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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

61 篇 专利
2 篇 期刊文献

馆藏范围

63 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

2 篇 工学
- 1 篇 电子科学与技术（可...
- 1 篇 计算机科学与技术...

主题

2 篇 自测试电路
1 篇 自测试码
1 篇 内建自测试
1 篇 模拟集成电路
1 篇 结构

机构

10 篇 中国船舶重工集团...
5 篇 中国航空工业集团...
5 篇 美光科技公司
3 篇 中国商用飞机有限...
3 篇 中国商用飞机有限...
2 篇 西安紫光国芯半导...
2 篇 沐曦集成电路有限...
2 篇 华邦电子股份有限...
2 篇 国际商业机器公司
2 篇 上海奎芯集成电路...
2 篇 清华大学
2 篇 皇家飞利浦有限公...
2 篇 龙旗电子有限公司
2 篇 英飞凌科技股份有...
2 篇 斯凯孚公司
2 篇 北京时代民芯科技...
2 篇 合肥奎芯集成电路...
2 篇 通用电气公司
2 篇 北京微电子技术研...
2 篇 中国电子科技集团...

作者

9 篇 梅朝阳
5 篇 朱江涛
5 篇 刘燕华
5 篇 赖茜
4 篇 金永安
3 篇 王力
3 篇 袁文铎
3 篇 李雪璞
3 篇 周春海
3 篇 田泽
3 篇 王益民
3 篇 杨军
2 篇 张拓
2 篇 谈杰
2 篇 程黎辉
2 篇 藤原敬典
2 篇 秦贺
2 篇 武昊男
2 篇 d·s·米勒
2 篇 郭亮

语言

63 篇 中文

检索条件"主题词=自测试电路"

共 63 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

一种新的模拟集成电路内建自测试电路结构

引用

杭州电子工业学院学报 1993年第3期13卷 13-18页

作者：茅成郭裕顺

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自测试电路和检查信号通过信号路径的完整性的方法

自测试电路和检查信号通过信号路径的完整性的方法

引用

作者：朱利安·弗朗切蒂瑞典哥德堡

示例提供了自测试电路。自测试电路包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体。所述输入电路被配置成产生包括了至少正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述... 详细信息

标准号: CN115824646A

示例提供了自测试电路。自测试电路包括：输入电路；测试电路；和待测试电路，其联接在所述输入电路与所述测试电路之间，并且至少包括压电晶体。所述输入电路被配置成产生包括了至少正弦信号的预定义的电信号，并将其传输通过至少所述待测试电路的压电晶体以产生输出信号。所述测试电路被配置成分析所述输出信号。

关键词：测试电路输入电路待测试电路自测试电路压电晶体产生输出信号输出信号正弦信号预定义配置联接传输分析

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内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法

引用

作者：古城王晓阳何亚军 230088 安徽省合肥市高新区中国(安徽)自由贸易试验区创新大道2800号创新产业园二期G3栋C座2层

本发明提供一种内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法，通过读写指令控制器、第一随机序列生成单元、第二随机序列生成单元、命令地址环路比较器、数据输入输出环路比较器、命令地址环路控制单元、数据输入输出环路控制单元以及读写... 详细信息

标准号: CN117524287B

本发明提供一种内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法，通过读写指令控制器、第一随机序列生成单元、第二随机序列生成单元、命令地址环路比较器、数据输入输出环路比较器、命令地址环路控制单元、数据输入输出环路控制单元以及读写数据比较器，可以测试DRAM和FLASH等产品的性能，包括PHY IO的性能以及整个数据通路的功能，同时电路实现简单、占用的芯片面积较小，且不会影响原有的电路功能。

关键词：比较器随机序列生成单元环路控制单元数据输入输出命令地址内存芯片自测试电路电路功能电路实现读写数据读写指令数据通路控制器原有的自测试芯片占用测试

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锁存器的自测试电路及其自测试方法

锁存器的自测试电路及其自测试方法

引用

作者：李颖 201210 上海市浦东新区祥科路111号2幢6楼

公开了一种锁存器的自测试电路及其自测试方法。自测试电路包括自测试主控单元和自测试模块。自测试主控单元包括：自测试模块使能逻辑电路，用于产生自测试模块的使能信号；自测试模块测试向量产生电路，用于产生自测试模块的测试向量... 详细信息

标准号: CN114460447A

公开了一种锁存器的自测试电路及其自测试方法。自测试电路包括自测试主控单元和自测试模块。自测试主控单元包括：自测试模块使能逻辑电路，用于产生自测试模块的使能信号；自测试模块测试向量产生电路，用于产生自测试模块的测试向量；存储单元，用于存储自测试模块的测试结果。自测试模块被配置为：根据使能信号选择锁存器自测试子模块进入自测试模式；当被选择进行自测试的锁存器自测试子模块的锁存器输出与测试向量相同时，测试结果为该锁存器自测试子模块的锁存器无故障，否则有故障。本公开的方案实现了采用较少的数字集成测试电路有效提高锁存器的测试覆盖率，解决了锁存器测试的难题。

关键词：锁存器自测试模块自测试子模块自测试电路测试向量使能信号主控单元测试向量产生电路测试覆盖率自测试模式测试电路存储单元数字集成使能存储测试输出配置

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锁存器的自测试电路及其自测试方法

锁存器的自测试电路及其自测试方法

引用

作者：李颖 201210 上海市浦东新区祥科路111号2幢6楼

标准号: CN114460447B

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存储器自测试电路、芯片及计算装置

存储器自测试电路、芯片及计算装置

引用

作者：常亮吴强 210046 江苏省南京市栖霞区经济技术开发区兴智路6号兴智科技园B栋6层

本公开实施例公开了一种存储器自测试电路、芯片及计算装置，其中，该电路包括：至少一个被测存储阵列、至少一个自测试单元、测试控制器，测试控制器向至少一个自测试单元发送启动指令；自测试单元响应于接收到启动指令，对各自对应的... 详细信息

