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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

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  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 批量测试
  • 1 篇 自动测试系统测试
  • 1 篇 延时器件
  • 1 篇 板级测试

机构

  • 1 篇 工业和信息化部电...

作者

  • 1 篇 zhao yong
  • 1 篇 马凯斌
  • 1 篇 chen yi
  • 1 篇 赵勇
  • 1 篇 陈怡
  • 1 篇 ma kaibin

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=自动测试系统测试"
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排序:
可编程延时器件的批量测试方法研究
收藏 引用
电子质量 2024年 第3期 78-82页
作者: 赵勇 陈怡 马凯斌 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州511370
针对可编程延时器件电参数的实验室测试方法在应用于批量测试时存在的诸多弊端,提出将自动测试系统(ATE)测试和板级测试相结合的方法。以LTC6994型可编程延时器件为例,优化了长延时参数的测试方案,优化后的测试方案相较于优化前缩短了55... 详细信息
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