控制整个生产过程，提升生产灵活敏捷性的目的。

关键词：统计过程控制生产过程质量管理复杂产品共线生产控制图统计过程控制技术统计过程控制系统计算机信息技术产品质量控制产品质量信息车间关键过程管理流程过程能力加工车间有效监控质量数据敏捷性原有的分析采集监控灵活纠正发现开发生产

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超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法

超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法

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作者：游海龙张金力田文星贾新章顾铠 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

本发明公开了一种超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法，主要解决超净间内颗粒数零占比大于50％时现有统计过程控制技术误报警过多或不能及时报警的问题。其实施步骤是：1、利用颗粒数计数器对空气中的颗粒数进行采集，采集的数据... 详细信息

标准号: CN109272216B

本发明公开了一种超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法，主要解决超净间内颗粒数零占比大于50％时现有统计过程控制技术误报警过多或不能及时报警的问题。其实施步骤是：1、利用颗粒数计数器对空气中的颗粒数进行采集，采集的数据中至少包含90个非零数据；2、获得不同颗粒数的概率；3、利用迭代法，计算阈值泊松分布中参数c和T的估计值，获得上控制限；4、按照休哈特控制图的绘制方法，将颗粒数和控制线绘制到对应的控制图中；6、通过观察控制图中是否有点超出上控制线来判断超净间内的颗粒数是否受控，确实是否继续进行生产，以实现颗粒数失控时的及时预警，提高产品质量，减少失控引起的经济损失，可用于半导体生产的质量监测。

关键词：颗粒数控制图控制线统计过程控制技术失控统计过程控制计数器采集绘制半导体生产休哈特控制泊松分布经济损失质量监测迭代法控制限误报警参数c 非零可用受控报警预警概率观察生产

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基于统计过程控制的针对影像引导放疗设备定位精度的性能评估方法

基于统计过程控制的针对影像引导放疗设备定位精度的性能评估方法

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作者：李光俊李治斌段炼陈黎肖青白龙柏森 610000 四川省成都市武侯区国学巷37号

标准号: CN113559423A

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W公司光电器件批生产产能提升及过程控制研究

W公司光电器件批生产产能提升及过程控制研究

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作者：耿雨升东南大学

学位级别：硕士

随着生产管理理论的创新和发展,我国生产管理理论己经形成了比较完善的体系,本文首先将生产管理的理论和方法应用于W公司的生产管理及现场管理中,从生产管理的特点出发,举例说明了W公司产品生产的具体流程管理。接着,本文重点论述了某... 详细信息

随着生产管理理论的创新和发展,我国生产管理理论己经形成了比较完善的体系,本文首先将生产管理的理论和方法应用于W公司的生产管理及现场管理中,从生产管理的特点出发,举例说明了W公司产品生产的具体流程管理。接着,本文重点论述了某型光电器件的产能提升研究,运用了精益生产、瓶颈理论等基本原理知识,进行现场产能量化分析,结合某光电器件工序多、生产工时长、产量低的具体特点,分析了该器件在产能提升急需提高的几个工序,并介绍了研究取得的阶段性成绩,提高了工作效率,较好地完成了研究目标,提高了产品的瓶颈工序生产能力,解决了供需矛盾。采用统计过程控制(SPC)技术对关键工序进行监控是保持生产线稳定、减少质量波动的有力工具,可以有效提高产品的成品率和可靠性。本文在最后一部分着重介绍了光电器件在现有工序状态下采集封接温度、真空度数据,计算和分析工序的工序能力指数,进行工艺调整和改进,通过工序能力指数计算,结果>1.33(即成品率达到99.99%以上),达到了研究目标。在研究中选择合理的控制图,对工序中的参数进行监控,发现工序失控时,分析原因并及时采取纠正预防措施,保证工艺的一致性和稳定性,提高工艺成品率。本研究较好地实现了对某型光电器件的产能提升,并将统计过程控制技术应用于关键工序的控制中,取得了良好的效果,本研究的实现,为控制技术及应用成果在光电器件类产品中的应用推广提升了可能,具有一定的应用价值。

关键词：生产管理产能统计过程控制技术

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基于SPC技术的应用数学课堂教学质量评价方法研究

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信息系统工程 2019年第11期32卷 148-149页

作者：潘东阳刘静瑞信阳职业技术学院数学与计算机科学学院

课堂教学是高等教育学校教学体系中的最基本的组成部分,对其质量的评价至关重要,为了提高应用数学课堂教学的质量,论文提出基于SPC技术的应用数学课堂教学质量评价方法研究。在引入统计过程控制技术的基础上,构建应用数学课堂教学质量... 详细信息

课堂教学是高等教育学校教学体系中的最基本的组成部分,对其质量的评价至关重要,为了提高应用数学课堂教学的质量,论文提出基于SPC技术的应用数学课堂教学质量评价方法研究。在引入统计过程控制技术的基础上,构建应用数学课堂教学质量模糊综合评价模型,再结合课堂教学质量评价指标的确定,实现基于SPC的应用数学课堂教学质量评价,实验数据表明,提出的基于SPC的应用数学课堂教学质量评价方法相比于传统课堂教学质量评价方法,对应用数学课堂教学质量具有更良好的评价效果。

关键词：统计过程控制技术应用数学课堂教学质量评价方法

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超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法

超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法

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作者：游海龙张金力田文星贾新章顾铠 710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

标准号: CN109272216A

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基于缓冲的研发项目风险概率监控方法

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统计与决策 2016年第9期32卷 179-181页

作者：张俊光徐振超北京科技大学东凌经济管理学院北京100083

文章基于项目缓冲分配影响因素,综合活动的不确定性、复杂度、持续时间比例及位置系数等因素,将项目缓冲分配到关键链各个活动上;然后,基于模糊方法确定项目缓冲的偏差控制基准,并利用统计过程控制技术实现对研发项目的动态控制;最后进... 详细信息

文章基于项目缓冲分配影响因素,综合活动的不确定性、复杂度、持续时间比例及位置系数等因素,将项目缓冲分配到关键链各个活动上;然后,基于模糊方法确定项目缓冲的偏差控制基准,并利用统计过程控制技术实现对研发项目的动态控制;最后进行实验模拟,验证所提方法的有效性。

关键词：研发项目管理关键链缓冲分配偏差标准统计过程控制技术

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统计过程控制技术在键合工序中的应用

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半导体技术 2009年第8期34卷 775-779页

作者：崔波中国电子科技集团公司第十三研究所石家庄050051

键合工序是半导体器件生产中的关键工序,采用统计过程控制(SPC)技术对关键工序进行监控是保持生产线稳定、减少质量波动的有力工具,可以提高产品的成品率和可靠性。在现有工序状态下采集键合拉力数据,计算和分析键合工序的工序能力指数... 详细信息

键合工序是半导体器件生产中的关键工序,采用统计过程控制(SPC)技术对关键工序进行监控是保持生产线稳定、减少质量波动的有力工具,可以提高产品的成品率和可靠性。在现有工序状态下采集键合拉力数据,计算和分析键合工序的工序能力指数,进行工艺调整和改进,直到工序能力指数Cpk≥1.33。选择计量控制图,对键合拉力数值进行监控,发现工序失控时,分析原因并及时采取纠正预防措施,保证工艺的一致性和稳定性,提高工艺成品率。

关键词：统计过程控制技术键合工序能力指数控制图

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