标准号: CN118155697A

本公开实施例公开了一种存储器自测试电路、芯片及计算装置，其中，该电路包括：至少一个被测存储阵列、至少一个自测试单元、测试控制器，测试控制器向至少一个自测试单元发送启动指令；自测试单元响应于接收到启动指令，对各自对应的被测存储阵列进行自测试，在自测试结束后，输出自测试结果；测试控制器根据自测试结果，从各个被测存储阵列中确定故障存储阵列和故障存储单元的地址；向故障存储阵列对应的自测试单元发送修复指令；故障存储阵列对应的自测试单元根据故障存储单元的地址，对故障存储单元进行修复。本公开实施例实现了对故障存储阵列进行针对性地修复，从而提高了对多个被测存储阵列进行测试的效率，有助于提高存储器生产的良率。

关键词：自测试单元存储阵列故障存储自测试故障存储单元测试控制器存储器启动指令修复发送自测试电路计算装置良率电路芯片指令测试输出响应生产

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一种采样电路、自测试电路以及芯片

一种采样电路、自测试电路以及芯片

引用

作者：金晶江喜平王嵩谈杰 710075 陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼

本申请公开了一种采样电路。该采样电路应用在第一芯片上，第一芯片与至少一第二芯片三维集成在一起，其中，采样电路包括：状态机模块，用于发送初始采样信号；至少一延迟模块，分别连接状态机模块，其中，每个延迟模块分别被配置为接... 详细信息

标准号: CN116879725A

本申请公开了一种采样电路。该采样电路应用在第一芯片上，第一芯片与至少一第二芯片三维集成在一起，其中，采样电路包括：状态机模块，用于发送初始采样信号；至少一延迟模块，分别连接状态机模块，其中，每个延迟模块分别被配置为接收初始采样信号，并对初始采样信号进行延迟匹配处理生成相应的延迟采样信号；至少一采样模块，分别连接对应的延迟模块，并接收对应的第二芯片的应答数据信号，以利用延迟采样信号对应答数据信号进行采样。本申请还公开了自测试电路以及芯片。本申请提高了MBIST自测试电路的自适应性能，减少了各种因素对片上延迟的影响。

关键词：采样信号延迟采样电路延迟模块芯片应答数据信号自测试电路申请芯片三维集成连接状态机状态机模块自适应性能采样模块匹配处理采样发送配置应用

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一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法

一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法

引用

作者：李治诸小胜姜源王镇王永利 214115 江苏省无锡市新吴区弘毅路8号金帛座602室

本发明公开了一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法，包括测试信号源产生电路，用于产生注入相控阵射频芯片主信号链的信号，和为本振电路提供输入信号；本振电路，用于根据测试信号源产生电路提供的输入信号... 详细信息

标准号: CN116359707A

本发明公开了一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法，包括测试信号源产生电路，用于产生注入相控阵射频芯片主信号链的信号，和为本振电路提供输入信号；本振电路，用于根据测试信号源产生电路提供的输入信号，产生提供给信号处理电路的正交本振；信号处理电路，用于对来自相控阵射频芯片主信号链的信号进行增益调整，以及将增益调整后的信号和正交本振进行正交混频，得到处理后的信号，从处理后的信号中获取相控阵射频芯片主信号链的增益信息和相位信息，依据相控阵射频芯片主信号链的增益信息和相位信息，完成对相控阵射频芯片主信号链的增益切换性能、移相器性能、通道失配性能和绝对增益性能的测试。

关键词：射频芯片相控阵信号链信号处理电路测试信号源本振电路产生电路相位信息增益调整增益信息本振正交自测试电路增益切换增益性能移相器自测试失配架构测试应用

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用于具有多个有冗余的输入通道的设备的自测试电路

用于具有多个有冗余的输入通道的设备的自测试电路

引用

作者： N·埃里科 A·坎诺内 E·费拉拉 L·潘达礼意大利蒙扎布里安扎

本公开提供了用于具有多个有冗余的输入通道的设备的自测试电路。一种电路，包括：第一模数转换器(ADC)，被配置为耦合到第一传感器中的相应第一传感器；第一多路复用器(MUX)，耦合到第一ADC的输出端子；第二MUX，被配置为耦合到第二传... 详细信息

标准号: CN118050977A

本公开提供了用于具有多个有冗余的输入通道的设备的自测试电路。一种电路，包括：第一模数转换器(ADC)，被配置为耦合到第一传感器中的相应第一传感器；第一多路复用器(MUX)，耦合到第一ADC的输出端子；第二MUX，被配置为耦合到第二传感器，第二传感器是第一传感器的冗余传感器；第二ADC，耦合到第二MUX的输出端子，第一MUX和第二MUX受选择信号控制；第一检查器电路，被配置为将第一MUX的输出端子处的第一数据与第二ADC的输出端子处的第二数据进行比较；以及多个开关，耦合在第二MUX的输入端子中的相应输入端子与参考电压节点之间。

关键词：输出端子耦合到第一传感器第二传感器输入端子电路配置转换器参考电压节点多路复用器冗余传感器自测试电路第一数据输入通道选择信号耦合冗余第一模检查器

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内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法

引用

作者：古城王晓阳何亚军 230088 安徽省合肥市高新区中国(安徽)自由贸易试验区创新大道2800号创新产业园二期G3栋C座2层

标准号: CN117524287A

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